KR100555570B1 - 저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어방법 - Google Patents

저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법에 관한 것으로서 특히, TPTP (Thermal Pole Tip Protrusion) 헤드 및 Weak Write 헤드에 대한 저온 모드에서의 기록 전류 제어 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법은 TPTP (Thermal Pole Tip Protrusion) 헤드 및 Weak Write 헤드에 대한 저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법에 있어서, 상기 헤드의 OSC-CSM 곡선을 참조하여 저온 모드에서의 OSC 기준값 mOSC을 설정하는 과정; 및 상기 하드디스크 드라이브가 저온 모드에서 동작하는 경우 OSC 기준값 mOSC에 동작 온도에 따른 보상값을 적용하여 OSC를 설정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법은 저온 모드에서 사용되는 OSC 기준값을 헤드의 특성에 맞추어 설정함으로써 ATE 및 Weak Write 문제를 방지할 수 있는 효과를 가진다.

Description

저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법{Method for controlling a write current of a hard disk drive in a low temperature mode}
도 1은 일반적인 하드디스크 드라이브의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 하드디스크 드라이브를 제어하는 제어장치(200)의 블록도를 나타낸다.
도 3a 및 도 3b는 각각 TPTP 경향의 헤드 및 Weak Write 특성이 헤드들에 있어서 OSC-CSM 특성 곡선들을 보이는 것이다.
도 4a 및 도 4b는 VCM의 요크(yoke) 구조들을 보이기 위한 것들로서 각각 multi-magnet VCM 및 one magnet VCM의 요크 구조를 보이고 있다.
도 5는 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법을 보이는 흐름도이다.
도 6a 도 6b는 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법에 있어서 TPTP 헤드 및 Weak Write 헤드에 대하여 저온 모드에서 적용되는 OSC 기준값 mOSC을 설정하는 것을 도식적으로 보이는 것이다.
본 발명은 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법에 관한 것으로서 특 히, TPTP (Thermal Pole Tip Protrusion) 헤드 및 Weak Write 헤드에 대한 저온 모드에서의 기록 전류 제어 방법에 관한 것이다.
하드디스크 드라이브는 정보 저장을 위해 사용되는 기록 장치이다. 통상적으로 정보는 한 개 이상의 자기 기록 디스크들의 어느 한 면 위에 있는 동심 트랙들 위에 기록된다. 디스크는 스핀 모터에 회전 가능하게 탑재되고, 정보는 보이스(voice) 코일 모터에 의해 회전되는 액추에이터(actuator) 암에 탑재된 판독/기록 수단에 의해 액세스된다. 보이스 코일 모터는 전류에 의해 여자되어 액추에이터를 회전시키고 헤드를 이동시킨다. 판독/기록 헤드는 디스크의 표면으로부터 나오는 자기의 변화를 감지하여 디스크 표면에 기록된 정보를 판독한다. 데이터 트랙에 기록하기 위해, 전류가 헤드로 공급된다. 전류는 자계를 발생시키고, 이것은 디스크 표면을 자화시킨다.
하드디스크 드라이브의 용량이 높아질수록 에러에 대한 마진(margin)은 더욱 감소하고 있다. 특히, 고밀도, 고용량화에 따른 트랙간 간섭(Adjacent Track Interference) 및 ATE(Adjacent Track Erasure)는 점점 더 심각해지고 있다.
종래의 하드디스크 드라이브에 있어서는 저온에서 디스크의 보자력(Coercivity)의 증가에 의해 발생하는 Weak Write라는 문제에 대응하기 위하여 상온에 비해 높은 값의 OSC(Over Shoot Current)와 WC(Write Current)를 사용하는 방법을 사용하고 있다.
이러한 경우 저온에서의 Weak Write 문제는 개선될 수는 있겠지만 다른 한편으로 ATE 문제를 유발시키게 된다.
