KR100745371B1 - 자기부상형 웨이퍼 스테이지 - Google Patents

자기부상형 웨이퍼 스테이지 Download PDF

Info

Publication number
KR100745371B1
KR100745371B1 KR1020060102676A KR20060102676A KR100745371B1 KR 100745371 B1 KR100745371 B1 KR 100745371B1 KR 1020060102676 A KR1020060102676 A KR 1020060102676A KR 20060102676 A KR20060102676 A KR 20060102676A KR 100745371 B1 KR100745371 B1 KR 100745371B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wafer
magnetic levitation
polarity
axis moving
moving member
Prior art date
Application number
KR1020060102676A
Other languages
English (en)
Inventor
이석균
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020060102676A priority Critical patent/KR100745371B1/ko
Priority to US11/783,482 priority patent/US7633186B2/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100745371B1 publication Critical patent/KR100745371B1/ko
Priority to US12/611,149 priority patent/US7868488B2/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70816Bearings
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16CSHAFTS; FLEXIBLE SHAFTS; ELEMENTS OR CRANKSHAFT MECHANISMS; ROTARY BODIES OTHER THAN GEARING ELEMENTS; BEARINGS
    • F16C39/00Relieving load on bearings
    • F16C39/06Relieving load on bearings using magnetic means
    • F16C39/063Permanent magnets
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70758Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

본 발명은 노광하기 위한 웨이퍼를 웨이퍼 스테이지 상에 부양시킨 후 노광패턴을 형성하도록 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지에 관한 것이다.
반도체 제조용 스테퍼설비에서 웨이퍼 스테이지 상에 웨이퍼를 자기부상하여 패턴을 형성하도록 하고, 노광패턴 공정 시 파티클로 인한 로컬포커싱이나 디포커싱의 유발을 방지하는 하기 위한 본 발명의 자기부상형 웨이퍼 스테이지는, 하부면이 +극성의 자성체를 갖는 웨이퍼와, 반송 로봇으로부터 상기 웨이퍼를 인계 받아 자기부상하도록 하는 웨이퍼 테이블과, X, Y 방향좌표에 대응하여 상기 웨이퍼의 위치를 변위시키기 위한 제어명령을 발생하는 주제어부와, 상기 주제어부의 제어명령을 받아 전자석의 +, -극성결정신호를 출력하는 위치제어부와, 상기 위치제어부로부터 +, -극성결정신호를 받아 상기 다수의 전자석으로 전류를 공급하는 전자석 구동회로를 구비하고,
상기 다수의 전자석은 상기 전자석 구동회로로부터 공급되는 전류에 의해 +극성이나 -극성을 유지하여 상기 웨이퍼를 자기부양시키는 동시에 상기 웨이퍼의 위치이동을 시키도록 하여 노광패턴 공정을 진행한다.
스테퍼설비, 노광장치, 웨이퍼 스테이지, 자기부상 웨이퍼 스테이지

