KR100744518B1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치 및 그 구동 방법에 관한 것으로, 리셋 기간에서 서로 다른 기울기들을 갖는 상승 램프 펄스와 서로 다른 기울기들을 갖는 하강 램프 펄스를 발생하는 PDP 구동 장치 및 그 구동 방법을 제공하는 데 있다. 이러한 본 발명에 따른 PDP 구동 장치 및 그 구동 방법은 안정적인 약 방전 동작이 가능하도록 함과 동시에 상기 약방전이 일어나는 부근의 파형의 기울기를 다르게 조절하여 방전 특성을 향상시키고, 각 서브 필드의 리셋 기간이 차지하는 시간 비율을 감소시킬 수 있으며, 감소된 시간만큼 서스테인 구간 및 어드레스 구간중 하나를 증가시키도록 하여 세트의 절대 휘도를 증가시킬 수 있고, 스캔 시간을 증가시킬 수 있으며, 계조 표현을 향상시킬 수 있다 더욱이 상승 및 하강 램프 펄스 각각에서 복수개의 기울기들을 자유롭게 조정할 수 있어 방전 특성의 매칭이 용이하도록 하여, 기울기들이 변하는 변곡점을 자유롭게 변경할 수 있는 효과를 갖는다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치 및 방법{Apparatus and method for driving Plasma Display Panel}
도 1은 두 개의 서브 필드들에 공급되는 PDP의 구동 파형을 예시적으로 나타내는 파형도들이다.
도 2는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치의 개략적인 블럭도이다.
도 3 (a) 및 (b)는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 구동 장치 및 방법을 설명하기 위한 파형도들이다.
도 4 (a) 및 (b)는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법을 설명하기 위한 파형도들이다.
도 5는 도 2에 도시된 상승 램프 파형 공급부의 본 발명에 의한 바람직한 일 실시예의 회로도이다.
도 6 (a) 및 (b)는 도 3 (a)에 도시된 제1 기울기가 결정되는 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
도 7 (a) 및 (b)는 도 3 (a)에 도시된 제2 기울기가 결정되는 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
도 8은 도 2에 도시된 하강 램프 파형 공급부의 본 발명에 의한 바람직한 일 실시예의 회로도이다.
도 9는 도 5에 도시된 본 발명에 의한 상승 램프 파형 공급부의 실제 구현 례를 나타내는 회로도이다.
도 10는 도 9에 도시된 상승 램프 파형 공급부에 의해 발생된 상승 램프 파형을 나타내는 파형도이다.
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 함)의 구동 장치 및 방법에 관한 것으로서, 특히 리셋 기간(reset period)의 길이를 조정할 수 있는 PDP 구동 장치 및 방법에 관한 것이다.
종래의 교류형 면방전 PDP는 화상의 계조를 구현하기 위해, 한 프레임을 발광 횟수가 다른 여러 서브 필드들로 나누어 시분할 구동하게 된다. 이 때, 각 서브 필드는 전 화면을 초기화시키기 위한 리셋 기간과, 스캔(scan) 라인을 선택하고 선택된 스캔 라인에서 셀을 선택하기 위한 어드레스(address) 기간과, 방전 횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인(sustain) 기간으로 나뉘어진다.
도 1은 두 개의 서브 필드들에 공급되는 PDP의 구동 파형을 예시적으로 나타내는 파형도들로서, 스캔 전극에 공급되는 신호(Y), 서스테인 전극에 공급되는 신호(Z) 및 어드레스 전극에 공급되는 신호(X)를 나타낸다.
