KR100530672B1 - 집속변수 조절수단을 갖는 위상배열 초음파 검사 장치 - Google Patents

집속변수 조절수단을 갖는 위상배열 초음파 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 초음파 검사장치의 외부 인터페이스에 연결된 다이얼 노브 등을 이용하여, 다양한 단계의 속도 및 피치, 액티브 어퍼쳐비를 변화시켜 그때마다 새로운 집속 및 조향을 위한 시간 지연을 계산하고 이를 배열 시스템에 적용하여 영상을 살펴보면서 최적의 집속이 되도록 조절할 수 있는 초음파 검사장치에 관한 것이다.
본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 집속변수 값을 연속적으로 변화시키는 다이얼 노브를 구비한 집속변수 조절수단에 입력되는 상기 집속변수에 따라, 발진자 별로 실시간 시간지연 데이타를 계산하는 지연시간 계산부와, 상기 시간지연 데이타로부터 집속가능한 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절수단과, 상기 송신집속조절수단의 조절 신호에 의해 상기 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부와, 상기 복수의 초음파 발진자를 구비하고, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 변환기소자와, 상기 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부와, 상기 시간지연 데이타에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 집속처리하는 수신집속조절부와, 상기 집속처리된 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부와, 상기 영상신호를 표시하는 영상표시부를 포함하고, 상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자 사이의 피치, 상기 변환기소자의 액티브 어퍼쳐 비 중에서 선택된 것을 특징으로 한다.

Description

집속변수 조절수단을 갖는 위상배열 초음파 검사 장치{PHASED ARRAY ULTRASONIC INSPECTION APPARATUS HAVING CONTROLLING MEANS FOR FOCUSING PARAMETERS}
본 발명은 송수신 집속을 최적화할 수 있는 위상배열 초음파 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사 장비의 외부 인터페이스에 연결된 다이얼 노브 등을 이용하여, 다양한 단계의 속도 및 피치, 액티브 어퍼쳐비를 변화시켜 그때마다 새로운 집속 시간 지연을 계산하고 이를 위상배열 시스템에 적용하여 영상을 살펴보면서 최적의 집속이 될 수 있도록 조절하는 것이 가능한 초음파검사장치에 관한 것이다.
위상배열 초음파는 호이겐스의 원리를 적용한 것인데 이는 작은 미소 파면들을 독립적으로 발생시키고 각각의 미소 파면을 중첩 또는 간섭시키면 전체의 파면(wave surface)을 구성할 수 있다는 원리이다.
도 1(a) 및 도 1(b)와 같이 여러 개의 미소 발진자가 일정의 형태와 방향으로 배열된 초음파 탐촉자를 이용하여 매질 내부로 초음파를 투과시킬 때, 각 미소 초음파 발진자의 발진 시간을 조절하면 전체 초음파의 파면을 원하는 방향으로 조절하여 특정 부위에 초음파를 집속(도 1(b))시킬 수 있고 초음파의 방향(도면의 화살표 방향)을 조향(도 1(a))시킬 수도 있다. (이때 초음파의 집속이라는 용어에는 초음파의 집속 자체만을 의미할 수도 있고, 초음파의 집속과 동시에 조향을 한다라는 의미도 내포할 수도 있음에 유의해야 할 것이다.)
따라서, 기계적 렌즈나 모터 등을 사용한 구동장치가 없이도 초음파의 방향 조절이 되며, 초음파를 송신 수신할 때마다 집속을 수행하므로, 신호대 잡음비가 크게 향상된다는 장점을 지니고 있다.
그리고, 이러한 송수신 집속을 전자적으로 빠르게 수행하면 단면 또는 입체 영상을 얻을 수 있으므로 이미 의료용으로는 오래 전부터 개발되어 시판되고 있으며, 산업용 비파괴 검사 장비로도 활발한 개발이 이루어지고 있는 상태이다.
도2에 도시된 바와 같이, 초음파 배열기법에 사용되는 상기 미소 발진자는 일열로 배열된 구조이며, 초음파의 송수신시 집속(Focusing)을 위한 시간 지연은 단일 매질에서의 경우에는 다음의 식1과 같은 빔 포밍(Beam Forming) 법칙이 사용된다.
