KR100529315B1 - 광출력모듈 및 이를 채용한 광픽업장치 - Google Patents
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Abstract
광픽업모듈 및 이를 채용한 광픽업장치가 개시된다. 개시된 광픽업모듈은 베이스와, 베이스 상에 설치되어 소정파장의 레이저빔을 조사하는 반도체레이저와, 반도체 레이저를 감싸는 캡의 소정 위치에 결합 설치되어 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 반사시키는 빔정형 윈도우와, 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 빔 정형 윈도우의 전면에 설치되어 빔 정형 윈도우를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고 광디스크로부터 반사된 광을 수직편광으로 만드는 1/4 편광판과 캡의 내부에 마련되어, 빔정형 윈도우에서 반사된 레이저빔을 수광하여 레이저 반도체에서 조사된 레이저빔을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함한다.
Description
본 발명은 광원에서 출사된 빔을 정형할 수 있도록 된 광 출력모듈 및 이를 채용한 광 픽업장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 빔정형 윈도우를 이용하여 빔을 정형할 수 있도록 된 광 출력모듈 및 이를 채용한 광 픽업장치에 관한 것이다.
일반적으로 광 출력모듈은 광 기록매체에 대해 비접촉식으로 정보의 기록 재생을 수행하는 광 픽업장치에 채용되는 것으로, 레이저광을 조사하는 광원과, 이 광원에서 조사된 레이저빔의 광 출력을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함하여 구성된다.
도 1은 종래의 광 출력모듈을 보인 일부 절개 사시도이고, 도 2는 일반적인 반도체 레이저를 보인 개략적인 도면이다.
도 1을 참조하면, 광 출력모듈은 베이스(1) 상에 레이저빔이 투과되는 윈도우(5)를 가지는 캡(3)이 마련되어 있다. 그리고, 상기 베이스(1) 상에는 마운트(2)가 마련되어 있고, 마운트(2)의 측벽에 소정 파장의 레이저빔을 양 측면으로 각각 조사하는 반도체 레이저(10)가 설치되어 있다. 또한, 상기 반도체 레이저(10)에서 후방으로 조사된 빔(L2)을 수광하는 모니터용 광 검출기(7)가 상기 베이스(1) 상에 마련되어 있다. 이 모니터용 광 검출기(7)는 검출된 신호를 토대로 상기 광원(10)의 전방으로 조사되는 레이저 빔(L1)의 광 출력을 모니터링한다. 그리고 상기 반도체 레이저(10) 및 모니터용 광 검출기(7)는 통전 경로로 이용되는 리드(9)에 연결되어 있다.
도 2를 참조하면, 상기한 반도체 레이저의 활성층(11)의 소정 위치에서 출사된 레이저빔은 그 단면 형상이 타원형을 유지한다. 이는 활성층(11)의 두께방향과 이에 수직한 폭 방향에서의 레이저빔이 출사되는 출사구의 크기가 서로 달라, 두께방향과 폭 방향 각의 앞쪽 부분에서 출사되는 것과 같고, 폭 방향(X축 방향)의 레이저빔은 레이저의 앞쪽에서 ΔZ 만큼 들어간 부분에서부터 출사되는 것처럼 나타난다. 여기서, 간격각에서 서로 다르게 회절 되는 현상에 기인한 것이다. 이때 두께방향(Y축 방향)의 레이저빔은 레이저차 ΔZ 가 비점수차이다. 도 2에서θ∥는 폭방향의 퍼지는 각도이고, θ⊥는 수직방향의 퍼지는 각도를 나타낸 것이다.
한편, 상기 광 출력모듈을 광 픽업장치에 채용한 경우에 있어서, 광원의 구조적 특성에 기인한 비점수차가 문제된다. 즉, 비점수차가 큰 경우는 광 픽업장치의 메인 광 검출기를 통하여 광 기록매체에서 반사된 신호를 재생 시 지터(jitter) 특성이 나빠져 신호 검출에 영향을 미치는 문제점이 있다.
여기서, 지터(jitter)란 광 기록매체에 기록된 피트(pit)의 형성이 나쁘게 되거나, 광 기록매체에 맺히는 광 스폿의 형상이 비대칭적인 경우 신호의 편차가 증가하는 현상을 말한다.
