KR100617517B1

KR100617517B1 - 방사선 촬영장치와 방사선 촬영방법

Info

Publication number: KR100617517B1
Application number: KR1020040044920A
Authority: KR
Inventors: 노키타마코토
Original assignee: 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 2003-06-18
Filing date: 2004-06-17
Publication date: 2006-09-01
Also published as: US20040256567A1; EP1489435B1; EP1489435A1; DE602004000379D1; CN1278179C; DE602004000379T2; CN1573533A; US7129499B2; KR20040111110A

Abstract

방사선 촬영 장치는, 방사선을 인가하는 방사선 조사부, 방사선을 화상 데이터로 변환하고 복수의 촬영기를 포함하는 방사선 촬영부, 화상 데이터에 의거하여 방사선 촬영부에서 잔여 전하의 분포로부터, 잔여 전하에 의해 유발된 노이즈가 발생했는 지를 판별하는 판별부 및 판별 결과에 의거하여 방사선 촬영부의 구동 상태를 변경하는 제어부를 포함한다.

방사선 촬영장치, 잔상, 잔여 전하, 판별부, 제어부

Description

방사선 촬영장치와 방사선 촬영방법{RADIOGRAPHIC APPARATUS AND RADIOGRAPHIC METHOD}

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 방사선 촬영장치의 구조를 나타내는 블록도,

도 2는 방사선 촬영장치에서 방사선 촬영부(120)의 구조, 그 조작 원리, 및 그 구동방법을 설명하는 도면,

도 3은 제어부가 어떻게 구동하고, 방사선 촬영부(120)를 제어하는 지를 설명하는 타이밍도,

도 4는 본 발명의 제 1실시예에 따른 방사선 촬영장치에 의한 방사선 화상을 포획한 흐름도,

도 5는 잔상 및 잔상의 원인을 설명하는 도면,

도 6은 판별부(140)에 의한 잔상의 판별을 위한 화상 데이터를 분석하는 흐름도,

도 7은 판별부(140)에 의한 잔상의 판별을 위한 암(dark) 전류 화상을 분석하는 흐름도.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

110: 방사선 조사부 120: 방사선 촬영부

125: 조작부 130: 제어부

140: 판별부 150: 화상 처리부

160: 화상 저장부 170: 화상 표시부

본 발명은, 방사선 촬영부를 포함하는 방사선 촬영장치에 관한 것으로, 특히 방사선 촬영부의 상태에 의거하여 방사선 촬영 과정을 제어하는 방사선 촬영장치 및 방사선 촬영방법에 관한 것이다.

방사선 촬영 센서는, 최근에 제안되어 왔고, 실시간으로 방사선 화상을 디지털 데이터로 변환할 수 있다. 예를 들어, 고체 광검출기 소자가 매트릭스 형으로 배열된 고체 광검출기를 제조하는 것을 가능하게 한다. 이것은, 방사선을 가시광으로 변환하는 고체 광검출기 및 형광체를 각각 갖는 방사선 촬영 센서의 도입을 유도하고, 고체 광검출기 및 형광체는, 교대로 적층된다. 고체 광검출기 소자의 각각은, 수정으로 만들어진 기판 위에 비결정형 반도체가 그 사이에 끼워진 투명 전도성막과 도전성 막을 갖는다. 그러한 방사선 촬영 센서를 가지고, 화상 데이터는 다음 방법에 의해 얻어질 수 있다. 즉, 대상물을 통하여 투과된 방사선으로 조사된 방사선 촬영 센서는, 형광체에 의해 방사선을 가시광으로 변환한다. 가시광은, 고 체 광검출기 소자에서 광전 변환기에 의해 전기 신호로서 검출된다. 전기 신호는, 소정의 판독방법에 의해 고체 광검출기 소자로부터 판독되고, 화상 신호를 제공하기 위해 아날로그신호를 디지털신호로 변환한다. 그러한 고체 광검출기는, 일본 특허 공개평 제 8-116044호에 개시된다. 더욱이, 또한 방사선 촬영 센서는, 형광체를 사용함이 없이 고체 광검출기를 사용하여 방사선을 직접 얻는 것이 제안되어 왔다.

상기 기술된 방사선 촬영 센서는, 전하의 양으로 방사선 세기를 검출한다. 따라서, 정확히 방사선 신호를 축적하기 위하여 안정된 상태에서 방사선 촬영 센서를 구동하는 것이 필요하다. 이 목적을 위해, 암 전류의 방전 또는 저장된 전하의 방전과 같은 구동 조작이 실행된다.

그러나, 고 강도를 갖는 방사선을 인가하는 것은, 고체 광검출기에 저장된 신호 전하를 포화되도록 한다. 신호 전하가 포화된 후, 순서적인 방사선 촬영 과정에서 구동 조작에 의해 전하를 완전히 방전하는 것은 불가능하므로, 화상 데이터에 노이즈가 첨가된다. 방사선 촬영 센서에서 전하의 축적 상태 또는 전하의 방전 상태에 의거하여 발생된 노이즈는, 잔상이라 불린다. 또한 그러한 문제는, 일본 특허 공개평 제 2000-023968 호에 지적되었다. 대책이 이 공보에서 광학적 리셋으로 잔여 전하에 의하여 기인한 잔상을 제거하기 위해 제안되었다. 그러나, 그러한 방법을 가지고, 방사선 촬영 센서는 리셋 장치를 가져야만 하고, 따라서 바람직하지 않게, 리셋 장치의 공간과 비용을 요구한다. 또한, 고 강도의 방사선의 인가를 위한 준비로서 방사선 촬영 과정 사이에 잔여 전하를 완전히 방전하기 위한 구동 조작을 더하는 것은, 방사선 촬영 사이클을 늘이고, 따라서 병원 등에서 방사선 촬영의 회 전율을 낮춘다.

때때로, 고 강도의 방사선을 인가하는 것은, 화상 데이터의 잔여 전하에 의해 유발된 노이즈를 첨가한다. 지금까지, 노이즈의 첨가에 대한 다양한 대책이 기대되어 왔다.

잔여 전하의 상태의 판별에 의거하여 화상 데이터의 잔여 전하에 기인된 노이즈의 첨가를 줄일 수 있는 방사선 촬영장치 및 방사선 촬영방법을 제공하는 것이 본 발명의 목적이다.

본 발명은, 그 제 1국면에서, 방사선을 인가하는 방사선 조사부와, 복수의 촬영기를 포함하고 방사선을 화상 데이터로 변환하는 방사선 촬영부와, 화상 데이터에 의거하여 방사선 촬영부에서 잔여 전하의 분포로부터 잔여 전하에 의해 유발된 노이즈가 발생되었는 지를 판별하는 판별부와, 판별 결과에 의거하여 방사선 촬영부의 구동 상태를 변경하는 제어부를 포함하는 방사선 촬영 장치를 제공한다.