, ,
여기서 N은 미소 발진자의 개수, θs는 초음파의 조향각도, F는 초음파의 조향깊이, d는 미소 초음파 발진자 간의 거리(피치 : pitch), C는 매질내에서의 초음파 속도, L은 n 번째 발진자에서 집속점까지의 거리, D는 배열 탐촉자의 중심으로부터 n번째 발진자 사이의 거리가 된다. 초음파 송수신시에 배열 탐촉자의 중심에 위치한 발진자(도시하지 않음)가 시간 to 에 활성화되었다고 가정하고 있으며, 이 때 시편 내의 원하는 지점으로 초음파 빔을 조향하고 집속하기 위해 임의의 n 번째 발진자가 활성화되어야 할 시간을 T[n]으로 나타낸 것이다. 이러한 입력 변수를 적용하여 특정 조향깊이와 조향각도로 초음파를 집속시키고 수신시 초음파 신호를 얻을 때, 각 미소 초음파 발진자에 적용해야 하는 시간지연 값은 T[n] 으로 나타내어 진다.
액티브 어퍼쳐 비(active aperture ratio)는 배열 초음파를 송수신시의 깊이에 따라 얼마나 많은 배열 초음파 탐촉자의 미소 발진자를 활성화시킬 것인가를 나타내는 비율을 말한다. 초음파의 송수신 깊이가 깊어질 수록, 매질 내에서 초음파 에너지의 감소가 커지므로 많은 수의 미소 발진자를 활성화시켜야 하는데, 이러한 깊이에 따른 미소 발진자 활성의 비는 매질의 조건에 따라 달라지므로 보통은 반복실험을 통해서 값을 결정하는 것이 일반적이다.
따라서, 위상배열 초음파를 송수신시에 정확히 집속하기 위해서는 전술한 초음파 속도, 피치, 액티브 어퍼쳐 비 등의 정확한 입력이 필요하다.
인체의 경우는 초음파의 진행 속도가 일정한 값으로 정해져 있으므로, 현재 개발된 의료용 시스템은 제품의 출하시 인체의 속도를 추정하여 미리 그 값을 시스템에 입력시켜두고서 송수신 집속을 수행한다.
그러나, 산업용 비파괴 검사 시스템에서는 인체의 경우와는 다르게 특정 각도로 초음파를 조사시키거나 음향 임피던스가 다른 중간 매질(즉, 초음파의 진행속도가 다를 수 있고 신호감도 달라질 수 있음)을 통과해서 초음파가 투과해야 하는 경우가 있다. 또한, 매질내의 초음파 전파 속도는 매질의 온도 등 조건에 따라 약간의 변화를 가지는데, 정확한 속도가 입력되지 않으면 각각의 미소 발진자에 적용되는 시간 지연값에 오차가 발생한다. 그러므로 초음파 속도의 오차는 각 발진자에 적용되는 지연시간의 오차를 만들게 되어 정확한 송수신 집속이 이루어지지 않아, 신호대 잡음비(S/N ratio)가 낮아지는 문제가 발생한다.
종래 위상배열 초음파 검사장치에서는 초음파 집속 및 데이타 처리를 위해서 집속변수 즉, 초음파의 진행속도, 배열 초음파의 미소 발진자 중심간의 거리인 피치(pitch), 그리고 송수신 깊이에 따라 미소 발진자의 활성 영역을 결정하는 액티브 어퍼쳐 비(Active apeture ratio) 등을 미리 입력하고, 이에 따라 시간지연 프로그램을 통해 자동 계산되는 각 채널별 지연시간을 이용하여 집속된 초음파를 주사하고 결함으로부터 반사되어 되돌아 오는 초음파를 검출한다.