특히, one magnet VCM과 같이 디스크 상에서의 헤드의 위치에 상응하는 진동 현상을 수반하는 액튜에이터를 채택한 하드디스크 드라이브에 있어서는 디스크의 내주 영역에서 높은 ATE 불량율을 나타내는 것이 관찰되고 있다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 고안된 것으로서 하드디스크 드라이브에 있어서 저온 모드에서의 기록 전류 제어 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 Weak Write 헤드 및 one magnet VCM을 적용한 하드디스크 드라이브에 적합한 저온 모드에서의 기록 전류 제어 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법은
TPTP (Thermal Pole Tip Protrusion) 헤드 및 Weak Write 헤드에 대한 저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법에 있어서,
상기 헤드의 OSC-CSM 곡선을 참조하여 저온 모드에서의 OSC 기준값 mOSC을 설정하는 과정; 및
상기 하드디스크 드라이브가 저온 모드에서 동작하는 경우 OSC 기준값 mOSC에 동작 온도에 따른 보상값을 적용하여 OSC를 설정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 헤드가 Weak Write 헤드인 경우 저온 보상값 beta를 추가적으로 적용하는 것이 바람직하다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 일반적인 하드디스크 드라이브의 구성을 나타내는 도면이다.
하드디스크 드라이브(100)는 스핀들 모터(114)에 의하여 회전되는 적어도 하나의 디스크(112)를 포함하고 있다. 하드디스크 드라이브(100)는 디스크(112)의 표면에 인접되게 위치한 헤드(120)를 또한 포함하고 있다.
헤드(120)는 디스크(112)의 표면에 형성된 자계를 감지하거나 디스크의 표면을 자화시킴으로써 회전하는 디스크(112)로부터 정보를 읽거나 기록할 수 있다. 비록 도 1에 있어서 단일의 헤드로 도시되어 있지만, 이는 디스크(112)를 자화시키기 위한 기록용 헤드와 디스크(112)의 자계를 감지하기 위한 분리된 읽기용 헤드로 이루어져 있다고 이해되어야 한다.
헤드(120)는 헤드와 디스크(112)의 표면사이에 공기 베어링(air bearing)을 생성시키는 구조로 되어 있다. 헤드(120)는 헤드 스택 어셈블리(HSA; head stack assembly, 122)에 결합되어 있다. 헤드 스택 어셈블리(122)는 보이스 코일(126)을 갖는 엑츄에이터 암(124)에 부착되어 있다. 보이스 코일(126)은 보이스 코일 모터(VCM; voice coil motor, 130)를 특정하는(지지하는) 마그네틱 어셈블리(128)에 인접되게 위치하고 있다. 보이스 코일(126)에 공급되는 전류는 베어링 어셈블리(132)에 대하여 액튜에이터 암(124)을 회전시키는 토오크를 발생시킨다. 액튜에이터 암(124)의 회전은 디스크(112)의 표면을 가로질러 헤드를 이동시킬 것이다.
정보는 디스크(112)의 환상 트랙 내에 저장된다. 일반적으로 디스크(112)는 사용자 데이터가 기록되는 데이터 존(data zone), 드라이브를 사용하지 않을 경우에 헤드가 위치하는 파킹 존(parking zone) 및 메인터넌스 실린더로 구성된다.
도 2는 도 1에 도시된 하드디스크 드라이브를 제어하는 제어장치(200)의 블록도를 나타낸다.
제어장치(2000)는 리드/라이트(R/W) 채널 회로(204) 및 리드 프리앰프 & 라이트 드라이버 회로(206)에 의하여 헤드(120)에 결합된 콘트롤러(202)를 포함하고 있다. 콘트롤러(202)는 디지털 신호 프로세서(DSP : Digital Signal Processor), 마이크로프로세서, 마이크로 콘트롤러 등이 된다.
콘트롤러(202)는 디스크(112)로부터 데이터를 리드하거나 또는 디스크(112)에 데이터를 기록하기 위하여 리드/라이트 채널(204)로 제어신호를 공급한다.
정보는 전형적으로 R/W 채널(204)로부터 호스트 인터페이스 회로(210)로 전송된다. 호스트 인터페이스 회로(210)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 시스템에 인터페이스하기 위한 제어 회로를 포함하고 있다.