Description

자기부상형 웨이퍼 스테이지{DEVICE FOR CLEANING WAFER CHUCK OF SEMICONDUCTOR STEPPER}
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 노광설비 내부에 설치되는 웨이퍼 스테이지의 사시도
도 2는 도 1의 테이블(140) 상에 웨이퍼(150)가 부양된 상태의 정면도
도 3a는 제1코팅막(142)이 형성된 테이블(140)의 평면도
도 3b는 제2코팅막(152)이 형성된 웨이퍼(150)의 평면도
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 웨이퍼 스테이지의 구성도
삭제
삭제
삭제
도 5는 도 4의 웨이퍼 테이블(10)을 구동하는 장치의 구성도
도 6은 웨이퍼 테이블(10)상에 자기부상된 웨이퍼(12)를 위치이동하기 위한 동작설명의 예시도
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
10: 웨이퍼 테이블 12: 웨이퍼
20: 주제어부 22: 위치제어부
24: 전자석 구동회로
본 발명은 반도체 노광설비의 웨이퍼 스테이지에 관한 것으로, 특히 노광하기 위한 웨이퍼를 웨이퍼 스테이지 상에 부양시킨 후 노광패턴을 형성하도록 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지에 관한 것이다.
통상적으로 반도체장치를 제조하기 위한 웨이퍼는 세정, 확산, 포토레지스트 코팅, 노광, 현상, 식각 및 이온주입 등과 같은 공정을 반복하여 거치게 되며, 이들 과정별로 해당 공정을 수행하기 위한 설비가 사용된다.
이러한 설비 중 스테퍼는 광원으로부터 주사되는 광으로 웨이퍼 상에 코팅된 포토레지스트를 노광시켜서 후속되는 현상 및 식각공정을 거쳐 웨이퍼에 원하는 패턴을 형성토록 하는 것이다.
포토레지스트가 코팅된 웨이퍼는 소정 수량 단위로 캐리어에 실려서 이송되며, 캐리어는 스테퍼 내부의 테이블로 로딩된다. 보통 스테퍼에서 웨이퍼의 노광은 낱장 단위로 이루어지므로 노광이 시작되면 웨이퍼를 한 매씩 꺼내기 위하여 페치아암(Fetch Arm)이 캐리어 내부로 들어가서 웨이퍼를 집게 되고, 이 상태에서 테이블이 한 피치(Pitch) 만큼 다운(Down)됨에 따라서 웨이퍼가 캐리어 밖으로 꺼내어진다. 캐리어 밖으로 웨이퍼가 꺼내어지면 휭슬라이더가 페치아암의 웨이퍼를 받기 위하여 이동되고, 웨이퍼는 횡슬라이더에 실려서 노광을 위한 지점으로 이동된다. 웨이퍼에 소정 패턴을 형성하기 위해 사용되는 스테퍼는 웨이퍼에 각 단위 칩마다 정렬 및 노광을 실시하여 패턴을 형성시킨다.
이러한 노광장치의 웨이퍼 스테이지는 스테이지 상에 웨이퍼를 이송하는 세라믹 척(테이블)과, 이 세라믹 척을 X,Y축으로 이동시키는 구동장치를 갖는다. 웨이퍼 상에 패턴을 노광하기 위해 이송아암은 세라믹 척 위에 웨이퍼를 로딩하고, 노광이 완료되면 이송아암은 세라믹척 상에서 웨이퍼를 언로딩한다.
이러한 동작을 반복할 때 웨이퍼의 이면 또는 챔버 자체내에서 발생되는 파티클이 세라믹 척 위에 쌓이게 되는데 이때 파티클은 웨이퍼 패턴에 디포커스(Defous)를 유발하여 품질불량을 발생한다. 즉, 세라믹 척위에 파티클이 발생하면 현재 진행하던 웨이퍼들의 공정이 끝난 다음 설비를 정지시키고 웨이퍼 스테이지의 환경을 유지시키는 에어와 베큠을 해제시킨 후 다음 웨이퍼 스테이지를 지탱하고 있는 스톤(Stone)을 설비 외부로 꺼낸다음 엔지니어가 직접 세정툴을 이용하여 크리닝하고 있다.
이와 같이 웨이퍼 척이나 웨이퍼 이면(Wafer Back side)에 파티클로 인한 오염으로 디포커스가 유발되는 것을 해결하기 위해 웨이퍼가 재치되는 웨이퍼 척 평 판상의 테이블을 비접촉으로 부상시키고 위치를 결정하는 위치결정장치가 미합중국 특허 5,196,745호에 개시되어 있다. 미합중국 특허 5,196,745호는 웨이퍼가 재치되는 테이블의 상하면에 외측이 N극 및 S극으로 되어 있는 영구자석을 교대로 2차원적으로 배치하고, 그 테이블이 수납되는 고정체측에 영구자석에 대응하는 다상코일 열을 배치하도록 하고 있다.
이러한 비접촉방식의 위치결정장치는 가동체로서 테이블의 상하면에 극성이 교대로 반전하는 복수의 영구자석이 장착되기 때문에 테이블이 대형화되고 중량도 무거워지는 문제가 있었다.