따라서, 매질에 따라 속도 등 변수가 미세하게 바뀔 경우에는 다시 집속변수를 입력하고 집속을 위한 시간 지연을 재계산하여야 하는 문제가 있었다. 즉, 전문적인 기술자이외의 초음파 측정에 익숙하지 못한 사람이나 일반인에게는 초음파 영상 시스템을 취급하는 것이 곤란하고, 전문적인 기술자라 할지라도 산업용 비파괴 검사 현장에서 정확한 시간 지연 계산을 위해서는 초음파 속도와 피치, 액티브 어퍼쳐비를 몇번이나 입력하고 프로그램을 이용하여 시간지연 계산을 수행하여야 하는 어려움이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 비파괴 검사현장에서 손쉽게 최적의 영상을 얻을 수 있는 초음파 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한 본 발명은 초음파 검사장치의 외부 인터페이스에 연결된 다이얼 노브 등을 이용하여, 다양한 단계의 속도 및 피치, 액티브 어퍼쳐비를 변화시켜 그때마다 새로운 집속 시간 지연을 계산하고 이를 위상배열 검사장치에 적용하여 영상을 살펴보면서 최적의 집속이 가능하도록 조절할 수 있는 초음파 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 복수의 초음파 발진자를 구비하고 피검체에 초음파를 송수신하기 위한 탐촉자와, 상기 발진자 별로 발진 시간지연 값을 계산하는 지연시간계산부를 포함하는 위상배열 초음파 검사장치에 있어서, 상기 지연시간계산부에 입력되는 집속변수를 실시간으로 조절하는 집속변수조절수단을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자간의 피치, 상기 탐촉자의 액티브 어퍼쳐 비 중에서 선택된 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 상기 집속변수 조절수단은 입력하고자 하는 집속변수 값을 연속적으로 변화시키는 다이얼 노브를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 집속변수 값을 연속적으로 변화시키는 다이얼 노브를 구비한 집속변수 조절수단에 입력되는 상기 집속변수에 따라, 발진자 별로 실시간 시간지연 데이타를 계산하는 지연시간 계산부와, 상기 시간지연 데이타로부터 집속가능한 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절수단과, 상기 송신집속조절수단의 조절 신호에 의해 상기 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부와, 상기 복수의 초음파 발진자를 구비하고, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 변환기소자와, 상기 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부와, 상기 시간지연 데이타에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 집속처리하는 수신집속조절부와, 상기 집속처리된 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부와, 상기 영상신호를 표시하는 영상표시부를 포함하고, 상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자 사이의 피치, 상기 변환기소자의 액티브 어퍼쳐 비 중에서 선택된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 매질의 속도와 배열 초음파 발진자의 피치 오차에 의한 송수신 집속오차를 줄이고, 액티브 어퍼쳐의 비를 조절하여 신호의 민감도를 실시간으로 조절함으로써 배열 초음파의 집속 성능을 향상시킬 수 있게 해 준다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 복수의 초음파 발진자를 구비하고 피검체에 초음파를 송수신하기 위한 탐촉자와, 상기 발진자 별로 발진 시간지연 값을 계산하는 지연시간계산부를 포함하는 위상배열 초음파 검사장치에 있어서, 상기 지연시간계산부에 입력되는 집속변수는 임의의 설정값으로부터 연속적으로 변경되고 그 중 수신 집속된 A 스캔이 최적의 신호 대 잡음비를 갖도록 하는 값에서 결정되도록 하는 집속변수생성부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자간의 피치, 상기 탐촉자의 액티브 어퍼쳐 비 중에서 선택된 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 임의의 설정값으로부터 연속적으로 변경되는 값을 갖도록 집속변수를 생성하는 집속변수 생성부과, 수신 집속된 A 스캔이 최적의 신호 대 잡음비를 갖도록 하는 상기 집속변수를 찾아 결정하는 집속변수 보상부와, 상기 결정된 집속변수에 따라 각 발진자별로 실시간 시간지연 데이타를 계산하는 지연시간 계산부와, 상기 시간지연 데이타로부터 집속가능한 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절수단과, 상기 송신집속조절수단의 조절 신호에 의해 상기 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부와, 상기 복수의 발진자를 구비하고, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 변환기소자와, 상기 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부와, 상기 수신 집속룩업 테이블에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 집속처리하는 수신집속조절부와, 상기 집속처리된 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부와, 상기 영상신호를 표시하는 영상표시부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명에 의한 위상배열 초음파검사장치는, 상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도와, 상기 변환기소자의 액티브 어퍼처비와, 상기 발진자간의 피치 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 매질의 속도와 배열 초음파 발진자의 피치 오차에 의한 송수신 집속오차를 줄이고, 액티브 어퍼쳐의 비를 조절하여 신호의 민감도를 실시간으로 자동으로 조절함으로써 배열 초음파의 집속 성능을 향상시킬 수 있게 해 준다.
