KR100707074B1 - 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서의 단위 화소 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 빛이 주사될 경우 포토 다이오드의 공핍영역에서 발생하는 정공 전류와 전자 전류를 모두 사용하여 센싱 감도를 개선한 단위 화소를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은 이미지 센서의 단위 화소에 있어서, 외부의 피사체 이미지를 촬상한 빛을 흡수하여 전하를 생성 및 축적하는 포토 다이오드; 상기 포토 다이오드로부터의 전자 전류를 전달받는 제1 센싱 노드; 상기 포토 다이오드로부터의 정공 전류를 전달받는 제2 센싱 노드; 상기 포토 다이오드의 N형에 연결되며 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 전자 전류를 상기 제1 센싱 노드로 운송하는 제1 트랜스퍼 트랜지스터; 전원전압단과 제1 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제1 센싱 노드에 연결되어 상기 제1 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제1 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터; 상기 포토 다이오드의 P형에 연결되며 상기 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 정공 전류를 상기 제2 센싱 노드로 운송하는 제2 트랜스퍼 트랜지스터; 및 전원전압단과 제2 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제2 센싱 노드에 연결되어 상기 제2 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제2 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 상기 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터를 포함하되, 상기 제1 출력단과 상기 제2 출력단의 전압 레벨 차를 상기 단위 화소의 최종 센싱 전압으로 출력한다.
이미지 센서, 단위 화소, 포토 다이오드, 트랜스퍼 트랜지스터, 드라이브 트랜지스터
Description
도 1은 종래 기술에 따른 단위 화소의 내부 회로도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 단위 화소의 내부 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 설명
200 : 단위 화소 201 : 포토 다이오드
M5, M12 : 트랜스퍼 트랜지스터 M6, M9 : 드라이브 트랜지스터
M7, M10 : 셀렉트 트랜지스터 M8, M11 : 로드 트랜지스터
본 발명은 씨모스(Complementary Metal Oxide semiconductor, 이하 CMOS라 함) 이미지 센서에 관한 것으로, 특히 단위 화소(unit pixel)의 감도를 높인 CMOS 이미지 센서의 단위 화소 구조에 관한 것이다.
일반적으로, 이미지 센서란 빛에 반응하는 반도체의 성질을 이용하여 이미지를 찍어(capture)내는 장치를 말하는 것이다. 자연계에 존재하는 각 피사체의 부분부분은 빛의 밝기 및 파장 등이 서로 달라서 감지하는 장치의 각 화소에서 다른 전기적인 값을 보이는데, 이 전기적인 값을 신호처리가 가능한 레벨로 만들어 주는 것이 바로 이미지 센서가 하는 일이다.
이를 위해 이미지 센서는 수만에서 수십만 개의 단위 화소로 구성된 화소 어레이와, 수백개 정도의 화소에서 감지한 아날로그(analog) 전압을 디지털(digital) 전압으로 바꿔주는 장치와, 수백에서 수천 개의 저장 장치 등으로 구성된다.
이와 같이 구성되는 이미지 센서에 대한 구체적인 설명은 이미 공지된 기술 내용이므로 생략하고, 본 발명과 직접 관련된 단위 화소 구조에 대해서만 아래에 상세히 설명한다.
도 1은 종래 기술에 따른 단위 화소의 내부 회로도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 단위 화소(100)는 포토 다이오드(101)와, 포토 다이오드(101)에 생성된 광전하를 센싱 노드(A)로 운송하기 위한 트랜스퍼 트랜지스터(M1)와, 소스 폴로우(source follower) 역할을 수행하는 드라이브 트랜지스터(M2) 및 스위칭으로 어드레싱을 할 수 있도록 하는 셀렉트 트랜지스터(M3)로 이루어진다. 참고로, 도 1에 도시되었으나 설명되지 않은 나머지 트랜지스터(M4)는 바이어스 전압(Vb)에 의해 구동되는 로드 트랜지스터이다.
