KR100678347B1 - 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법 - Google Patents

Abstract

투입되는 디스플레이 패널 상에 존재하는 회로패턴 모양에 관계없이 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단만을 가변시켜 원하는 신호를 간편하게 검출할 수 있는 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법이 개시되어 있다. 본 발명에 따르면 통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 통상의 광학수단을 가변가능하게 장착한 상태 하에서 검사하고자 하는 디스플레이 패널을 투입하는 단계; 투입된 디스플레이 패널에 존재하는 회로패턴의 길이 방향이 수평으로 배열되어 디스플레이 패널 이동 방향과 수직되게 배열되어 있는지를 확인하는 단계; 및 상기 회로패턴이 수평배열을 유지하면 광학수단을 고정한 상태에서 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계; 또는 회로패턴이 수직배열을 유지하면 광학수단은 0°이상 90°미만의 각도로 가변시켜 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계를 포함한다.

Description

디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법{Method for defecting inferior goods of pattern in circuit of display panel}

도 1은 통상의 디스플레이 패널의 회로패턴을 나타낸 도면이다.

＜도면의주요부분에대한부호의설명＞

10 : 디스플레이 패널 12 : 회로패턴

본 발명은 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 투입되는 디스플레이 패널 상에 존재하는 회로패턴 모양에 관계없이 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단만을 가변시켜 원하는 신호를 간편하게 검출할 수 있는 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법에 관한 것이다.

일반적으로 디스플레이 패널의 회로패턴을 검사하는 방법으로 널리 사용되는 방법은 육안으로 하는 수동 검사하는 방법과 더불어 조명 및 카메라를 이용하여 자동으로 검사를 수행하는 광학적인 검사방법이 사용된다.

전술한 광학적인 검사방법에서의 회절 및 간섭 신호는 디스플레이 패널에 있는 회로패턴의 폭에 따라 변화하고, 회로패널의 주기가 클수록 회절 및 간섭 현상은 감소하고 불량 검출신호가 급격히 감소하게 된다. 따라서 회로패턴의 불량을 검출하기 위해서는 회로패턴의 주기가 작은 방향으로 디스플레이 패널을 스캔 하여야만 한다.

그러나 종래의 광학적인 검사장치에서는 광학수단을 고정시키고 투입되는 디 스플레이 패널을 고정 배치한 상태 하에서 가변 또는 회전시켜 검사를 수행하기 때문에 회로패턴 검사를 위해서 장시간이 요구되며, 검사장치의 원가가 상승하는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 투입되는 디스플레이 패널 상에 존재하는 회로패턴 모양에 관계없이 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단만을 가변시켜 원하는 신호를 간편하게 검출할 수 있는 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법을 제공하는데 있다.

상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위해서 본 발명은,

통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 통상의 광학수단을 가변가능하게 장착한 상태 하에서 회로패턴을 검사하고자 하는 디스플레이 패널을 투입하는 단계(S1);

투입된 상기 디스플레이 패널에 존재하는 상기 회로패턴의 길이 방향이 카메라에 대하여 수평으로 배열되어 상기 디스플레이 패널 이동 방향과 수직되게 배열되어 있는지를 확인하는 단계(S2); 및

상기 단계(S2)에서 상기 회로패턴이 수평배열을 유지하면 상기 광학수단을 고정한 상태에서 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계(3-1); 또는 상기 단계(S2)에서 상기 회로패턴이 수직배열을 유지하면 상기 광학수단은 0°이상 90°미만의 각도로 가변시켜 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계(3-2)를 포함한 다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 따르면, 투입되는 디스플레이 패널 상에 존재하는 회로패턴 모양에 관계없이 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단만을 가변시켜 원하는 신호를 간편하게 검출할 수 있다.

이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법에 대해 설명한다.
도 1은 통상의 디스플레이 패널의 회로패턴을 나타낸 도면이다.

우선 통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 통상의 광학수단을 가변가능하게 장착한 상태 하에서 회로패턴(12)을 검사하고자 하는 디스플레이 패널(10)을 투입한 후(단계 S1), 디스플레이 패널(10)에 존재하는 회로패턴(12)의 길이 방향이 카메라에 대하여 수평으로 배열되어 디스플레이 패널(10) 이동 방향과 수직되게 배열되어 있는지를 확인한다(단계 S2). 누구나 알 수 있듯이 디스플레이 패널(10)의 회로패턴(12)은 두변의 크기가 1:3의 비율을 가지고 있으며, 긴 쪽을 길이 그리고 짧은 쪽을 폭 이라 한다.

전술한 바와 같이 회로패턴(12)이 수평배열을 유지하면, 광학수단을 고정 즉, 회로패턴(12)과 마주보도록 한 상태에서 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료한다(단계 3-1). 이와 같이 회로패턴(12)의 길이 방향이 디스플레이 패널(10)의 이동 방향과 수직일 때 카메라 또는 조명의 방향으로 회로패턴(12)의 폭이 작기 때문에 원하는 신호를 검출할 수 있다.

한편, 디스플레이 패널(10)에 존재하는 회로패턴(12)의 주기가 작은 방향이 카메라에 대하여 수직배열 이면, 광학수단은 0°이상 90°미만의 각도로 가변시켜 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료한다(단계 3-2).
누구나 알 수 있듯이 회절 간섭 현상은 회로패턴의 주기가 작을수록 신호가 강하게 발생한다. 따라서 디스플레이 패널(10)을 스캔할 때 회로패턴(12)의 폭 방향이 디스플레이 패널(10)의 스캔방향과 같을 때는 카메라에 보이는 회로패턴(12)의 주기가 작기 때문에 카메라를 회로패턴(12)의 길이 방향에 대하여 수평으로 배열시킨다. 한편, 디스플레이 패널(10)의 회로패턴(12)의 길이 방향이 스캔방향과 일치하면 주기가 길어지기 때문에 회절 신호가 작아지므로 카메라를 0°이상 90°미만으로 회전시켜 신호를 검출하고, 카메라를 각도를 키울수록 더욱 강한 신호를 얻을 수 있다.

전술한 바와 같이 통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단을 가변시킴으로써, 투입되는 디스플레이 패널(10)에서의 회로패턴(12) 모양에 관계없이 용이하게 원하는 신호를 검출 할 수 있다.

전술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 광학수단을 가변될 수 있도록 장착함으로써, 디스플레이 패널에서의 회로패턴 모양에 관계없이 용이하게 원하는 신호를 검출 할 수 있는 잇점이 있다.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당기술 분야의 숙련된 당업자는 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (1)

1. 통상의 광학적 검사장치에 조명 및 카메라로 이루어진 통상의 광학수단을 가변가능하게 장착한 상태 하에서 검사하고자 하는 디스플레이 패널을 투입하는 단계(S1);

   투입된 상기 디스플레이 패널에 존재하는 상기 회로패턴의 길이 방향이 상기 카메라에 대하여 수평으로 배열되어 상기 디스플레이 패널 이동 방향과 수직되게 배열되어 있는지를 확인하는 단계(S2); 및

   상기 단계(S2)에서 상기 회로패턴이 수평배열을 유지하면 상기 광학수단을 고정한 상태에서 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계(3-1); 또는 상기 단계(S2)에서 상기 회로패턴이 수직배열을 유지하면 상기 광학수단은 0°이상 90°미만의 각도로 가변시켜 스캔공정을 실시한 후 작업을 완료하는 단계(3-2)를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 회로패턴 불량검출 방법.

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