이하 첨부의 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다. 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니고, 단지 예시로 제시된 것이다.
도3은 본 발명에 따른 위상배열 초음파 검사장치(200)의 구성을 설명하기 위한 블록도이며, 도4는 본 발명에 따른 위상배열 초음파 검사장치의 개략도이다.
도3에 도시된 것과 같이, 본 발명의 위상배열 초음파 시스템(200)은 초음파 검사를 전반적으로 제어하는 제어부(10)와, 초음파의 집속(Focusing)이 용이하도록 하기 위하여 집속변수 조절부(20)에 의해 입력되는 집속변수에 따라 탐촉자의 각 발진자별로 실시간 시간지연 값을 계산하여 송신 및 수신 집속룩업 테이블(Focal Law Look Up Table)을 생성하는 지연 시간(Focal Law) 계산부(30)와, 상기 제어부(10)의 제어신호 및 상기 송신 집속룩업 테이블(TX FL LUT)에 따라 각 발진자별로 시간 지연을 적용하여 초음파의 초점을 맞출 수 있게 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절부(TX Focal Law Control Unit)(40)와, 상기 송신집속조절부(40)의 조절 신호에 의해 각 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부(50)와, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 복수의 발진자로 구성된 탐촉자(60)와, 상기 복수의 발진자로 수신되어 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부(70)와, 상기 수신 집속룩업 테이블(RX FL LUT)에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 수신시 초점을 맞출 수 있도록 조절하는 수신집속조절부(80)과, 조절된 상기 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부(90)와, 상기 영상신호를 표시하는 표시부(100)와, 각종 명령을 입력하는 입력부(110)와, 송수신된 데이타를 저장하고 영상으로 표시하기 위한 프로그램이 저장된 메모리부(120)를 구비하고 있다.
상기 집속변수 조절부(20)는 인터페이스를 통해 연결되고 집속변수 값을 연속적으로 조절하는 복수개의 다이얼 노브를 포함하여 구성된다. 본 발명에서는 집속변수 조절부(20)로 다이얼 노브를 사용하고 있으나, 이에 국한되는 것은 아니며 다른 다양한 입력수단이 사용될 수 있다.
집속변수 조절부(20)로 입력되는 변수값 즉, 배열초음파 집속변수는 피검체내에서의 초음파 속도와, 액티브 어퍼쳐 비와, 미소 발진자간의 피치 등을 포함한다.
상기 표시부에 표시되는 것은 이미지 영상(S scan) 뿐만 아니라 이미지 처리되지 않은 A 스캔(scan)(송수신이 완료된 후의 파형신호) 도 가능하다.
상기 지연시간 계산부(30)는, 집속변수 조절부(20)에 의해 입력된 집속변수들에 따라 각 발진자별 지연시간을 자동으로 계산하는 프로그램(Focal Law Generation Program)으로 구성된 지연시간 생성기(Focal Law Generator)을 포함하며, 계산에는 상기 수학식1과 같은 빔 포밍(Beam Forming) 법칙이 사용된다. 집속룩업 테이블(Focal Law Look Up Table)은 각 집속점에 대한 데이타를 얻기 위하여 필요한 발진자별 지연시간을 정리한 표로서, 상기 집속변수 즉, 피검체 내에서의 초음파 속도와, 액티브 어퍼쳐 비와, 미소 발진자간의 피치 등의 변화에 따라 새롭게 생성되어 메모리에 저장되며 송신 및 수신 빔의 집속에 사용된다.