본 발명은, 그 제 2국면에서, 방사선을 인가하는 방사선 조사 단계와, 복수의 촬영기를 사용하여 방사선을 화상 데이터로 변환하는 방사선 촬영 단계와, 방사선 촬영 단계에서 얻어진 화상 데이터에 의거하여 잔여 전하의 분포로부터, 잔여 전하에 의해 기인된 노이즈가 발생되었는 지를 판별하는 판별 단계와, 판별 결과에 의거하여 방사선 촬영 단계의 구동 상태를 변경하는 제어 단계를 포함하는 방사선 촬영방법을 제공한다.

본 발명의 다른 목적, 특징, 및 장점들은, 첨부한 도면들을 참고하여 바람직한 실시예의 다음 기술로부터 명백할 것이다.

본 발명의 바람직한 실시예에 따른 방사선 촬영 장치는, 첨부한 도면을 참고하여 상세히 지금 기술될 것이다. 이 실시예들에서 설명된 소자들의 상대적 배열, 수치적 표현, 수치는, 그것이 구체적으로 다르게 진술되지 않는다면, 본 발명의 범위를 제한하지 않는다.

(실시예 1)

도 1은, 본 발명의 제 1실시예에 따른 방사선 촬영장치의 구조를 나타내는 블록도이다.

방사선 촬영장치는, 방사선 조사부(110)로부터의 방사선으로 대상물을 조사하는 방사선 조사부(110)와, 대상물을 통하여 전송되는 방사선 투영 화상을 디지털 신호로 변환하는, 방사선 촬영 센서로서 작용하는, 방사선 촬영부(120)와, 방사선 촬영부(120)의 상태를 판별하는 판별부(140)와, 방사선 촬영장치를 구동하기 위해 요구되는 조건과 같은 방사선 촬영 정보가 입력되는 조작부(125)와, 방사선 조사부(110)와 방사선 촬영부(120)를 제어하는 제어부(130)를 갖는다. 다음 설명에서, 저 전압이 방사선 촬영부(120)에 인가되고 방사선 촬영장치가 방사선 촬영에 준비되지 않은 상태는, 슬립(sleep) 상태라고 불리고, 정상 전압이 방사선 촬영부(120)에 인가되고 방사선 촬영장치가 방사선 촬영에 준비된 상태는 레디(ready) 상태라고 불린다. 슬립 상태와 레디 상태는 도 2와 도 3을 참고하여 아래에 상세히 설명될 것이다.

이하, 방사선 촬영장치에 의한 방사선 촬영 과정을 설명하겠다.

우선, 방사선 촬영 정보는, 조작부(125)에 의해 입력된다. 방사선 촬영 정보가 입력된 후, 방사선 촬영부(120)는, 방사선 촬영 화상을 포획하기 위해 상기 인가된 전압이 없는 슬립 상태로부터 인가된 전압이 있는 레디 상태로 변경한다. 방사선 촬영 기사는, 방사선-조사 개시 신호를 조작부(125)에 의해 제어부(130)에 전송한다. 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)로 하여금 방사선 신호를 저장하도록 준비하게 하고, 방사선 조사부(110)로 하여금 방사선을 방사선 촬영부(120)에 동기하여 인가하도록 한다. 방사선 촬영부(120)는, 방사선을 화상 데이터로 변환하고, 화상 데이터를 취득하고, 판별부(140)와 화상 처리부(150)로 전송한다. 화상 처리부(150)에 의해 처리된 화상 데이터는 화상 저장부(160)에 저장되고, 화상 표시부(170)에 표시된다. 조작부(125)의 승인 버튼을 누름으로써 하나의 방사선 촬영 과정이 종료한다.

방사선 촬영 과정이 종료된 후, 다음의 방사선 촬영 과정이 소정의 시간 주기 내에 실행되는 경우, 방사선 촬영부(120)는, 슬립 상태로 변경함이 없이 레디 상태로 유지한다. 고 강도를 갖는 방사선이 연속적인 방사선 촬영 과정 중 하나의 방사선 촬영 과정에서 방사선 촬영부(120)로 인가되고, 방사선 촬영부(120)가 방사선으로부터 일부 범위까지 차폐되는 부분 및 그 방사선 촬영 영역에서 고 강도를 갖는 방사선으로 조사되는 부분을 갖는 경우, 때때로 계속되는 방사선 촬영 과정을 실행하는 것은, 화상 데이터에 부가된 노이즈를 갖는 잔상을 발생한다. 따라서, 판 별부(140)는, 방사선 촬영부(120)에 의해 얻어진 화상 데이터를 분석하고, 잔상이 발생했는 지를 판별하고, 판별된 결과를 제어부(130)에 전송한다. 판별부(140)는, 방사선으로부터 일부 범위까지 차폐되는 부분 및 화상 데이터에서 고 강도를 갖는 방사선으로 조사되는 부분을 특히 분석한다. 만일 판별부(140)가 잔상이 발생했는 지를 판별한다면, 제어부(130)는, 인가된 전압이 없이 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭한다. 인가된 전압이 없는 슬립 상태는, 잔상을 일으키는 잔여 전하를 리셋하는 효과를 갖는다. 그러면 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)로 하여금 계속되는 방사선 촬영 화상을 포획하기 위해 슬립 상태로부터 레디 상태로 변경하게 한다.

만일 제어부(130)가, 방사선 영상이 포획될 때마다 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭한다면, 슬립 상태로부터 레디 상태로 변경하는 시간 주기는, 방사선 촬영 영상이 포획될 때마다 요구되고, 따라서 방사선 촬영 사이클이 늘어난다. 상기한 것처럼, 잔상을 일으키는 화상 데이터가 연속적인 방사선 촬영 과정 동안 요구되는 경우에만, 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭하고, 잔여 전하를 리셋하는 것은, 잔상 없이 효과적인 방사선 촬영 사이클에서 방사선 촬영 화상을 취할 수 있다.

도 2는, 도 1에 도시된 방사선 촬영부(120)의 구조, 방사선으로부터 변환된 전하를 저장하고 전하를 판독하기 위해 요구되는 구동 방법, 및 슬립 상태를 나타낸다.

방사선 촬영부(120)는, 신호를 검출하는 화소가 어레이로서 배열되는 구조를 갖고, 그것은 검출기 어레이(200)라 불린다.

