KR100573039B1 - 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치 - Google Patents

비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 각종 부품들을 검사하는 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 비전 카메라들이 컨베이어를 통해 이송되는 부품의 전체적인 외형검사, 표면검사, 이면검사, 표면 절단면검사, 이면 절단면검사 등을 차례로 수행하여 부품의 전수검사가 자동으로 이루어질 수 있도록 한 발명에 관한 것이다.
전술한 본 발명은, 제1컨베이어(11)와 제2컨베이어(12)의 사이에 형성된 제1공간부(11a)의 상부에 장착되어 제1공간부(11a) 하부에 장착된 제1라이트(31)의 백라이트 조명을 받는 부품(1)의 전체적인 외형을 검사하는 제1카메라(21)와; 제2컨베이어(12)의 상부에 장착되어 제2라이트(32)의 조명을 받는 부품(1)의 표면을 정밀 검사하는 제2카메라(22)와; 제2컨베이어(12)와 제3컨베이어(13)의 사이에 형성된 제2공간부(12a)의 하부에 장착되어 제2공간부(12a) 하부에 장착된 제3라이트(33)의 조명을 받는 부품(1)의 이면을 정밀 검사하는 제3카메라(23)와; 제3컨베이어(13)의 상부에 장착되어 제4라이트(34)의 조명을 받는 부품(1)의 표면외형 절단면을 정밀 검사하는 제4카메라(24)와; 제3컨베이어(13)와 제4컨베이어(14)의 사이에 형성된 제3공간부(13a)의 하부에 장착되어 제3공간부(13a) 하부에 장착된 제5라이트(35)의 조명을 받는 부품(1)의 이면 외형 절단면을 정밀 검사하는 제5카메라(25)와; 각각의 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들이 촬영한 영상정보는 각각의 컴퓨터로 전송되어 판독되고, 불량품이 검출되도록 구성한 것을 특징으로 하는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치에 의하여 달성 될 수 있는 것이다.

Description

비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치{a inspection system for machine parts}
도 1은 본 발명의 일실시예를 예시한 사시도,
도 2는 본 발명의 일실시예를 예시한 개략적인 장치도,
도 3a는 본 발명에 의한 제1카메라와 제1라이트를 예시한 일부확대 단면도,
도 3b는 본 발명에 의한 제2카메라와 제2라이트를 예시한 일부확대 단면도,
도 3c는 본 발명에 의한 제3카메라와 제3라이트를 예시한 일부확대 단면도,
도 3d는 본 발명에 의한 제4카메라와 제4라이트를 예시한 일부확대 단면도,
도 3e는 본 발명에 의한 제5카메라와 제5라이트를 예시한 일부확대 단면도,
도 4는 도 1의 일부가 확대되고 지지프레임들이 장착된 상태를 예시한 사시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 부품 11 : 제1컨베이어
11a : 제1공간부 12 : 제2컨베이어
12a : 제2공간부 13 : 제3컨베이어
13a : 제3공간부 14 : 제4컨베이어
21 : 제1카메라 22 : 제2카메라
23 : 제3카메라 24 : 제4카메라
25 : 제5카메라 31 : 제1라이트
32 : 제2라이트 33 : 제3라이트
34 : 제4라이트 35 : 제5라이트
100 : 지지프레임 101 : 구동롤러
102 : 종동롤러 103 : 벨트
104 : 구동모터 200 : 지지대
200a : 가이드레일 201 : 가이드
201a : 가이드홈 202 : 고정대
203 : 축볼트 203a : 손잡이
300, 300a, 300b : 케이스 301, 301a, 301b : 램프
302, 302a : 투명창 303a, 303b : 볼록렌즈
304a : 반사거울 304b : 반사판
305b : 가이드대
본 발명은 각종 부품들을 검사하는 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 비전 카메라들이 컨베이어를 통해 이송되는 부품의 전체적인 외형검사, 표면검사, 이면검사, 표면 절단면검사, 이면 절단면검사 등을 차례로 수행하여 부품의 전수검사가 자동으로 이루어질 수 있도록 한 발명에 관한 것이다.