도 1을 참조하면, 각 서브 필드는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기 간으로 나뉘어진다. 리셋 기간에 있어서, 셋 업(set-up) 기간에는 모든 스캔 전극들(Y)에 상승 램프 파형(Ramp-up)이 동시에 인가된다. 이 상승 램프 파형에 의해 전 화면의 셀들내에는 미약한 방전(이하, '약 방전'이라 함)이 일어나게 되어 셀들 내에 벽 전하가 생성된다. 셋 다운(set-down) 기간에는 상승 램프 파형(Ramp-up)이 공급된 후, 상승 램프 파형(Ramp-up)의 피크 전압보다 낮은 정극성 전압에서 떨어지는 하강 램프 파형(Ramp-down)이 스캔 전극들(Y)에 동시에 인가된다. 하강 램프 파형(Ramp-down)은 셀들내에서 미약한 소거 방전(이하, '약 방전'이라 함)을 일으킴으로써 셋 업 방전에 의해 생성된 벽 전하 및 공간 전하 중 불요 전하를 소거시키게 되고, 전 화면의 셀들내에 어드레스 방전에 필요한 벽 전하를 균일하게 잔류시키게 된다.
어드레스 기간에서 부극성 스캔 펄스(Scan)가 스캔 전극들(Y)에 순차적으로 인가됨과 동시에 어드레스 전극들(X)에 정극성의 데이타 펄스(data)가 인가된다. 이 스캔 펄스와 데이타 펄스의 전압차와 리셋 기간에 생성된 벽 전압이 더해지면서 데이타 펄스가 인가되는 셀들내에는 어드레스 방전이 발생된다.
서스테인 기간에는 스캔 전극들(Y)과 서스테인 전극들(Z)에 교번적으로 서스테인 펄스(sus)가 인가된다.
전술한 바와 같이, 종래의 PDP 구동 방법은 어드레스 기간에 이용되어질 벽 전하를 형성하기 위해 리셋 기간을 서브 필드마다 필요로 한다. 이 때, 리셋 기간의 셋 업 기간과 셋 다운 기간의 중간에서 통상 일어나는 약 방전을 위해 상승 램프 파형(Ramp-up)이나 하강 램프 파형(Ramp-down)의 기울기는 어느 정도 확보되어 야 한다. 따라서, 종래의 PDP 구동 방법은, 각 서브 필드에서 리셋 기간이 차지하는 시간 비율을 줄이는 데 한계를 갖는 문제점이 있다. 나아가, 셋 업 기간이나 셋 다운 기간이 늘어나므로 인해 서스테인 구간과 어드레스 구간의 시간 확보에 악 영향을 미쳐서 세트의 절대 휘도 감소, 스캔 시간의 감소 및 계조 표현 문제들이 수반될 수 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 리셋 기간에서 약 방전이 일어나는가의 여부에 따라 서로 다른 기울기들을 갖는 상승 램프 펄스와 서로 다른 기울기들을 갖는 하강 램프 펄스를 발생하는 PDP 구동 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.
상기 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치는, 리셋 기간의 셋 업 기간에서 제1 기울기(S1)를 가지고 제1 시간(t1)동안 상승하는 제1 상승기간과, 상기 제1 기울기(S1)보다 작은 제2 기울기(S2)를 가지고 상기 제1 시간(t1)보다 긴 제2 시간(t2)동안 상승하는 제2 상승기간을 갖는 상승 램프 파형을 공급하는 상승 램프 파형 공급부 및 상기 리셋 기간의 셋 다운 기간에서 제3 기울기(S3)를 가지고 제3 시간(t3)동안 하강하는 제3 하강기간과, 상기 제3 기울기(S3)보다 작은 제4 기울기(S4)를 가지고 상기 제3 시간(t3)보다 작은 제4 시간(t4)동안 하강하는 제4 하강기간을 갖는 하강 램프 파형을 공급하는 하강 램프 파형 공급부를 포함하는 것이 바람직하다.
이때, 제1 항에 있어서, 상기 상승 램프 파형 및 하강 램프 파형은 상기 제2 시간(t2)보다 상기 제3 시간(t3)이 더 길고, 시간상 뒤 따르는 쪽의 기울기인 상기 제2 기울기(S2) 및 제4 기울기(S4)에서 약 방전이 일어나는 것이 바람직하다.
