KR100710006B1 - A metalic pattern device for semiconductor - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 금형장치에 관한 것으로, 트리밍된 반도체 패키지의 슬러그(slug)를 제거할 때 반도체 패키지의 리드 상에 얹혀진 이물질(junk)로 인해 반도체 패키지의 리드가 휘어지는 등의 손상이 발생하는 것을 방지하고, 슬러그를 효과적으로 제거할 수 있도록 한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor mold apparatus, and prevents damage such as bending of a lead of a semiconductor package due to a foreign matter placed on the lead of the semiconductor package when removing a slug of a trimmed semiconductor package. The slug can be effectively removed.
이를 위한 본 발명은, 하부홀더와, 상기 하부홀더의 상측에 상하로 승강가능하게 설치되는 상부홀더와, 상기 상부홀더에 설치되어 상기 하부홀더 상의 리드프레임의 소정 부분을 펀칭하여 절단하는 트리밍 펀치와, 상기 상부홀더에 설치되어 상기 트리밍 펀치에 의한 트리밍 작업후 리드프레임의 리드 사이에 끼인 슬러그를 제거하는 슬러그 제거용 펀치를 포함하여 구성된 반도체 금형장치에 있어서, 상기 슬러그 제거용 펀치는, 상기 상부홀더에 고정되는 리테이너와, 상기 리테이너에 상하로 일정 거리 이동가능하게 설치되며 그 하단부가 리드프레임의 슬러그와 접촉하여 슬러그를 제거하는 적어도 1개 이상의 슬러그 제거부재와, 상기 리테이너에 대해 각 슬러그 제거부재를 개별적으로 탄발지지하는 탄성부재를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 금형장치를 제공한다. To this end, the present invention, the lower holder, the upper holder is installed to be able to move up and down on the upper side of the lower holder, the trimming punch is installed in the upper holder and punching a predetermined portion of the lead frame on the lower holder and And a slug removing punch installed in the upper holder and removing a slug caught between the leads of the lead frame after the trimming operation by the trimming punch, wherein the slug removing punch is the upper holder. A retainer fixed to the at least one slug removal member installed at the retainer so as to be movable up and down a predetermined distance, and having a lower end thereof contacting the slug of the lead frame to remove the slug, and each slug removing member with respect to the retainer. It characterized in that it comprises an elastic member for supporting the individual shot Provides a semiconductor mold apparatus.
반도체, 금형장치, 트리밍, 펀치, 댐바, 슬러그, slug Semiconductor, mold equipment, trimming, punch, dambar, slug, slug
Description
도 1은 일반적인 리드프레임 상의 반도체 패키지의 구조를 나타낸 평면도1 is a plan view showing the structure of a semiconductor package on a typical lead frame
도 2는 종래의 반도체 금형장치의 구조를 나타낸 요부 단면도2 is a sectional view showing the main parts of a conventional semiconductor mold apparatus;
도 3과 도 4는 도 2의 A부 확대도로, 반도체 금형장치에서 슬러그 제거용 펀치에 의해 이루어지는 슬러그 제거 작업을 순차적으로 나타낸 요부 단면도3 and 4 are enlarged views of the portion A of FIG. 2, and a cross-sectional view of the main parts sequentially showing a slug removing operation performed by a slug removing punch in the semiconductor mold apparatus.
도 5는 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치를 갖는 반도체 금형장치의 구조를 나타낸 요부 단면도Fig. 5 is a sectional view showing the main parts of a semiconductor mold apparatus having a slug removing punch according to the present invention.
도 6과 도 7은 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치의 일 실시예를 나타낸 분해 사시도6 and 7 are an exploded perspective view showing an embodiment of a slug removal punch according to the present invention
도 8은 도 7의 I-I 단면도로, 슬러그 제거용 펀치가 결합된 상태의 도면8 is a cross-sectional view taken along line I-I of FIG. 7, with a slug removing punch coupled thereto. FIG.
도 9는 도 5의 B부의 확대도 9 is an enlarged view of a portion B of FIG. 5;
도 10은 도 9의 C부분 확대도로, 본 발명의 슬러그 제거용 펀치에 의해 슬러그 제거 작업이 이루어지는 것을 나타낸 도면FIG. 10 is an enlarged view of a portion C of FIG. 9, showing that a slug removing operation is performed by the slug removing punch of the present invention.
도 11은 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치의 다른 실시예를 나타낸 요부 단면도11 is a sectional view showing the principal parts of another embodiment of a slug removing punch according to the present invention;
도 12는 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치의 다른 실시예를 나타낸 분해 사시도12 is an exploded perspective view showing another embodiment of the slug removal punch according to the present invention.
도 13은 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치의 또 다른 실시예가 적용된 반도체 금형장치의 요부 단면도13 is a sectional view of principal parts of a semiconductor mold apparatus to which another embodiment of a slug removing punch according to the present invention is applied.
도 14는 도 13의 슬러그 제거용 펀치의 구조를 나타낸 분해 사시도FIG. 14 is an exploded perspective view showing the structure of the slug removing punch of FIG.
도 15는 도 13의 슬러그 제거용 펀치의 다른 실시예의 구조를 나타낸 분해 사시도15 is an exploded perspective view showing the structure of another embodiment of the slug removing punch of FIG.