R/W 채널 회로(204)는 재생 모드에서는 헤드(120)로부터 읽혀져 리드 프리앰프&라이트 드라이버 회로(206)에서 증폭된 아날로그 신호를 호스트 컴퓨터(도면에 미도시)가 판독할 수 있는 디지털 신호로 변조시켜 호스트 인터페이스 회로(210)로 출력하고, 호스트 컴퓨터로부터 사용자 데이터를 호스트 인터페이스 회로(210)를 통하여 수신하여 디스크에 기록할 수 있도록 기록 전류로 변환시켜 리드 프리앰프&라이트 드라이버 회로(206)로 출력시키도록 신호처리를 실행한다.
콘트롤러(202)는 보이스 코일(126)에 구동 전류를 공급하는 VCM 구동 회로(208)에 또한 결합되어 있다. 콘트롤러(202)는 VCM의 여기 및 헤드의 움직임을 제어하기 위하여 VCM 구동 회로(208)로 제어신호를 공급한다.
콘트롤러(202)는 읽기 전용 메모리(ROM : Read Only Memory, 214) 또는 플레쉬 메모리와 같은 비휘발성 메모리 및 랜덤 액세스 메모리(RAM : Random Access Memory, 216)에 결합되어 있다. 메모리(214, 216)는 소프트웨어 루틴을 실행시키기 위하여 콘트롤러(202)에 의하여 사용되어지는 명령어 및 데이터를 포함하고 있다.
소프트웨어 루틴의 하나로서 하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 기록 전류를 제어하는 제어 루틴이 포함되어 있다.
종래에 있어서 온도에 따른 디스크의 보자력의 변화에 대응하기 위하여 상온에서의 OSC 및 WC에 대하여 온도에 따른 보정량을 적용하는 기록 전류 제어 방법이 잘 알려져 있다. 구체적으로 하드디스크 드라이브의 동작 환경을 고온/상온/저온으로 나누고, 제조시 상온 조건을 기준으로 하드디스크 드라이브의 기록 전류를 설정하며, 고온 및 저온 조건에서는 상온과의 온도차이에 상응하는 만큼 기록 전류의 크기를 제어하도록 하고 있다.
그렇지만, 하드디스크 드라이브들에 구비된 모든 헤드들에 대하여 온도에 따른 일률적인 보정량을 적용할 경우 헤드에 따라서는 ATE 혹은 Weak Write가 나타날 수 있다. 따라서, 헤드의 ATE 혹은 Weak Write 특성을 미리 파악하고 ATE 특성 이 심한 헤드의 경우 OSC 값을 어느 한도 이하로 제한하게 하고, Weak Write 헤드의 경우에는 훨씬 더 높은 OSC가 인가될 수 있도록 하는 것이 알려져 있다.
ATE 혹은 Weak Write 특성이 있는 헤드에 대응하기 위하여 번인 테스트(Burn-in test) 공정에서 각 헤드의 OSC-CSM 특성을 파악한다. 즉, 상온 조건에서 OSC의 변화에 따른 CSM의 변화를 보이는 특성 곡선을 조사하고, 이 특성 곡선에 의해 특성이 나쁜 것으로 조사된 하드디스크 드라이브를 다운사이징(down sizing)하는 즉, 트랙 밀도를 초기 설정값보다 성기게 하여 용량을 줄이거나 회전 속도(rpm)를 조절하는 것이 알려져 있다.
그렇지만, 상온 조건에서 저온에서의 하드디스크 드라이브의 행동 패턴을 완전히 정확하게 알 수는 없다는 한계성이 있으며 다운사이징이라는 것은 문제의 원인을 해결하려는 것이 아니라 회피하려는 방책임을 감안할 때 다운사이징없이도 Weak Write와 ATE를 해결할 수 있는 방법이 요구된다.
한편, TPTP를 고려한 기록 전류 제어 방법에 있어서는 TPTP의 포화(saturation)가 발생하기 전까지는 기록성(write ability)을 유지할 수 있는 OSC/WC를 사용하여 포화가 발생한 후에는 일정량만큼 OSC/WC를 낮추어주는 스텝 다운(step down)방법이 사용되고 있다.
