KR100626078B1 - 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 표시 장치 내의 봉지수단과 전극 사이의 단락 부분을 검출하고 수리하는 방법을 개시한다. 이 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 기판과, 발광층 및 상기 발광층을 작동시키는 다수의 전극을 가지는 발광부와, 상기 발광부를 덮어 보호하도록 상기 기판에 접합된 봉지수단을 구비하는 평판 표시 장치의 상기 봉지수단과 상기 전극 사이의 단락 부분을 검출하고 수리하는 방법으로서, 상기 발광부를 구동시키는 단계와, 상기 봉지수단과 상기 전극 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계와, 상기 발광부의 변화를 확인하여 단락 부분을 검출하는 단계와, 상기 단락 부분을 수리하는 단계를 포함하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법을 제공한다.

Description

평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법{Method of detecting and repairing shorted portion in flat panel display}
도 1은 유기 전계발광 소자의 개략적인 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 유기 전계발광 소자의 다른 사시도이다.
도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ 선을 따라 취한 부분 단면도이다.
도 4는 봉지 수단과 전극 사이의 단락을 설명하는 개략도이다.
도 5는 본 발명에 따른 단락 부분 검출 및 수리 방법을 단계적으로 나타낸 블록도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 유기 전계발광 소자 110 : 기판
120 : 발광부 130 : 봉지 수단
136 : 밀봉재 141, 143 : 전극
142 : 발광층 151, 152 : 단자부
본 발명은 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 유기 전계발광 소자에 구비되는 봉지 수단과 전극 사이의 단락 부분을 간단하게 검출하고 신속하게 수리할 수 있는 방법에 관한 것이다.
최근, 기존의 음극선관을 대체할 수 있는 다양한 평판 표시 장치가 개발 및 생산 중에 있으며, 그 예로서 전계발광 디스플레이(Electroluminescent display : ELD)가 있다. 전계발광 디스플레이는 발광층을 구성하는 물질에 따라 유기 전계발광 소자와 무기 전계발광 소자로 크게 구분된다. 이 중 유기 전계발광 소자(OLED)는 솔리드 스테이트(solid state) 특성을 가져 사용 온도 범위가 넓고 내충격성 및 내진동성이 강하며, 시야각이 넓고 응답속도가 우수하며 컬러 디스플레이가 가능하다는 장점이 있어서 고성능의 평판 표시 장치로서 각광을 받고있으며, 휴대전화 또는 개인휴대단말기(PDA) 등의 표시 패널로서 사용되고 있다
일반적으로 이러한 유기 전계발광 소자는 투명한 절연기판 상에 소정 패턴으로 형성된 애노드 전극의 제1전극층, 제1전극층 상에 형성된 발광재료를 포함하는 유기발광층 및 유기발광층 상에 형성된 캐소드 전극의 제2전극층을 구비하고, 이러한 유기발광층과 전극층을 외부의 산소나 습기로부터 차단하여 보호하도록 봉지 수단이 기판 상에 설치된다.
이러한 유기 전계발광 소자는 애노드 전극에 캐소드 전극보다 높은 전압을 인가하면 정공이 제1전극층에서 유기발광층으로 이동하고 전자가 제2전극층에서 유기발광층으로 이동되며, 이동된 정공 및 전자는 유기발광층에서 재결합하여 여기자를 형성하고 이 여기자로부터의 에너지에 의해 특정 파장의 빛이 발생하여 발광을 실행한다.
유기발광층과 전극층을 보호하는 봉지 수단은 플라스틱 또는 금속을 재료로 하여 형성될 수 있다. 이 봉지 수단의 가장자리를 따라서 밀봉재를 도포한 후 봉지 수단이 기판과 결합된다. 이 과정에서, 특히 봉지 수단이 금속으로 이루어진 경우, 밀봉재의 불량 등으로 인해 봉지 수단과 전극 사이에 국부적으로 단락이 발생할 수 있으며, 이러한 단락은 제품 불량을 초래하여 전체 소자를 폐기해야 하는 문제가 발생할 수 있다.