도 16은 도 13의 슬러그 제거용 펀치의 또 다른 실시예의 구조를 나타낸 분해 사시도FIG. 16 is an exploded perspective view showing the structure of still another embodiment of the slug removing punch of FIG.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
40 : 트리밍 펀치 500 : 슬러그 제거용 펀치 40: trimming punch 500: slug removal punch
510 : 리테이너 512 : 스프링 삽입홀 510: retainer 512: spring insertion hole
514 : 삽입홀 516 : 에어가이드홈514: insertion hole 516: air guide groove
520 : 슬러그 제거부재 521 : 돌출부 520: slug removal member 521: protrusion
522 : 스프링 안착홈 523 : 스톱퍼522: spring seating groove 523: stopper
540 : 리테이너 커버 545 : 볼트 540: Retainer Cover 545: Bolt
546 : 공압연결홀 60 : 공압라인546: pneumatic connection hole 60: pneumatic line
LF : 리드프레임 P : 반도체 패키지LF: Leadframe P: Semiconductor Package
L : 리드 D : 댐바L: Lead D: Dambar
S : 슬러그(slug) J : 이물질(junk)S: Slug J: Junk
본 발명은 반도체 금형장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 패키지제조 공정 중 트리밍(trimming) 작업을 수행할 때 트리밍 직후 리드 사이에 끼여있는 슬러그(slug)를 제거하는 반도체 금형장치의 슬러그 제거용 펀치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로, 반도체 금형장치로는 댐바를 제거하는 트리밍 금형장치와, 리드프레임의 리드를 절단 및 성형하는 포밍 금형장치, 반도체 패키지를 본체로부터 분리하는 싱귤레이션 금형장치 등이 있다. In general, a semiconductor mold apparatus includes a trimming mold apparatus for removing a dam bar, a forming mold apparatus for cutting and molding a lead of a lead frame, and a singulation mold apparatus for separating a semiconductor package from a main body.
첨부된 도면의 도 1은 리드프레임 상의 반도체 패키지의 구조를 나타낸 것으로, 리드프레임 상에는 각 반도체 패키지(P)의 리드(L)들을 상호 연결하는 댐바(D)가 형성되어 있다. 상기 반도체 금형장치 중 트리밍(trimming) 금형장치는 상기 리드프레임의 댐바(D)를 펀칭하여 절단함으로써 트리밍 작업을 수행하는 역할을 한다. FIG. 1 of the accompanying drawings shows a structure of a semiconductor package on a lead frame, and a dam bar D for interconnecting the leads L of each semiconductor package P is formed on the lead frame. A trimming mold apparatus of the semiconductor mold apparatus serves to perform a trimming operation by punching and cutting the dam bar D of the lead frame.
도 2 내지 도 4를 참조하여, 이러한 종래의 반도체 트리밍 금형장치의 일례를 설명하면 다음과 같다. An example of such a conventional semiconductor trimming mold apparatus will be described with reference to FIGS. 2 to 4 as follows.
종래의 트리밍 금형장치는 베이스에 놓여지는 하부홀더(10)와, 프레스로드(미도시)의 상단부에 설치되어 상하 이동되는 승강블록(미도시)에 삽탈가능하게 결합되는 상부홀더(20)를 포함한다. The conventional trimming mold apparatus includes a
상기 하부홀더(10)는 베이스에 놓여져 고정되는 하부홀더본체(11)와, 이 하 부홀더본체(11)의 상면에 고정되는 다이홀더하우징(12)과, 상기 다이홀더하우징(12)에 얹혀져 고정되는 다이홀더보강판(131) 및, 이 다이홀더보강판(131)의 상면에 얹혀져 고정되는 다이홀더(132)로 구성된다. 상기 다이홀더(132)에는 복수개의 다이(15)가 견고하게 고정된다. The
상기 다이홀더하우징(12)과 다이홀더보강판(131)과 다이홀더(132)의 양측면부에 하부 고정판(14)이 결합된다. The