이러한 스텝 다운 방법은 상온 조건의 번인 테스트 공정에서 ATE 경향이 있는 헤드들을 선별하여 적용하는 기록 전류 제어 방법이지만, 번인 테스트 공정에서 ATE 경향이 있는 헤드를 정확하게 선별하지 못했거나 헤드 특성에 상관없이 PES(Position Error Signal)가 문제가 되어 ATE를 발생시키는 경우에는 적합하지 않다.
도 3a 및 도 3b는 각각 TPTP 경향의 헤드 및 Weak Write 특성이 헤드들에 있어서 OSC-CSM 특성 곡선들을 보이는 것이다.
도 3a 및 도 3b에 도시된 OSC-CSM 특성 곡선들에 있어서 종축은 CSM을 나타내고, 횡축은 OSC를 나타낸다. 여기서, CSM(Channel Statistical Measurement)은 디스크에서 읽혀진 데이터에서 발생하는 에러율을 나타내는 지표들 중의 하나로서 채널 칩(channel chip)에서 제공하는 비트 에러를 검사하는 것으로서 BER(Bit Error Rate)에 비해 측정시간이 단축된다는 장점이 있다. CSM과 BER은 대략 로그(log)적인 관계를 가진다.
OSC-CSM 특성 곡선은 상온 조건의 번인 테스트 공정에서 검사되며, OSC를 다이내믹 레인지(dynamic range) 사이에서 변화시켜가면서 ATE 테스트를 실시하고, 그때의 CSM을 취하는 방법을 통해 작성된다. ATE 테스트에서는 목표 트랙에 인접한 트랙들에 소정 횟수만큼 데이터를 기록한 후 목표 트랙에 기록된 데이터를 읽어들이고 그때의 CSM을 측정한다.
OSC-CSM 특성 곡선은 대략적으로 V자형을 보이며, TPTP 특성 및 Weak Write은 OSC-CSM 특성 곡선의 기울기로서 파악된다. 즉, TPTP 경향이 심한 헤드의 경우는 OSC를 증가시킴에 따라 CSM이 급격히 증가하며, Weak Write 경향이 심한 헤드는 OSC를 증가시켜도 CSM이 극히 완만하게 증가하는 패턴을 보이게 된다.
한편, 하드디스크 드라이브에 있어서 VCM의 자속 밀도 분포 상태에 따라 액튜에이터가 진동하는 것이 알려져 있다. 특히, one magnet VCM(단일 자석 VCM)는 multi magnet VCM(다중 자석 VCM)에 비해 자속 밀도 분포가 불균일하기 쉽기 때문에 액튜에이터가 상대적으로 자속 밀도의 분포가 성긴 부분 , 대체적으로 디스크의 내주 부분에서 진동하기 쉽다.
도 4a 및 도 4b는 VCM의 요크(yoke) 구조들을 보이기 위한 것들로서 각각 multi-magnet VCM 및 one magnet VCM의 요크 구조를 보이고 있다. VCM은 요크와 요크의 고정 자석이 만들어내는 자기장 내에 위치하는 보이스 코일(voice coil)을 포함한다. 요크의 고정 자석에 의한 자속과 보이스 코일에 의한 자속의 상호 작용에 의해 액튜에이터가 회전한다. 종래에 있어서는 균일한 자속을 만들기 위하여 요크의 상하의 폴들(pole 402, 404) 사이에 두 쌍의 자석들(406, 408)을 배치한 각각 multi-magnet VCM(도 4a)이 주로 사용되었다. 도 4a에서 좌우 두 쌍의 자석들(406, 408)의 자속 방향을 반대로 함에 의해 짝힘을 발생한다. 최근에는 원가 절감을 위해 상하의 폴들(402, 404) 사이에 한 쌍의 자석(410)만을 배치한 one magnet VCM(도 3b)이 개발되었다.
그렇지만, one magnet VCM은 한 쌍의 자석(410)만을 사용하기 때문에 multi-magnet VCM에 비해 자속의 분포가 균일하지 못하다는 문제점을 안고 있다.