또한 다상코일에 의한 연직방향의 추진력이 상당히 작고, 그 연직방향의 추진력만으로 큰 중량의 테이블을 부상(浮上)시키는 것이 어려운 문제가 있었다.
따라서 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제를 해결하기 위해 반도체 제조용 스테퍼설비에서 웨이퍼 스테이지 상에 웨이퍼를 자기부상하여 패턴을 형성하도록 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 웨이퍼 스테이지 상에 웨이퍼를 자기부상하여 노광할 때 파티클로 인한 로컬포커싱이나 디포커싱의 유발을 방지하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 노광설비의 자기부상형 웨이퍼 스테이지는, 스테이지 홈 상부 좌, 우측 끝단부에 대칭으로 설치된 Y축 이동부재와, 상기 좌, 우측에 설치된 Y축 이동부재 사이를 가로지르는 X축 이동부재와, 상기 Y축 이동부재의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제1 구동 모터와, 상기 X축 이동부재의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제2구동 모터와, 상기 X축 이동부재 상에 설치되어 반송 로봇으로부터 웨이퍼를 인계 받아 자기부상하도록 하는 테이블로 구성됨을 특징으로 한다.
상기 테이블의 상부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제1코팅막이 형성되어 있고, 상기 웨이퍼의 하부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제2코팅막이 형성됨을 특징으로 한다.
상기 제1 및 제2 코팅막은 자석필름임을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시 양에 따른 자기부상형 웨이퍼 스테이지는, 하부면이 +극성의 자성체를 갖는 웨이퍼와, 반송 로봇으로부터 상기 웨이퍼를 인계 받아 자기부상하도록 하는 웨이퍼 테이블로 구성됨을 특징으로 한다.
상기 웨이퍼 테이블은 컬럼 및 로우 방향으로 각각 다수의 전자석이 배치됨을 특징으로 한다.
X, Y 방향좌표에 대응하여 상기 웨이퍼의 위치를 변위시키기 위한 제어명령을 발생하는 주제어부와, 상기 주제어부의 제어명령을 받아 전자석의 +, -극성결정신호를 출력하는 위치제어부와, 상기 위치제어부로부터 +, -극성결정신호를 받아 상기 다수의 전자석으로 전류를 공급하는 전자석 구동회로를 더 구비하고,
상기 다수의 전자석은 상기 전자석 구동회로로부터 공급되는 전류에 의해 +극성이나 -극성을 유지하여 상기 웨이퍼를 자기부양시키는 동시에 상기 웨이퍼의 위치이동을 시킴을 특징으로 한다.
이하 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 노광설비 내부에 설치되는 웨이퍼 스테이지의 사시도이고,
장치를 지지하는 스테이지 홈(Stage Home)(110)과, 상기 스테이지 홈(110) 상부 좌, 우측 끝단부에 대칭으로 설치된 Y축 이동부재(120)와, 상기 좌, 우측에 설치된 Y축 이동부재(120) 사이를 가로지르는 X축 이동부재(130)와, 상기 Y축 이동부재(120)의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제1 구동 모터(122)와, 상기 X축 이동부재(130)의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제2구동 모터(132)와, 상기 X축 이동부재(130)상에 설치되어 반송 로봇(미도시됨)으로부터 웨이퍼(150)를 인계 받아 자기부상하도록 하는 테이블(140)로 구성되어 있다.
도 2는 도 1의 테이블(140) 상에 웨이퍼(150)가 부양된 상태의 정면도이다.
테이블(140)의 상부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제1코팅막(142)이 형성되어 있고, 웨이퍼(150)의 하부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제2코팅막(152)이 형성 되어 있다.