하나의 화소(201)는, 방사선 또는 광학 신호를 검출하는 신호 검출기 및 신호의 저장과 그 판독 사이에서 스위칭하는 스위칭 TFT를 갖는다. 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)는, 신호 검출기에 대응하고, 스위치 SW (1,1) 내지 (4096,4096)는, 스위칭 TFT에 대응한다. 즉, 방사선 촬영부(120)는, 4096×4096 화소에 대한 신호 검출기를 갖는다. 이하, m번째 열과 n번째 행의 화소에 대한 광전 변환기는, 광전 변환기 PD(m,n)로서 표시되고, m번째 열과 n번째 행의 화소에 대한 스위치는, 스위치 SW(m,n)로서 표시된다. 광전 변환기 PD(m,n)의 게이트 전극 G와 광전 변환기 PD(m,n)의 공통 전극 D에 다른 전압을 인가하는 것은, 전하의 축적 및 방전을 허용한다. 광전 변환기 PD(m,n)의 광전 변환 부분은, 그 사이에 절연체가 끼워진 G 전극에 연결되고, 그 사이에 반도체가 끼워진 D 전극에 연결된다. m번째 열의 열(row) 신호 라인은, Lcm으로 표시되고, n번째 행의 행선택 라인은, Lrn으로 표시된다. 방사선 촬영부(120)는, 바이어스 라인 Lb, 바이어스 서플라이(205), 및 바이어스 라인 Lb를 그라운드 레벨로 설정하는 스위치(206)를 포함한다. 게이트 전극 G는, 대응하는 스위치 SW (m,n)를 통하여 m번째 열에 대한 열 신호 라인 Lcm에 접속되고, 스위치 SW(m,n)의 제어 단자는, 공통 행선택 라인 Lrn에 접속된다. 모든 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)의 공통 전극 D는, 바이어스 라인 Lb를 통해 바이어스 서플라이(205)에 접속된다.

또한, 방사선 촬영부(120)는 라인 선택기(232)를 갖는다. 라인 선택기(232)는, 어드레스 디코더(234)와 4096 개의 스위칭 소자 (236-1) 내지(236-4096)를 포함한다. 라인 선택기(232)는 화소 군의 신호 전하가 어느 라인으로부터 판독될 지를 선택한다. 행선택 라인 Lr1 내지 Lr4096은, 라인 선택기(232)에 접속된다. 어드레스 디코더(234)는, 검출기 제어부로부터 제어 신호를 디코드하고, 신호 전하가 어느 광전 변환기 PD(m,n)로부터 판독되는 지를 판별한다. 스위칭 소자(236)는, 어드레스 디코더(234)로부터 출력에 따라 개폐된다.

방사선 촬영부(120)는, 화소 군의 신호 전하를 판독하는 신호 판독 회로(240)를 더 갖는다. 광전 변환기 PD(m,n)의 축적된 전하는 리셋 기준 전압(241) Vbt로 리셋된다. 신호 판독 회로(240)는, 리셋 스위치(242), 열 신호 라인 Lcm으로부터 공급되는 신호 전압을 증폭하는 전치증폭기(246), 전치증폭기(246)로부터 출력을 샘플링하고 유지하는 샘플-홀드 회로(248), 시간축에서 샘플-홀드 회로(248)로부터 출력을 멀티플렉싱하는 아날로그 멀티플렉서(250), 및 아날로그 멀티플렉서(250)로부터 아날로그 출력을 디지털화하는 아날로그 대 디지털 컨버터(252)를 포함한다. 신호 판독 회로(240)는, 방사선 촬영부(120)를 구동하는 드라이버(262)에 접속된다.

광전 변환기 PD(m,n)에 저장된 전하가 축적된 전하를 제거하기 위하여 방전되는 상태인 리프레쉬(refreshing), 전하의 축적, 전하의 판독, 실패한 판독 같은 방사선 촬영부(120)의 기본 구동 동작들은 아래에 기술된다. 리프레쉬는 광전 변환기 PD(m,n)의 구조에 따라 요구되거나 또는 요구되지 않는다. 리프레쉬를 요구하는 광전 변환기 PD의 하나의 구성은, 금속 절연체 반도체(MIS) 구조이다.

광전 변환기 PD(m,n)의 리프레쉬는 지금 기술된다.

드라이버(262)는, 전압을 바이어스 서플라이(205)에 인가하여 리프레쉬 전압 Vr로 바이어스 라인 Lb에 연결된 모든 공통 전극 D를 설정한다. 또한 드라이버(262)는, 모든 리셋 스위치(242)를 턴온하여 모든 열 신호 라인 Lc1 내지 Lc4096을 리셋 기준 전압(241) Vbt로 설정한다. 드라이버(262)는, 모든 게이트 전극 G를 리셋 기준 전압 Vbt로 설정하기 위하여 전압 Vgh를 모든 행선택 라인 Lr1 내지 Lr4096에 더 인가하여 모든 스위치 SW(1,1) 내지 (4096,4096)를 턴온한다. 전압차 Vbt-Vr이 게이트 전극 G의 리셋 기준 전압 Vbt와 공통 전극 D의 리프레쉬 전압 Vr 사이에 존재하기 때문에, 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)의 정전용량의 여분의 전하는 공통 전극 D로부터 방전되고, 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)의 정전용량의 전하는 리프레쉬를 위해 기준으로 리셋된다.

이하, 전하의 축적을 설명한다.

드라이버(262)는, 바이어스 서플라이(205)의 전압을 변경하여 광전 변환 동안 바이어스 전압 Vs로 바이어스 라인 Lb에 연결된 모든 공통 전극 D를 설정한다. 또한 드라이버(262)는, 모든 리셋 스위치(242)를 턴오프하여 리셋 기준 전압(241) Vbt로부터 모든 열 신호 라인들 Lc1 내지 Lc4096을 릴리즈(release)한다. 드라이버(262)는 전압 Vgl을 모든 행선택 라인들 Lr1 내지 Lr4096에 더 인가하여 모든 스위치 SW (1,1) 내지 (4096,4096)를 턴오프한다. 게이트 전극 G는, 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)로부터 절연된다. 게이트 전극 G의 전압과 공통 전극 D의 바이어스 전압 Vs 사이의 관계를 역전하는 것은, 리프레쉬 동안의 관계와 비교하여, 공통 전극 D가 광전 변환기 PD(1,1) 내지 (4096, 4096)에 반도체성을 띠기 때문에 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)로 하여금 광전 변환으로 인한 전하의 축적을 허용한다. 방사선 촬영부(120)가 방사선으로 여기에 조사되는 경우, 방사선 양에 비례하는 전하는 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)에 저장된다. 방사선 신호에 부가하여, 온도에 의해 여기된 암 전류는, 광전 변환기 PD (m,n)을 통하여 흐르고, 또한 암 전류로 인한 전하는, 방사선 양에 비례하는 전하와 함께 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)에 저장된다.

이하, 전하의 판독을 기술한다.