상기 상승 램프 파형 공급부는 상기 상승 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 출력하는 제1 레벨 검사부 및 상기 제1 레벨 검사부에서 검사된 결과 에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 상기 상승 램프 파형을 공급하는 제1 기울기 결정부로 구성되는 것이 바람직하다.
상기 제1 기울기 결정부는 상기 검사된 레벨과 제1 기준 레벨을 비교하는 제1 비교부 및 상기 제1 비교부에서 비교된 결과에 응답하여 상기 상승 램프 파형의 기울기를 제1 또는 제2 기울기로서 결정하고, 결정된 기울기를 갖는 상기 상승 램프 파형을 발생하는 제1 파형 발생부로 구성되는 것이 바람직하다. 이 때, 제1 기준 레벨은 바람직하게는 가변된다.
상기 하강 램프 파형 공급부는 상기 하강 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 출력하는 제2 레벨 검사부 및 상기 제2 레벨 검사부에서 검사된 결과에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 상기 하강 램프 파형을 공급하는 제2 기울기 결정부로 구성되는 것이 바람직하다.
상기 제2 기울기 결정부는 상기 검사된 레벨과 제2 기준 레벨을 비교하는 제2 비교부 및 상기 제2 비교부에서 비교된 결과에 응답하여 상기 하강 램프 파형의 기울기를 제3 또는 제4 기울기로서 결정하고, 결정된 기울기를 갖는 상기 하강 램프 펄스를 발생하는 제2 파형 발생부로 구성되는 것이 바람직하다. 이 때, 상기 제2 기준 레벨은 바람직하게는 가변된다.
또한, 리셋 기간의 셋 업 기간에서 제1 기울기(S1)를 가지고 제1 시간(t1)동안 상승하는 제1 상승기간과, 상기 제1 기울기(S1)보다 작은 제2 기울기(S2)를 가지고 상기 제1 시간(t1)보다 긴 제2 시간(t2)동안 상승하는 제2 상승기간을 갖는 상승 램프 파형을 공급하는 단계, 및 상기 리셋 기간의 셋 다운 기간에서 제3 기울기(S3)를 가지고 제3 시간(t3)동안 하강하는 제3 하강기간과, 상기 제3 기울기(S3)보다 작은 제4 기울기(S4)를 가지고 상기 제3 시간(t3)보다 작은 제4 시간(t4)동안 하강하는 제4 하강기간을 갖는 하강 램프 파형을 공급하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.
여기서, 상기 제2 시간(t2)보다 상기 제3 시간(t3)이 더 긴 것이 바람직하다.
이하, 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치의 구성 및 동작과 그 방법을 첨부한 도면들을 참조하여 다음과 같이 설명한다.
도 2는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치의 개략적인 블럭도로서, 상승 램프 파형 공급부(10) 및 하강 램프 파형 공급부(12)로 구성된다.
본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 구동 장치의 상승 램프 파형 공급부(10)는 리셋 기간의 셋 업 기간에서 복수개의 서로 다른 기울기들을 갖는 상승 램프 파형을 발생하고, 발생된 상승 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)를 통해 출력단자 OUT를 통해 출력한다. 이를 위해, 상승 램프 파형 공급부(10)는 셋 업 신호(set_up)에 응답하여 셋 업 전압(Vset_up)의 레벨까지 상승하는 상승 램프 파형을 발생할 수 있다. 여기서, 패널 커패시터(Cp)는 패널의 정전 용량을 등가적으로 나타낸다.
하강 램프 파형 공급부(12)는 리셋 기간의 셋 다운 기간에서 복수개의 서로 다른 기울기들을 갖는 하강 램프 파형을 발생하고, 발생된 하강 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)를 통해 출력단자 OUT를 통해 출력한다. 이를 위해, 하강 램프 파형 공급부(12)는 셋 다운 신호(set_down)에 응답하여 셋 다운 전압(-Vy)의 레벨까지 하강하는 하강 램프 파형을 발생할 수 있다.