이런 현상은 특히 광 기록매체에 정보를 저장할 때 더 큰 영향을 끼친다. 따라서, 상기한 광 출력모듈을 기록용 광 픽업장치에 사용하기 위해서는 빔 정형이 필수적이다.
상기한 바와 같은 빔 정형을 위한 방안으로 종래에는 도 3에 도시된 바와 같은 빔 정형 프리즘이 개시된 바 있다.
도 3을 참조하면, 종래의 빔정형 프리즘(20)은 레이저빔이 입사되는 면으로 반도체 레이저(10)와 대향되게 배치되는 입사면(21)과, 이 입사된 레이저빔을 반사시키는 반사면(23)을 포함하는 구조로 되어 있다.
이 빔 정형 프리즘(20)의 광학적 배치를 살펴볼 때, 상기 입사면(21)은 상기 반도체 레이저(10)에 대해 소정 경사만큼 기울어지게 배치되어, 상기 반도체 레이저(10)에서 조사된 레이저빔을 굴절 투과시킨다.
한편, 상기 반도체 레이저(10)에서 조사된 빔의 단면 형상은 점선 A로 나타낸 바와 같이 타원형상을 가진다. 한편, 이 타원형상의 광은 상기 입사면(21)에서의 굴절투과하고, 반사면(23)에서 반사되면서 그 형상이 정형되어 점선 B로 나타낸 바와 같이 원 형상이 된다.
하지만, 상기한 바와 같은 구조의 빔 정형 프리즘을 채용하는 경우는, 도시된 바와 같이 광학구조가 복잡하여 조립 시 조립공차가 크게 발생하고, 고온에서 동작 시 광 축이 틀어질 우려가 높다는 단점이 있다. 또한, 복잡한 광학구조로 인하여 재료비가 상승한다는 단점이 있다.
본 발명은 상기 문제점을 감안한 것으로, 윈도우를 이용하여 빔을 정형할 수 있도록 된 단순화된 구조의 광 출력모듈 및 이를 채용한 광 픽업장치를 제공하는데 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명인 광 출력모듈은 베이스와, 상기 베이스 상에 설치되어 소정파장의 레이저빔을 조사하는 반도체레이저와, 상기 반도체 레이저를 감싸는 캡과, 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되는 상기 캡의 소정 위치에 결합 설치되어, 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 반사시키는 빔정형 윈도우와, 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 상기 빔 정형 윈도우의 전면에 설치되어, 상기 빔 정형 윈도우를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고, 광디스크로부터 반사된 광을 수직편광으로 만드는 1/4 편광판과,
상기 캡의 내부에 마련되어, 상기 빔정형 윈도우에서 반사된 레이저빔을 수광하여 상기 레이저 반도체에서 조사된 레이저빔을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함한다.
본 발명에 따르면, 상기 빔정형 윈도우는 상기 반도체레이저에서 조사된 빔의 광 축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 상기 반도체레이저에서 입사되는 광의 대부분을 굴절시키고 나머지는 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광을 대부분 반사시키는 제1면과, 상기 제1면을 굴절 투과한 빔의 진행방향에 수직한 면을 이루도록 설치되어, 상기 반도체레이저에서 입사되는 광과, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광을 대부분 직진 투과시키는 제2면을 포함한다.
본 발명에 따르면, 상기 제 1면은 상기 반도체레이저에서 입사된 광의 대략 90%는 굴절 투과시키고 나머지는 상기 모니터용 광 검출기 쪽으로 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광의 대략 99% 이상을 반사시키도록 코팅 형성되어 있다.