본 발명은 위와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 봉지 수단과 전극 사이의 단락 부분을 간단한 절차에 의해 검출하고 즉시 수리할 수 있는 단락 부분 검출 및 수리 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
위와 같은 목적 및 그 밖의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법은, 기판과, 발광층 및 상기 발광층을 작동시키는 다수의 전극을 가지는 발광부와, 상기 발광부를 덮어 보호하도록 상기 기판에 접합된 봉지수단을 구비하는 평판 표시 장치의 상기 봉지수단과 상기 전극 사이의 단락 부분을 검출하고 수리하는 방법으로서, 상기 발광부를 구동시키는 단계와, 상기 봉지수단과 상기 전극 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계와, 상기 발광부의 변화를 확인하여 단락 부분을 검출하는 단계와, 상기 단락 부분을 수리하는 단계를 포함한다.
또한, 상기 전극은 애노드 전극으로서 기능하는 제1전극과 캐소드 전극으로 서 기능하는 제2전극을 구비하고, 상기 평판 표시 장치는 상기 봉지 수단으 일측으로부터 연장되고 상기 발광부에 구비된 전극에 접속된 단자부를 더 구비하며, 상기 단자부는 상기 제1전극에 접속된 제1단자부와 상기 제2전극에 접속된 제2단자부를 구비할 수 있다.
이와 같은 본 발명에 따른 단락 부분 검출 및 수리 방법에 의하면, 발광부를 구동시킨 상태에서 봉지 수단과 단자부 사이에 전기적 신호를 인가하고, 발광부에 나타난 변화를 확인하여 소정 부분의 단락을 검출하므로 신속하고 정확하게 단락 부분을 검출할 수 있고 검출된 단락 부분에 소정의 조치를 취하여 즉시 수리할 수 있다.
또한, 상기 전기적 신호 인가 단계는 상기 봉지수단과 상기 제1단자부 또는 상기 제2단자부 중에서 선택되는 어느 하나의 단자부에 전기적 신호를 인가하는 단계를 구비하는 것이 바람직하다.
여기서, 상기 전기적 신호 인가 단계는 선택된 단자부를 따라가면서 상기 봉지수단과 상기 단자부 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계인 것이 바람직하다. 또한, 상기 단락 부분 검출 단계는, 상기 봉지수단과 상기 단자부 사이에 전기적 신호를 인가하여 상기 발광부의 휘도 변화가 나타난 부분에 해당하는 단자부에 연결된 전극이 상기 봉지수단과 단락된 것으로 결정하여 단락 부분을 검출하는 것이 바람직하다.
이 경우, 선택된 단자부를 따라가면서 봉지 수단과 이 단자부에 전기적 신호를 인가하게 되면, 단락된 부분에 전기적 신호가 인가될 경우 발광부에 휘도 변화 가 나타나게 되고, 이 때의 해당 단자부와 봉지 수단이 단락된 것으로 결정할 수 있다. 이 때, 상기 발광부에 나타나는 휘도 변화는 명선 형태 또는 암선 형태 중 어느 하나의 형태가 될 수 있다.
또한, 상기 단락 부분 수리 단계는 단락된 전극과 상기 봉지수단에 전기적 신호를 인가하는 에이징 처리에 의해 실행되는 것이 바람직하다.
이 경우, 검출된 단락 부분에 소정 전기적 신호를 다시 인가하여 단락을 유발한 도전성 물질을 열화시키거나 에이징시킴으로써 단락된 부분을 수리할 수 있다.
또한, 상기 전기적 신호는 접지, DC, AC 또는 펄스 중에서 선택되는 어느 하나인 것이 바람직하다.
또한, 상기 평판 표시 장치는 유기 전계발광 소자가 될 수 있다.
이하에서는, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 방법 및 수리 방법에 대해 상세하게 설명하며, 특히 평판 표시 장치 중 유기 전계발광 소자를 예로 들어 설명한다.