본 발명의 이해를 돕기 위해, 상승 램프 파형과 하강 램프 파형 각각은 두 개의 기울기들을 갖는다고 가정하면서 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 구동 장치 및 방법을 설명하지만 본 발명은 이에 국한되지 않는다.
도 3 (a) 및 (b)는 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 구동 장치 및 방법을 설명하기 위한 파형도들로서, 도 3 (a)는 스캔 전극에 공급되는 신호의 파형도를 나타내고, 도 3 (b)는 광 파형도를 각각 나타낸다.
도 2에 도시된 상승 램프 파형 공급부(10)는 도 3 (a)에 도시된 바와 같이 리셋 기간(RSP:ReSet Period)의 셋 업 기간(t1+t2)에서 2개의 서로 다른 기울기들(S1 및 S2)을 갖는 상승 램프 파형을 발생하고, 발생된 상승 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)를 통해 출력단자 OUT를 통해 출력한다. 이 때, 상승 램프 파형은 도 3 (a)에 도시된 바와 같이 셋 업 전압(Vset_up)까지 상승함을 알 수 있다.
하강 램프 파형 공급부(12)는 도 3 (a)에 도시된 바와 같이 리셋 기간(RSP)의 셋 다운 기간(t3+t4)에서 2개의 서로 다른 기울기들(S3 및 S4)을 갖는 하강 램프 파형을 발생하고, 발생된 하강 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)를 통해 출력단자 OUT를 통해 출력한다. 이 때, 하강 램프 파형은 도 3 (a)에 도시된 바와 같이 셋 다운 전압(-Vy)까지 하강함을 알 수 있다.
본 발명에 의하면, 도 3 (a)에 도시된 상승 램프 파형에서 시간상 앞서는 기울기(S1)가 시간상 뒤 따르는 기울기(S2)보다 가파르다. 이와 비슷하게, 도 3 (a)에 도시된 하강 램프 파형에서 시간상 앞서는 기울기(S3)가 시간상 뒤 따르는 기울기(S4)보다 가파르다. 왜냐하면, 시간상 뒤 따르는 쪽에서 약 방전이 일어나기 때문이다. 즉, 도 3 (b)에 도시된 시간(t1)보다 늦은 시간(t2)에서 약 방전(30)이 일 어나고 시간(t3) 보다 늦은 시간(t4)에서 약 방전(32)이 일어나기 때문이다. 여기서, 안정적인 약 방전들(30 및 32)을 수행하기 위해, 시간(t2)은 약 방전(30)이 발생하는 기간 이상으로 설정되고, 시간(t4)은 약 방전(32)이 일어나는 기간 이상으로 설정될 수 있다.
도 4 (a) 및 (b)는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법을 설명하기 위한 파형도들로서, 도 4 (a)는 스캔 전극에 공급되는 신호의 파형도를 나타내고, 도 4 (b)는 광 파형도를 각각 나타낸다.
종래의 경우, 도 4 (a)에 도시된 바와 같이, 상승 램프 파형은 하나의 기울기(Sru)를 갖고, 하강 램프 파형도 하나의 기울기(Srd)를 가짐을 알 수 있다. 이 때, 도 3 (b)에 도시된 약 방전들(30 및 32)이 발생하지 않은 도 3 (a)에 도시된 시간들(t1 및 t3)은 도 4 (a)에 도시된 약 방전들(50 및 52)이 발생하지 않은 도 4 (b)에 도시된 시간들(t5 및 t6)보다 줄어들게 됨을 알 수 있다. 이와 같이, 시간들(t1 및 t3)이 시간들(t5 및 t6)보다 줄어들게 됨으로서 결국, 각 서브 필드에서 리셋 기간(RSP)이 차지하는 시간 비율이 줄어들며, 줄어든 시간 만큼을 어드레스 기간 및 서스테인 기간들중 하나를 위해 이용할 수 있게 된다.