본 발명에 따른 광픽업장치는 소정 파장의 레이저빔을 조사하는 반도체 레이저와, 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되는 상기 캡의 소정 위치에 결합 설치되어, 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 반사시키는 빔정형 윈도우및, 상기 빔 정형 윈도우의 전면에 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 설치되어, 상기 빔 정형 윈도우를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고, 광디스크로부터 반사된 광을 수직편광으로 만드는 1/4 편광판을 구비하는 광 출력모듈과,
상기 반도체 레이저에서 조사된 레이저빔의 진행 경로 상에 마련되어 입사빔의 진행경로를 변환하는 광로 변화수단과, 입사된 레이저빔을 집속시켜 광 기록매체에 광 스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와, 상기 광 기록매체에서 반사되고 상기 대물렌즈 및 상기 광로변환수단을 경유하여 입사된 레이저빔을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광 검출기와상기 캡의 내부에 마련되어, 상기 빔정형 윈도우에서 반사된 레이저빔을 수광하여 상기 레이저 반도체에서 조사된 레이저빔을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 광 출력모듈을 보인 일부 절개 사시도, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 광 출력모듈의 광학적 배치를 보인 도면, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 빔정형 윈도우의 빔정형 원리를 설명하기 위한 도면, 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 광 출력모듈을 채용한 광 픽업장치의 광학적 배치를 개략적으로 보인 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 광 출력모듈(30)은 베이스(31)와, 상기 베이스(31) 상에 설치되는 반도체 레이저(41) 및 모니터용 광 검출기(43)와, 상기 반도체 레이저(41) 및 모니터용 광검출기(43)를 감싸는 캡(33)과, 레이저 빔의 진행 경로 상에 마련된 빔정형 윈도우(45)와 상기 빔정형 윈도우(45)의 전면에 설치되어 레이저빔을 원형편광으로 만드는 1/4편광판(47)을 포함하여 구성된다.
상기 반도체 레이저(41)는 상기 베이스(31) 상에 마련된 마운트(32)에 설치되는 것으로, 상기 빔정형 윈도우(45) 쪽으로 소정 파장의 레이저빔을 조사하도록 배치된다. 상기 반도체 레이저(41)에서 조사되는 레이저빔은 655㎚, 408㎚, 785㎚ 등의 파장을 가지는 것으로, 특정 파장으로 제한되지 않는다.
상기 캡(33)은 상기 반도체 레이저(41)와 상기 모니터용 광검출기(43)를 감싸는 것으로, 외부영향으로부터 상기 반도체 레이저(41) 및 모니터용 광 검출기(43)를 보호한다.
상기 빔정형 윈도우(45)는 상기 레이저빔의 진행 경로에 대응되는 상기 캡(33)의 소정 위치에 결합 설치된다. 상기 빔정형 윈도우(45)는 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 상기 모니터용 광검출기(43) 쪽으로 반사시킨다.
도 5를 참조하면, 상기 빔정형 윈도우(45)는 레이저빔이 입사되는 제1면(45a)과, 레이저빔이 출사되는 제2면(45a)을 가진다.
상기 제1면(45a)은 상기 반도체 레이저(41)에서 조사된 레이저빔의 광 축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 입사빔의 대부분을 굴절 투과시키고, 나머지는 상기 모니터용 광검출기(43) 쪽으로 반사시킨다.
이를 위하여, 상기 제1면(45a)은 상기 반도체 레이저(41) 쪽에서 입사된 광의 대략 90%는 굴절 투과시키고, 나머지는 상기 모니터용 광 검출기(43) 쪽으로 반사시키도록 코팅 형성된 것이 바람직하다.
또한, 광디스크(D, 도 7참조)에서 반사되어 입사되는 광의 대략 99%이상을 반사시키도록 코팅 형성되어 있는 것이 바람직하다.
상기 제2면(45b)은 상기 제1면(45a)을 굴절 투과한 빔의 진행방향에 수직한 면을 이루어 입사빔의 거의 대부분을 직진 투과시킨다. 또한, 상기 광디스크(D)에서 반사되어 입사되는 광을 대부분 직진 투과시킨다. 이를 위하여, 상기 제2면(45a)은 입사광의 대략 99%를 직진투과 시키도록 코팅 형성된 것이 바람직하다.
상기 빔정형 윈도우(45)를 마련함으로써, 상기 광 출력모듈(30)을 출사하는 빔의 빔 형상을 소망하는 형상으로 정형할 수 있다.