위상배열 초음파가 매질 내에서 송수신시에 최적의 조건으로 집속되었는지 확인하기 위한 방법으로는, 파형신호나 저면 반사 신호(Back wall echo)를 살펴보는 방법 등이 있다. 먼저, 파형신호 관찰 방법으로는 배열 초음파 검사장치로 매질 내에 임의의 알려진 반사체로부터 반사되는 신호로부터 출력되는 특정 스캔라인의 A 스캔 신호를 획득하고, 다이얼 노브들을 돌려 배열 초음파 집속변수를 조절하면서 파형의 변화를 관찰한다. 이때 A 스캔 반사 신호의 -6dB되는 지점의 폭은 최소로, 피크 세기(Peak amplitude)는 최대가 되도록 배열 초음파의 집속변수들을 조절하는 것이 바람직할 것이다.
다음으로, 저면 반사 신호의 잔향 길이가 최소가 되도록 조절하는 방법이다. 이 방법은 다이얼 노브들을 돌리면서 깊이를 알고 있는 시험편에서 반사되어 오는 저면 반사 신호의 위치 변화를 살펴보아 그 잔향 신호의 길이가 최소가 되도록 조절한다.
또한 본 발명에서의 집속변수는 다이얼 노브 등의 외부입력수단만에 의해 결정되는 것이 아니라, 시스템 자체내에서 자동으로 결정하는 것이 가능하다. 즉, 집속변수조절부(20) 내에 송수신 집속변수 생성수단과 송수신 집속변수 보상부가 있어, 송수신 집속변수 생성수단이, 임의의 설정값으로부터 연속적으로 변경되는 값을 갖도록 송수신 집속변수를 생성하여 송수신 집속변수 보상부에 전달하면, 송수신 집속변수 보상부에서는 수신 집속된 A 스캔이 최적의 신호 대 잡음비를 갖도록 하는 송수신 집속변수를 찾아 이 값을 송수신 집속변수로 결정하여 각 채널별 시간 지연을 구하여 집속에 사용한다.
도4에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 위상배열 초음파 검사장치는 본체(1)에 다이얼 노브(21)를 장착하여, 다양한 단계의 속도 및 피치, 액티브 어퍼쳐비를 실시간으로 변화시켜 그때마다 새로운 집속 시간 지연을 계산하고 이를 시스템에 적용하여 LCD 모니터(101)에 디스플레이되는 영상을 살펴보면서 최적의 집속이 될 수 있도록 조절할 수 있다.
이에 따라 본 발명은 다이얼 노브 등을 이용하여, 다양한 단계의 속도 및 피치, 액티브 어퍼쳐비를 변화시켜 그때마다 새로운 집속 시간 지연을 계산하고 이를 배열 시스템에 적용하여 표시부에 디스플레이되는 영상을 살펴보면서 최적의 집속이 될 수 있도록 조절할 수 있다.
또한 배열 초음파 영상 장치의 집속변수조절부(20) 내에 설치된 송수신 집속변수 생성수단과 송수신 집속변수 보상부를 통하여 신호의 민감도를 실시간으로 자동으로 조절함으로써 배열 초음파의 집속 성능을 향상시킬 수 있게 해 준다.
본 발명은 위상배열 초음파 시스템의 송수신 집속을 위한 변수 조절을 사용자가 직접 수행함으로써, 매질의 속도와 배열 초음파 발진자의 피치 오차에 의한 송수신 집속오차를 줄이고, 액티브 어퍼쳐의 비를 조절하여 신호의 민감도를 실시간으로 조절함으로써 배열 초음파의 집속 성능을 향상시킬 수 있게 해준다.
앞에서 설명되고, 도면에 도시된 본 발명의 실시예는, 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 기재된 사항에 의해서만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 변경하는 것이 가능하다. 따라서 이러한 개량 및 변경은 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호 범위에 속하게 될 것이다.