도 5는 도 2에 도시된 상승 램프 파형 공급부(10)의 본 발명에 의한 바람직한 일 실시예의 회로도로서, 제1 레벨 검사부(60), 제1 기울기 결정부(62), 다이오드들(D1 및 D2), 저항들(R7 및 R8) 및 커패시터(C1)로 구성된다.
도 5에 도시된 제1 레벨 검사부(60)는 상승 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 제1 기울기 결정부(62)로 출력한다. 이를 위해, 제1 레벨 검사부(60)는 상승 램프 파형의 레벨을 분배하고, 다음 수학식 1과 같은 분배된 결과(V1)를 상승 램프 파형의 검사된 레벨로서 제1 기울기 결정부(62)로 출력할 수 있다.
Figure 112005055208964-pat00001
여기서, Vout은 패널 커패시터(Cp)로 발생되는 상승 램프 파형을 나타낸다.
본 발명의 실시예에 의하면, 제1 레벨 검사부(60)는 셋 업 전압(Vset_up)과 패널 커패시터(Cp)의 사이에 직렬 연결되는 저항들(R3 및 R4)로 구현될 수 있다.
제1 기울기 결정부(62)는 제1 레벨 검사부(60)에서 검사된 결과에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 상승 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)로 공급한다. 이를 위해, 제1 기울기 결정부(62)는 제1 비교부(80) 및 제1 파형 발생부(82)로 구현될 수 있다. 여기서, 제1 비교부(80)는 제1 레벨 검사부(60)에서 검사된 레벨과 제1 기준 레벨(Vref1)을 비교하고, 비교된 결과를 제1 파형 발생부(82)로 출력한다. 제1 파형 발생부(82)는 제1 비교부(80)에서 비교된 결과에 응답하여 상승 램프 펄스의 기울기를 제1 또는 제2 기울기로서 결정하고, 결정한 기울기를 갖는 상승 램프 파형을 발생한다.
이를 위해, 제1 파형 발생부(82)는 트랜지스터들(Q1 및 Q2), 저항들(R1, R2, R5 및 R6) 및 금속 산화막 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET:Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)(T1)로 구현될 수 있다. 트랜지스터(Q1)는 셋 업 신호(set_up)와 저항(R1)의 일측 사이에 연결되는 컬렉터 및 이미터를 갖고 저항(R5)을 통해 비교기(80)에서 비교된 결과와 연결되는 베이스를 갖는다. 트랜지스터(Q2)는 셋 업 신호(set_up)와 저항(R2)의 일측 사이에 연결되는 이미터 및 컬렉터를 갖고, 저항(R6)을 통해 비교기(80)에서 비교된 결과와 연결되는 베이스를 갖는다. 도 5에서 트랜지스터(Q1)는 NPN 트랜지스터이고 트랜지스터(Q2)는 PNP 트랜지스터이지만 본 발명은 이에 국한되지 않는다.
도 6 (a) 및 (b)는 도 3 (a)에 도시된 제1 기울기(S1)가 결정되는 동작을 설명하기 위한 도면들이고, 도 7 (a) 및 (b)는 도 3 (a)에 도시된 제2 기울기(S2)가 결정되는 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
먼저, 상승 램프 파형의 검사된 레벨(V1)이 제1 기준 레벨(Vref1)보다 작을 때, 비교기(80)에서 비교된 결과에 응답하여 트랜지스터(Q2)는 턴 온(turn-on)되고 트랜지스터(Q1)는 턴 오프(turn-off)되어, 트랜지스터(Q2)와 저항(R2)을 경유하는 화살표 방향(100)으로 전류 경로가 도 6 (a)에 도시된 바와 같이 형성된다. 따라서, 미러 커패시터(C1)는 저항(R2)을 통해 방전되며 램프 동작이 일어난다. 이 경우, 가변 저항(R2)에 의해 상승 램프 파형의 기울기(S1)가 결정되고, 결정된 기울기(S1)를 갖는 상승 램프 파형(102)이 도 6 (b)에 도시된 바와 같이 발생될 수 있다.