일반적으로 부품들의 검사는 작업자들이 육안에 의한 외관검사를 실시함에 따라 주로 많은 부품들 중에서 샘플을 선택하여 검사하는 방법을 사용하였으므로 전수검사를 실시하기 어려웠다.
그러나, 자동차의 부품들과 같이 운전자의 안전과 직결되는 부품들의 검사는 전수검사가 요구되었고, 부품들을 전수검사하기 위해 카메라를 사용하여 부품을 촬영한 후 컴퓨터에 입력된 영상과 비교하는 검사방법이 제안된 바 있었다.
전술한 종래의 검사방법은 부품의 외형을 검사한 후 표면을 상세히 검사하여 긁힘(scratch), 눌림, 찍힘 등을 확인하고 부품을 뒤집어서 이면을 검사해야하므로 컨베이어를 통해 부품을 자동으로 이송시키면서 검사를 수행할 수 없었다.
따라서, 전체적인 검사작업의 자동화를 이룰 수 없었으므로 결국 검사작업이 까다로웠을 뿐 아니라 상당한 시간이 소요되어 작업의 효율을 높여줄 수 없었다.
본 발명은 상기한 문제점을 감안하여 창안한 것으로서, 그 목적은 복수의 비전 카메라들이 컨베이어를 통해 이송되는 부품의 전체적인 외형검사, 표면검사, 이면검사, 표면 절단면검사, 이면 절단면검사 등을 차례로 수행하여 부품의 전수검사가 자동으로 이루어질 수 있는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치를 제공함에 있는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 제1컨베이어(11)와 제2컨베이어(12)의 사이에 형성된 제1공간부(11a)의 상부에 장착되어 제1공간부(11a) 하부에 장착된 제1라이트(31)의 백라이트 조명을 받는 부품(1)의 전체적인 외형을 검사하는 제1카메라(21)와; 제2컨베이어(12)의 상부에 장착되어 제2라이트(32)의 조명을 받는 부품(1)의 표면을 정밀 검사하는 제2카메라(22)와; 제2컨베이어(12)와 제3컨베이어(13)의 사이에 형성된 제2공간부(12a)의 하부에 장착되어 제2공간부(12a) 하부에 장착된 제3라이트(33)의 조명을 받는 부품(1)의 이면을 정밀 검사하는 제3카메라(23)와; 제3컨베이어(13)의 상부에 장착되어 제4라이트(34)의 조명을 받는 부품(1)의 표면외형 절단면을 정밀 검사하는 제4카메라(24)와; 제3컨베이어(13)와 제4컨베이어(14)의 사이에 형성된 제3공간부(13a)의 하부에 장착되어 제3공간부(13a) 하부에 장착된 제5라이트(35)의 조명을 받는 부품(1)의 이면 외형 절단면을 정밀 검사하는 제5카메라(25)와; 각각의 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들이 촬영한 영상정보는 각각의 컴퓨터로 전송되어 판독되고, 불량품이 검출되도록 구성한 것을 특징으로 하는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치에 의하여 달성될 수 있는 것이다.
이하, 상기한 목적을 달성하기 위한 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1 내지는 도 4에서 도시한 바와 같이, 지지프레임(100)에 장착되어 바닥에서 일정 높이 위치한 제1컨베이어(11)는 구동롤러(101)와 종동롤러(102) 사이에 벨트(103)가 장착되고, 구동롤러(101)는 구동모터(104)의 동력을 전달받아 회전되는 구성으로 되어 있다.
상기 제1컨베이어(11)와 제2컨베이어(12)의 사이에는 일정 간격을 이루는 제1공간부(11a)가 형성되어 있고, 제1공간부(11a)는 판재로 구성된 부품(1)들이 충분히 지날 수 있도록 적정 간격이 형성되어 있다.
물론, 제2컨베이어(12)도 제1컨베이어(11)와 같은 일반적인 구성으로 이루어진 것이므로 제2컨베이어(12) 및 후술되는 기타 컨베이어들의 상세한 설명은 생략하였다.