도 3a는 제1코팅막(142)이 형성된 테이블(140)의 평면도이고,
도 3b는 제2코팅막(152)이 형성된 웨이퍼(150)의 평면도이다.
웨이퍼(150)의 하부면에는 +극성을 갖는 영역으로 형성되어 있다.
상술한 도 1 내지 도 3a 및 도 3b를 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시 예의 동작을 상세히 설명한다.
웨이퍼 스테이지(100)는 설비를 지지하는 스테이지 홈(110)이 형성되어 있고, 이 스테이지 홈(110)의 상부 좌, 우측 끝단부에 대칭으로 Y축 이동부재(120)가 각각 설치되어 있고, 좌,우측 Y축 이동부재(120) 사이에는 X축 이동부재(130)가 가로질러서 설치되어 있다.
그리고, 상기 Y축 이동부재(120)의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제1 구동 모터(122)가 상기 Y축 이동부재(120) 상에 설치되어 있고, 상기 X축 이동부재(130)의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제2구동 모터(132)가 X축 이동부재(130) 상에 설치되어 있다. 상기 웨이퍼 스테이지(100)에는 반송 로봇(미도시됨)으로부터 웨이퍼(150)를 인계 받아 자기부상하도록 하는 테이블(140)이 설치되어있다.
한편, 테이블(140)에는 +극성을 갖는 제1코팅막(142)이 코팅되어 있다. 웨이퍼(150)의 하부면에는 +극성을 갖는 제2코팅막(152)이 코팅되어 있다. 상기 테이블(140)의 상부면과 웨이퍼(150)의 하부면에는 제1 및 제2 코팅막(142, 152)이 코팅되어 있으나, 자성체를 갖는 자석필름을 부착할 수도 있다.
반송로봇에 의해 웨이퍼(50)가 이송되어 테이블(140)에 놓여지게 되면 테이블(140)의 제1코팅막(142)의 +극성과 웨이퍼(150)의 코팅막(152)의 +극성 간의 반발력에 의해 웨이퍼(150)가 공중에 부양하게 된다. 이렇게 테이블(140)상에 웨이퍼(150)가 부양된 상태에서 테이블(140)을 X, Y방향으로 이동시키면서 노광패턴공정을 진행하게 된다. 이때 웨이퍼(150)가 테이블(140)상에 부양되는 원리는 테이블(140)의 +극성을 갖는 제1코팅막(142)과 웨이퍼(150)의 +극성을 갖는 제2코팅막(152)이 서로 반발력에 의해 밀어내게되어 테이블(140) 상에 웨이퍼(150)가 부양(浮揚)하게 된다. 이러한 상태에서 웨이퍼(150)를 X, Y방향으로 이동시키고자 할때 테이블(140)을 일정거리 이동시키게 되면 테이블(140) 상에 부양되어 있는 웨이퍼(150)가 따라서 이동된다.
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 웨이퍼 스테이지의 구성도이다.
하부면이 +극성의 자성체를 갖는 웨이퍼(12)와,
반송 로봇(미도시됨)으로부터 상기 웨이퍼(12)를 인계 받아 자기부상하도록 하는 웨이퍼 테이블(10)로 구성되어 있다.
상기 웨이퍼 테이블(10)은 컬럼(COLUMN) 및 로우(ROW) 방향으로 각각 다수의 전자석(a1~j10)이 배치되어 있다.
도 5는 도 4의 웨이퍼 테이블(10)을 구동하는 장치의 구성도이다.
X, Y 방향좌표에 대응하여 웨이퍼(12)의 위치를 변위시키기 위한 제어명령을 발생하는 주제어부(20)와,
상기 주제어부(20)의 제어명령을 받아 전자석의 +, -극성결정신호를 출력하 는 위치제어부(22)와,
상기 위치제어부(22)로부터 +, -극성결정신호를 받아 다수의 전자석(a1~j10)으로 전류를 공급하는 전자석 구동회로(24)와,
상기 전자석 구동회로(24)로부터 공급되는 전류에 의해 +극성이나 -극성을 유지하여 웨이퍼(12)를 자기부양시키는 동시에 웨이퍼(12)의 위치이동을 시키는 다수의 전자석(a1~j10)으로 구성되어 있다.
도 6은 웨이퍼 테이블(10)상에 자기부상된 웨이퍼(12)를 위치이동하기 위한 동작설명의 예시도이다.
상술한 도 4 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 다른 실시 예의 동작을 상세히 설명한다.