그러나, 상승 램프 파형의 검사된 레벨(V1)이 제1 기준 레벨(Vref1)보다 클 때 비교기(80)에서 비교된 결과에 응답하여 트랜지스터(Q1)는 턴 온되고 트랜지스 터(Q2)는 턴 오프되어 트랜지스터(Q1)와 저항(R1)을 경유하는 화살표 방향(110)으로 전류 경로가 도 7 (a)에 도시된 바와 같이 형성된다. 따라서, 미러 커패시터(C1)는 저항(R2) 대신에 저항(R1)을 통해 방전되며 램프 동작이 일어난다. 이 경우, 가변 저항(R1)에 의해 상승 램프 파형의 기울기(S2)가 결정되고, 결정된 기울기(S2)를 갖는 상승 램프 파형(112)이 도 7 (b)에 도시된 바와 같이 발생될 수 있다.
이 때, 도 6 (b)에 도시된 상승 램프 파형(102)의 기울기를 도 7 (b)에 도시된 상승 램프 파형(112)의 기울기보다 크게 하기 위해서는 저항(R2)의 크기를 저항(R1)의 크기보다 작게 하면 된다.
본 발명에 의하면, 제1 기준 레벨(Vref1)은 가변될 수 있다. 이와 같이, 제1 기준 레벨(Vref1)을 조정하여 기울기들(S1 및 S2)이 달리지는 변곡점을 변화시킬 수 있다.
도 8은 도 2에 도시된 하강 램프 파형 공급부(12)의 본 발명에 의한 바람직한 일 실시예의 회로도로서, 제2 레벨 검사부(140), 제2 기울기 결정부(142), 다이오드들(D3 및 D4), 저항들(R16 및 R15) 및 커패시터(C2)로 구성된다.
도 8에 도시된 제2 레벨 검사부(140)는 하강 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 제2 기울기 결정부(142)로 출력한다. 이를 위해, 제2 레벨 검사부(140)는 하강 램프 파형의 레벨을 분배하고, 다음 수학식 2와 같이 분배된 결과(V2)를 하강 램프 파형의 검사된 레벨로서 제2 기울기 결정부(142)로 출력할 수 있다.
Figure 112005055208964-pat00002
본 발명에 의하면, 제2 레벨 검사부(140)는 패널 커패시터(Cp)와 셋 다운 전압(-Vy)의 사이에 직렬 연결되는 저항들(R11 및 R12)로 구현될 수 있다.
제2 기울기 결정부(142)는 제2 레벨 검사부(140)에서 검사된 결과에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 하강 램프 파형을 패널 커패시터(Cp)로 공급한다. 이를 위해, 제2 기울기 결정부(142)는 제2 비교부(150) 및 제2 파형 발생부(152)로 구현될 수 있다. 여기서, 제2 비교부(150)는 제2 레벨 검사부(140)에서 검사된 레벨과 제2 기준 레벨(Vref2)을 비교하고, 비교된 결과를 제2 파형 발생부(152)로 출력한다.
제2 파형 발생부(152)는 제2 비교부(150)에서 비교된 결과에 응답하여 하강 램프 펄스의 기울기를 제3 또는 제4 기울기로서 결정하고, 결정한 기울기를 갖는 하강 램프 펄스를 발생한다. 이를 위해, 제2 파형 발생부(152)는 트랜지스터들(Q3 및 Q4), 저항들(R9, R10, R13 및 R14) 및 MOSFET(T2)로 구현될 수 있다. 트랜지스터(Q3)는 셋 다운 신호(set_down)와 저항(R9)의 일측 사이에 연결되는 컬렉터 및 이미터를 갖고 저항(R13)을 통해 비교기(150)에서 비교된 결과와 연결되는 베이스를 갖는다. 트랜지스터(Q4)는 셋 다운 신호(set_down)와 저항(R10)의 일측 사이에 연결되는 이미터 및 컬렉터를 갖고, 저항(R14)을 통해 비교기(150)에서 비교된 결과와 연결되는 베이스를 갖는다. 도 8에서 트랜지스터(Q3)는 NPN 트랜지스터이고 트랜지스터(Q4)는 PNP 트랜지스터이지만 본 발명은 이에 국한되지 않는다.