상기 제1공간부(11a)의 상부에는 제1카메라(21)가 장착되어 있고, 제1공간부(11a) 하부에는 백라이트의 조명을 조사하는 제1라이트(31)가 장착되어 있다.
상기 제1카메라(21)는 제1라이트(31)에 의한 백라이트 조명을 받는 부품(1)의 전체적인 외형을 검사할 수 있도록 되어 있고, 배경조명에 의하여 부품(1)에 투과된 영상으로 외형 및 절단불량을 검출하여 컴퓨터로 영상신호를 전송하면 컴퓨터에서는 미리 입력된 표준제품의 벡터 좌표값(vector coordinates)과 부품(1)의 영 상을 비교하여 불량을 검출할 수 있도록 되어 있다.
상기 제1라이트(31)는 케이스(300) 내부에 장착된 램프(301)에서 발산하는 빛이 케이스(300)의 상부 투명창(302)을 통해 부품(1)의 하부면을 비춰주면 상부에 위치한 제1카메라(21)가 백라이트 조명을 받는 부품(1)의 표면을 촬영할 수 있도록 되어 있다.
상기 제1카메라(21)는 머신 비전 라인 스캔 카메라(machine vision line scan camera)로 구성되어 부품(1)에서 폭이 좁은 라인을 이루도록 촬영하면 부품(1)이 이송되면서 연속 촬영되어 전체적인 외형을 감지할 수 있도록 되어 있다.
상기 제1카메라(21) 뿐 아니라 후술되는 기타 모든 카메라들도 머신 비전 라인 스캔 카메라로 구성되어 있고, 머신 비전 라인 스캔 카메라는 이미 검사장치 뿐 아니라 기타 분야에서도 널리 사용되는 것이므로 자세한 설명은 생략하였다.
또한, 상기 제1카메라(21)는 별도의 지지대(200)에 장착되어 바닥에서 일정 높이 위치되고, 지지대(200)에 고정된 가이드레일(200a)에는 제1카메라(21)에 장착된 가이드(201)의 가이드홈(201a)이 슬라이드 결합되어 승강되며, 지지대(200) 상부에 직각으로 결합된 고정대(202)에 나사 결합된 축볼트(203)의 하단이 가이드(201)에 결합되어 축볼트(203)의 손잡이(203a)를 회전시키면 제1카메라(21)의 높이를 조절할 수 있도록 되어 있다.
물론, 모든 후술되는 모든 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들도 상기 지지대(200)에 장착되는 구성은 동일하므로 기타 카메라들의 상세한 설명은 생략하 였다.
그리고, 부품(1)들의 검사에 사용되는 모든 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들은 컨베이어에서 이송되는 부품(1)들의 이동속도와 동기화(synchronization)되어 출력되는 트리거 펄스(trigger pulse)를 필요로 하며, 컨베이어(11)(12)(13)(14)들을 구동시키는 구동모터(104)의 서보팩(servo pack) 또는 서보앰프(servo amp)에서 출력되는 증가형 엔코더의 펄스를 이용할 수 있으나, 더욱 정확한 부품(1)들의 이동속도를 제어하기 위해서는 컨베이어에 별도로 설치된 고분해 능력의 증가형 엔코더(incremental encoder)의 출력 펄스와 동기화 되도록 하는 것이 바람직하다.
제1카메라(21)는 백라이트의 조명을 받아 전체적인 부품(1)의 외형을 촬영하는 것이므로 1K화소의 머신 비전 라인 스캔 카메라를 사용하였으며, 픽셀(pixel)당 분해능력은 200μm이다.
상기 제2컨베이어(12)의 상부에는 제2라이트(32)와 제2카메라(22)가 장착되어 있고, 제2카메라(22)는 제2라이트(32)의 조명을 받는 부품(1)의 표면을 정밀 검사하여 긁힘(scratch), 눌림, 찍힘 등을 검출할 수 있도록 되어 있다.