도 1은 평판 표시 장치의 일 예인 유기 전계발광 소자의 개략적인 분해 사시도이고, 도 2는 도 1의 유기 전계발광 소자의 다른 사시도이고, 도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ 선을 따라 취한 부분 단면도이며, 이들 도면에서 동일하게 부여된 참조번호는 동일한 부재를 지칭한다.
도면을 참조하면, 유기 전계발광 소자(100)는 기판(110)과, 소정의 화상을 구현할 수 있는 발광부(120)와, 발광부(120)를 덮어서 보호하도록 기판(110) 상에 설치되는 봉지 수단(130)을 구비하며, 봉지 수단(130)의 일측으로부터 연장되고 상기 발광부(120)에 구비된 다수의 전극에 접속된 단자부(151, 152)가 더 구비되어 있다.
상기 기판(110)은 유리, 플라스틱 또는 스테인리스스틸과 같은 금속으로 이루어질 수 있다. 여기서, 유기 전계발광 소자가 수동 구동형(passive matrix type)인 경우에는 기판(110)은 SiO2 등으로 이루어질 수 있는 버퍼층을 구비한 단일의 평판이 될 수도 있고, 능동 구동형(active matrix type)인 경우에는 기판(110)은 발광부(120)를 구동하기 위한 픽셀 회로를 구비할 수 있다.
상기 봉지 수단(130)은 발광부(120)를 외부의 수분 또는 산소로부터 보호하여 발광부의 열화와 발광부를 구성하는 구성요소간의 박리를 방지하기 위해 설치되는 것으로서, 투명 유리 또는 플라스틱으로 이루어질 수도 있고, 금속으로 이루어질 수도 있다. 예컨대, 전면 발광 방식의 발광부(120)를 구성하는 경우에는, 봉지 수단(130)은 투명한 유리 또는 플라스틱으로 상기 기판(110)과 동일한 재료로 형성될 수도 있고, 배면 발광 방식으로 발광부(120)를 구성하는 경우에는 금속으로 형성된 이른바 메탈캡이 될 수도 있다.
상기 봉지 수단(130)은 밀봉재(136)를 통해 상기 기판(110) 상에 설치된다. 또한, 선택적으로, 상기 봉지 수단(130)에는 그 내부 공간의 습기를 흡수하기 위해 분말상의 흡습재(135)가 오목부(131) 내에 더 구비될 수 있다. 흡습재(135)가 더 구비된 봉지 수단(130)은 배면 발광 방식의 경우에 적합할 수 있다.
상기 발광부(140)는 문자나 기호 등의 심벌과 화상을 구현하기 위한 요소로서 단일의 표시부로서 구성될 수도 있거나 혹은 심벌을 주로 표시하는 아이콘 표시부와 정지화상 및 동화상을 표시하는 화상 표시부로 구분되어 구성될 수도 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 발광부(140)는 서로 대향된 제1전극(141) 및 제2전극(142)과 이들 전극 사이에 개재된 발광층(143)을 구비한다. 상세하게는, 상기 발광부(140)는 서로 소정 간격으로 이격되어 스트라이프 형상으로 형성된 제1전극(141)과, 상기 제1전극(141)을 소정의 패턴으로 구획하는 절연층(145)과, 상기 기판(110)의 상면에 노출된 제1전극(141)들의 상면에 소정 패턴으로 증착되는 발광층(143)과, 상기 제1전극(141)과 절연되어 있고 상기 발광층(143)의 상방에 형성된 제2전극(142)을 구비하며, 상기 발광부(140)는 위에서 기술된 방식으로 형성되는 것에 한정되지 않고 다양한 패턴으로 형성하는 것이 가능하다.
상기 제1전극(141)은 애노드 전극으로서 기능하고, 대향된 제2전극(142)은 캐소드 전극으로 기능할 수 있으며, 이들 전극(141, 142)의 극성은 반대로 되어도 무방하다.