그리고, 상기 상부홀더(20)는 승강블록(미도시)에 결합되어 상하로 승강 운동하는 상부홀더본체(21)와, 상기 상부홀더본체(21)의 저면에 고정되는 펀치홀더하우징(22)과, 상기 펀치홀더하우징(22)의 저면에 차례로 결합되는 펀치홀더보강판(231)및, 펀치홀더(232)로 구성된다. 상기 펀치홀더하우징(22)과 펀치홀더보강판(231)과 펀치홀더(232)의 양측면부에는 상부고정판(24)이 결합된다. In addition, the
여기서, 상기 다이홀더보강판(131)과 다이홀더(132)는 하부모듈(13)이라 하고, 상기 펀치홀더보강판(231)과 펀치홀더(232)는 상부모듈(23)이라 하며, 가동 대상 리드프레임의 종류가 교체될 때 상기 하부모듈(13) 및 상부모듈(23)을 해당 리드프레임에 맞는 것으로 교환하게 된다. The die
상기 펀치홀더(232)에는 상기 다이(15)와 대응되는 위치에 리드프레임을 절단하는 트리밍 펀치(40)와 슬러그 제거용 펀치(50)가 고정된다. 상기 트리밍 펀치(40)는 리드프레임의 댐바(D)(도 1참조)를 제거하는 트리밍(trimming) 작업을 행하는 기능을 하며, 상기 슬러그 제거용 펀치(50)는 트리밍 후 트리밍 펀치와 댐바와의 압착에 의해 댐바가 트리밍 펀치에 부착되어 커팅후 댐바가 낙하되지 못하고 트 리밍 펀치 상승시 다시 댐바가 커팅되었던 자리, 즉 리드와 리드 사이에 끼이는 댐바(소위 슬러그(slug)라 함, 이하 '슬러그'라 함)를 제거하는 기능을 한다. The
또한, 상기 펀치홀더(232)에는 펀치가이드핀(28)이 설치되며, 상기 다이홀더(132)와 다이홀더보강판(131) 및 다이홀더하우징(12)에는 상기 펀치가이드핀(28)이 삽입되면서 안내되는 가이드홀(16)이 형성된다. In addition, a
상기 펀치홀더(232)의 하부에는 스트립퍼홀더(30)가 펀치홀더(232)에 대해 상하로 이동 가능하게 결합되어 스프링(미도시)에 의해 하방향으로 탄발지지되며, 상기 스트립퍼홀더(30)에는 트리밍 펀치(40)가 리드프레임의 댐바를 절단할 때 트리밍 펀치(40)를 가이드하여 리드프레임을 고정하는 역할을 하는 스트립퍼(35)가 고정된다. The
여기서, 상기 트리밍 펀치(40)와 슬러그 제거용 펀치(50)는 상기 스트립퍼홀더(30) 및 스트립퍼(35)에 형성된 홀을 통해 안내되면서 상하로 자유롭게 슬라이딩할 수 있도록 되어 있으며, 상기 펀치가이드핀(28) 또한 스트립퍼홀더(30)를 관통하여 상하로 슬라이딩할 수 있도록 되어 있다.Here, the
상기와 같이 구성된 종래의 금형장치는 다음과 같이 작동한다.The conventional mold apparatus configured as described above operates as follows.
복수개의 반도체 패키지(P)가 형성된 리드프레임(LF)이 이송장치를 구성하는 플로터(미도시)를 따라서 이송되어 펀칭위치에 정렬되면, 프레스장치(미도시)에 의해 상부홀더(20)와, 트리밍 펀치(40) 및 스트립퍼(35)가 함께 하강한다. When the lead frame LF in which the plurality of semiconductor packages P are formed is transferred along a plotter (not shown) constituting the transfer device and aligned at the punching position, the
상기 상부홀더(20)가 계속 하강하여 상,하측 스톱퍼(미도시)가 서로 맞닿으면 스트립퍼(35) 및 스트립퍼홀더(30)는 리드프레임의 상면에 근접된 상태로 이 위 치에서 정지한다. 이 때, 상기 스트립퍼홀더(30)는 스프링(미도시)에 의해 상부홀더본체(21)에 탄성적으로 지지되어 있으므로 상기 상부홀더(20)가 계속하여 하강하게 되면 트리밍 펀치(40)가 스트립퍼(35)의 홀을 통해 하강하여 다이(15)에 놓여진 리드프레임(LF)의 댐바를 절단하게 된다.When the
트리밍 펀치(40)가 리드프레임(LF)의 댐바를 절단하고 나면, 상부홀더(20)의 승강에 의해 트리밍 펀치(40)는 스트립퍼(35)의 홀을 따라 상승하게 되고, 이후 스트립퍼(35)도 상승하게 된다. After the
이어서, 플로터(미도시)의 작동에 의해 리드프레임(LF)이 1 스탭 이동하여 트리밍된 반도체 패키지(P)가 슬러그 제거용 펀치(50)의 하부에 위치된다. Subsequently, the lead frame LF is moved by one step by the operation of the plotter (not shown) so that the trimmed semiconductor package P is positioned below the
그리고, 전술한 것처럼 다시 상부홀더(200)가 하강하여 슬러그 제거용 펀치(50)가 트리밍된 리드 사이에 끼여 있는 슬러그(S)를 밀어내 제거한다. Then, as described above, the upper holder 200 descends again to push and remove the slug S sandwiched between the sled removing
이 후, 리드프레임(LF)은 비전 검사 장치로 이송되어 트리밍 작업후 리드의 이상 유무가 검사된다. After that, the lead frame LF is transferred to the vision inspection apparatus, and the lead frame LF is inspected after the trimming operation.