드라이버(262)는, 모든 공통 전극 D가 광전 변환 동안 바이어스 전압 Vs에 설정된 채 모든 리셋 스위치(242)를 턴온하여 리셋 기준 전압(241) Vbt로 모든 열 신호 라인 Lc1 내지 Lc4096을 설정한다. 드라이버(262)는, 상기 상태를 유지하는 동안, 모든 리셋 스위치(242)를 턴오프한다. 드라이버(262)는 전압 Vgh를 행선택 라인 Lr1에 더 인가하여 스위치 SW (1,1) 내지 (4096,4096)를 턴온한다. 스위치 SW (1,1) 내지 (4096,4096)를 턴온하는 것은, 리셋 기준 전압 Vbt를 갖는 열 신호 라인 Lc1 내지 Lc4096을 게이트 전극 G에 연결하지만, 전하는 광전 변환기 PD(m,n)에 저장되고, 따라서 열 신호 라인 Lc1 내지 Lc4096의 전압은, 광전 변환기 PD (m,n)에 저장된 전하의 유도 때문에 Vbt로부터 Vbt'로 쉬프트된다. 쉬프트 양 Vbt-Vbt'는 저장된 전하의 양에 비례하기 때문에, 쉬프트 양 Vbt-Vbt'는 전치증폭기(246)에 의해 증폭된다. 전치증폭기(246)로부터의 출력은, 샘플-홀드 회로(248)에 의해 샘플링되어 유지되고, 샘플-홀드 회로(248)로부터의 출력은, 시간 축에서 아날로그 멀티플렉서(250)에 의해 멀티플렉스되고, 아날로그 멀티플렉서(250)로부터의 아날로그 출력은, 아날로그 대 디지털 컨버터(252)에 의해 디지털화되어 디지털화된 데이터를 판독한다. 모든 행 1부터 4096까지에 대하여 이 과정을 반복하는 것은, 모든 화소에 저장된 전하로 하여금 판독되게 한다. 공통 전극 D의 바이어스 전압 Vs와 게이트 전극 G의 전압 Vbt 또는 Vbt' 사이의 관계는, 전하의 저장에서처럼 같다.

방사선의 양에 비례하는 저장된 전하만 판독하기 위하여, 암 전류로 인한 전하는, 같은 시간 주기 동안에 저장되고 다시 판독되고, 여기서 판독된 저장 전하는, 모든 화소에서 저장 전하로부터 빼어진다. 즉, 드라이버(262)에 의해 실제(true) 판독에서 판독된 방사선 화상에 의거하여 화상 데이터로부터 교정 판독에서 판독된 암 전류 화상을 빼는 것은, 방사선 양에 비례하는 화상 데이터를 제공할 수 있다. 화상 데이터 또는 암 전류 화상은, 드라이버(262)로부터 판별부(140)와 화상 처리부(150)로 전송된다.

슬립 상태는, 모든 공통 전극 D의 전압이 스위치 SW (1,1) 내지 (4096, 4096)를 턴오프하고 그라운드 레벨로 바이어스 라인 Lb를 설정하는 스위치(206)를 턴온하는 것에 의해 그라운드 레벨로 설정된다. 슬립 상태는, 그라운드 레벨을 갖는 공통 전극 D로 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)에 잔상을 일으키는 잔여 전하를 리셋하는 효과를 갖는다.

도 2를 참고하여 상기에 기술된 것처럼, 화상 데이터를 얻는 방사선 촬영부(120)를 위하여, 방사선 화상의 저장, 판독 등을 실행하는 검출기 어레이(200)로 전압을 인가하는 것이 필요하다.

화소가 고 강도를 갖는 방사선으로 조사된 후, 많은 전하가 화소 군에 저장되고, 따라서 상기한 리프레쉬에 의해 조차 전하를 충분히 방전하는 것이 때때로 불가능하다. 결과적으로, 고 강도를 갖는 방사선으로 조사된 화소는, 신호 전하의 판독 출력에서 다른 화소와 다르고, 따라서 잔여 전하, 즉 잔상에 의해 영향받는 노이즈를 일으키는 것이 가능하다. 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭하는 것은, 잔여 전하에 의해 발생된 노이즈인 잔상을 제거할 수 있다. 더욱이, 슬립 상태의 시간 주기가 늘어남에 따라, 잔여 전하를 방전하는 효과는 향상될 수 있다. 따라서, 검출되어 온 강한 잔상은, 슬립 상태의 시간 주기를 늘임으로써 수용될 수 있다.

도 3은, 제어부(130)가 어떻게 방사선 촬영부(120)를 구동하고 제어하는 지를 보여주는 타이밍도이다.

도 3에서 내민 신호의 직사각형 부는, ON 상태를 나타내고, 그 평평한 부분은 OFF 상태를 나타낸다.

도 3을 참고하면, 도면 부호 310은, 방사선 조사부(110)를 가지고 방사선 노출을 하는 것을 나타낸다. 도면 부호 315는, 도 2를 참고하여 기술된 리프레쉬(저장된 전하의 방전)를 나타낸다. 도면 부호 340은, 도 2의 검출기 어레이(200)에서 스위칭 TFT에 대응하는 스위치 SW(m,n)의 ON 또는 OFF 상태를 나타낸다. 도면 부호 350은, 도 2에서 검출기 어레이(200)에서 아날로그 멀티플렉서(250)에 의해 판독된 신호를 나타낸다. (340, 350)에 나타낸 하나의 행에 대한 스위치 SW를 턴온하면, 1부터 4096까지의 4096개의 화소에 저장된 전하를 판독한다.