웨이퍼 테이블(10)에는 상부면에 컬럼 및 로우방향으로 다수의 전자석(a1~j1)이 메트릭스 형태로 배치되어 있다. 웨이퍼(12)의 저면에는 +극성을 갖는다. 주제어부(20)는 X, Y 방향좌표에 대응하여 웨이퍼(12)의 위치를 변위시키기 위한 제어명령을 발생한다. 위치제어부(22)는 상기 주제어부(20)의 제어명령을 받아 전자석의 +, -극성결정신호를 전자석 구동회로(24)로 출력한다. 전자석 구동회로(24)는 상기 위치제어부(22)로부터 +, -극성결정신호를 받아 다수의 전자석(a1~j10)으로 전류를 공급한다. 이때 다수의 전자석(a1~j10)은 모두 +극성을 갖도록 전류가 공급된다. 그러면 웨이퍼(12)는 다수의 전자석(a1~j10)으로부터 발생되는 +극성과 웨이퍼(12)의 +극성간의 반발력에 의해 공중에 부양하게 된다.
이러한 상태에서 웨이퍼(12)를 우측방향으로 이동시키고자 할때 도 6과 같이 전자석구동회로(24)에 의해 웨이퍼 테이블(10)의 우측가장자리에 배치된 다수의 전자석(a10, b10, c10, d10, e10, f10, g10, h10, i10, j10)으로 -극성을 갖도록 전류를 일정시간 공급한다. 이때 +극성을 갖는 웨이퍼(12)는 -방향으로 끌려가게 되어 웨이퍼(12)가 부상한 상태에서 우측으로 움직인다.
또한 웨이퍼(12)를 상부방향으로 이동시키고자 할때 도 6과 같이 전자석구동회로(24)에 의해 웨이퍼 테이블(10)의 상부가장자리에 배치된 다수의 전자석(a1, a2, a3, a4, a5, a6 a7, a8, a9, a10)으로 -극성을 갖도록 전류를 일정시간 공급한다. 이때 +극성을 갖는 웨이퍼(12)는 -방향으로 끌려가게 되어 웨이퍼(12)가 부상한 상태에서 상부측으로 움직인다.
또한 좌측이나 하부방향으로 웨이퍼(12)를 이동시키는 것도 이와 동일하게 웨이퍼 테이블(10)의 좌측가장자리에 배치된 다수의 전자석(a1, b1, c1, d1, e1, f1, g1, h1, i1, j1)이나 하부가장자리에 배치된 전자석(j1, j2, j3, j4, j5, j6, j7, j8, j9, j10)으로 -극성을 갖도록 전류를 일정시간 공급한다.
웨이퍼 스테이지(10)는 전기가 흘러야 하며, 그 재질은 니오븀, 티타늄합금을 사용한다. 웨이퍼 스테이지(10)에 배치된 다수의 자석(a1~j1)은 초전도자석을 사용한다. 초전도현상은 어떤 물질을 절대온도 0도(섭씨 영하 273℃)에 가까운 극저온 상태로 냉각시키면 갑자기 전기저항이 없어지는 물리적 현상을 나타낸다. 초전도 물체는 이상태에서 전류를 거의 무제한으로 흘려줄 수 있게 되어 매우 강력한 자석을 만들거나 전력손실이 없는 송전선을 만드는데 쓰인다. 초전도 자석에 사용된 코일은 전기저항이 거의 0에 가깝다.
상기한 설명에서 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나, 그들은 발명의 범위를 한정하는 것이라기 보다, 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 예들 들어 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 웨이퍼 테이블의 상부면과 웨이퍼의 저면 간에 동일한 극성의 자성체를 형성하여 서로간의 반발력에 의해 웨이퍼 테이블 위에 웨이퍼가 자기부상하도록 한후 노광패턴공정을 진행하도록 하여 본 발명을 실시할 수 있는 것이 명백하다. 때문에 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정하여 질 것이 아니고 특허 청구범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정하여져야 한다.
이상에서, 본 발명에 따른 노광 설비에서의 웨이퍼 스테이지 유닛의 구성 및 작용을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및변경이 가능함은 물론이다.
상술한 바와 같이 본 발명은 웨이퍼 테이블의 상부면과 웨이퍼의 저면 간에 동일한 극성의 자성체를 형성하여 서로간의 반발력에 의해 웨이퍼 테이블 위에 웨이퍼가 자기부상하도록 한후 노광패턴공정을 진행하도록 하므로, 전기적 에너지를 이용하여 기계적인 마모등의 원인으로 인한 소모품을 줄여 원가를 절감할 수 있고, 파티클 발생으로 인한 로컬포커싱이나 디포커싱불량 발생을 방지할 수 있는 이점이 있다.