상기 제1전극(141)은 유기 전계발광 소자가 배면 발광형인 겨우 투명 전극으로 형성될 수 있고, 전면 발광형인 경우 반사형 전극으로 형성될 수 있다. 투명 전극으로서 형성되는 경우에는, 상기 제1전극(141)은 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3 등으로 이루어질 수 있고, 반사형 전극으로서 형성되는 경우에는, Ag, Mg, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr 및 이들의 화합물 등으로 반사막을 형성한 후, 그 위에 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3을 형성할 수도 있다. 또한, 상기 제1전극(141)은 유기 발광 소자가 수동 구동형인 경우 기판(110) 상에 직접 형성될 수도 있고, 능동 구동형인 경우 기판(110)에 구비된 구동용 박막트랜지스터의 소오스/드레인 전극 중 어느 하나에 접속되도록 형성될 수 있다.
상기 제1전극(141)에 대향된 제2전극(142)도 투명 전극 또는 반사형 전극으로 형성될 수 있으며, 투명 전극으로 형성되는 경우에는, 상기 제2전극(142)이 캐소드 전극으로 사용되는 까닭에, 일함수가 작은 금속, 예컨대 Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Al, Mg 및 이들의 화합물이 발광층(142)을 향하도록 증착한 후, 그 위에 ITO, IZO, ZnO 또는 In2O3 등으로 형성될 수 있다. 또한, 반사형 전극으로 형성되는 경우에는, Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Al, Mg 및 이들의 화합물을 전면 증착하여 형성된다.
상기 발광층(143)은 저분자 또는 고분자 유기층이 사용될 수 있다. 저분자 유기층을 사용할 경우, 발광층(143)은 홀 주입층(HIL: Hole Injection Layer), 홀 수송층(HTL: Hole Transport Layer), 유기 발광층(EML: Emission Layer), 전자 수송층(ETL: Electron Transport Layer), 전자 주입층(EIL: Electron Injection Layer) 등이 단일 혹은 복합 구조로 열거된 순서대로 적층되어 형성될 수 있고, 상기 제1전극(141) 및 제2전극(142)의 기능이 반대로 된 경우, 즉 제1전극(141)이 캐소드 전극이고 제2전극(142)이 애노드 전극인 경우에는 발광층(142)은 위에서 열거된 순서의 역으로 적층되어 형성될 수도 있으며, 사용 가능한 유기 재료도 구리 프 탈로시아닌(CuPc: copper phthalocyanine), N,N-디(나프탈렌-1-일)-N,N'-디페닐-벤지딘(N,N'-Di(naphthalene-1-yl)-N,N'-diphenyl-benzidine: NPB), 트리스-8-하이드록시퀴놀린 알루미늄(tris-8-hydroxyquinoline aluminum)(Alq3) 등을 비롯해 다양하게 적용 가능하다. 이들 저분자 유기층은 진공증착의 방법으로 형성된다.
고분자 유기층의 경우, 발광층(143)은 대개 홀 수송층(HTL) 및 발광층(EML)을 구비한 구조를 가질 수 있으며, 이 때, 상기 홀 수송층으로 PEDOT를 사용하고, 발광층으로 PPV(Poly-Phenylenevinylene)계 및 폴리플루오렌(Polyfluorene)계 등 고분자 유기물질을 사용하며, 이를 스크린 인쇄나 잉크젯 인쇄 방법 등으로 형성할 수 있다.
이들 전극(141, 142)에 접속되어 외부의 전원 또는 제어 회로에 연결시키기 위한 단자부(151, 152)가 상기 봉지 수단(130)의 일측으로부터 인출되도록 구성되어 있다. 도 3에는, 제1전극(141)이 발광부(140)의 외측으로 연장되어 단자부(151)에 접속되어 있는 것으로 도시되어 있지만, 이것은 단지 예시적인 것으로서, 단자부와 전극 사이의 접속은 다양한 형태를 취할 수 있다. 예컨대, 발광부(140) 내측에만 제1전극(141)을 한정하고 이 전극과 단자부(151) 사이를 도전성의 라인(미도시)을 통해 접속시킬 수도 있으며, 이러한 다양한 구성은 제2전극(142)과 단자부(152)의 경우에도 마찬가지이다.