방사선 촬영부(120)는, 도 3의 주기 a에서 슬립 상태에 있다. 방사선 촬영 정보가, 슬립 상태인 동안 조작부(125)에 의해서, 입력되는 경우, 방사선 촬영부(120)는, 도 3의 주기 b에서 레디 상태로 변경된다. 도 2를 참고하여 기술된 전하의 저장 및 판독의 하나의 사이클은, 레디 상태에서 반복된다. 방사선이 방사선 촬영부(120)에 인가되지 않는 경우, 전하의 판독은, 실패한(false) 판독이라 불린다. 이 실패한 판독은, 단순히 암 전류를 방전하는 방법으로 알려진다. 특히, 레디 상태에서, 전하의 축적 및 판독을 반복하는 것은, 방사선 촬영부(120)에서 암 전류의 레벨을 안정화시키는 효과를 갖는다. 그러나, 실패한 판독으로만 강한 잔여 전하를 방전하는 것은 어렵다. 암 전류의 출력 레벨이, 레디 상태 후 증가하기 때문에, 상기 사이클을 반복하는 것에 의해 어느 범위까지 레디 상태를 늘이는 것이 필요하다. 암 전류의 출력 레벨이 안정화되는 경우, 방사선 기사가 방사선을 인가하는 것을 시작할 수 있다는 것을 가리키는 인에이블링 신호가, 조작부(125)에 의해 입력된다. 전하는, 레디 상태에서 소정의 시간 주기에 저장된다. 방사선 기사가 방사선의 인가를 시작할 수 있다는 것을 가리키는 인에이블링 신호가, 레디 상태에서 조작부(125)에 의해 입력되는 경우, 제어부(130)는, 상기 기술한 하나의 사이클의 종료시 방사선 촬영부(120)를 리프레쉬 상태로 스위칭하여 광전 변환기 PD (m,n)의 전하를 방전한다. 그러면, 방사선 촬영부(120)는, 저장 상태로 변경된다. 방사선 촬영부(120)가 저장 상태로 변경된 후, 제어부(130)는, 방사선 조사부(110)로 하여금 방사선 촬영부(120)로 방사선을 동기적으로 인가하도록 한다. 방사선의 인가가 종료된 후, 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)로부터 전하를 화상 데이터로서 판독한다. 이 때, 신호 전하가 방사선의 인가 후 저장되었기 때문에, 이 판독은 실제 판독이라 불린다. 그러면, 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)로 하여금 리프레쉬를 실행하도록 하여 전하를 저장하고 근사 저장 및 실제 판독에서와 같은 사이클로 암 전류 화상을 판독한다. 실제 방사선 촬영 과정에서 암 전류의 값을 추정하기 위해 실행되는 이 판독은, 교정 판독이라 불린다. 교정 판독이 종료된 후, 판별부(140)는, 교정 판독의 실제 판독 또는 암 전류의 화상 판독에서 판독된 화상 데이터에 의거하여 잔상의 발생을 판별한다. 제어부(130)는, 판별부(140)에 의한 판별에 응답하여 슬립 상태 또는 레디 상태로 변경되는 지를 판별한다. 구체적으로, 만일 판별부(140)가 연속적인 방사선 촬영 과정 중 제 2의 과정에 계속하는 방사선 촬영 과정에서 잔상이 발생했는 지를 판별한다면, 슬립 상태는, 도 3의 주기 a에서 발생한다. 큰 암 전류가 슬립 상태 후 출력되기 때문에, 도 3의 주기 b의 레디 상태는, 암 전류의 출력이 안정화될 때까지 유지되고, 따라서 주기 b는 연장된다. 만일 판별부(140)가 아무런 잔상도 발생하지 않은 것을 판별한다면, 레디 상태는 도 3의 주기 a에서 발생하고, 주기 a는, 슬립 상태가 주기 a에서 발생한 경우에 비교하여 크게 짧아진다. 만일 판별부(140)가 아무런 잔상이 발생하지 않는 것을 판별한다면, 도 3의 주기 a는 생략되도 좋다. 만일 슬립 상태가 주기 a에서 발생하지 않는다면, 암 전류의 출력 레벨은, 이미 안정화되기 때문에, 주기 b에서 레디 상태는, 레디 상태가 슬립 상태 후 발생한 경우에 비교하여 크게 짧아질 수 있다. 만일 연속적인 방사선 촬영 과정이 종료되거나 또는 아무런 방사선 촬영 정보도 입력되지 않고 타임아웃이 발생한다면, 제어부(130)는 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭한다.

상기한 것처럼, 만일 판별부(140)가 아무런 잔상도 발생하지 않은 것을 판별한다면, 슬립 상태로 변경함이 없이 레디 상태에서 방사선 촬영 과정을 계속하는 것은, 방사선 촬영 사이클을 짧게하는 효과가 있다. 이에 비해서, 만일 판별부(140)가 잔상이 발생한 것으로 판별한다면, 슬립 상태로 변경하는 것은, 잔상으로 하여금 잔상이 없이 화상 데이터를 공급하도록 하는 잔여 전하를 리셋하는 효과를 갖는다.

도 2를 참고하여 기술된 것처럼, 실제 판독에서 방사선 판독에 의거하여 화상 데이터로부터 교정 판독에서 판독된 암 전류를 빼는 것은, 방사선 양에 비례하는 화상 데이터를 제공할 수 있다.

도 2 및 도 3을 참고하여 기술된 슬립 상태는, 모든 공통 전극 D의 전압이, 스위치 SW(1,1) 내지 (4096,4096)를 턴오프하고 스위치 206을 턴온하는 것에 의해 그라운드 레벨로 설정되어 바이어스 라인 Lb를 그라운드 레벨로 설정하는 상태이다. 슬립 상태는, 그라운드 레벨로 설정된 공통 전극 D에 의거하여 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)에 잔상을 유발하는 잔여 전하를 리셋하는 효과를 갖는다. 슬립 상태의 주기가 늘어남에 따라, 이 효과는 증가될 수 있다.

유사한 효과는, 도 2를 참고하여 기술된 리프레쉬에서 보통보다 전압차 Vbt-Vbt'를 증가함에 의해 달성될 수 있다. 이것은, 보통보다 전압차 Vbt-Vbt'를 증가시키는 것은, 공통 전극 D로부터 광전 변환기 PD (1,1) 내지 (4096,4096)에서 정전용량의 잔여 전하를 방전하는 효과를 증가시킨다.

따라서, 도 3의 주기 a는, 슬립 상태에 제한되지 않고, 잔상을 유발하는 잔여 전하를 방전하는 효과를 갖는 임의의 상태일 수 있다. 방사선 촬영부(120)가, 만일 판별부(140)가 잔상이 발생했는 지를 판별한다면, 잔상을 유발하는 잔여 전하를 방전하고, 만일 판별부(140)가 아무런 잔상도 발생하지 않음을 판별한다면, 잔여 전하의 방전과 같은 방사선 촬영 사이클을 연장하는 조작을 실행하지 않는 것이 중요하다. 따라서, 만일 판별부(140)가 아무런 잔상도 발생하지 않음을 판별한다면, 레디 상태에서 방사선 촬영 과정을 계속하는 것은, 방사선 촬영 사이클을 짧게 하는 효과가 있다. 이에 비해서, 만일 판별부(140)가 잔상이 발생했음을 판별한다면, 잔여 전하의 방전은, 잔상을 유발하는 잔여 전하를 리셋하여 잔상 없는 화상 데이터를 제공하는 효과가 있다.

도 2 및 도 3을 참고하여 기술된 구동 조작은, MIS 광전 변환기를 사용하여 방사선 촬영부(120)에 의해 실행되지만, 또한 유사한 잔상은, NiP 광전 변환기를 사용하여 또는 비결정질 셀레늄으로 만들어진 적층된 광전 변환기를 사용하여 방사선 촬영부(120)에서 발생된다. 그러한 방사선 촬영부는, "Handbook of Medical Imaging Volume 1, Physics and Psychophysics", Chapter 4, p.274에 자세히 기술된다. NiP 광전 변환기를 구동하는 예는, "Operation of Amorphous Silicon Detectors for Chest Radiography System latency Requirements", SPIE Medical Imaging: Physics of Medical Imaging Vol. 3659, 1999에 기술된다.