도 3 (a)를 참조하면 먼저, 하강 램프 파형의 검사된 레벨(V2)이 제2 기준 레벨(Vref2)보다 작을 때, 비교기(150)에서 비교된 결과에 응답하여 트랜지스터(Q4)는 턴 온되고 트랜지스터(Q3)는 턴 오프된다. 이 경우, 가변 저항(R10)에 의해 하강 램프 파형의 기울기(S3)가 결정되고, 결정된 기울기(S3)를 갖는 하강 램프 파형이 발생될 수 있다. 즉, 가변 저항(R10)의 저항값을 조정하여 기울기(S3)를 다르게 할 수 있다.
그러나, 하강 램프 파형의 검사된 레벨(V2)이 제2 기준 레벨(Vref2)보다 클 때 비교기(150)에서 비교된 결과에 응답하여 트랜지스터(Q3)는 턴 온되고 트랜지스터(Q4)는 턴 오프된다. 이 경우, 가변 저항(R9)에 의해 하강 램프 파형의 기울기(S4)가 결정되고, 결정된 기울기(S4)를 갖는 하강 램프 파형이 발생될 수 있다. 즉, 가변 저항(R9)의 저항값을 조정하여 기울기(S4)를 다르게 할 수 있다.
본 발명에 의하면, 제2 기준 레벨(Vref2)은 가변될 수 있다. 이와 같이, 제2 기준 레벨(Vref2)을 조정하여 기울기들(S3 및 S4)이 달리지는 변곡점을 변화시킬 수 있다.
도 9는 도 5에 도시된 본 발명에 의한 상승 램프 파형 공급부(10)의 실제 구현 례를 나타내는 회로도로서, 전압(V8)은 도 5에 도시된 셋 업 신호(set_up)에 해당하고, 전압(V7)은 도 5에 도시된 셋 업 전압(Vset_up)에 해당한다.
도 10는 도 9에 도시된 상승 램프 파형 공급부(10)에 의해 발생된 상승 램프 파형을 나타내는 파형도로서, 종축은 전압을 나타내고, 횡축은 시간을 각각 나타낸 다.
도 10에 도시된 셋 업 기간에서, 두 개의 다른 기울기들을 갖는 상승 램프 펄스가 발생됨을 알 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치 및 방법은
1. 복수개의 기울기들을 갖는 상승 램프 펄스를 발생하고, 복수개의 기울기들을 갖는 하강 램프 펄스를 발생하므로 안정적인 약 방전 동작이 가능하도록 함과 동시에 상기 약방전이 일어나는 부근의 파형의 기울기를 다르게 조절하여 방전 특성을 향상시키고,
2. 상승 램프 펄스 및 하강 램프 펄스 각각에서 약 방전이 일어나지 않은 부분의 기울기를 약 방전이 일어나는 부분의 기울기보다 크게 하므로, 각 서브 필드의 리셋 기간이 차지하는 시간 비율을 감소시킬 수 있고, 감소된 시간만큼 서스테인 구간 및 어드레스 구간중 하나를 증가시키도록 하여 세트의 절대 휘도를 증가시킬 수 있고, 스캔 시간을 증가시킬 수 있고, 계조 표현을 향상시킬 수 있으며,
3. 상승 램프 펄스 및 하강 램프 펄스 각각에서 복수개의 기울기들을 자유롭게 조정할 수 있어 방전 특성의 매칭이 용이하도록 하고,
4. 제1 및 제2 기준 레벨들중 적어도 하나를 조정하여 기울기들이 변하는 변곡점을 자유롭게 변경할 수 있는 효과를 갖는다.