상기 1/4파장판(47)은 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 상기 빔정형 윈도우(45)의 앞에 설치되어, 상기 빔정형 윈도우(45)를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고, 상기 광디스크(D)로부터 반사되어 입사되는 원형평광을 상기 빔정형 윈도우(45)를 통과한 수평 편광된 레이저빔에 수직으로 편광되도록 한다.
여기서, 빔정형 원리에 대하여 도 6을 참조하면서 설명한다. 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 빔정형 윈도우(도 5의 45)에 대응되는 빔정형 프리즘(46)은 굴절률 n을 가지는 투명부재로, 빗면이 밑면에 대해 각도만큼 경사지게 배치되어 있다. 상기 빔정형 프리즘(46)의 빗면에 각도만큼의 기울기를 가지고 레이저빔이 입사되어 밑면으로 출사되는 것을 나타내었다.
예를 들어, 단면 직경이 인 입사빔에 대하여, 출사빔의 단면 직경을 a로 하고자 하는 경우의 각도 와 각도는 다음과 같이 설정된다.
여기서, 상기 빔정형 프리즘(46)은 굴절률 이 1.514362인 매질이다.
상기 각도 및, 각도는 수학식 1로 나타낸 바와 같이, 스넬(snell)의 법칙에 따른 방정식과, 수학식 2로 나타낸 바와 같은 기하학적인 형상에 따른 방정식의 연립하여 풀 수 있다.
상기한 수학식 1 및 2를 연립하여 각도 와 각도 를 각각 구하면, 각도
는 37.29°이고, 각도 는 23.44°임을 알 수 있다.
한편, 상기한 설명은 상기 빔정형 프리즘(46)에 입사되는 광의 일 방향 예컨대 수평방향(도 1의 θ∥방향)에 대한 것이고, 이와 직교하는 방향 예컨대, 수직방향(도 1의 θ⊥방향)에 대해서는 직경의 변화 없이 투과시킨다. 따라서, 상기 각도 와 각도 각각을 소정 각도로 선택함으로써, 상기 빔정형 프리즘(46)에 단면이 타원형상인 레이저빔이 입사된 경우에도, 그 단면 형상을 원 형상으로 정형할 수 있고, 출사된 레이저빔의 크기를 소망하는 크기로 바꿀 수 있다.
상기 모니터용 광검출기(43)는 상기 베이스(31) 상에 마련된 상기 마운트(32)의 소정 위치에 결합 설치되는 것으로, 상기 빔정형 윈도우(45)의 제1면(45a)에서 반사된 레이저빔의 일부를 수광하여 상기 레이저 반도체에서 조사된 레이저 빔을 모니터링한다.
이와 같이 모니터용 광검출기(43)를 상기 캡(33)의 내부에 설치함으로써, 광 출력모듈을 콤팩트화할 수 있다. 또한, 상기 반도체 레이저(41)에서 전방으로 출사되는 레이저빔의 일부를 수광하여 상기 반도체 레이저(41)의 광 출력을 모니터링함으로써, 상기 모니터용 광검출기(43)와 상기 반도체 레이저(41) 사이에 마련된 자동 광출력 콘트롤러(APC : Auto power controller) 회로를 통하여 보다 정밀하게 반도체 레이저(41)의 광 출력을 제어할 수 있다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 광 출력모듈의 동작을 설명한다.
상기 반도체 레이저(41)에서 출사되는 레이저빔은 상기 빔정형 윈도우(45)의 상기 제1면(45a)에서 대략 90%가 굴절 투과되어 수평으로 편광되어 직진하고, 나머지는 반사되어 상기 모니터용 광 검출기(43)에 수광된다. 상기 제1면(45a)에서 굴절 투과되어 수평으로 편광된 빔은 상기 1/4파장판(47)을 대략 99% 통과하면서 원형편광으로 변하여 상기 광로변환수단(51)으로 조사된다.
한편, 상기 광디스크(D)로부터 반사되어 되돌아오는 빔의 대부분은 상기 광로변환수단(51)을 통과하여 상기 메인 광검출기(55)로 수광된다. 하지만, 그 중 일부는 상기 광로변환수단(51)에서 반사되어 상기 1/4파장판(47)으로 입사된다. 상기 1/4파장판(47)으로 입사된 빔은 전부 통과하여 수직편광으로 변하여 상기 빔정형 윈도우(45)로 입사된다.