도 4는, 본 발명의 제 1실시예에 따른 방사선 촬영 장치에 의한 방사선 촬영 화상을 포획하는 흐름도이다.

단계 S405에서, 제어부(130)는, 만일 방사선 촬영부(120)가 소정의 시간 주기에 대하여 방사선 화상을 포획하기 위하여 사용되지 않는다면, 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭한다. 단계 S410에서, 제어부(130)는, 조작부(125)에 의해 방사선 촬영과정의 개시에 관한 정보를 입력받을 때 방사선 촬영부(120)를 레디 상태로 스위칭한다. 단계 S415에서, 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)에 방사선을 인가하기 위하여 방사선 조사부(110)를 제어한다. 단계 S420에서, 방사선으로 조사된 방사선 촬영부(120)는, 제어부(130)의 제어 하에 화상 데이터를 얻는다. 단계 S425에서, 제어부(130)는, 연속적인 방사선 촬영 과정이 종료되었는 지를 판별한다. 단계 S440에서, 방사선 촬영 과정이 종료되면, 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 즉시 스위칭한다. 단계 S430에서, 만일 방사선 촬영 과정이 종료되지 않았다면, 판별부(140)는, 잔상이 얻어진 화상 데이터에서 발생하는 지를 판별한다. 단계 S410에서, 만일 아무런 잔상이 발생하지 않는다면, 제어부(130)는, 레디 상태에서 방사선 촬영 과정을 계속한다. 단계 S435에서, 만일 잔상이 발생한다면, 제어부(130)는, 표시부(도시되지 않음)에 경고를 표시한다. 그러면, 단계 S405에서, 제어부(130)는, 방사선 촬영부(120)를 슬립 상태로 스위칭한다.

상기 기술한 흐름도에 따른 방사선 촬영 과정은, 만일 판별부(140)가 아무런 잔상이 발생하지 않은 것을 판별한다면, 방사선 촬영 사이클을 짧게하고, 만일 판별부(140)가 잔상이 발생한 것을 판별한다면, 잔상없이 화상 데이터를 얻는 효과를 갖는다.

도 5는, 판별부(140)에 의해 판별된 잔상의 원인을 설명한다.

도면 부호 510은, 암 전류 화상이 감해진 화상 데이터의 프로파일인 도 5의 점선을 따라 취해진 화상 데이터 프로파일을 나타낸다. 도면 부호 520은, 화상 데이터 프로파일(510)에 대응하는 화소 군의 잔여 전하의 분포를 나타낸다.

고 강도 방사선이 차폐 재료로써 덮혀진 부분인 방사선 촬영부(120)에 인가되는 경우, 화상 데이터 프로파일(510)에 나타낸 것처럼, 얻어진 화상 데이터는 높은 콘트라스트를 갖는다. 일단 판독이 수행된 후의 화상 데이터 프로파일(510)에 대응하는 화소 군의 잔여 전하는 분포도(520)에 도시한 것과 같이 분포된다. 도 5의 화소 A 및 화소 C가 잔여 전하로 인한 방사선에 응답하여 화소 B와 다르기 때문에, 잔상은, 계속되는 방사선 촬영 과정에서 화상 데이터에서 발생한다. 즉, 만일 잔여 전하의 분포가 변한다면, 노이즈는 잔상으로 부가되지만, 만일 잔여 전하가 변화없이 균일하게 분포된다면, 아무런 잔상도 일어나지 않는다. 잔여 전하를 제로로 감소하는 것은, 잔상의 발생을 억압한다. 또한 이 경우, 잔여 전하는, 균일하게 분포된다.

화소 값의 분포는, 암 전류 화상에서 변화한다. 이 변화는, 잔여 전하의 분포와 매우 밀접하게 연관된다.

특히, 잔여 전하의 분포는, 방사선 촬영 화상에서 화소 값의 분포에 근접한다. 계속적인 방사선 촬영 화상이, 부가된 앞서의 화상을 갖는 것처럼, 포획되기 때문에 잔상은, 잔상이라 불린다.

도 6은, 판별부(140)에 의해 잔상의 판별을 위한 화상 데이터를 분석하는 흐름도이다.

도 6에서 잔상이 발생하는 지를 판별하는 표준은, 방사선 촬영부(120)가 도 5에 도시된 것처럼 고 강도의 방사선으로 조사되는 경우, 방사선 양에 비례하는 화상 데이터가 높은 콘트라스트를 갖는 지이다.

단계 S605에서, 판별부(140)는, 화상 데이터를 감소한다. 단계 S610에서, 판별부(140)는, 감소된 화상 데이터로부터 방사선의 조사 영역을 추출한다. 방사선으로 조사된 조사 영역은, 방사선 조사부(110)에서 개구에 의해 발생된다. 조사 영역을 추출하는 상세한 설명은, 일본 특허 공개평 제 2000-271107 호에 개시된다. 조사 영역이 추출된 후, 단계 S615에서, 판별부(140)는, 조사 영역에서 화상 데이터로부터 최대 화소 값을 갖는 최대 조사 영역을 추출한다. 인가된 방사선의 양이 증가함에 따라, 화상 데이터의 화소 값은, 증가한다. 최대 조사 영역은, 최대값으로부터 그 차이가, 예를 들어, 최대값의 5% 내인 화소 값을 갖는 영역이다. 판별부(140)는, 조사 영역에서 화소 값의 축적된 히스토그램을 만들고, 예를 들어 그 상위 10%에서 화소 값을 갖고, 얻어진 화소 값에 대응하는 화소를 확인하는 것에 의해 더 높은 화소 값을 갖는 영역 A를 추출한다. 단계 S620에서, 판별부(140)는 화소 값과 영역 A에서 모든 화소에 대한 주변 값 사이에서 콘트라스트(CNT)를 계산한다. 콘트라스트(CNT)는, 식(1)에 의해 주어질 수 있고, 여기서 감소된 화상 데이터는, F(X,Y)로 나타내지고, 화상 데이터의 좌표는, (X,Y)으로 나타내진다. 식(1)에서, CNT(X,Y)는, 좌표(X,Y)에 대한 거리 d 내에서 화소 F(X,Y) 와 화소 F(X + k × d, Y + k × d) 사이에서 계산된 콘트라스트에서 최대 콘트라스트를 나타낸다.

식(1)

CNT(X,Y) = max[{F(X,Y) - F(X + k × d, Y + k × d)}/F(X,Y)]

여기서, (X,Y)∈A, k는 -2부터 2까지의 정수를 나타내고, d는 거리(예를 들어, 3mm)를 나타낸다.

단계 S625에서, 판별부(140)는 식(2)에 따른 임계치 판별을 실행한다. 만일, 콘트라스트 임계치 H를 넘는 값을 갖는 화소의 수는, 영역 A에서 계산된 콘트라스트 CNT(X,Y) 중에 NH를 넘는다면, 판별부(140)는, 잔상이 발생했는 지를 판별하고, 식(2)은 이것을 의미한다.