상기 제2카메라(22)는 부품(1)의 표면을 정밀하게 검사하여 미세한 불량도 검출되어야하므로 6K화소의 머신 비전 라인 스캔 카메라를 사용하였으며, 픽셀(pixel)당 분해능력은 40μm이다.
상기 제2라이트(32)는 제2컨베이어(12) 상부에 수평으로 장착된 케이스(300a)의 내부에 장착된 램프(301a)가 그 전방의 볼록렌즈(303a)를 통해 빛을 조사하면 볼록렌즈(303a)의 전방에 대각선으로 장착된 반사거울(304a)을 통해 제2컨베이어(12)에서 이송되는 부품(1)에 빛이 조사되고, 반사거울(304a)의 상부에는 투명창(302a)이 형성되어 제2카메라(22)가 투명창(302a)과 반사거울(304a)을 관통하여 부품의 표면을 촬영할 수 있도록 되어 있으며, 제2라이트(32)는 부품(1)의 상부에서 하부로 빛을 조사하여 부품(1)의 표면을 비추어 줄 수 있도록 되어 있다.
이때, 사용되는 반사거울(304a)은 대각선으로 장착되어 램프(301a) 쪽에서 보면 거울이고, 투명창(302a) 쪽에서 보면 투명유리로 보이는 특수거울로 구성되어 있다.
상기 제2컨베이어(12)와 제3컨베이어(13)의 사이에는 일정 간격을 이루는 제2공간부(12a)가 형성되어 있고, 제2공간부(12a)의 하부에는 제3라이트(33)와 제3카메라(23)가 장착되어 있다.
상기 제3카메라(23)는 제3라이트(33)의 조명을 받는 부품(1)의 이면을 정밀 검사하여 긁힘(scratch), 눌림, 찍힘 등을 검출할 수 있도록 되어 있다.
상기 제3카메라(23)는 부품(1)의 이면을 정밀 검사하여 미세한 불량도 검출되어야하므로 6K화소의 머신 비전 라인 스캔 카메라를 사용하였으며, 픽셀(pixel)당 분해능력은 40μm이다.
상기 제3라이트(33)는 제2공간부(12a)의 하부에 장착되어 부품(1)의 이면에 조명을 조사하면 그 하부에 장착된 제3카메라(23)가 부품(1)의 이면을 정밀 촬영할 수 있도록 되어 있으며, 제3라이트(33)는 제2라이트(32)와 동일한 구성으로 이루어지고, 부품(1)의 하부에서 상부로 빛을 조사하여 부품(1)의 이면을 비추어 줄 수 있도록 되어 있다.
상기 제3컨베이어(13)의 상부에는 제4라이트(34)와 제4카메라(24)가 장착되어 있고, 제4카메라(24)는 제4라이트(34)의 조명을 받는 부품(1)의 표면외형 절단면을 정밀 검사하여 절단면 표면 부위의 찍힘, 절단불량 및 모서리 라운드의 곡면률 등을 검사할 수 있도록 되어 있다.
상기 제4카메라(24)는 부품(1)의 외측면인 절단면 부위의 표면을 정밀 검사하여 미세한 불량도 검출되어야하므로 6K화소의 머신 비전 라인 스캔 카메라를 사용하였으며, 픽셀(pixel)당 분해능력은 40μm이다.
상기 제4라이트(34)는 제3컨베이어(13)의 전,후방에 각각 장착된 가이드대(305b)들 사이에 한쌍의 케이스(300b)들이 대각선 방향을 이루어 서로 마주보며 장착되고, 케이스(300b)들의 내부 램프(301b)가 그 전방의 그 전방의 볼록렌즈(303b)를 통해 빛을 조사하면 가이드대(305b)의 하부 양측에 각각 장착된 반사판(304b)들에 각각 반사되어 부품(1)에 라인을 이루도록 빛을 집중하여 조사하면 제4카메라(24)가 양측 케이스(300b)들 사이를 통해 부품(1)의 표면을 촬영할 수 있도록 구성되어 있다.