도 4a에서 화살표로 도시되는 바와 같이 multi-magnet VCM에서는 일정한 방향과 균일한 자속 밀도를 가지는 고정 자장을 얻을 수 있다. 이에 비해 도 4b에서 화살표로 도시되는 바와 같이 one magnet VCM은 상대적으로 일정하지 못한 방향과 균일하지 않은 자속 밀도를 가지는 고정 자장이 얻어진다.
one magnet VCM에서의 자속 밀도의 불균일한 분포는 액튜에이터의 운동에 영향을 준다. 자속 밀도의 불균일한 분포는 액튜에이터의 진동 특히, PES(Position Error Signal)의 불안정으로 나타나며 그 영향을 디스크의 내주쪽으로 갈수록 크다는 것이 관찰되고 있다.
따라서, 본원 발명에서는 이러한 문제점들을 해결하기 위하여 하드디스크 드라이브가 저온 모드에서 동작할 때 TPTP 헤드 및 Weak Write 헤드들에 대해서는 각각의 헤드 특성에 맞는 OSC 기준값 mOSC (여기서, mOSC는 alpha*OSC의 관계를 가진다.)및 저온 보상값(beta)을 선정하여 저온에서 Weak Write와 ATE를 함께 개선하도록 하는 기록 전류 제어 방법을 제안한다.
또한, one magnet VCM을 적용하는 하드디스크 드라이브에 있어서 저온 보상값 beta를 적용함에 있어서 헤드의 디스크 상에서의 위치에 따라 beta의 적용량을 다르게 하는 기록 전류 제어 방법이 개시된다.
도 5는 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법을 보이는 흐름도이다. 도 5에 도시된 방법에 있어서 s506과정까지는 하드디스크 드라이브의 번인 테스트 공정에서 수행되는 것이며, s508과정 이후는 사용자 환경에서 수행되는 것이다.
먼저, 헤드의 특성을 나타내는 OSC-CSM 특성 곡선을 파악한다.(s502) OSC-CSM 특성 곡선은 상온 조건의 번인 테스트 공정에서 OSC를 다이내믹 레인지 내에서 변화시켜 가면서 CSM을 측정하는 방법에 의해 얻어진다.
OSC-CSM 특성 곡선을 참조하여 TPTP 헤드 및 Weak Write 헤드라면 저온 모드를 위한 OSC 기준값 mOSC을 설정한다.(s504) 하드디스크 드라이브에 있어서 헤드마다 OSC-CSM 특성이 서로 다르므로 mOSC도 헤드마다 서로 다르게 설정된다.
도 6a 도 6b는 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법에 있어서 TPTP 헤드 및 Weak Write 헤드에 대하여 저온 모드에서 적용되는 OSC 기준값 mOSC을 설정하는 것을 도식적으로 보이는 것이다.
여기서, OSC-CSM 특성 곡선에서 CSM이 최저일 때의 OSC 즉, CSM_min에 상당하는 OSC를 OSC_a라 하면, 저온 모드를 위한 OSC 기준값 mOSC는
mOSC = alpha * CSM_nim으로 설정된다.
만일, 이 alpha값이 높을 때는 Weak Write 문제를 야기하고, 낮을 때는 ATE 문제를 야기하므로 alpha는 신중하게 선택되어야 한다.
alpha는 고온의 ATE 테스트와 저온의 Weak Write 테스트를 통하여 실험적으로 결정되는 값이며, 본 발명의 실시예에 있어서 1.3의 값을 가진다.
Weak Write 헤드를 위한 저온 보상값 beta를 결정한다.(s506)
이 저온 보상값 beta는 Weak Write 헤드에만 적용되는 값이며 또한 디스크 상에서의 헤드 위치에 따른 PES의 불안에 의한 ATE 문제에 대응하기 위한 것이다.
저온 보상값 beta는 디스크 상에서의 헤드의 위치에 따라 서로 다르게 적용된다. 이는 one magnet VCM을 채택한 하드디스크 드라이브에 있어서 디스크의 내주쪽으로 갈수록 PES가 더욱 불안해지는 특성을 반영하여 내주쪽에서의 보상값을 적게하기 위한 것이다.
본 발명의 실시예에 있어서 beta는 6이며, 디스크 상에서의 헤드의 위치를 내주(ID), 중간(MD), 그리고 외주(OD)로 나누어 beta를 적용한다. 디스크를 24개의 존들로 분할하여 사용하는 경우에 있어서의 beta는 다음과 같다.