그러나, 상기와 같이 트리밍 작업 후 슬러그 제거용 펀치(50)가 슬러그를 제거할 때, 도 4에 도시된 것처럼 반도체 패키지의 리드(L) 상에 이물질(junk)(J)이 쌓이는 경우 슬러그 제거용 펀치(50)의 하중에 의해 리드프레임의 리드(L)가 아래로 휘어지거나, 리드에 스크래치가 발생된다. 특히 리드가 휘어지는 경우 반도체 패키지에 크랙(crack)이 발생하는 등의 문제가 있다.However, when the
더욱 구체적으로 설명하면, 종래의 반도체 트리밍 금형장치의 슬러그 제거용 펀치(50)는 반도체 패키지의 4변 부분의 슬러그를 제거할 수 있도록 전체가 일체로 이루어져 있으며, 상부홀더(20)에 고정되어 있다. 따라서, 슬러그 제거용 펀치(50)가 하강하여 슬러그를 제거할 때 반도체 패키지(P)의 리드(L) 상에 이물질(J)이 존재하게 되면 슬러그 제거용 펀치(50)의 하단부가 이 이물질을 누르게 되고, 이 때 슬러그 제거용 펀치(50)의 하중이 그대로 리드에 전달되어 리드가 휘는 등의 문제가 발생하게 되는 것이다.More specifically, the
물론, 슬러그 제거용 펀치(50)를 상부홀더(20)에 대해 스프링과 같은 탄성체로 탄발지지하도록 할 경우 반도체 패키지의 리드에 전달되는 하중을 경감시킬 수는 있으나, 이 경우에도 슬러그 제거용 펀치(50) 자체의 하중이 리드에 전달되기 때문에 리드가 휘는 등 변형이 발생하는 현상을 원천적으로 방지할 수는 없다. Of course, when the
또한, 종래의 슬러그 제거용 펀치(50)는 어느 한 편에서 상기와 같은 문제가 발생할 경우 슬러그 제거용 펀치(50)가 한 쪽으로 기울어지게 되는데, 이 때 슬러그 제거용 펀치(50)가 상부홀더의 설치 공간 내벽에 끼이게 되어 이후 슬러그 제거 불량이 발생하게 되는 문제도 있었다. In addition, in the conventional
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 트리밍된 반도체 패키지의 슬러그(slug)를 제거할 때 반도체 패키지의 리드 상에 얹혀진 이물질(junk)로 인해 반도체 패키지의 리드가 휘어지는 등의 손상이 발생하는 것을 방지하고, 슬러그를 효과적으로 제거할 수 있는 반도체 금형장치의 슬러그 제거용 펀치를 제공하는 것이다. The present invention is to solve the above problems, an object of the present invention is that the lead of the semiconductor package is bent due to the foreign matter (junk) placed on the lead of the semiconductor package when removing the slug of the trimmed semiconductor package It is to provide a slug removal punch of a semiconductor mold apparatus that can prevent damage such as occurrence of the sludge and can effectively remove slugs.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 한 형태에 따르면, 본 발명인 반도체 금형장치는 상부에 리드프레임이 안착되는 하부홀더; 상기 하부홀더에 대해 상하로 승강가능하게 설치되는 상부홀더; 상기 상부홀더에 설치되어 상기 리드프레임의 소정부분을 절단하는 트리밍 펀치; 그리고, 상기 트리밍 펀치에 의한 트리밍 작업후 리드프레임의 리드 사이에 끼인 슬러그를 제거하도록, 상기 상부홀더에 구비되는 리테이너의 각 변에 적어도 하나 이상 구비되어 상하로 개별적으로 일정 거리 이동가능하게 설치되어 상기 리드프레임의 슬러그를 제거하는 슬러그 제거부재와, 상기 리테이너의 일단과 상기 슬러그 제거부재의 일측 사이에 개재되어 상기 각각의 슬러그 제거부재의 이동방향으로 개별적으로 탄성지지하는 탄성부재를 구비하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, the semiconductor mold apparatus of the present invention comprises a lower holder seated on the upper lead frame; An upper holder installed up and down relative to the lower holder; A trimming punch installed at the upper holder to cut a predetermined portion of the lead frame; In addition, at least one side is provided at each side of the retainer provided in the upper holder to remove slugs caught between the leads of the lead frame after the trimming operation by the trimming punch. And a slug removing member for removing the slug of the lead frame, and an elastic member interposed between one end of the retainer and one side of the slug removing member to support the slug removing member individually in the moving direction of the slug removing member. do.
상기 탄성부재의 상부를 지지하도록 리테이너의 상부에 고정되는 리테이너 커버를 더 포함하여 구성된 것이 바람직하다.
상기 탄성부재의 탄성력의 크기는 상기 리드프레임의 리드에 변형을 가하지 않으면서 슬러그를 제거할 수 있는 범위 이내인 것을 특징으로 한다.
상기 리테이너에 상기 슬러그 제거부재가 관통하며 설치되는 삽입홀이 단차지게 형성되고, 상기 슬러그 제거부재의 상단부에 상기 삽입홀의 단차부에 걸려 슬러그 제거부재의 하측 이동을 제한하는 스톱퍼가 형성된 것을 특징으로 한다.
상기 리테이너와 슬러그 제거부재가 연접하는 면 사이에 상측에서부터 하측으로 연통되게 형성되는 에어가이드홈과, 상기 리테이터에 상기 에어가이드홈과 연결되도록 설치되어 상기 슬러그 제거부재의 접근전에 슬러그를 제거할 수 있도록 상기 에어가이드홈을 통해 리드프레임 쪽으로 공기를 공급하는 공압라인을 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
상기 에어가이드홈은 하단부로 갈수록 외측으로 확장된 형태로 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 한 형태에 따르면, 반도체 금형장치는 상부에 리드프레임이 안착되는 하부홀더; 상기 하부홀더에 대해 상하로 승강가능하게 설치되는 상부홀더; 상기 상부홀더에 설치되어 상기 리드프레임의 소정부분을 절단하는 트리밍 펀치; 상기 리드프레임의 슬러그를 제거하는 슬러그 제거용 펀치를 포함하고, 상기 트리밍 펀치에 의한 트리밍 작업후 리드프레임의 리드 사이에 끼인 슬러그를 제거하도록, 상기 상부홀더에 구비되는 리테이너와, 상기 리테이너가 리드프레임에 근접했을 때 상기 리드프레임의 슬러그를 제거하기 위해 공기를 분사하는 에어분사부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다. Preferably it further comprises a retainer cover that is fixed to the upper portion of the retainer to support the upper portion of the elastic member.