상기 빔정형 윈도우(45)에 입사된 빔은 상기 제2면(45b)을 전부 투과하고, 상기 제1면(45a)에서는 전부 반사되므로, 상기 광디스크(D)로부터 반사되어 입사되는 빔의 대부분은 상기 모니터용 광검출기(43)에 입사되지 않음으로써 상기 반도체 레이저(41)의 출력조절문제를 감소시킬 수 있다.
만약에, 상기 제2면(45b)에서 빔을 전부 반사하도록 되어 있다면, 빔은 다시 상기 광디스크(D)로 입사되어 신호잡음으로 작용할 수 있다.
도 7을 참조하면 본 발명의 실시예에 따른 광 픽업장치는 광 출력모듈(30)과, 입사빔의 진행경로를 변환하는 광로변환수단(51)과, 입사빔을 집속시켜 광기록매체(D)에 맺히도록 하는 대물렌즈(53) 및, 상기 광 기록매체(D)에서 반사된 광을 수광하는 메인 광 검출기(55)를 포함하여 구성된다.
상기 광 출력모듈(30)은 도 4에 도시된 바와 같이, 상기한 광학적 구성요소를 배치하기 위한 베이스(31) 및 캡(33)을 포함한다. 상기 광 출력모듈(30)은 도 4 내지 도 6을 참조하여 설명된 바와 실질적으로 동일하므로 그 자세한 설명은 생략한다.
상기 광로변환수단(51)은 상기 광출력모듈(30)과 대물렌즈(53) 사이의 광로 상에 배치된다. 이 광로변환수단(51)은 상기 광출력모듈(30) 쪽에서 입사된 빔을 상기 광기록매체(D) 쪽으로 향하도록 하고, 상기 광기록매체(D) 쪽에서 입사된 빔을 상기 메인 광검출기(55)로 향하도록 한다. 상기 광로변환수단(51)은 도시된 바와 같은 큐빅형 구조 이외에 평판형 구조를 채택할 수도 있다.
상기 메인 광검출기(55)는 상기 광기록매체(D)에서 반사되고, 상기 대물렌즈(53) 및 상기 광로변환수단(51)을 경유하여 입사된 레이저빔을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출한다. 여기서, 상기 광로변환수단(51)과 상기 메인 광 검출기(55) 사이에는 오목렌즈(54)를 더 구비하는 것이 바람직하다. 상기 오목렌즈(54)는 상기 메인 광 검출기(55)로 향하는 광의 단면 크기 및 광 축 길이를 바꾸어주는 역할을 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 광 출력모듈은
첫째, 빔정형 윈도우를 내부에 배치함으로써 광 부품을 감소시켜 원가를 절감할 수 있으며, 재생능력을 향상시킬 수 있다.
둘째, 1/4파장판을 광 출력모듈에 배치함으로써 그 구조를 간단하게 할 수 있으며, 빔정형 윈도우의 편광특성과 함께 광디스크에서 반사된 광이 모니터용 광검출기에 직접 들어오지 못하도록 하여 레이저 출력조절을 원활하게 할 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 하여 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해서 정해져야 할 것이다.