Claims (6)

  1. 노광설비의 자기부상형 웨이퍼 스테이지에 있어서,
    스테이지 홈 상부 좌, 우측 끝단부에 대칭으로 설치된 Y축 이동부재와,
    상기 좌, 우측에 설치된 Y축 이동부재 사이를 가로지르는 X축 이동부재와,
    상기 Y축 이동부재의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제1 구동 모터와,
    상기 X축 이동부재의 왕복 직선 이동의 구동력을 발생시키는 제2구동 모터와,
    상기 X축 이동부재 상에 설치되어 반송 로봇으로부터 웨이퍼를 인계 받아 자기부상하도록 하는 테이블로 구성됨을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테이블의 상부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제1코팅막이 형성되어 있고, 상기 웨이퍼의 하부면에는 +극성의 자성체를 갖는 제2코팅막이 형성됨을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 코팅막은 필름자석임을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
  4. 자기부상형 웨이퍼 스테이지에 있어서,
    하부면이 +극성의 자성체를 갖는 웨이퍼와,
    반송 로봇으로부터 상기 웨이퍼를 인계 받아 자기부상하도록 하는 웨이퍼 테이블로 구성됨을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 웨이퍼 테이블은 컬럼 및 로우 방향으로 각각 다수의 전자석이 배치됨을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
  6. 제5항에 있어서,
    X, Y 방향좌표에 대응하여 상기 웨이퍼의 위치를 변위시키기 위한 제어명령을 발생하는 주제어부와,
    상기 주제어부의 제어명령을 받아 전자석의 +, -극성결정신호를 출력하는 위치제어부와,
    상기 위치제어부로부터 +, -극성결정신호를 받아 상기 다수의 전자석으로 전류를 공급하는 전자석 구동회로를 더 구비하고,
    상기 다수의 전자석은 상기 전자석 구동회로로부터 공급되는 전류에 의해 +극성이나 -극성을 유지하여 상기 웨이퍼를 자기부양시키는 동시에 상기 웨이퍼의 위치이동을 시킴을 특징으로 하는 자기부상형 웨이퍼 스테이지.
KR1020060102676A 2006-10-23 2006-10-23 자기부상형 웨이퍼 스테이지 KR100745371B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060102676A KR100745371B1 (ko) 2006-10-23 2006-10-23 자기부상형 웨이퍼 스테이지
US11/783,482 US7633186B2 (en) 2006-10-23 2007-04-10 Magnetic levitation wafer stage, and method of using the stage in an exposure apparatus
US12/611,149 US7868488B2 (en) 2006-10-23 2009-11-03 Magnetic levitation wafer stage, and method of using the stage in an exposure apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060102676A KR100745371B1 (ko) 2006-10-23 2006-10-23 자기부상형 웨이퍼 스테이지