The size of the elastic force of the elastic member is characterized in that it is within the range to remove the slug without applying deformation to the lead of the lead frame.
The retainer is characterized in that the insertion hole through which the slug removing member penetrates is formed to be stepped, and a stopper is formed on the upper end of the slug removing member to restrict the downward movement of the slug removing member to the stepped portion of the insertion hole. .
An air guide groove formed to communicate from the upper side to the lower side between the surface where the retainer and the slug removing member are in contact with each other is installed to be connected to the air guide groove in the retainer, so that the slug can be removed before the slug removing member approaches. It characterized in that it further comprises a pneumatic line for supplying air toward the lead frame through the air guide groove.
The air guide groove is characterized in that formed in the form extending to the outside toward the lower end.
According to another aspect of the present invention, a semiconductor mold apparatus includes a lower holder on which a lead frame is mounted; An upper holder installed up and down relative to the lower holder; A trimming punch installed at the upper holder to cut a predetermined portion of the lead frame; And a retainer provided in the upper holder and a retainer provided in the upper holder to remove slugs between the leads of the lead frame after trimming by the trimming punch. It is characterized in that it further comprises an air injection unit for injecting air to remove the slug of the lead frame when approaching.
이하, 본 발명에 따른 반도체 금형장치의 바람직한 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the semiconductor mold apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
참고로, 이해를 돕기 위하여 반도체 금형장치의 구성 중 종래와 동일한 부분에 대해서는 동일한 참조부호를 병기하며, 그 상세한 설명은 생략한다. For reference, for the sake of understanding, the same reference numerals are given to the same parts of the structure of the semiconductor mold apparatus in the related art, and the detailed description thereof will be omitted.
먼저, 도 5는 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치를 갖는 반도체 금형장치의 전체 구성을 나타낸 것으로, 본 발명의 반도체 금형장치는 베이스에 놓여지는 하부홀더(10)와, 상부홀더(20)를 포함한다. First, Figure 5 shows the overall configuration of a semiconductor mold apparatus having a slug removal punch according to the present invention, the semiconductor mold apparatus of the present invention includes a
상기 하부홀더(10)는 하부홀더본체(11)와, 다이홀더하우징(12)과, 다이홀더보강판(131)와, 다이홀더(132) 및, 하부 고정판(14)으로 구성된다. 상기 다이홀더(132)에는 복수개의 다이(15)가 견고하게 고정된다. The
그리고, 상기 상부홀더(20)는 상부홀더본체(21)와, 펀치홀더하우징(22)과, 펀치홀더보강판(231)과, 펀치홀더(232) 및, 상부고정판(24)으로 구성된다. The
상기 상부홀더(20)에는 상기 다이(15)와 대응되는 위치에 리드프레임의 트리밍 작업을 수행하는 트리밍 펀치(40)와 슬러그 제거용 펀치(500)가 고정된다. 상기 트리밍 펀치(40)는 리드프레임의 댐바(D)(도 1참조)를 제거하는 트리밍(trimming) 작업을 행하는 기능을 하며, 상기 슬러그 제거용 펀치(50)는 트리밍 후 리드 사이에 끼이는 슬러그(slug)를 제거하는 기능을 한다. A trimming
또한, 상기 펀치홀더(232)에는 펀치가이드핀(28)이 설치되며, 상기 다이홀더(132)와 다이홀더보강판(131) 및 다이홀더하우징(12)에는 상기 펀치가이드핀(28)이 삽입되면서 안내되는 가이드홀(16)이 형성된다. In addition, a
상기 펀치홀더(232)의 하부에는 스트립퍼홀더(30)가 펀치홀더(232)에 대해 상하로 이동 가능하게 결합되어 스프링(미도시)에 의해 하방향으로 탄발지지되며, 상기 스트립퍼홀더(30)에는 트리밍 펀치(40)가 리드프레임의 댐바를 절단할 때 리드프레임을 고정하는 역할을 하는 스트립퍼(35)가 고정된다. The
여기서, 상기 트리밍 펀치(40)와 슬러그 제거용 펀치(500)는 상기 스트립퍼홀더(30) 및 스트립퍼(35)에 형성된 홀을 통해 안내되면서 상하로 자유롭게 슬라이딩한다. Here, the trimming