Claims (11)

  1. 리셋 기간의 셋 업 기간에서 제1 기울기(S1)를 가지고 제1 시간(t1)동안 상승하는 제1 상승기간과, 상기 제1 기울기(S1)보다 작은 제2 기울기(S2)를 가지고 상기 제1 시간(t1)보다 긴 제2 시간(t2)동안 상승하는 제2 상승기간을 갖는 상승 램프 파형을 공급하는 상승 램프 파형 공급부; 및
    상기 리셋 기간의 셋 다운 기간에서 제3 기울기(S3)를 가지고 제3 시간(t3)동안 하강하는 제3 하강기간과, 상기 제3 기울기(S3)보다 작은 제4 기울기(S4)를 가지고 상기 제3 시간(t3)보다 작은 제4 시간(t4)동안 하강하는 제4 하강기간을 갖는 하강 램프 파형을 공급하는 하강 램프 파형 공급부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 상승 램프 파형 및 하강 램프 파형은,
    상기 제2 시간(t2)보다 상기 제3 시간(t3)이 더 긴 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 제2 기울기(S2) 및 제4 기울기(S4)에서 약 방전이 일어나는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 상승 램프 파형 공급부는
    상기 상승 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 출력하는 제1 레벨 검사부; 및
    상기 제1 레벨 검사부에서 검사된 결과에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 상기 상승 램프 파형을 공급하는 제1 기울기 결정부를 구비하는 것을 특징으로 하 는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  5. 제4 항에 있어서, 상기 제1 기울기 결정부는
    상기 검사된 레벨과 제1 기준 레벨을 비교하는 제1 비교부; 및
    상기 제1 비교부에서 비교된 결과에 응답하여 상기 상승 램프 파형의 기울기를 제1 또는 제2 기울기로서 결정하고, 결정된 기울기를 갖는 상기 상승 램프 파형을 발생하는 제1 파형 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  6. 제5 항에 있어서, 상기 제1 기준 레벨은 가변되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  7. 제1 항에 있어서, 상기 하강 램프 파형 공급부는
    상기 하강 램프 파형의 레벨을 검사하고, 검사된 결과를 출력하는 제2 레벨 검사부; 및
    상기 제2 레벨 검사부에서 검사된 결과에 응답하여 결정한 기울기들을 갖는 상기 하강 램프 파형을 공급하는 제2 기울기 결정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  8. 제7 항에 있어서, 상기 제2 기울기 결정부는
    상기 검사된 레벨과 제2 기준 레벨을 비교하는 제2 비교부; 및
    상기 제2 비교부에서 비교된 결과에 응답하여 상기 하강 램프 파형의 기울기를 제3 또는 제4 기울기로서 결정하고, 결정된 기울기를 갖는 상기 하강 램프 펄스를 발생하는 제2 파형 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  9. 제8 항에 있어서, 상기 제2 기준 레벨은 가변되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 장치.
  10. 리셋 기간의 셋 업 기간에서 제1 기울기(S1)를 가지고 제1 시간(t1)동안 상승하는 제1 상승기간과, 상기 제1 기울기(S1)보다 작은 제2 기울기(S2)를 가지고 상기 제1 시간(t1)보다 긴 제2 시간(t2)동안 상승하는 제2 상승기간을 갖는 상승 램프 파형을 공급하는 단계; 및
    상기 리셋 기간의 셋 다운 기간에서 제3 기울기(S3)를 가지고 제3 시간(t3)동안 하강하는 제3 하강기간과, 상기 제3 기울기(S3)보다 작은 제4 기울기(S4)를 가지고 상기 제3 시간(t3)보다 작은 제4 시간(t4)동안 하강하는 제4 하강기간을 갖는 하강 램프 파형을 공급하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 제2 시간(t2)보다 상기 제3 시간(t3)이 더 긴 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법.
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