도 1은 종래의 광출력모듈을 보인 일부 절개 사시도,
도 2는 일반적인 반도체 레이저를 보인 개략적인 도면,
도 3은 종래의 레이저 빔 정형 프리즘의 광학적 배치를 보인 도면,
도 4는 본 발명의 실시예에 다른 광출력모듈을 보인 일부 절개 사시도,
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 광출력모듈의 광학적 배치를 보인 도면,
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 빔정형 윈도우의 빔정형 원리를 설명하기 위한 도면,
도 7은 본 발명의 실시예에 다른 광출력모듈을 채용한 광픽업장치의 광학적 배치를 보인 개략적인 도면,
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
30...광출력모듈 31...베이스
33...캡 35...리드
41...반도체 레이저 43...모니터용 광검출기
45...빔정형 윈도우 47...1/4 파장판
51...광로변환수단 52...콜리메이팅렌즈
53...대물렌즈 54...오목렌즈
55...메인광 검출기
Claims (8)
- 베이스와;상기 베이스 상에 설치되어 소정파장의 레이저빔을 조사하는 반도체레이저와;상기 반도체 레이저를 감싸는 캡과;상기 레이저빔의 진행경로에 대응되는 상기 캡의 소정 위치에 결합 설치되어, 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 반사시키는 빔정형 윈도우와;상기 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 상기 빔 정형 윈도우의 전면에 설치되어, 상기 빔 정형 윈도우를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고, 광디스크로부터 반사된 광을 수직편광으로 만드는 1/4 편광판과;상기 캡의 내부에 마련되어, 상기 빔정형 윈도우에서 반사된 레이저빔을 수광하여 상기 레이저 반도체에서 조사된 레이저빔을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 출력모듈.
- 삭제
- 제 1항에 있어서,상기 빔정형 윈도우는상기 반도체레이저에서 조사된 빔의 광 축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 상기 반도체레이저에서 입사되는 광의 대부분을 굴절시키고 나머지는 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광을 대부분 반사시키는 제1면과;상기 제1면을 굴절 투과한 빔의 진행방향에 수직한 면을 이루도록 설치되어, 상기 반도체레이저에서 입사되는 광과, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광을 대부분 직진 투과시키는 제2면을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 출력모듈.
- 제 3항에 있어서,상기 제 1면은 상기 반도체레이저에서 입사된 광의 대략 90%는 굴절 투과시키고 나머지는 상기 모니터용 광 검출기 쪽으로 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 입사되는 광의 대략 99% 이상을 반사시키도록 코팅 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 출력모듈.
- 소정 파장의 레이저빔을 조사하는 반도체 레이저와, 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되는 상기 캡의 소정 위치에 결합 설치되어, 투과되는 레이저빔을 정형함과 아울러 입사 빔의 일부를 반사시키는 빔정형 윈도우및, 상기 빔 정형 윈도우의 전면에 상기 레이저빔의 진행경로에 대응되도록 설치되어, 상기 빔 정형 윈도우를 통과하면서 수평 편광된 레이저빔을 원형편광으로 만들고, 광디스크로부터 반사된 광을 수직편광으로 만드는 1/4 편광판을 구비하는 광 출력모듈과,상기 반도체 레이저에서 조사된 레이저빔의 진행 경로 상에 마련되어 입사빔의 진행경로를 변환하는 광로 변화수단과;입사된 레이저빔을 집속시켜 광 기록매체에 광 스폿이 맺히도록 하는 대물렌즈와;상기 광 기록매체에서 반사되고 상기 대물렌즈 및 상기 광로변환수단을 경유하여 입사된 레이저빔을 수광하여 정보신호 및 오차신호를 검출하는 메인 광 검출기와;상기 캡의 내부에 마련되어, 상기 빔정형 윈도우에서 반사된 레이저빔을 수광하여 상기 레이저 반도체에서 조사된 레이저빔을 모니터링하는 모니터용 광 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광픽업장치.
- 삭제
- 제 5항에 있어서,상기 빔정형 윈도우는상기 반도체레이저에서 조사된 빔의 광 축에 대해 소정 기울기로 경사지게 배치되어 상기 반도체레이저에서 입사되는 광의 대부분을 굴절시키고 나머지는 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 되돌아 입사되는 광을 대부분 반사시키는 제1면과;상기 제1면을 굴절 투과한 빔의 진행방향에 수직한 면을 이루도록 설치되어, 상기 반도체레이저에서 입사되는 광과, 상기 광디스크에서 반사되어 되돌아 입사되는 광을 대부분 직진 투과시키는 제2면을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업장치.
- 제 7항에 있어서,상기 제 1면은 상기 반도체레이저에서 입사된 광의 대략 90%는 굴절 투과시키고 나머지는 상기 모니터용 광 검출기 쪽으로 반사시키며, 상기 광디스크에서 반사되어 되돌아 입사되는 광의 대략 99% 이상을 반사시키도록 코팅 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 광 픽업장치.
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