KR100600211B1 - 집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로 - Google Patents

집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로 Download PDF

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Abstract

본 발명은 제어 출력(CTR)을 가지는 집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로에 관한 것이다. 또한 상기 집적 회로는 집적 회로의 외부로부터 제공되는 적어도 하나의 테스트 프로그램(P)을 저장하기 위해 상기 셀프-테스트 장치에 연결된 프로그램 메모리(MI)를 가지며, 상기 테스트 프로그램은 셀프-테스트가 실시되는 동안 셀프-테스트 장치에 의해 실행된다. 이 때 상기 셀프-테스트 장치(B)는 실행되는 각각의 테스트 프로그램이 집적 회로 외부로부터 프로그램 메모리에 로딩되는 것을 제어 출력(CTR)을 통해 제어한다.

Description

집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로{INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING A SELF-TEST DEVICE FOR EXECUTING A SELF-TEST OF THE INTEGRATED CIRCUIT}
본 발명은 집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로에 관한 것이다.
그러한 집적 회로는 예를 들어 US-A 5,173,906에 개시되어 있다. 내장형 셀프-테스트 장치(Built-In Self-Test)는 집적 회로의 특정 회로 유니트를 테스트하며, 테스트 종료 후에는 결과 신호가 집적 회로의 외부로 전송된다.
셀프-테스트 장치는 배선 로직(wired logic)으로서 또는 테스트 프로그램을 실행하는 컨트롤러나 프로세서를 통해 구현될 수 있다. 후자의 경우, 서로 다른 테스트를 각각 실시할 수 있는 서로 다른 테스트 프로그램을 외부로부터 차례로 셀프-테스트 장치에 제공할 수 있다. 특히, 동시에 많은 집적 회로들이 셀프-테스트되면, 이런 프로세스에 문제가 생긴다. 동일한 형태의 집적 회로들이라 하더라도, 테스트에 따라서, 차례로 실행되는 테스트 프로그램을 위한 프로그램 실행 시간이 달라질 수 있다. 외부의 중앙 제어 유니트를 통해 테스트 프로그램이 개별적으로 제공되고 상기 제어 유니트에 의해 개별 집적 회로에 대한 후속 테스트 프로그램의 로딩이 매번 동시에 이루어지려면, 선행하는 테스트 프로그램이 해당하는 모든 집적 회로에서 종료되는 것을 기다려야 한다. 이는 그 다음 테스트 프로그램의 실행이전에, 모든 집적 회로가 선행하는 테스트 프로그램을 종료시키면 그 때 비로소 실행되기 시작하는 것을 의미한다. 최대한 긴 프로그램 실행 시간에 맞춰진 상기 프로세스로 인해 모든 테스트 프로그램을 실행하는데 많은 시간이 소비된다.
본 발명의 목적은 많은 집적 회로들의 셀프 테스트에 소비되는 시간을 감소시키는 셀프-테스트 장치를 포함하는 집적 회로를 제공하는데 있다.
상기 목적은 제 1 항에 따른 집적 회로를 통해 달성된다. 본 발명의 바람직한 실시예 및 개선예가 종속항에 제시된다.
상기 집적 회로가 제어 출력을 가지는 집적 회로의 셀프-테스트를 실행하기 위한 셀프-테스트 장치를 갖는다. 그 외에도 상기 집적 회로는 집적 회로의 외부로부터 제공되는 적어도 하나의 테스트 프로그램을 저장하기 위해 상기 셀프-테스트 장치에 연결되어 있는 프로그램 메모리를 가지며, 상기 테스트 프로그램은 셀프-테스트의 수행시 셀프-테스트 장치를 통해 실행된다. 이 때 상기 셀프-테스트 장치는 각각 실행되는 각각의 테스트 프로그램을 제어 출력에 의해 집적 회로 의 외부로부터 프로그램 메모리에 로딩하는 것을 제어한다.