도 1(a)는 위상배열 기법을 이용한 초음파 빔의 조향에 대한 원리를 설명하기 위한 개념도
도 1(b)는 위상배열 기법을 이용한 초음파 빔의 집속에 대한 원리를 설명하기 위한 개념도
도 2는 초음파 조향 및 집속을 위한 시간지연을 설명하기 위한 개념도
도 3은 본 발명에 따른 위상배열 초음파 시스템의 구성을 개략적으로 나타내는 블록도
도 4는 본 발명에 따른 위상배열 초음파 검사장치의 개략도
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
1 위상배열초음파 검사장치 본체 10 제어부
20 집속변수조절부 21 다이얼 노브
30 지연시간 계산부 40 송신집속조절부
50 송신빔생성부 60 탐촉자
61 탐촉자 커넥터 70 수신빔생성부
80 수신집속조절부 90 영상처리부
100 표시부 101 LCD 모니터
110 입력부 120 메모리부

Claims (8)

  1. 삭제
  2. 복수의 초음파 발진자를 구비하고 피검체에 초음파를 송수신하기 위한 탐촉자와, 상기 발진자 별로 발진 시간지연 값을 계산하는 지연시간계산부를 포함하는 위상배열 초음파 검사장치에 있어서,
    상기 지연시간계산부에 입력되는 집속변수를 실시간으로 조절하는 집속변수조절수단을 더 포함하고,
    상기 집속변수 조절수단은 입력하고자 하는 집속변수 값을 연속적으로 변화시키는 다이얼 노브를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열 초음파 검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자간의 피치, 상기 탐촉자의 액티브 어퍼쳐 비 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열 초음파 검사장치.
  4. 복수의 초음파 발진자를 구비하고 피검체에 초음파를 송수신하기 위한 탐촉자와, 상기 발진자 별로 발진 시간지연 값을 계산하는 지연시간계산부를 포함하는 위상배열 초음파 검사장치에 있어서,
    상기 지연시간계산부에 입력되는 집속변수는 임의의 설정값으로부터 연속적으로 변경되고 그 중 수신 집속된 A 스캔 신호의 신호 대 잡음비가 최적이 되도록 하는 값에서 결정되도록 하는 집속변수생성부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열 초음파 검사장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자간의 피치, 상기 탐촉자의 액티브 어퍼쳐 비 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열 초음파 검사장치.
  6. 집속변수 값을 연속적으로 변화시키는 다이얼 노브를 구비한 집속변수 조절수단에 입력되는 상기 집속변수에 따라, 발진자 별로 실시간 시간지연 데이타를 계산하는 지연시간 계산부와,
    상기 시간지연 데이타로부터 집속가능한 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절수단과, 상기 송신집속조절수단의 조절 신호에 의해 상기 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부와,
    상기 복수의 초음파 발진자를 구비하고, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 변환기소자와,
    상기 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부와, 상기 시간지연 데이타에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 집속처리하는 수신집속조절부와,
    상기 집속처리된 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부와, 상기 영상신호를 표시하는 영상표시부를 포함하고,
    상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도, 상기 발진자 사이의 피치, 상기 변환기소자의 액티브 어퍼쳐 비 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열초음파검사장치.
  7. 임의의 설정값으로부터 연속적으로 변경되는 값을 갖도록 집속변수를 생성하는 집속변수 생성부과, 수신 집속된 A 스캔 신호의 신호 대 잡음비가 최적이 되도록 하는 상기 집속변수를 찾아 결정하는 집속변수 보상부와,
    상기 결정된 집속변수에 따라 각 발진자별로 실시간 시간지연 데이타를 계산하는 지연시간 계산부와,
    상기 시간지연 데이타로부터 집속가능한 초음파 신호를 발생하도록 조절하는 송신집속조절수단과, 상기 송신집속조절수단의 조절 신호에 의해 상기 발진자별로 복수의 전기적 신호를 발생시키는 송신빔생성부와,
    상기 복수의 발진자를 구비하고, 상기 복수의 전기적 신호를 초음파로 변환하여 피검체 내부로 송신하고 상기 피검체 내부로부터 반사되어 수신된 초음파를 복수의 전기적 신호로 변환하는 변환기소자와,
    상기 변환된 전기적 신호로부터 영상데이터를 생성하는 수신빔생성부와, 상기 수신 집속룩업 테이블에 따라 상기 영상 데이터에 시간지연을 적용하여 집속처리하는 수신집속조절부와,
    상기 집속처리된 영상 데이터로부터 영상 신호를 생성하는 영상처리부와, 상기 영상신호를 표시하는 영상표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열초음파검사장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 집속변수는 상기 피검체의 초음파 속도와, 상기 변환기소자의 액티브 어퍼처비와, 상기 발진자간의 피치 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상배열초음파검사장치.
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