OD(Zn 0 ~ 12) : mOSC + beta(=6)
MD(Zn 13 ~ 20) : mOSC + beta/2(=3)
ID (Zn 21 ~ 24) : mOSC + beta/3(=2)
저온 모드인지를 판단한다.(s508)
s508단계의 판단 결과 저온 모드가 아니라면 OSC_a를 기준값으로 온도에 따른 보상을 실시한다. (s510) 즉, 하드디스크 드라이브의 동작 온도를 측정하고, 측정된 온도와 상온과의 차이에 상당하는 보정값을 OSC_a에 적용하여 기록 전류를 제어한다. 이때, TPTP 헤드와 Weak Write 헤드의 구별은 적용하지 않는다.
S508단계의 판단 결과 저온 모드라면 mOSC를 기준값으로 온도에 따른 보상을 실시한다.(s512) 즉, 하드디스크 드라이브의 동작 온도를 측정하고 측정된 온도와 상온과의 차이에 상당하는 보정값을 mOSC에 적용하여 기록 전류를 제어한다. 이때, TPTP 헤드와 Weak Write 헤드의 구별은 적용하지 않는다.
Weak Write 헤드인지를 판단한다.(s514)
S314과정의 판단결과 Weak Write 헤드라면 저온 보상값 beta 및 디스크 상에서의 헤드의 위치에 따른 보상을 수행한다.(s516)
TPTP 헤드의 경우 mOSC만으로도 Weak Write 특성을 커버할 수 있고, 또한 저온에서 낮은 값의 mOSC를 가지므로 ATE를 발생하지 않기 때문에 저온 모드에서 beta를 적용하지 않아도 좋다.
보상된 OSC에 의해 기록 동작을 수행한다.(s518)
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법은 저온 모드에서 사용되는 OSC 기준값을 헤드의 특성에 맞추어 설정함으로써 ATE 및 Weak Write 문제를 방지할 수 있는 효과를 가진다.
또한, 본 발명에 따른 기록 전류 제어 방법은 Weak Write 헤드의 경우 저온 보상값을 가산하며, 또한 one magnet VCM이며 Weak Write 헤드의 경우 저온 보상값을 디스크 상에서의 헤드의 위치에 따라 가변적으로 적용하도록 함으로써 Weak Write에 대응할 수 있게 하는 효과를 가진다.

Claims (5)

  1. TPTP (Thermal Pole Tip Protrusion) 헤드 및 Weak Write 헤드에 대한 저온 모드에서의 하드디스크 드라이브의 기록 전류 제어 방법에 있어서,
    상기 헤드의 OSC-CSM 곡선을 참조하여 저온 모드에서의 OSC(Over Shoot Current) 기준값 mOSC을 설정하는 과정; 및
    상기 하드디스크 드라이브가 저온 모드에서 동작하는 경우 OSC 기준값 mOSC에 동작 온도에 따른 보상값을 적용하여 OSC를 설정하는 과정을 포함하는 기록 전류 제어 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 OSC 기준값 mOSC은 alpha*OSC_a(OSC_a는 상온 조건의 번인 테스트 공정에서 측정한 OSC-CSM 특성 곡선에서 최저의 CSM minCSM에 상응하는 OSC)로 결정 되며,
    여기서, 상기 alpha는 고온의 ATE 테스트 및 저온의 Weak Write 테스트를 통하여 실험적으로 결정된 값으로서 그 값이 1.3 인 것을 특징으로 하는 기록 전류 제어 방법
  3. 제2항에 있어서,
    상기 헤드가 Weak Head인 경우에는 mOSC를 적용하여 얻어진 OSC에 저온 모드에서의 Weak Write 보상을 위한 저온 보상값 beta를 더 적용하는 것을 특징으로 하는 기록 전류 제어 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 하드디스크 드라이브가 one magnet VCM을 사용하는 경우 상기 헤드의 디스크 상에서의 위치에 따라 저온 보상값 beta의 적용량을 다르게 하는 것을 특징으로 하는 기록 전류 제어 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 저온 보상값 beta의 적용량은 디스크의 내주쪽으로 갈수록 작아지는 것을 특징으로 하는 기록 전류 제어 방법.
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