도 2에는, 발광부(140) 내에 구비된 제1전극(141)에 접속된 제1전극 단자부(151)가 봉지 수단(130)의 일측으로부터 인출되어 있고, 제2전극(142)에 접속된 제2전극 단자부(152)는 제1전극 단자부(152)와는 다른 측에서 상기 봉지 수단(130)으 로부터 인출되어 있다. 이러한 단자부들(151, 152)의 인출 방향이 도 2에 도시된 형태에 한정되는 것은 아니고, 유기 전계발광 소자가 채용될 수 있는 표시 장치의 설계 유형에 따라 다양하게 변형될 수 있으며, 예컨대 상기 단자부들(151, 152)은 봉지 수단(130)의 동일한 측면으로부터 인출될 수도 있고, 혹은 봉지 수단(130)의 대향된 측면으로부터 각기 인출될 수도 있다.
위에서 기술한 바와 같이, 봉지 수단(130)은 밀봉재(136)를 통해 상기 기판(110) 상에 설치된다. 상세하게는, 도 2 및 도 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 봉지 수단(130)은 기판(110)과 전극(141 또는 142)에 모두 걸치는 밀봉재(136)를 통해 기판(110)에 설치된다. 봉지 수단(130)과 전극(141 또는 142)은 상기 밀봉재(136) 내에 포함된 도전성 물질을 통해 서로 단락될 가능성이 있다. 특히, 금속을 재료로 한 메탈캡과 같은 봉지 수단(130)이 사용되는 경우, 봉지 수단(130)과 전극(141 또는 142)이 단락으로 인해 평판 표시 장치, 예컨대 유기 전계발광 소자(100)는 소정의 화상을 신뢰성 높게 구현할 수 없게 되므로, 이러한 단락 부분을 검출하고 신속하게 수리할 필요가 있다.
도 4는 봉지 수단과 전극 사이의 단락을 설명하는 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 단락 부분 검출 및 수리 방법을 단계적으로 나타낸 블록도이다.
봉지 수단(130)이 전극(141 또는 142)과 단락되면, 도 4와 같이 봉지 수단(130)이 데이터 라인 또는 스캔 라인과 단락된 것으로 표시될 수 있다. 여기서, 양방향 화살표로 나타낸 것은 봉지 수단(130)이 데이터 라인 또는 스캔 라인을 이루는 전극과 단락될 수 있음으로 나타낸다. 즉, 봉지 수단(130)은 데이터 라인을 구성하는 전극(예컨대, 제1전극) 또는 스캔 라인을 구성하는 전극(예컨대, 제2전극) 중 어느 하나 또는 양자에 모두 단락될 수 있으며, 이러한 단락 과정은 위에서 이미 설명하였다.
도 4에서 알 수 있듯이, 유기 전계발광 소자(OLED)가 구동된 상태에서 봉지 수단(130)과 데이터 라인을 구성하는 전극들 또는 스캔 라인을 구성하는 전극들 중 어느 하나에 전기적 신호를 인가하면, 이 인가된 전기적 신호에 의해 발광부(120)에 변화가 나타난다. 본 발명은 발광부(120)에 나타난 변화를 확인하여 신속하고 정확하게 봉지 수단(130)과 전극(141, 142) 사이의 단락 부분을 검출할 수 있다.
도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 단락 부분 검출 및 수리 방법은 크게 발광부를 구동하는 단계와, 봉지 수단과 전극(바람직하게는, 해당 전극에 접속된 단자부) 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계와, 발광부에 나타난 변화를 확인하여 전기적 신호가 인가된 부분의 전극의 단락 여부를 검출하는 단계와, 해당 전극이 단락된 것으로 판정되면 전기적 신호를 다시 인가하여 단락 부분을 수리하는 단계를 포함한다.
도 1 내지 도 3과 관련하여 설명한 평판 표시 장치, 예컨대 유기 전계발광 소자에 통상의 구동 전압을 인가하여 발광부(120)를 구동시킨다.