식(2)

∑1 (X1,Y1) ≥ NH

(X1,Y1) ∈ {CNT (X,Y) ≥ H, (X,Y) ∈ A}

여기서, 1(X,Y)은 값 1을 갖는 상수 함수를 나타내고, H는 콘트라스트 임계치를 나타내고, NH는 판별부(140)가 잔상이 발생했는 지를 판별하는 경우, 임계치를 나타낸다.

단계 S630에서, 판별부(140)는, 판별 결과를 제어부(130)에 전송하고, 잔상의 판별결과에 의거하여 도 1 내지 도 4에 도시된 제어 조작을 실행한다.

상기한 것처럼, 화상 데이터에 의거하여 잔여 전하의 분포를 결정하는 것은, 잔상이 발생했는 지를 정확히 판별할 수 있다. 특히, 콘트라스트에 의거하여 잔여 전하의 분포에서 변화를 판별하는 것은, 잔상이 발생했는 지 또는 잔여 전하에 의하여 유발된 노이즈가 화상 데이터에 부가되는 지를 정확히 판별하는 효과를 갖는다.

도 7은, 판별부(140)에 의한 잔상의 판별을 위한 암 전류 화상을 분석하는 흐름도이다.

도 5에 도시된 것처럼, 고 강도를 갖는 방사선을 인가하는 것은, 화소 군에서 잔여 전하의 분포를 제공한다. 암 전류의 양은, 광전 변환기 PD에서 정전용량의 잔여 전하량에 의존하기 때문에, 암 전류 화상은, 잔여 전하의 그것에 유사한 분포를 갖는다. 즉, 실제 판독 후 즉시 교정 판독에서 판독된 암 전류 화상의 분포를 분석하는 것은, 판별부(140)로 하여금 잔상이 계속되는 방사선 촬영 과정에서 발생했는 지를 결정하도록 허용한다. 잔상이 발생했는 지를 판별하는 암 전류 화상의 분석 흐름은, 다음과 같다.

우선, 판별부(140)는, X 방향 라인과 Y 방향 라인에서 암 전류 화상을 평균화하는 것에 의해 주어진 2개의 화상을 얻는다. 단계 S705에서, 판별부(140)는, 2개의 라인-평균화된 화상에 의해 암 전류 화상을 2번 분할하는 것에 의해 암 전류 화상의 방향을 교정한다. 단계 S715에서, 판별부(140)는, 방향이 엣지(edge)를 추출하도록 교정된 암 전류 화상에서 각각의 라인의 프로파일을 스캔한다. 엣지는 일본 특허 공개평 제 2000-271107 호에 개시된 조사 영역에서 엣지를 추출하는 방법과 같은 방법으로 추출된다. 예를 들어, Y=Y2에서 X 방향 라인의 엣지는 식(3) 및 식(4)에 따라 추출되고, 여기서 F(X,Y)는 방향이 교정된 암 전류 화상을 나타낸다.

식(4)은, 소정의 값 E보다 작지 않은 값을 갖는 좌표 S2(X,Y2)의 (X,Y2)가 엣지 근처에 위치하는 것을 나타낸다.

식(3)

S1 (X, Y2) = F(X, Y2) - F(X-d,Y2)

여기서, d는 거리(예를 들어, 3mm)를 나타낸다.

식(4)

S2(X,Y2) = │{S1(X+d,Y2) - S1(X,Y2)}│≥ E

여기서, E는 엣지의 추출에서 임계치를 나타낸다.

식(4)을 만족하는 값 X는, 모든 라인에 대하여 유지된다. 또한 추출은, 모든 Y 방향 라인에 대하여 실행된다. 단계 S720에서, 판별부(140)는, 모든 추출된 엣지에 대하여 콘트라스트를 계산한다. 예를 들어, Y=Y2에서 X 방향 라인에서 엣지가 추출된 X=X2의 콘트라스트 CNT2는 식(5)에 따라 계산된다.

식(5)

CNT2(X2,Y2) = {F(X2+d2,Y2) - F(X2,Y2)}/F(X2,Y2)

여기서, d2는 거리(예를 들어, 3mm)를 나타낸다.

단계 S725에서, 판별부(140)는, 식 (6)에 따라 추출되고 계산된 모든 엣지의 콘트라스트에 대하여 임계치 판별을 실행한다.

식(6)

∑1(X3,Y3)≥ NEH

(X3,Y3) ∈ {｜CNT2 (X,Y)｜≥ EH, (X,Y): 암 전류 화상에서의 모든 영역}

여기서, 1(X,Y)은 값 1을 갖는 상수 함수를 나타내고, EH는 콘트라스트 임계치를 나타내고, NEH는, 잔상이 발생한 판별에서 임계치를 나타낸다.

판별부(140)는, 만일 값 1의 상수 함수의 합 ∑1(X3,Y3)이 NEH 이상이면, 잔상이 발생하는 것을 판별한다. 단계 S730에서, 판별부(140)는, 판별 결과를 제어부(130)에 전송하고, 잔상의 판별 결과에 의거하여 도 1 내지 도 4에 나타낸 제어 조작을 실행한다.

상기한 것처럼, 암 전류 화상에 의거하여 잔여 전하의 분포를 판별하는 것은, 잔상의 발생을 판별하거나 또는 잔여 전하에 의하여 유발된 노이즈의 부가를 판별하는 효과를 갖는다. 제 1실시예의 방사선 촬영장치에 따르면, 고 강도의 방사선의 인가 후에 잔상의 발생을 판별하고, 필요하다면 방사선 촬영 과정 사이의 시간에서 잔여 전하를 방전하는 구동 조작을 실행하는 것은, 잔상 없이 방사선 촬영 화상을 포획할 수 있게 한다. 이에 더하여, 잔상 없는 통상의 방사선 촬영 과정은, 짧은 방사선 촬영 사이클에서 실행되고, 따라서 방사선 촬영 화상을 효과적으로 포획할 수 있다. 더욱이, 리셋 장치를 추가할 필요가 없고, 따라서 리셋 장치의 공간 과 그 비용을 절약할 수 있다.

잔여 전하의 상태의 판별은, 화상 데이터의 잔여 전하에 의해 유발된 노이즈의 부가를 감소할 수 있는 방사선 촬영 장치 및 방사선 촬영 방법을 실현할 수 있다.

(다른 실시예)

본 발명은, 상기한 제 1실시예에 따른 구조 및 방법에 제한되지 않는다. 본 발명은, 복수의 장치를 갖는 시스템 또는 하나의 장치를 포함하는 장치에 적용되어도 된다.

