KR100689799B1 - 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자 - Google Patents

Abstract

본 발명은 패널과 COF가 결합된 이후 패널의 불량을 검사할 수 있는 발광 소자에 관한 것이다. 상기 발광 소자는 데이터 라인들, 스캔 라인들, 더미 스캔 라인, 패널, 집적회로칩 및 홀을 포함한다. 상기 데이터 라인들은 제 1 방향으로 배열되며, 상기 스캔 라인들 및 더미 스캔 라인은 상기 제 1 방향과 다른 제 2 방향으로 배열된다. 상기 패널은 상기 데이터 라인들과 상기 스캔 라인들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들 및 상기 데이터 라인들과 상기 더미 스캔 라인이 교차하는 영역들에 형성되는 더미 픽셀들을 포함한다. 상기 집적회로칩은 상기 픽셀들에 역전압이 인가되도록 상기 스캔 라인들에 스캔 신호들을 전송한다. 상기 홀은 상기 더미 스캔 라인에 연결되며, 상기 패널의 불량 검사시 접지전압 이하의 전압을 가지는 음극전원에 연결된다. 여기서, 상기 패널의 불량 검사시 상기 더미 픽셀들의 발광을 통하여 상기 픽셀들의 불량 여부가 검사된다. 상기 발광 소자는 COF의 외부면에 형성된 홀들 또는 더미 전극들을 이용하므로, 패널과 상기 COF가 결합된 이후에도 패널의 불량을 용이하면서도 정확하게 검사할 수 있다.

발광 소자, 패널, COF, 더미

Description

패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자{METHOD OF DETECTING DEFECT OF A PANEL AND LUMINESCNET DEVICE EMPLOYED IN THE SAME}

도 1은 종래의 발광 소자를 도시한 평면도이다.

도 2는 도 1의 발광 소자를 도시한 회로도이다.

도 3은 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이다.

도 4는 도 3의 발광 소자를 도시한 회로도이다.

도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 스캔 신호들을 도시한 타이밍다이어그램이다.

도 6은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 회로도이다.

도 7은 본 발명의 바람직한 제 3 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이다.

본 발명은 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패널과 COF가 결합된 이후 패널의 불량을 검사할 수 있는 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자에 관한 것이다.

발광 소자는 외부로부터 소정 전압이 인가되는 경우 소정 파장의 빛을 발생시키는 소자를 의미한다.

도 1은 종래의 발광 소자를 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1의 발광 소자를 도시한 회로도이다. 다만, 도 1은 패널(100)과 COF(102)가 결합되지 전의 발광 소자를 도시하였다.

도 1을 참조하면, 종래의 발광 소자는 패널(100) 및 COF(Chip On Film, 102)를 포함한다.

패널(100)은 셀부(104), 데이터 패드들(106), 제 1 스캔 패드들(108) 및 제 2 스캔 패드들(110)을 포함한다.

셀부(104)는 인듐주석산화물층들(Indium Tin Oxide Films, ITO층들)과 금속전극층들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들을 포함한다.

데이터 패드들(106)은 상기 ITO층들과 연결되고, 스캔 패드들(108 및 110)은 상기 금속전극층들과 연결된다.

COF(102)는 출력전극들(112, 114 및 116) 및 집적회로칩(118)을 포함한다.

집적회로칩(118)은 데이터 신호들을 데이터 출력전극들(112) 및 데이터 패드들(106)을 통하여 상기 ITO층들에 전송한다.

또한, 집적회로칩(118)은 스캔 신호들을 스캔 출력전극들(114 및 116) 및 스 캔 패드들(108 및 110)을 통하여 상기 금속전극층들에 전송한다.

출력전극들(112, 114 및 116)은 ACF 필름을 통하여 패드들(106, 108 및 110)과 각기 결합한다. 그 결과, 패널(100)과 COF(102)가 결합된다.

다만, 종래의 발광 소자에서는, 패널(100)과 COF(102)의 결합 전에 패널(100)의 불량 여부가 검사되었다. 예를 들어, 불량 검사 장치가 데이터 패드들(106)에 소정의 양의 전압을 인가하고, 스캔 패드들(108 및 110)에 소정의 음의 전압을 인가하여 상기 픽셀들의 휘도를 검사하였다.

그러나, 종래의 발광 소자에서는, 패널(100)과 COF(102)가 결합된 후에는 패널(100)의 불량 여부가 검사되지 않았다. 다만, 상기 ITO층들 및 상기 금속전극층들에 전송되는 상기 데이터 신호들 및 스캔 신호들이 집적회로칩(118)으로부터 정확하게 발생되는 지의 여부만이 검사되었다.