상기 슬러그 제거용 펀치(500)는 도 6 내지 도 8에 도시된 것과 같이, 상부가 하부보다 더 큰 면적을 갖는 직방체 형태의 리테이너(510)(retainer)와, 상기 리테이너(510)의 4변에 상하로 이동가능하게 설치되는 4개의 슬러그 제거부재(520)와, 상기 각각의 슬러그 제거부재(520)의 상부를 탄성적으로 지지하는 4개의 스프링(530) 및, 상기 스프링(530)의 상부를 지지하도록 슬러그 제거부재(520)의 상면에 결합되며 상기 상부홀더(20)(도 5참조)의 펀치홀더보강판(231)에 고정되는 리테이너 커버(540)로 이루어진다. 6 to 8, the
상기 리테이너(510)는 각 변부에 상기 슬러그 제거부재(520)가 삽입되는 삽입홀(514)이 상부에서 하부로 관통되게 형성되어 있다. 상기 삽입홀(514)의 내벽에는 단차지게 형성된 단차부(515)가 형성되어 있다. The
또한, 상기 리테이너(510)의 각 변부 중앙에는 상기 스프링(530)이 삽입되는 스프링 삽입홀(512)이 상기 삽입홀(514)과 연통되게 형성된다. In addition, a
그리고, 상기 슬러그 제거부재(520)는 판상으로 이루어지며, 그 하단부에는 리드프레임 상의 반도체 패키지(P)의 리드(L) 사이사이로 인입되면서 슬러그(S)를 제거하는 돌출부(521)가 일정 간격으로 배열된다.In addition, the
또한, 각 슬러그 제거부재(520)의 상단부에는 상기 스프링(530)이 안착되는 스프링 안착홈(522)이 형성되어 있으며, 이 스프링 안착홈(522)의 양측부에는 상기 리테이너(510)의 삽입홀(514)의 단차부(515)에 걸려 지지됨으로써 슬러그 제거부재(520)의 하방 이동을 제한하는 스톱퍼(523)가 단차지게 형성된다. In addition, a
상기 스프링(530)은 압축 코일 스프링으로서, 그 탄성력은 상기 반도체 패키지(P)의 리드(L)를 변형시키지는 않으면서 리드(L) 사이에 끼인 슬러그를 제거할 수 있을 정도의 크기로 된 것을 사용함이 바람직하다. The
그리고, 상기 리테이너 커버(540)의 중앙에 체결홀(542)이 형성되고, 상기 리테이너(510)의 상단부 중앙에 상기 체결홀(542)과 대응하는 체결홀(518)이 형성되어, 상기 체결홀(542, 518)을 통해 볼트(545)가 체결됨으로써 리테이너 커버(540)가 리테이너(510) 상부에 고정된다. A
한편, 도 9에 도시된 것과 같이, 상기 슬러그 제거용 펀치(500)의 리테이너(510)는 상기 리테이너 커버(540)가 펀치홀더보강판(231)에 볼트(미도시) 등과 같은 체결수단에 의해 고정됨으로써 펀치홀더(232) 내측에 고정된다. On the other hand, as shown in Figure 9, the
그리고, 상기 각각의 슬러그 제거부재(520)는 스트립퍼(35)에 의해 양측면과 외면이 이동 가능하게 지지된다. And, each of the
상기와 같이 구성된 슬러그 제거용 펀치(500)는 다음과 같이 작동한다. The slug removal punch 500 configured as described above operates as follows.
리드프레임(LF)이 이송장치를 구성하는 플로터(미도시)를 따라서 이송되어 펀칭위치에 정렬되면, 프레스장치(미도시)에 의해 상부홀더(20)와 이에 고정된 트리밍 펀치(40)가 하강하여 리드프레임(LF)의 댐바(D)(도 1참조)를 절단하는 트리밍 작업을 수행한다.When the lead frame LF is conveyed along the plotter (not shown) constituting the conveying device and aligned at the punching position, the
이어서, 상부홀더(20)가 다시 상승하고, 리드프레임(LF)이 플로터(미도시)에 의해 1스텝 이동하여 상기 트리밍된 부분이 슬러그 제거용 펀치(500)의 하부에 정렬된다.Subsequently, the
그리고, 다시 프레스장치(미도시)의 작동에 의해 상부홀더(20) 및 이에 고정된 슬러그 제거용 펀치(500)가 하강한다. 이 때, 상기 스트립퍼(35) 또한 하강한 후 리드프레임(LF)의 바로 상측에서 정지하고, 슬러그 제거용 펀치(500)는 계속 하강을 진행한다.Then, the
상기 슬러그 제거용 펀치(500)의 하강시 상기 슬러그 제거부재(520)는 그의 양측면 및 외면이 스트립퍼(35)의 안내를 받으면서 하강하게 된다. 상기 슬러그 제거부재(520)는 그의 하단부의 돌출부(521)들이 리드(L) 사이사이로 진입하면서 슬러그(S)를 밀어내게 된다.When the
그런데, 이 때 도 10에 도시된 것과 같이, 반도체 패키지(P)의 어느 한 변의 리드(L) 상에 이물질(J)이 존재하는 경우, 이에 대응하는 슬러그 제거부재(520)의 하단이 이물질(J)에 닿으면서 더 이상 하강하지 못하고, 이물질(J)과 접촉한 슬러그 제거부재(520)만이 상측으로 이동하게 된다. 이 때, 상기 슬러그 제거부재(520)를 탄성적으로 지지하고 있는 스프링(530)의 탄성력은 리드(L)에 변형을 가하지 않을 정도의 크기이므로 리드(L)가 휘는 등의 변형은 일어나지 않는다.However, as shown in FIG. 10, when the foreign matter J is present on the lead L of one side of the semiconductor package P, the lower end of the
한편, 상기와 같이 금형장치에서 트리밍 및 슬러그 제거가 완료된 리드프레임은 비전검사장치로 반송되어 트리밍 작업이 정확하게 이루어졌는지 검사를 받게 된다. 이 검사 과정에서 반도체 패키지(P)의 리드(L)에 이물질(J)이 존재하는 것이 검출되면 작업자는 해당 반도체 패키지의 이물질을 제거하는 등 필요한 조치를 취하게 된다. On the other hand, the lead frame is trimmed and slug removed in the mold apparatus as described above is conveyed to the vision inspection device is inspected whether the trimming operation is made correctly. When the foreign matter J is detected in the lid L of the semiconductor package P during this inspection process, the worker takes necessary measures such as removing the foreign matter of the semiconductor package.