이와 같이 구성되는 단위 화소의 동작을 간단히 살펴보면, 포토 다이오드(101)의 P형이 접지전원단(ground)에 연결되고, N형이 트랜스퍼 트랜지스 터(M1)의 소스에 각각 연결되어 빛이 들어올 경우 정공과 전자쌍을 발생하게 된다. 이때, 발생된 정공과 전자는 공핍층(depletion region)의 전계에 의해 서로 다른 방향으로 각각 이동하게 된다. 즉, 정공은 포토 다이오드(101)의 P형이 접지전원단에 연결되어 있기 때문에 공핍층의 전계에 의해 접지전원단으로 빠져나가고, 전자는 트랜스퍼 트랜지스터(M1)가 턴-온되면 센싱 노드(A)로 이동하게 된다. 이어서, 센싱 노드(A)에 게이트가 연결된 드라이브 트랜지스터(M2)를 통해 출력단(Vout)으로 전달된다. 참고로, 출력단(Vout)의 전압 값은 바이어스 전압(Vb)와 센싱 노드(A)에 저장된 값의 비에 의해 결정되고, 이후 아날로그(analog) 전압을 디지털(digital) 전압으로 바꿔주는 장치에 의해 디지털 전압으로 변환되어 최종 출력된다.
이와 같이 구성되는 단위 화소의 문제점은 포토 다이오드(101)에 빛이 주사되었을 때 발생되는 정공과 전자 쌍 중 정공이 접지전원단으로 빠져 버려 전자만을 이용한다는 데에 있다. 이것은 단위 화소 구현을 용이하게 하나 빛이 주사되었을 때 발생하는 총 전류를 다 사용하지 못함으로써 단위 화소의 센싱 감도를 떨어뜨리는 치명적인 문제를 발생시킨다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로써, 빛이 주사될 경우 포토 다이오드의 공핍영역에서 발생하는 정공 전류와 전자 전류를 모두 사용하여 센싱 감도를 개선한 단위 화소를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 이미지 센서의 단위 화소에 있어서, 외부의 피사체 이미지를 촬상한 빛을 흡수하여 전하를 생성 및 축적하는 포토 다이오드; 상기 포토 다이오드로부터의 전자 전류를 전달받는 제1 센싱 노드; 상기 포토 다이오드로부터의 정공 전류를 전달받는 제2 센싱 노드; 상기 포토 다이오드의 N형에 연결되며 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 전자 전류를 상기 제1 센싱 노드로 운송하는 제1 트랜스퍼 트랜지스터; 전원전압단과 제1 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제1 센싱 노드에 연결되어 상기 제1 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제1 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터; 상기 포토 다이오드의 P형에 연결되며 상기 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 정공 전류를 상기 제2 센싱 노드로 운송하는 제2 트랜스퍼 트랜지스터; 및 전원전압단과 제2 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제2 센싱 노드에 연결되어 상기 제2 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제2 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 상기 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터를 포함하되, 상기 제1 출력단과 상기 제2 출력단의 전압 레벨 차를 상기 단위 화소의 최종 센싱 전압으로 출력한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명 의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 단위 화소의 내부 회로도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 단위 화소는 종래와 동일하게 포토 다이오드(201), 제1 트랜스퍼 트랜지스터(M12), 제1 드라이브 트랜지스터(M9) 및 셀렉트 트랜지스터(M10)를 구비하되, 상기 포토 다이오드(201)의 P형이 종래와 달리 또다른 추가의 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M5)의 소스단에 연결되고, 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M5)를 중심으로 대칭적으로 제2 드라이브 트랜지스터(M6) 및 제2 셀렉트 트랜지스터(M7)를 더 포함한다.
상기 도 2와 같이 구성되는 단위 화소의 동작을 살펴보면, 그 상세 동작은 다음과 같다.
본 발명의 단위 화소는 도 2에 도시된 바와 같이, 포토 다이오드(201)의 P형을 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M5)의 소스단에 연결하여 근본적으로 포토 다이오드(201)의 공핍영역에서 발생하는 정공 전류를 접지전원단으로 보내지 않고 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M5)로 보내 제2 센싱 노드(C)에 저장한다. 여기서, 초기에 VDD를 저장하고 있다가 포토 다이오드로부터의 전자 전류에 의해 전압 강하가 발생하는 종래의 센싱 노드와 달리, 본 발명에서는 제1 및 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M12, M5)에 연결된 제1 및 제2 센싱 노드(B, C)를 초기에 VDD/2로 리셋을 시킨 후 포토 다이오드(201)의 P형에 연결되어 정공전류를 전달하는 제2 트랜스퍼 트랜지스터(M5)를 통하여 제2 센싱 노드(C)가 "(VDD/2)+정공전류"에 의한 전압상승을, 포토 다이오드(201)의 N형에 연결되어 전자 전류를 전달하는 제1 트랜스퍼 트랜지 스터(M12)를 통하여 제1 센싱 노드(B)가 "(VDD/2)-전자전류"에 의한 전압강하를 각각 일으켜 결국 제1 및 제2 센싱 노드(B, C)의 전압 레벨에 따라 각각의 제2 및 제1 드라이브 트랜지스터(M9, M6)를 통해 최종적으로 Vout1과 Vout2를 출력하고, 출력된 두 전압 레벨의 차()로 상기 단위 화소의 최종 출력 전압을 결정하게 된다.