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100745371B1 true KR100745371B1 (ko) 2007-08-02

Family

ID=38601675

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060102676A KR100745371B1 (ko) 2006-10-23 2006-10-23 자기부상형 웨이퍼 스테이지

Country Status (2)

Country Link
US (2) US7633186B2 (ko)
KR (1) KR100745371B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016018049A1 (ko) * 2014-07-29 2016-02-04 주식회사 엘지실트론 웨이퍼의 결함 측정장치
US11837972B2 (en) 2021-08-31 2023-12-05 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Soft robot using diamagnetic levitation

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013062316A (ja) * 2011-09-12 2013-04-04 Tokyo Electron Ltd 搬送装置及びプラズマ処理システム
DE102013011873B4 (de) 2013-07-17 2015-10-08 Mecatronix Ag Positioniervorrichtung und Verfahren zum Bewegen eines Substrats
DE102013016065B4 (de) 2013-09-27 2016-02-18 Mecatronix Ag Positioniervorrichtung und Verfahren
JP6261967B2 (ja) * 2013-12-03 2018-01-17 株式会社ディスコ 加工装置
DE102014005547B4 (de) 2014-04-16 2016-09-15 Mecatronix Ag Vorrichtung und Verfahren zum Halten, Positionieren und/oder Bewegen eines Objekts
DE102014005897B3 (de) * 2014-04-25 2015-09-17 Mecatronix Ag Vorrichtung zum Halten, Positionieren und/oder Bewegen eines Objekts
DE102015004582B4 (de) 2015-04-09 2017-02-09 Mecatronix Ag Vorrichtung zum Halten, Positionieren und Bewegen eines Objekts
US10014201B1 (en) 2016-12-16 2018-07-03 Solarcity Corporation Magnetic wafer gripper
US11360400B2 (en) 2017-05-19 2022-06-14 Massachusetts Institute Of Technology Transport system having a magnetically levitated transportation stage
US11393706B2 (en) 2018-04-20 2022-07-19 Massachusetts Institute Of Technology Magnetically-levitated transporter

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960038709U (ko) * 1995-05-13 1996-12-18 웨이퍼 노광장치의 스테이지
JP2001284438A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Canon Inc 磁気支持機構、位置決め装置、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法
JP2005079368A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Nikon Corp 磁気浮上式ステージ装置及び露光装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9100202A (nl) * 1991-02-05 1992-09-01 Asm Lithography Bv Lithografische inrichting met een hangende objecttafel.
US5196745A (en) * 1991-08-16 1993-03-23 Massachusetts Institute Of Technology Magnetic positioning device
US5815246A (en) * 1996-12-24 1998-09-29 U.S. Philips Corporation Two-dimensionally balanced positioning device, and lithographic device provided with such a positioning device
EP0866375A3 (en) * 1997-03-17 2000-05-24 Nikon Corporation Article positioning apparatus and exposing apparatus having the same
JPH10270535A (ja) * 1997-03-25 1998-10-09 Nikon Corp 移動ステージ装置、及び該ステージ装置を用いた回路デバイス製造方法
US5991147A (en) * 1997-07-03 1999-11-23 Chiang; Wen-Hsuan Electromagnetic chuck with magnetizing/demagnetizing circuit
AU8747698A (en) * 1997-08-21 1999-03-16 Nikon Corporation Positioning device, driving unit, and aligner equipped with the device
US6285097B1 (en) * 1999-05-11 2001-09-04 Nikon Corporation Planar electric motor and positioning device having transverse magnets
US6144119A (en) * 1999-06-18 2000-11-07 Nikon Corporation Planar electric motor with dual coil and magnet arrays
JP2001118773A (ja) * 1999-10-18 2001-04-27 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
JP2001230305A (ja) * 2000-02-18 2001-08-24 Canon Inc 支持装置
US6603531B1 (en) * 2000-11-16 2003-08-05 Nikon Corporation Stage assembly including a reaction assembly that is connected by actuators
US20030102722A1 (en) * 2001-12-04 2003-06-05 Toshio Ueta Moving magnet type planar motor control
JP4566697B2 (ja) * 2004-11-08 2010-10-20 キヤノン株式会社 位置決め装置およびそれを用いた露光装置、デバイス製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960038709U (ko) * 1995-05-13 1996-12-18 웨이퍼 노광장치의 스테이지
JP2001284438A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Canon Inc 磁気支持機構、位置決め装置、露光装置、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法
JP2005079368A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Nikon Corp 磁気浮上式ステージ装置及び露光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016018049A1 (ko) * 2014-07-29 2016-02-04 주식회사 엘지실트론 웨이퍼의 결함 측정장치
US10255669B2 (en) 2014-07-29 2019-04-09 Sk Siltron Co., Ltd. Defect measuring device for wafers
US11837972B2 (en) 2021-08-31 2023-12-05 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Soft robot using diamagnetic levitation