도 2를 참조하면, 종래의 발광 소자에서는 스캔 라인들(S1 내지 Sn) 중 일부 스캔 라인들을 오실로스코프(미도시)에 연결하여 집적회로칩(118)의 스캔 구동부(202)로부터 상기 스캔 신호들이 정확하게 발생되는 지의 여부만을 검사하였다.

요컨대, 패널(100)과 COF(102)의 결합 후에는 패널(100)의 불량을 검사할 수 있는 방법이 없었으므로, 패널(100)과 COF(102)의 결합 과정에서 패널(100)에 불량이 발생된 경우에는 패널(100)의 불량을 검출할 수 없었다. 그 결과, 불량난 발광 소자가 이동통신 단말기 등에 사용되는 경우 상기 이동통신 단말기 등에 불량을 야기할 수 있었다.

따라서, 패널과 COF가 결합된 후에 패널의 불량을 검출할 수 있는 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자가 요구된다.

본 발명의 목적은 패널과 COF가 결합된 후에 상기 패널의 불량을 검사할 수 있는 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자를 제공하는 것이다.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 발광 소자는 데이터 라인들, 스캔 라인들, 더미 스캔 라인, 패널, 집적회로칩 및 홀을 포함한다. 상기 데이터 라인들은 제 1 방향으로 배열되며, 상기 스캔 라인들 및 더미 스캔 라인은 상기 제 1 방향과 다른 제 2 방향으로 배열된다. 상기 패널은 상기 데이터 라인들과 상기 스캔 라인들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들 및 상기 데이터 라인들과 상기 더미 스캔 라인이 교차하는 영역들에 형성되는 더미 픽셀들을 포함한다. 상기 집적회로칩은 상기 픽셀들에 역전압이 인가되도록 상기 스캔 라인들에 스캔 신호들을 전송한다. 상기 홀은 상기 더미 스캔 라인에 연결되며, 상기 패널의 불량 검사시 접지전압 이하의 전압을 가지는 음극전원에 연결된다. 여기서, 상기 패널의 불량 검사시 상기 더미 픽셀들의 발광을 통하여 상기 픽셀들의 불량 여부가 검사된다.

본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들 및 상기 데이터 라인들과 더미 스캔 라인이 교차하는 영역들에 형성되는 더미 픽셀들을 포함하는 패널의 불량을 검사하는 방법은 상기 더미 스캔 라인을 접지전압 이하의 전압을 가지는 음극전원에 연결시키는 단계; 상기 픽셀들에 역전압이 인가되도록 스캔 신호들을 상기 스캔 라인들에 전송하는 단계; 및 상기 역전압 인가에 따른 상기 더미 픽셀들의 발광 여부를 통하여 상기 픽셀들의 불량 여부를 검사하는 단계를 포함한다.

본 발명에 따른 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자는 홀들 또는 더미 전극들을 이용하므로, 패널과 COF가 결합된 이후에도 패널의 불량을 용이하면서도 정확하게 검사할 수 있다.

이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자의 바람직한 실시예들을 자세히 설명하도록 한다.

도 3은 본 발명의 바람직한 제 1 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이고, 도 4는 도 3의 발광 소자를 도시한 회로도이다. 또한, 도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 스캔 신호들을 도시한 타이밍다이어그램이다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 발광 소자는 패널(300) 및 COF(Chip On Film, 302)를 포함한다. 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 발광 소자는 유기 전계 발광 소자이다.

패널(300)은 데이터 패드들, 스캔 패드들 및 상기 데이터 패드들에 연결된 인듐주석산화물층들(Indium Tin Oxide Films, ITO층들)과 상기 스캔 패드들에 연결된 금속전극층들이 교차하는 영역들에 형성되는 복수의 픽셀들을 가지는 셀부(304)를 포함한다.

COF(302)는 집적회로칩(312), 도전체인 출력전극들 및 상기 스캔 패드들 중 일부에 각기 연결된 복수의 홀들(314)을 포함한다.

홀들(314) 중 하나는 도 4에 도시된 더미 스캔 라인(DS)에 연결된다.

도 3은 패널(300)과 COF(302)가 결합함에 의해 형성된 발광 소자를 도시한 도면으로서, 연결라인들(306, 308 및 310)은 패널(300)의 패드들과 COF(302)의 출력전극들이 ACF 필름에 의해 결합됨에 의해 형성된다.

이하, 본 발명의 발광 소자의 발광 동작을 상술하겠다.

집적회로칩(312)은 스캔 신호들을 스캔 출력전극들과 스캔 패드들이 결합한 스캔 연결라인들(308 및 310)을 통하여 상기 금속전극층들에 각기 전송한다.