또한, 도 11에 도시된 것과 같이, 비전검사장치에서 리드(L)의 이물질(J)을 검출하기 전에 상술한 슬러그 제거 과정에서 이물질에 의한 슬러그 제거부재(520)의 상승을 감지함으로써 작업자가 바로 조치를 취하도록 할 수도 있을 것이다.In addition, as illustrated in FIG. 11, the operator immediately detects the rise of the
즉, 상기 리테이너(510)의 삽입홀(514)의 일측에 슬러그 제거부재(520)의 상단부를 감지하는 센서(550)를 설치하여, 슬러그 제거부재(520)가 상승했을 때 상기 센서(550)가 슬러그 제거부재(520)의 상단부를 감지함으로써 슬러그 제거부재(520)가 이물질에 의해 상승되었음을 감지하고, 이를 외부 디스플레이장치 또는 음향 등으로 작업자에게 전달하여 적절한 조치가 취해질 수 있도록 할 수 있다. That is, the
상기 센서(550)로는 근접센서나 광센서와 같은 비접촉식 센서 또는 접촉식 센서를 사용하여 구성할 수 있을 것이다. The
그리고, 도 12는 본 발명에 따른 슬러그 제거용 펀치의 다른 실시예를 나타낸 것으로, 이 실시예의 슬러그 제거용 펀치는 복수개의 리테이너가 일체형으로 이루어져 하나의 리테이너(510)를 형성하고, 각 리테이너(510)에 복수개의 슬러그 제거부재(520)가 개별적으로 상하로 이동 가능하게 설치된 구성으로 이루어진다. 물론, 각각의 슬러그 제거부재(520)는 스프링(530)에 의해 개별적으로 탄발지지된다. And, Figure 12 shows another embodiment of the slug removal punch according to the present invention, the slug removal punch of this embodiment is formed of a plurality of retainers integrally to form one
또한, 상기 일체형의 리테이너(510)의 상부에는 리테이너 상부면 전체를 한 번에 덮어서 고정하는 리테이너 커버(540)가 볼트(545)에 의해 결합된다. In addition, a
통상적으로 하나의 리드프레임에는 복수개의 반도체 패키지가 복수의 열로 배치되므로 하나의 금형장치에 복수개의 트리밍 펀치 및 슬러그 제거용 펀치가 장착된다. 따라서, 상기와 같이 복수개의 리테이너가 일체형으로 구성되면 슬러그 제거용 펀치(500)를 상부홀더(20)(도 5참조)에 한 번에 고정시킬 수 있으므로 조립작업이 용이하고, 조립 공차 등을 줄일 수 있어 작업의 정확성 또한 향상시킬 수 있는 이점이 있다. Typically, since a plurality of semiconductor packages are arranged in a plurality of rows in one lead frame, a plurality of trimming punches and slug removal punches are mounted in one mold apparatus. Therefore, when the plurality of retainers are integrally formed as described above, the
한편, 도 13에 도시된 것과 같이, 슬러그 제거용 펀치(500)에 공압라인(60)을 연결하여, 슬러그 제거용 펀치(500)로 슬러그 제거 작업을 수행할 때 슬러그 제거용 펀치(500)에서 리드프레임(LF) 쪽으로 소정압의 공기를 분사하고, 이로써 슬러그 제거용 펀치(500)가 리드(L)에 도달하기 전에 리드(L)(도10 참조) 상의 슬러그 및 이물질을 제거하여 슬러그 제거 작업이 확실하게 이루어질 수 있도록 할 수도 있다.On the other hand, as shown in Figure 13, by connecting the
도 14는 이러한 공기를 분사하기 위한 슬러그 제거용 펀치(500)의 일 실시예를 나타낸다. 이 실시예의 슬러그 제거용 펀치(500)는 기본적인 구성에 있어서는 도 12에 도시된 슬러그 제거용 펀치(500)와 동일하다. 다만, 이 실시예의 슬러그 제거용 펀치(500)는 상기 슬러그 제거부재(520)가 연접하는 리테이너(510)의 외면에 공기가 유동할 수 있도록 상측에서 하측으로 연장된 에어가이드홈(516)이 형성되고, 리테이너 커버(540)에는 각 스프링 삽입홀(512)과 대응하여 연통되는 공압연 결홀(546)이 형성된 구조를 이룬다. 14 shows one embodiment of a
상기 에어가이드홈(516)은 슬러그 제거부재(520)의 접근전에 슬러그를 제거할 수 있도록 상기 스프링 삽입홀(512)과 연통되고, 상기 공압연결홀(546)은 외부의 공압라인(60)(도 13참조)과 연결된다. 따라서, 외부의 공압라인(60)을 통해 공급된 공기는 상기 공압연결홀(546)과 스프링 삽입홀(512) 및 에어가이드홈(516)을 통해 리테이너(510) 하단부로 분사되어 리드(L)(도 10참조) 상의 슬러그(S)를 미리 제거하게 되는데, 이 때 리드 상에 이물질(J)이 존재할 경우 이 이물질 또한 제거될 수 있다. The
한편, 상기 에어가이드홈(516)은 상측에서 하측으로 점차적으로 확장되는 형태로 이루어짐이 바람직하다. 이는 리테이너(510)의 중간부에서부터 공급되는 공기를 리드(L)의 전 영역으로 고르게 유도하여 분사시키기 위함이다.On the other hand, the
이 때, 상기 에어가이드홈(516)이 확장되는 형태는 도 14에 도시된 것과 같이 직선형으로 이루어질 수도 있고, 또는 도 15에 도시된 것과 같이 대략 반원형의 곡선형으로 이루어질 수도 있을 것이다. 또한, 도 16에 도시된 것과 같이 에어가이드홈(516)이 분기형으로 형성될 수도 있을 것이다. At this time, the form in which the
한편, 도면에 나타내지는 않았으나, 전술한 실시예들과는 다르게 기존의 일체형의 슬러그 제거용 펀치(50)(도 2참조)에 공압라인을 연결하고, 상기 슬러그 제거용 펀치(50)에 상기 공압라인으로부터 공급되는 공기를 하측의 리드프레임 쪽으로 안내하는 에어가이드홈을 관통되게 형성하여도 전술한 것과 같이 슬러그 제거 직전에 리드(L)(도 10참조) 상의 이물질을 제거하여 슬러그 제거 작업을 확실하게 수행할 수도 있을 것이다. On the other hand, although not shown in the drawings, unlike the above-described embodiments, the pneumatic line is connected to the conventional integrated slug removal punch 50 (see FIG. 2), and the