상기 제4카메라(24)는 2대의 카메라가 1조를 이루어 가이드대(305b) 양측 반사판(304b)들을 통해 부품(1)의 표면 절단부에 복합조명을 조사하여 부품(1)의 긁힘, 눌림, 찍힘 및 절단불량을 정밀하게 검사할 수 있도록 되어 있다.
상기 제3컨베이어(13)와 제4컨베이어(14)의 사이에는 일정 간격을 이루는 제3공간부(13a)가 형성되어 있고, 제3공간부(13a)의 하부에는 제5라이트(35)와 제5카메라(25)가 장착되어 있다.
제5카메라(25)는 제5라이트(35)의 조명을 받는 부품(1)의 이면외형 절단면을 정밀 검사하여 절단면 이면 부위의 찍힘, 눌림, 절단불량 및 모서리 라운드의 곡면률 등을 검사할 수 있도록 되어 있다.
상기 제5카메라(25)는 부품(1)의 외측면인 절단면 부위의 이면을 정밀 검사하여 미세한 불량도 검출되어야하므로 6K화소의 머신 비전 라인 스캔 카메라를 사용하였으며, 픽셀(pixel)당 분해능력은 40μm이다.
상기 제5라이트(35)는 제4라이트(34)와 동일한 구성으로 이루어지고, 부품(1)의 하부에서 상부로 빛을 조사하여 부품(1)의 절단면 이면을 비추어 줄 수 있도록 구성되어 제5카메라(25)가 양측 케이스(300b)들 사이를 통해 부품(1)의 표면을 촬영할 수 있도록 구성되어 있다.
상기 제5카메라(25)는 2대의 카메라가 1조를 이루어 가이드대(305b) 양측 반사판(304b)들을 통해 부품(1)의 표면 절단부에 복합조명을 조사하여 부품(1)의 절단면 부위에 형성된 긁힘, 눌림, 찍힘 및 절단불량을 정밀하게 검사할 수 있도록 되어 있다.
상기 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들이 촬영한 영상정보는 각각의 컴퓨터로 전송되어 판독되면 양불 판정을 결정하여 불량품을 검출하고, 이 영상신호는 각각의 컴퓨터와 네트워크로 연결된 메인 컴퓨터에 전송되어 검사자가 메인 컴퓨터를 통해 전체적인 검사장치의 전반적인 상태를 점검하고 불량률을 분석하여 처리할 수 있도록 되어 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 또한 설명하였으 나, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 기재된 청구범위 내에 있게 된다.
이상에서 상술한 바와 같은 본 발명은, 프레스와 같은 부품 가공기에서 성형된 부품(1)들이 제1컨베이어(11)에서 제4컨베이어(14)를 사이를 통과하여 다음 공정으로 이송되는 과정에서 5대의 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들에 의하여 부품(1)의 표면과 이면이 정밀 촬영되고, 촬영된 영상정보는 각각의 컴퓨터들에 전송되어 불량품이 검출된 후 메인 컴퓨터로 전송되는 것이므로 검사자가 메인 컴퓨터를 통해 전체적인 검사장치의 전반적인 상태를 점검하고 불량률을 분석하여 처리할 수 있는 것으로서 전체적이 부품(1)들의 전수검사가 가능할 뿐 아니라 검사작업의 효율을 극대화시킬 수 있는 것이다.
또한, 성형 전 부품(1)들이 컨베이어들 을 통해 다음공정으로 이동되는 과정에서 라이트들의 조명을 받는 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들이 부품의 외관검사 및 표면과 이면을 정밀검사 하는 한편, 절단면들 의 표면과 이면을 정밀검사 하여 긁힘, 눌림, 찍힘 및 절단불량 등을 검사하여 부품의 상부면과 하부면을 정밀하게 전수검사 할 수 있는 것이므로 전체적인 검사작업의 효율을 극대화시킬 수 있을 뿐 아니라 부품의 제조공정과 검사공정이 연속으로 이루어져 생산설비 및 검사공정의 자동화를 구현할 수 있는 것이므로 부품제조업의 생산성을 최대한 높여줄 수 있는 등의 이점이 있는 것이다.