또한, 집적회로칩(312)은 데이터 신호들을 데이터 출력전극들과 데이터 패드들이 결합한 데이터 연결라인들(306)을 통하여 상기 ITO층들에 전송한다.

즉, 상기 스캔 신호들 및 상기 데이터 신호들이 상기 금속전극층들 및 상기 ITO층들에 각기 전송되고, 그 결과, 상기 픽셀들은 소정 파장을 가지는 빛을 발생시킨다.

이하, 본 발명에 따른 패널(300)의 불량 검사 과정을 상술하겠다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 패널(300)의 불량 검사시 홀들(314) 중 하나의 홀이 스위치(404)를 통하여 그라운드(Ground, 406)에 연결된다. 다만, 홀들(314)은 패널(300)이 이동통신 단말기 등에서 디스플레이창으로 동작할 때는 그라운드(406)에 연결되지 않고, 단지 패널(300)의 불량 검사시에만 그라운드(406)에 연결된다.

예를 들어, 제 1 홀(314a)이 더미 스캔 라인(DS) 및 그라운드(406)에 연결되는 경우, 더미 스캔 라인(DS)은 접지된다.

도 4를 다시 참조하면, 패널(300)의 불량 검사시 스캔 구동부(402)는 도 5에 도시된 바와 같은 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)을 상기 스캔 라인들(S1 내지 Sn)에 순차적으로 제공한다.

상세하게는, 스캔 구동부(402)는 제 1 스캔 신호(PS1)를 제 1 스캔 라인(S1)을 통하여 제 1 픽셀들(E11 내지 Em1)에 전송한다.

이어서, 스캔 구동부(402)는 제 2 스캔 신호(PS2)를 제 2 스캔 라인(S2)을 통하여 제 2 픽셀들(E12 내지 Em2)에 전송한다.

위와 같은 방법으로, 스캔 구동부(402)는 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)을 순차적으로 픽셀들(E11 내지 Emn)에 제공한다.

본 발명의 발광 소자가 이동통신 단말기 등의 디스플레이창으로서 사용되는 경우에는 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)의 로우 로직 영역을 이용한다. 상세하게는, 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)이 스캔 라인들(S1 내지 Sn)에 전송되고 상기 데이터 신호들이 데이터 라인들(D1 내지 Dm)에 전송되는 경우, 픽셀들(E11 내지 Emn)은 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)의 로우 로직 영역에서 발광한다.

반면에, 본 발명의 발광 소자가 패널(300)의 불량 검사에 사용되는 경우에는 스캔 신호들(PS1 내지 PSn)의 하이 로직 영역을 이용한다. 이 경우, 데이터 구동부(400)는 상기 데이터 신호를 발생시키지 않는다.

이하, 패널(300)의 불량 검사를 설명하기 위하여, 예를 들어 제 1 홀(314a)이 더미 스캔 라인(DS)에 연결되는 경우를 예로 하겠다.

픽셀들(E11 내지 Emn)이 모두 정상적으로 동작하는 경우, 픽셀들(E11 내지 Emn)에 역방향 전압, 즉 픽셀들(E11 내지 Emn)의 음극들에는 하이 로직에 해당하는 20V 전압이 인가되고 양극들에는 로우 로직에 해당하는 OV 전압이 인가되므로 패널(300) 전체를 통하여 어떤 전류 패스도 형성되지 않는다. 그 결과, 패널(300)은 발광하지 않는다.

반면에, 픽셀들(E11 내지 Emn) 중 일부 픽셀, 예를 들어 E33이 단락된 경우, 제 3 스캔 신호(PS3)의 하이 로직 영역에서 더미 픽셀들(DP1 내지 DPm) 중 제 3 더 미 픽셀(DP3)이 발광한다.

상세하게는, E33이 단락되었기 때문에, 제 3 스캔 신호(PS3)의 하이 로직 전압인 20V 전압이 E33를 통하여 제 3 더미 픽셀(DP3)의 양극에 인가된다. 또한, 더미 스캔 라인(DS)이 그라운드에 연결되어 있으므로, 제 3 더미 픽셀(DP3)의 음극에 0V가 인가된다. 그 결과, 제 3 더미 픽셀(DP3)에 순방향 전압이 걸리고 전압차(20V-0V=20V)가 문턱전압(Threshold Voltage, 예를 들어 3V)보다 크므로, 제 3 더미 픽셀(DP3)은 발광한다.

요컨대, 패널(300)의 픽셀들(E11 내지 Emn)에 불량이 발생된 경우, 더미 픽셀들(DP1 내지 DPm) 중 일부 픽셀이 발광하며, 상기 발광을 통하여 패널(300)의 불량을 검출한다.