그 후, 유기 전계발광 소자(OLED)가 구동된 상태, 즉 발광부(120)가 켜져 있는 상태에서, 전극들 중 일부와 봉지 수단 사이에 전기적 신호를 인가한다. 이 때 인가되는 전기적 신호는 접지, DC, AC 또는 펄스 중에서 선택되는 어느 하나인 것이 바람직하며, 인가되는 전압 범위는 수 십 내지 수 백 볼트가 가능하다.
전극들 중 일부가 봉지 수단과 단락되어 있고 이 단락된 전극과 봉지 수단에 전기적 신호가 인가되면, 발광부(120)에는 단락 때문에 추가로 인가된 전기적 신호에 의해 변화가 나타날 수 있으며, 이 변화는 도 1에 도시된 바와 같은 선의 형상(L1 또는 L2)으로서 발광부(120)에 나타날 수 있다.
발광부(120) 내에 구비된 전극(141 또는 142)은, 유기 전계발광 소자가 PM 구동 방식인 경우 예컨대 스트라이프 형태로 설치될 것이고 AM 구동 방식인 경우에도 전극(141, 142) 중의 하나 또는 둘 다는 각 픽셀에만 형성되어도 그 전체로는 데이터 라인 또는 스캔 라인을 형성하도록 일 직선의 형태가 될 것이므로, 봉지 수단(130)과 접속된 전극에 전기적 신호가 인가되면, 발광부(120)에는 선 형태의 휘도의 변화가 나타나게 된다.
여기서, 선(L1, L2)은 ‘암선’ 또는 ‘명선’이 될 수 있으며, 암선은 주변 보다 어두운 밝기의 선 형상을 의미하고, 명선은 주변 보다 밝은 밝기의 선 형상을 의미한다.
이렇게 하여, 봉지 수단(130)과 전극(141, 142) 사이의 단락된 부분에 전기적 신호가 인가되면, 발광부(120)에 나타난 암선 또는 명선(L1 또는 L2)을 확인함으로써, 봉지 수단(130)과 전극(141, 142) 사이의 단락된 부분을 시각적으로 용이하게 검출할 수 있다.
보다 상세하게는, 발광부(120)가 구동되어 소정 밝기의 휘도로 발광하는 상태에서, 봉지 수단(130)과 전극(141 또는 142)(바람직하게는, 해당 전극에 접속된 단자부(151 또는 152))에 전기적 신호를 인가한다. 이 경우, 단자부(151 또는 152)의 일측 단부로부터 순차적으로 전기적 신호를 인가한다. 단자부의 어느 일측단부로부터 순차적으로 전기적 신호를 인가해 가는 동시에 발광부(120)의 변화를 확인한다. 순차적으로 단자부를 따라 가면서 전기적 신호를 인가해 가는 도중 발광부(120)에 암선 또는 명선의 형태로서 휘도의 변화가 발생하면, 이 순간에 전기적 신호가 인가된 전극이 봉지 수단(130)과 단락되어 있음을 의미하므로, 이 때의 전극을 단락된 전극으로 판정한다. 계속해서 나머지 단자부를 따라 가면서 단락 부분 검출 과정을 계속 수행하여, 나머지 부분에서도 있을 수 있는 봉지 수단과 단락된 전극을 검출 할 수 있다.
그 후, 봉지 수단(130)과 단락된 것으로 판정된 전극을 수리한다. 봉지 수단과 전극 사이의 단락은 위에서 설명한 대로 밀봉재(136) 내에 포함된 도전성 물질에 의해 기인할 수 있다. 따라서, 이러한 단락을 유발시킨 도전성 물질을 열화시킴으로써 봉지 수단과 전극 사이의 단락이 해제될 수 있다. 이를 위해, 단락된 전극과 봉지 수단에 전기적 신호를 재인가하여 단락을 유발한 도전성 물질을 전기적 에이징 처리에 의해 열화시킨다. 즉, 전기적 에이징 처리를 하면, 인가된 전기적 신호에 의해 단락을 유발한 도전성 물질이 가열되어 열화됨으로써, 도전성 물질에 의한 봉지 수단(130)과 전극 사이의 단락이 해제될 수 있다.