또한, 전술한 금형장치의 실시예와 다르게, 트리밍 펀치에 의한 트리밍 작업후, 상술한 것과 같이 리드프레임에 공기를 분사함으로써 이물질을 제거하는 별도의 공기 분사 작업을 수행하고, 이 공기 분사 작업 후 리드프레임을 슬러그 제거 공정으로 반송하여 슬러그를 제거하도록 금형장치를 구성할 수도 있을 것이다. In addition, unlike the above-described embodiment of the mold apparatus, after the trimming operation by the trimming punch, a separate air spraying operation for removing foreign matter by spraying air to the lead frame as described above, the lead after the air spraying operation The mold apparatus may be configured to return the frame to a slug removal process to remove slugs.
이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 슬러그 제거용 펀치를 구성하는 슬러그 제거부재가 개별적으로 상하로 이동하므로 리드프레임의 리드 상에 이물질이 존재할 경우 이물질과 맞닿은 슬러그 제거부재만 탄성력을 이기고 개별적으로 상승하게 되고, 따라서 슬러그 제거용 펀치가 리드에 가하는 하중을 최소화할 수 있으므로 리드가 손상되지 않는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the present invention, since the slug removal member constituting the slug removal punch is moved up and down individually, if there is a foreign material on the lead of the lead frame, only the slug removing member contacting the foreign material wins the elastic force and rises individually. Therefore, the load applied to the lead by the slug removing punch can be minimized, so that the lead is not damaged.
또한, 슬러그 제거부재가 리드에 도달하기 전에 리드 쪽으로 공기를 분사하여 주게 되면, 슬러그 제거 작업 전에 리드의 이물질을 미리 제거할 수 있게 된다. 따라서, 슬러그 제거부재가 이물질에 의해 방해받는 현상이 미연에 방지되므로 슬러그 제거 작업이 확실하게 이루어질 수 있는 이점이 있다. In addition, if the slug removal member is to inject air toward the lead before reaching the lead, it is possible to remove the foreign matter of the lead before the slug removal operation. Therefore, since the phenomenon that the slug removal member is disturbed by foreign matters is prevented in advance, there is an advantage that the slug removal operation can be surely performed.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1079463A (en) | 1996-09-02 | 1998-03-24 | Hitachi Ltd | Cutter for manufacturing semiconductor device |
US6065381A (en) | 1997-09-13 | 2000-05-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for cutting tie bars of semiconductor packages |
JP2003142641A (en) * | 2001-10-31 | 2003-05-16 | Mitsubishi Electric Corp | Removal apparatus and method for tie bar after resin sealing for semiconductor device, and method for manufacturing semiconductor device |
KR20050031520A (en) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | 주식회사 만도 | Apparatus and method for seal pressing, seal inspection and direction determination of the valve body |
-
2005
- 2005-04-15 KR KR1020050031520A patent/KR100710006B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1079463A (en) | 1996-09-02 | 1998-03-24 | Hitachi Ltd | Cutter for manufacturing semiconductor device |
US6065381A (en) | 1997-09-13 | 2000-05-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for cutting tie bars of semiconductor packages |
JP2003142641A (en) * | 2001-10-31 | 2003-05-16 | Mitsubishi Electric Corp | Removal apparatus and method for tie bar after resin sealing for semiconductor device, and method for manufacturing semiconductor device |
KR20050031520A (en) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | 주식회사 만도 | Apparatus and method for seal pressing, seal inspection and direction determination of the valve body |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
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