본 발명의 발광 소자는 COF(302)의 외부면에 형성된 홀들(314) 중 하나의 홀을 그라운드(406)에 연결하여 패널(300)의 불량을 검사하므로, 종래의 발광 소자와 달리 패널(300)과 COF(302)가 결합된 이후에도 패널(300)의 불량을 간단하면서도 정확하게 검사할 수 있다.

본 발명의 다른 실시예에 따른 발광 소자는 하나의 홀만을 포함할 수 있다. 다만, 홀들을 이용하여 다른 검사를 할 수 있으므로, 예를 들어 픽셀들에 전송되는 신호들이 정확하게 전송되는 지의 여부를 오실로스코프에 연결하여 검사할 수 있으므로, 발광 소자는 복수의 홀들을 포함하는 것이 바람직하다.

도 6은 본 발명의 바람직한 제 2 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 회로도이다.

도 6에 도시된 바와 같이, 더미 스캔 라인(DS)이 음극전원(602)에 연결된다. 그러므로, 패널(300)에 불량이 발생된 경우, 발광하는 픽셀, 예를 들어 도 4의 제 3 더미 픽셀(DP3)의 양단에 걸리는 전압보다 본 발명의 제 3 더미 픽셀(DP3)의 양단에 걸리는 전압이 더 크다.

즉, 본 발명의 제 3 더미 픽셀(DP3)이 제 1 실시예의 제 3 더미 픽셀(DP3)보다 더 밝게 발광한다. 그 결과, 본 발명의 패널(300)의 불량 검사가 제 1 실시예의 패널(300)의 불량 검사보다 더 용이하면서도 정확하게 이루어질 수 있다.

도 7은 본 발명의 바람직한 제 3 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이다.

도 7을 참조하면, 본 발명의 발광 소자는 패널(700) 및 COF(702)를 포함하며, COF(702)는 집적회로칩(712)과 입력전극들(714)을 가진다.

입력전극들(714)은 더미 전극(716)을 포함하며, 더미 전극(716)은 0V이하의 전압을 가지는 음극전극들에 연결될 수 있다.

즉, 제 1 실시예에서는 홀들(314)을 이용하여 패널(300)의 불량을 검사하였는데 반하여, 제 3 실시예에서는 홀들(314) 대신에 더미 스캔 라인(DS)에 연결된 더미 전극(716)을 이용하여 패널(700)의 불량을 검사한다.

여기서, 패널(700)의 불량 검사 과정은 제 1 및 2 실시예들의 불량 검사 과정과 동일하다.

상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 패널 불량 검사 방법 및 이에 사용되는 발광 소자는 COF의 외부면에 형성된 홀들 또는 더미 전극들을 이용하므로, 패널과 상기 COF가 결합된 이후에도 패널의 불량을 용이하면서도 정확하게 검사할 수 있는 장점이 있다.

Claims (3)

1. 제 1 방향으로 배열된 데이터 라인들;

   상기 제 1 방향과 다른 제 2 방향으로 배열된 스캔 라인들 및 더미 스캔 라인;

   상기 데이터 라인들과 상기 스캔 라인들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들 및 상기 데이터 라인들과 상기 더미 스캔 라인이 교차하는 영역들에 형성되는 더미 픽셀들을 포함하는 패널;

   상기 픽셀들에 역전압이 인가되도록 상기 스캔 라인들에 스캔 신호들을 전송하는 집적회로칩; 및

   상기 더미 스캔 라인에 연결되며, 상기 패널의 불량 검사시 접지전압 이하의 전압을 가지는 음극전원에 연결되는 홀을 포함하되,

   상기 패널의 불량 검사시 상기 더미 픽셀들의 발광을 통하여 상기 픽셀들의 불량 여부가 검사되는 것을 특징으로 하는 발광 소자.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 홀과 상기 음극전원 사이에 위치하며, 상기 패널의 불량 검사시 상기 홀과 상기 음극전원을 연결시키는 스위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자.
3. 데이터 라인들과 스캔 라인들이 교차하는 영역들에 형성되는 픽셀들 및 상기 데이터 라인들과 더미 스캔 라인이 교차하는 영역들에 형성되는 더미 픽셀들을 포함하는 패널의 불량을 검사하는 방법에 있어서,

   상기 더미 스캔 라인을 접지전압 이하의 전압을 가지는 음극전원에 연결시키는 단계;

   상기 픽셀들에 역전압이 인가되도록 스캔 신호들을 상기 스캔 라인들에 전송하는 단계; 및

   상기 역전압 인가에 따른 상기 더미 픽셀들의 발광 여부를 통하여 상기 픽셀들의 불량 여부를 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 불량 검사 방법.

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