본 발명은 상기 집적 회로의 프로그램 메모리에 대한 테스트 프로그램의 로딩이 외부 제어 유니트를 통해 제어되어 이루어지는 것이 아니라, 칩상에 있는 셀프-테스트 장치를 통해 자동으로 이루어진다. 그 장점은 외부 제어 회로가 테스트 프로그램의 공급을 제어할 필요가 없다는 것이다. 단지 외부의 프로그램 메모리로부터 셀프-테스트 장치가 그 제어 출력에 의해 매번 필요한 테스트 프로그램을 호출할 수 있는 외부 프로그램 메모리만이 필요하게 된다. 차례로 실행되며 차례로 프로그램 메모리에 로딩되는 다수의 테스트 프로그램들의 실행은 본 발명에 따른 집적 회로에서 최단 시간에 이루어지며, 이는 실제로 셀프 테스트를 수행하는 셀프-테스트 장치를 통해 제어가 이루어지기 때문이다.
상기 집적 회로는 예를 들어 메모리 회로나 논리 회로와 같은 임의의 집적 회로일 수 있다. 이 경우 상기 셀프-테스트의 종류는 종래의 셀프-테스트와 다르지 않다. 본 발명은 집적 회로의 프로그램 메모리로 테스트 프로그램이 로딩되는 것을 제어한다는 측면에서는 공지된 셀프-테스트와 상이하다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 셀프-테스트 장치는 순차적으로 다수의 테스트 프로그램을 실행하며, 제어 출력을 이용한 제어를 통해 선행하는 테스트 프로그램을 종료한 후 상기 집적 회로의 외부로부터 자동으로 프로그램 메모리에 그 다음 테스트 프로그램을 로딩한다.
그 장점은 상기 셀프-테스트 장치가 앞서 실행된 테스트 프로그램을 종료한 직후, 프로그램 메모리에 테스트 프로그램을 필요한 때에 제공할 수 있다는 것이다. 그러므로, 얼마나 오랫동안 각각의 테스트를 실시하기 위한 셀프-테스트 장치가 필요한지에 무관하게, 서로 다른 테스트 프로그램의 실행 사이에 시간 손실이 없게 된다. 이런 시간은 각각의 테스트에 의존하므로, 본 발명에 따른 집적 회로는 상이한 프로그램 실행 시간에 유연성있게(flexibly) 반응할 수 있으며, 후속하는 테스트 프로그램의 실행 사이에 시간 지연이 발생하지 않게 된다.
본 발명에서 특히 유리한 점은 앞서 설명한 것처럼 동일한 많은 집적 회로들이 동시에 셀프-테스트를 수행할 수 있다는 것이다. 각각의 집적 회로가 매번 그 다음 테스트 프로그램의 제공을 자동으로 제어하기 때문에, 상기 집적 회로들은 각각의 후속 테스트 프로그램의 프로세싱을 개시한다는 점에서 서로 독립적이다. 모든 집적 회로가 동일한 테스트 프로그램을 차례로 처리하는 경우에도, 전술한 것처럼, 회로가 다르면 프로그램 실행 시간이 달라진다. 이는 테스트의 진행에 관련되며, 예를 들어 테스트 프로그램의 처리 동안 조기에 에러가 검출되는지 여부에 따라 좌우된다. 이 경우 테스트 프로그램은 가능한 한 조기에 종료될 수 있다. 차례로 실행되는 많은 테스트 프로그램들의 경우에는, 경우에 따라서 매번 동시에 테스트되는 서로 다른 집적 회로들이 각각의 프로그램을 실행하기 위해 많은 시간을 필요로 한다. 그러므로, 동시에 테스트되는 모든 집적 회로를 위한 총테스트 시간이 전체적으로 통일될 수 있다. 따라서 본 발명을 통해 모든 집적 회로를 위한 총테스트 시간은 최소화될 수 있다.
본 발명은 하기에서 도면을 이용해 상술된다.
도 1 은 본 발명의 제 1 실시예.
도 2 는 본 발명의 제 2 실시예의 세부도.
도 1에는 셀프-테스트 장치(B), 내부 프로그램 메모리(MI) 및 테스트되는 회로 유니트(C)를 포함하는 집적 회로가 도시되어 있다. 상기 셀프-테스트 장치(B)는 회로 유니트(C)의 셀프-테스트를 실행하기 위한 컨트롤러나 프로세서이다. 상기 셀프-테스트 장치(B)는 내부 프로그램 메모리(MI)에 저장된 테스트 프로그램(P)에 따라서 회로 유니트(C)를 테스트한다. 이를 위해 상기 테스트 프로그램(P)의 프로그램 인스트럭션(D)은 내부 프로그램 메모리(MI)로부터 셀프-테스트 장치(B)로 전송된다. 그 후, 상기 셀프-테스트 장치(B)는 그에 대응하는 테스트 신호(E)를 회로 유니트(C)에 전송하고 이것으로부터 응답으로서 적절한 응답 신호(F)를 수신한다. 상기 응답 신호(F)는 셀프-테스트 장치(B)에서 예상되는 목표값과 비교된다. 셀프-테스트를 종료한 후 상기 셀프-테스트 장치(B)는 집적 회로(IC) 외부로 결과 신호(S)를 전송한다. 상기 결과 신호(S)는 이전에 실행된 모든 테스트의 결과에 대한 정보를 제공한다.