Also Published As

Publication number Publication date
US7633186B2 (en) 2009-12-15
US20080094603A1 (en) 2008-04-24
US7868488B2 (en) 2011-01-11
US20100045960A1 (en) 2010-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100745371B1 (ko) 자기부상형 웨이퍼 스테이지
KR101409524B1 (ko) 기판 이송 장치
TWI679081B (zh) 載體、遮罩裝置、真空系統及操作一真空系統之方法
KR102479920B1 (ko) 반도체 프로세스 장비
US6339266B1 (en) Planar motor device, stage unit, exposure apparatus and its making method, and device and its manufacturing method
TW201515980A (zh) 磁浮運輸裝置
US9647523B2 (en) Levitated-micro manipulator system
JP7296862B2 (ja) 基板搬送装置及び基板処理システム
KR20190116967A (ko) 진공 챔버 내에서의 캐리어 정렬을 위한 장치 및 진공 시스템, 및 캐리어를 정렬하는 방법
KR101957960B1 (ko) 자기 부상 이송 장치
KR20190021659A (ko) 타워 리프트
TWI687533B (zh) 用於一基板之真空處理之設備、用於具有有機材料之裝置之製造的系統、及用以密封連接二壓力區域之一開孔之方法
JPH10149979A (ja) ステージ装置およびこれを用いた露光装置
JP2019531590A (ja) キャリアを搬送するための装置、基板を真空処理するためのシステム、及び真空チャンバ内でキャリアを搬送するための方法
TW201932999A (zh) 載體的對準方法、載體的對準設備、真空系統以及攜帶遮罩裝置的遮罩載體
KR101264224B1 (ko) 원통형 자기부상 스테이지
US20220185593A1 (en) Film forming system, method for controlling film forming system, and article manufacturing method
JPH0410553A (ja) 半導体基板搬送用チャッキング装置、半導体基板サセプタおよび半導体基板非接触クリーン搬送装置
JP4702313B2 (ja) ステージ装置
JP2023058000A (ja) 基板移送装置および方法
KOH et al. Wafer handling with levitation
KR20200053760A (ko) 기판 반송 장치
KR101574223B1 (ko) 자기부상 구동 스테이지용 도체판의 제조방법 및 이를 통해 제조된 도체판 및 이를 포함하는 자기부상 구동 스테이지
JP2008001496A (ja) 移動ユニット
JPH0224039A (ja) 搬送装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130701

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140630

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150630

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160630

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170630

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180629

Year of fee payment: 12