Claims (3)

  1. 제1컨베이어(11)와 제2컨베이어(12)의 사이에 형성된 제1공간부(11a)의 상부에 장착되어 제1공간부(11a) 하부에 장착된 제1라이트(31)의 백라이트 조명을 받는 부품(1)의 전체적인 외형을 검사하는 제1카메라(21)와;
    제2컨베이어(12)의 상부에 장착되어 제2라이트(32)의 조명을 받는 부품(1)의 표면을 정밀 검사하는 제2카메라(22)와;
    제2컨베이어(12)와 제3컨베이어(13)의 사이에 형성된 제2공간부(12a)의 하부에 장착되어 제2공간부(12a) 하부에 장착된 제3라이트(33)의 조명을 받는 부품(1)의 이면을 정밀 검사하는 제3카메라(23)와;
    제3컨베이어(13)의 상부에 장착되어 제4라이트(34)의 조명을 받는 부품(1)의 표면외형 절단면을 정밀 검사하는 제4카메라(24)와;
    제3컨베이어(13)와 제4컨베이어(14)의 사이에 형성된 제3공간부(13a)의 하부에 장착되어 제3공간부(13a) 하부에 장착된 제5라이트(35)의 조명을 받는 부품(1)의 이면 외형 절단면을 정밀 검사하는 제5카메라(25)와;
    각각의 카메라(21)(22)(23)(24)(25)들이 촬영한 영상정보는 각각의 컴퓨터로 전송되어 판독되고, 불량품이 검출되도록 구성한 것을 특징으로 하는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제2라이트(32)는 제2컨베이어(12) 상부에 수평으로 장착된 케이스(300a)의 내부에 장착된 램프(301a)가 그 전방의 볼록렌즈(303a)를 통해 빛을 조사하면 볼록렌즈(303a)의 전방에 대각선으로 장착된 반사거울(304a)을 통해 제2컨베이어(12)에서 이송되는 부품(1)에 빛이 조사되고, 반사거울(304a)의 상부에는 투명창(302a)이 형성되어 제2카메라(22)가 투명창(302a)과 반사거울(304a)을 관통하여 부품의 표면을 촬영할 수 있도록 구성되며, 반사거울(304a)은 대각선으로 장착되어 램프(301a) 쪽에서 보면 거울이고, 투명창(302a) 쪽에서 보면 투명유리로 보이는 특수거울로 구성되고, 제2라이트(32)는 부품(1)의 상부에서 하부로 빛을 조사하여 부품(1)의 표면을 비추어 줄 수 있도록 구성되어 있으며,
    상기 제3라이트(33)는 제2라이트(32)와 동일한 구성으로 이루어지고, 부품(1)의 하부에서 상부로 빛을 조사하여 부품(1)의 이면을 비추어 줄 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 제4라이트(34)는 제3컨베이어(13)의 전,후방에 각각 장착된 가이드대(305b)들 사이에 한쌍의 케이스(300b)들이 대각선 방향을 이루어 서로 마주보며 장착되고, 케이스(300b)들의 내부 램프(301b)가 그 전방의 그 전방의 볼록 렌즈(303b)를 통해 빛을 조사하면 가이드대(305b)의 하부 양측에 각각 장착된 반사판(304b)들에 각각 반사되어 부품(1)에 라인을 이루도록 빛을 집중하여 조사하면 제4카메라(24)가 상부에서 그 하부에 장착된 양측 케이스(300b)들 사이를 통해 부품(1)의 표면을 촬영할 수 있도록 구성되며,
    상기 제5라이트(35)는 제4라이트(34)와 동일한 구성으로 이루어지고, 부품(1)의 하부에서 상부로 빛을 조사하여 부품(1)의 절단면 이면을 비추어 줄 수 있도록 구성되어 제5카메라(25)가 하부에서 그 상부에 장착된 양측 케이스(300b)들 사이를 통해 부품(1)의 표면을 촬영할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 비전 카메라를 이용한 부품의 검사장치.
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