본 발명은, 공급된 프로그램 코드를 판독하여 그것을 실행하는 시스템 또는 장치, 컴퓨터에 상기 실시예의 기능을 실현하는 소프트웨어 프로그램을 직접적으로 또는 원거리로 공급하는 것에 의하여 구체화될 수 있다. 이 경우, 프로그램은, 그것이 프로그램의 기능을 갖는 한, 어떠한 다른 형태를 취해도 된다.

따라서, 본 발명은, 컴퓨터로 하여금 본 발명의 기능을 실현할 수 있게 하는 컴퓨터에 설치된 프로그램 코드 그 자체에 의해 구체화된다. 다시 말하면, 또한 본 발명의 기능을 실현하는 컴퓨터 프로그램은, 첨부한 청구항에 포함된다.

그러한 경우에 있어서, 프로그램은, 그것이 프로그램의 기능을 갖는 한, 오브젝트 코드, 인터프리터에 의해 실행되는 프로그램, 또는 OS에 제공되는 스크립트 데이터 같은 어떠한 형태이어도 된다.

프로그램을 공급하는 데 사용되는 저장 매체는, 플로피 디스크, 하드 디스크, 광학 디스크, 광자기 디스크, MO, CD-ROM, CD-R, CD-RW, 자기 테이프, 비휘발성 메모리 카드, ROM, DVD(DVD-ROM 및 DVD-R)를 포함한다.

프로그램은, 컴퓨터 프로그램 그 자체 또는 홈페이지로부터 하드 디스크 같은 저장 매체로 자동 설치 기능을 포함하는 압축된 파일을 다운로드하는 클라이언트 컴퓨터에서 브라우저(browser)를 사용하여 인터넷 홈페이지를 접근함에 의해 공급되도 된다.

본 발명의 프로그램을 구성하는 프로그램 코드는, 다중 파일로 분할되도 되고, 다른 홈페이지로부터 다운로드 된다. 즉, 또한 컴퓨터로 하여금 본 발명의 기능을 실현하도록 하는 프로그램 파일이 다수의 사용자에게 다운로드되는 월드와이드웹(WWW) 서버는, 본 발명의 첨부한 청구항에 포함된다.

또한, 암호화되고 CD-ROM 같은 저장 매체에 저장되는 본 발명에 따른 프로그램은, 사용자들에게 분배되도 되고, 코드를 해독하는 암호 키 정보는, 홈페이지로부터 인터넷에서 소정의 조건을 만족하는 사용자로 공급되도 되고, 사용자들은 암호 키 정보를 사용하여 해독된 프로그램을 컴퓨터에 설치해도 된다.

상기 실시예에 따른 기능들은, 프로그램을 판독하고 실행하는 컴퓨터에 의해 실현될 수 있고, 또한, 프로그램의 명령에 의거하여 실제 처리의 모두 또는 일부를 실행하는 컴퓨터 등에서 운영되는 OS에 의해 실현될 수 있다.

더욱이, 저장 매체로부터 판독된 프로그램 코드가, 컴퓨터에 포함된 확장 보드 또는 컴퓨터에 연결된 확장 유니트에 제공되는 메모리에 기록된 후, 확장 보드 또는 확장 유니트의 CPU등은, 프로그램의 명령에 의거하여 실제 처리의 모두 또는 일부를 실행할 수 있고 상기 실시예의 기능을 실현한다.

본 발명은, 바람직한 실시예들이 되도록 현재 고려된 것을 참조하여 기술되어 왔지만, 본 발명은 개시된 실시예들에 한정되는 것이 아니라는 것을 이해해야 한다. 이에 반하여, 본 발명은, 다양한 수정 및 첨부한 청구항의 사상과 범위 내에 포함되는 동등한 구성을 포함하도록 의도된다. 다음 청구항의 범위는, 모든 그러한 수정, 동등한 구조 및 기능을 포함하기 위하여 가장 넓은 해석에 일치되어야 한다.

본 발명의 효과는, 방사선 촬영장치 및 촬영방법에 있어서, 잔여 전하의 상태의 판별에 의거하여 화상 데이터의 잔여 전하에 기인된 노이즈를 줄일 수 있는 것이다.

Claims

방사선을 인가하는 방사선 조사부와,

복수의 촬영기를 포함하고 상기 방사선을 화상 데이터로 변환하는 방사선 촬영부와,

잔여 전하에 의해 유발된 노이즈가, 상기 화상 데이터에 의거하여 상기 방사선 촬영부에서 상기 잔여 전하의 분포로부터 발생된 것인지를 판별하는 판별부와,

상기 판별 결과에 의거하여 상기 방사선 촬영부의 구동 상태를 변경하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 1항에 있어서,

상기 판별부는, 상기 잔여 전하의 상기 분포가 변화한 경우, 노이즈가 발생된 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 2항에 있어서,

상기 판별부는, 상기 화상 데이터의 콘트라스트에 의거하여 상기 잔여 전하의 상기 분포의 상기 변화를 판별하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 2항에 있어서,

상기 판별부는, 상기 방사선이 인가됨이 없이 상기 방사선 촬영부에 의해 얻어진 상기 화상 데이터의 콘트라스트에 의거하여 상기 잔여 전하의 상기 분포의 변화를 판별하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 3항에 있어서,

상기 판별부는, 상기 화상 데이터에서 높은 화소값을 갖는 영역에서의 콘트라스트에 의거하여 상기 잔여 전하의 분포의 변화를 판별하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 판별부는, 상기 화상 데이터의 상기 콘트라스트가 소정의 값을 초과한 경우, 상기 잔여 전하의 분포가 변화되는 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 제어부는, 상기 판별부가 상기 잔여 전하의 분포가 변화되는 것으로 판별한 경우, 상기 방사선 촬영부에서 상기 잔여 전하의 상기 분포를 평평하게 하기 위하여, 또는 상기 잔여 전하를 감소하기 위하여 상기 방사선 촬영부를 구동하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 제어부는, 상기 판별부가 상기 잔여 전하의 분포가 변화되는 것으로 판별한 경우, 상기 방사선 촬영부에 공급되는 전압 및 전류 중 적어도 하나를 감소시키는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 제어부는, 상기 판별부가 상기 잔여 전하의 상기 분포가 변화되는 것으로 판별한 경우, 상기 방사선 촬영부를 슬립 상태로 변경하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영장치.
방사선을 인가하는 방사선 조사단계와,

복수의 촬영기를 사용하여 상기 방사선을 화상 데이터로 변환하는 방사선 촬영단계 와,

상기 방사선 촬영단계에서 얻어진 상기 화상 데이터에 의거하여 상기 잔여 전하의 분포로부터, 잔여 전하에 의해 유발된 노이즈가 발생하는지를 판별하는 판별단계와,

상기 판별결과에 의거하여 상기 방사선 촬영단계의 구동 상태를 변경하는 제어단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 촬영방법.