또한, 재인가되는 전기적 신호는 단락 부분을 검출하기 위해 인가되는 전기적 신호의 크기와 동일하거나 혹은 보다 클 수 있다. 또한, 이러한 수리 단계는 모든 단락 부분을 검출한 후 별개로 수행될 수도 있고, 단자부를 따라 가면서 단락 부분이 검출될 때 즉시 수행될 수도 있다.
한편, 도 2에 도시된 평판 표시 장치의 일 예인 유기 전계발광 소자(100)는 최종 완성된 형태의 모듈로서, 이러한 유기 전계발광 소자는 대형의 기판 상에 다수의 발광부를 형성한 후 소정 길이로 기판을 절단하여 제조될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 단락 부분 검출 및 수리 방법은 도 2에 도시된 최종 완성된 모듈 상태에서 실행될 수도 있고, 아울러 이러한 모듈 상태의 유기 전계발광 소자(100)가 기판으로 절단되기 전인 기판 상태에서도 수행될 수 있다.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법에 의하면, 발광부를 봉지하는 봉지 수단과 발광부 내에 구비된 전극 사이의 단락을 전기적 신호에 의해 나타난 발광부의 변화를 확인하여 신속하고 간단하게 검출하고, 아울러 검출된 단락 부분의 도전성 물질을 전기적 에이징 처리에 의해 열화시켜 단락 부분을 수리하여, 봉지 수단과 전극 사이의 단락으로 인한 제품 불량을 해결할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.

Claims (9)

  1. 기판; 발광층과 상기 발광층을 작동시키는 다수의 전극을 가지는 발광부; 및 상기 발광부를 덮어 보호하도록 상기 기판에 접합된 봉지수단을 구비하는 평판 표시 장치의 상기 봉지수단과 상기 전극 사이의 단락 부분을 검출하고 수리하는 방법으로서,
    상기 발광부를 구동시키는 단계;
    상기 봉지수단과 상기 전극 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계;
    상기 발광부의 변화를 확인하여 단락 부분을 검출하는 단계; 및
    상기 단락 부분을 수리하는 단계;를 포함하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 전극은 애노드 전극으로서 기능하는 제1전극과 캐소드 전극으로서 기능하는 제2전극을 구비하고,
    상기 평판 표시 장치는 상기 봉지 수단의 일측으로부터 연장되고 상기 발광부에 구비된 전극에 접속된 단자부를 더 구비하며,
    상기 단자부는 상기 제1전극에 접속된 제1단자부와 상기 제2전극에 접속된 제2단자부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 전기적 신호 인가 단계는 상기 봉지수단과 상기 제1단자부 또는 상기 제2단자부 중에서 선택되는 어느 하나의 전극에 전기적 신호를 인가하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 전기적 신호 인가 단계는 선택된 단자부를 따라가면서 상기 봉지수단과 상기 전극 사이에 전기적 신호를 인가하는 단계인 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 단락 부분 검출 단계는, 상기 봉지수단과 상기 단자부 사이에 전기적 신호를 인가하여 상기 발광부의 휘도 변화가 나타난 부분에 해당하는 단자부에 연결된 전극이 상기 봉지수단과 단락된 것으로 결정하여 단락 부분을 검출하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 발광부에 나타나는 휘도 변화는 명선 형태 또는 암선 형태 중 어느 하나의 형태인 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 단락 부분 수리 단계는 단락된 전극과 상기 봉지수단에 전기적 신호를 인가하는 에이징 처리에 의해 실행되는 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전기적 신호는 접지, DC, AC 또는 펄스 중에서 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
  9. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 평판 표시 장치는 유기 전계발광 소자인 것을 특징으로 하는 평판 표시 장치의 단락 부분 검출 및 수리 방법.
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