그 외에도, 도 1에는 다수의 테스트 프로그램(P)의 저장에 이용되는 외부 프로그램 메모리(ME)가 도시되어 있다. 상기 집적 회로(IC)의 셀프-테스트 장치(B)는 제어 출력(CTR)을 가지며, 상기 제어 출력은 외부 프로그램 메모리(ME)의 제어 입력에 연결된다. 또한, 외부 프로그램 메모리(ME)의 데이터 출력은 집적 회로(IC)의 내부 프로그램 메모리(MI)의 데이터 입력에 연결된다. 셀프-테스트 장치(B)는 그의 제어 출력(CTR)에 의해 제어 신호를 외부 프로그램 메모리(ME)에 전송하며, 상기 제어 신호에 따라서 상기 외부 프로그램 메모리는 원하는 테스트 프로그램(P)을 내부 프로그램 메모리(MI)에 전송한다. 그러므로, 셀프-테스트 장치(B)는 실행되는 각각의 테스트 프로그램(P)이 내부 프로그램 메모리(MI)에 로딩되어야 하는 시점을 자동으로 결정할 수 있다. 집적 회로(IC)의 셀프-테스트 장치(B)는 외부 프로그램 메모리(ME)에 대해 마스터 기능을 갖는다. 테스트 프로그램의 로딩은 예를 들어, 집적 회로가 초기화될 때마다 그 동작시 이루어질 수 있다. 그런 경우 셀프-테스트 장치(B)는 그에 상응하는 초기화 신호를 검출하기 위한 회로를 포함하고 있다.
상기 예에서 셀프-테스트 장치(B)는 차례로 실행될 수 있는 많은 테스트 프로그램(P)을 이용해 회로 유니트(C)를 테스트한다. 이를 위해 상기 셀프-테스트 장치(B)는 선행적으로 실행되는 각각의 테스트 프로그램(P)이 종료된 후 후속 테스트 프로그램(P)이 내부 프로그램 메모리(MI)에 로딩되는 것을 제어 출력(CTR)을 통해 제어한다. 전술한 바와 같이 다수의 테스트 프로그램(P)의 실행은, 서로 다른 테스트 프로그램의 실행 사이에 불필요한 대기 시간이 발생하지 않고도, 최단 시간으로 이루어질 수 있다.
바람직하게는 도 1에 도시된 집적 회로(IC)가 외부 프로그램 메모리(ME)로부터 내부 프로그램 메모리(MI)로의 테스트 프로그램(P)의 로딩에 대한 제어를 위한 부가의 외부 회로 유니트를 필요로하지 않는다. 그러므로, 상기 셀프-테스트는 하드웨어 비용이 적게 드는 셀프-테스트 장치(B)를 통해 실행될 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이 구성된 많은 집적 회로가 동시에 셀프-테스트를 실행하면, 특별한 장점이 발생한다. 예를 들어 각각의 집적 회로가 상기 테스트 프로그램(P)이 저장되어 있으며 각각의 셀프-테스트 장치(B)가 그의 제어 출력(CTR)에 의해 연결되어 있는 별도의 외부 프로그램 메모리(ME)에 할당되면, 서로 다른 집적 회로(IC)를 통해 후속 테스트 프로그램(P)의 실행이 시간적으로 서로 분리된다. 이는 외부 제어 유니트를 통한 테스트 프로그램(P)의 제공의 제어에 대한 또 다른 장점이 된다.
도 2에는 본 발명에 따른 도 1의 대안적인 실시예가 도시되어 있으며, 상기 도 2의 실시예는 도시된 컴포넌트들에 있어서 도 1과 상이하다. 도 2에는 셀프-테스트 장치(B)의 제어 출력(CTR)은 제어 신호에 따라서 하나 이상의 어드레스(ADR)를 외부 프로그램 메모리(ME)에 전송하는 어드레스 카운터(AC)의 제어 출력에 연결된다. 상기 외부 프로그램 메모리(ME)는 데이터 출력에 의해 수신한 어드레스(ADR)를 통해 정해지는 각각의 테스트 프로그램(P)을 내부 프로그램 메모리(MI)에 전송한다.
셀프-테스트 장치(B)를 통한 테스트 프로그램(P)의 실행은, 집적 회로(IC) 자체에서 발생되거나 특정 클럭 입력에 의해 외부로부터 집적 회로에 제공되는 동작 클럭(working clock)에 따라서 이루어진다.
이 실시예에서 셀프-테스트 장치(B)의 결과 신호(S)는 모든 테스트 프로그램(P)의 실행 후에 집적 회로(IC) 외부로 전송된다. 가장 간단한 경우, 상기 신호는 집적 회로(IC) 또는 상기 집적 회로내에서 테스트된 회로 유니트(C)가 에러를 가지는지 여부에 대한 정보(Fail/No-Fail-Signal)만을 제공하는 결과 신호이다.
집적 회로의 테스트 동작 모드에서만 셀프-테스트 장치(B)를 통해 셀프-테스트가 수행될 수 있으며, 이러한 셀프-테스트는 종래 방식의 테스트 동작 모드에서 대체될 수 있다. 종래의 소위 테스트-모드-엔트리들은 예를 들어, 다른 JEDEC-표준들에 개시되어 있다.