따라서, 본 발명의 단위 화소는 포토 다이오드의 P형을 접지전원단에 연결하지 않고 추가의 트랜스퍼 트랜지스터의 소스단에 연결하여 포토 다이오드에서 발생하는 전자전류와 정공전류를 모두 이용함으로써 소량의 빛이 주사되더라도 센싱 감도가 높아 보다 개선된 화질의 출력을 얻을 수 있다.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
상기와 같이 이루어지는 본 발명은, 포토 다이오드의 P형을 접지전원단이 아닌 추가의 트랜스퍼 트랜지스터의 소스단에 연결하여 단위 화소를 구성함으로써 포토 다이오드의 공핍영역에서 발생하는 정공 전류 및 전자 전류를 모두 사용하여 센싱 감도를 높일 수 있는 효과가 있다.
이에 따라 본 발명의 단위 화소를 채용한 이미지 센서의 센싱 감도 또한 획 기적으로 높일 수 있다.
Claims (2)
- 이미지 센서의 단위 화소에 있어서,외부의 피사체 이미지를 촬상한 빛을 흡수하여 전하를 생성 및 축적하는 포토 다이오드;상기 포토 다이오드로부터의 전자 전류를 전달받는 제1 센싱 노드;상기 포토 다이오드로부터의 정공 전류를 전달받는 제2 센싱 노드;상기 포토 다이오드의 N형에 연결되며 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 전자 전류를 상기 제1 센싱 노드로 운송하는 제1 트랜스퍼 트랜지스터;전원전압단과 제1 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제1 센싱 노드에 연결되어 상기 제1 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제1 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터;상기 포토 다이오드의 P형에 연결되며 상기 제1 제어신호에 응답하여 상기 포토 다이오드에서 발생된 정공 전류를 상기 제2 센싱 노드로 운송하는 제2 트랜스퍼 트랜지스터; 및전원전압단과 제2 출력단 사이에 직렬 연결되되, 게이트가 상기 제2 센싱 노드에 연결되어 상기 제2 센싱 노드의 레벨에 의해 소스 폴로우 역할을 수행하는 제2 드라이브 트랜지스터 및 게이트로 상기 제2 제어신호를 인가받아 스위칭 동작 으로 어드레싱을 수행하는 제2 셀렉트 트랜지스터를 포함하되,상기 제1 출력단과 상기 제2 출력단의 전압 레벨 차를 상기 단위 화소의 최종 센싱 전압으로 출력하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 단위 화소.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 센싱 노드는,초기화 시 (전원전압/2)의 값으로 리셋되는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 단위 화소.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010038868A KR100707074B1 (ko) | 2001-06-30 | 2001-06-30 | 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서의 단위 화소 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010038868A KR100707074B1 (ko) | 2001-06-30 | 2001-06-30 | 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서의 단위 화소 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030002127A KR20030002127A (ko) | 2003-01-08 |
KR100707074B1 true KR100707074B1 (ko) | 2007-04-13 |
Family
ID=27712761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020010038868A KR100707074B1 (ko) | 2001-06-30 | 2001-06-30 | 센싱 감도를 개선하기 위한 이미지 센서의 단위 화소 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR100707074B1 (ko) |
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---|---|---|---|---|
KR20220160330A (ko) | 2021-05-27 | 2022-12-06 | 파이룽 머시너리 밀 코., 엘티디. | 횡편기로 다양한 두께를 가지는 위편 직물을 편직 및 성형하는 방법 및 이를 통해 제작된 위편 직물 |
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---|---|---|---|---|
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