Claims (3)

  1. 외부 프로그램 메모리(ME)에 대한 제어 출력(CTR)을 가지며, 집적 회로의 셀프-테스트를 수행하기 위한, 셀프-테스트 장치(B); 및
    상기 집적 회로(IC)의 외부로부터 상기 외부 프로그램 메모리(ME)에 의해 제공되며 상기 셀프-테스트 장치(B)를 통한 셀프-테스트의 수행중에 실행되는 적어도 하나의 테스트 프로그램(P)을 저장하기 위해 상기 셀프-테스트 장치(B)에 연결된 내부 프로그램 메모리(MI)를 포함하며,
    상기 셀프-테스트 장치(B)는 실행되는 각각의 테스트 프로그램이 상기 집적 회로의 외부로부터 상기 외부 프로그램 메모리(ME)에 의해 상기 내부 프로그램 메모리(MI)로 로딩되는 것을 상기 제어 출력(CTR)에 의해 제어하는, 집적 회로.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 셀프-테스트 장치(B)는 차례로 다수의 테스트 프로그램(P)들을 실행하며, 상기 제어 출력(CTR)을 이용한 제어를 통해, 선행하는 상기 테스트 프로그램의 종료 후, 상기 집적 회로(IC)의 외부로부터 상기 외부 프로그램 메모리(ME)에 의해 자동으로 상기 내부 프로그램 메모리(MI)에 다음 테스트 프로그램을 각각 로딩하는 것을 특징으로 하는 집적 회로.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 셀프-테스트 장치(B)는 결과 신호(S)를 위한 출력을 가지며, 상기 출력에서 상기 집적 회로(IC)의 외부로부터 상기 내부 프로그램 메모리(MI)에 순차적으로 로딩되는 다수의 테스트 프로그램(P)들의 실행 후에, 상기 실행되는 테스트 프로그램에 따라 수행되는 테스트들에 대한 공통의 결과 신호(S)를 상기 집적 회로(IC) 외부로 제공하는 것을 특징으로 하는 집적 회로.
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