KR100505365B1 - 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법이 개시된다. 스캐닝부는 디스플레이 패널을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 생성한다. 전처리부는 그레이 데이터에 존재하는 현재 픽셀을 기준으로 디스플레이 패널의 경계면에 대해 수평방향으로 제1거리 또는 수직방향으로 제2거리만큼 떨어진 지점에 위치하는 픽셀들로 구성된 제1픽셀그룹 중에서 선택된 복수의 이웃 픽셀 각각과 중첩되는 픽셀들의 밝기값 및 현재 픽셀로부터 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀들까지의 거리를 기초로 이웃 픽셀의 밝기값을 추정한다. 비교부는 현재 픽셀의 밝기값과 추정된 이웃 픽셀의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 디스플레이 패널의 균일성을 판정하고, 결함으로 판정된 현재 픽셀에 대응하는 결함이미지를 출력한다. 후처리부는 결함이미지를 클러스터링하여 결함의 위치, 결함의 크기, 및 결함의 부호 중에서 적어도 하나를 포함하는 결함의 특징을 추출한다. 본 발명에 따르면, 픽셀의 결함을 검출하기 위한 비교주기가 임의로 설정되어 있는 경우에도 에지부위에서의 허보발생을 방지하면서 1픽셀 이하의 결함을 검출할 수 있다.
Description
본 발명은 주기적인 패턴(periodic pattern)으로 구성된 디스플레이 패널의 불균일성을 시각적으로 검출하는 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 픽셀보간을 이용하여 디스플레이 패널상에 존재하는 결함을 검출하기 위한 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
주기 패턴의 결함을 검출하기 위한 일반적인 검사 방법은 도 1a에 도시되어 있는 바와 같이 일정한 주기만큼 떨어져 있는 N(단, N≥1)방향의 이웃픽셀들간의 상대적인 밝기를 비교하는 것이다. 도 1b에는 패턴의 일부에 결함이 존재하는 디스플레이 패널의 예가 도시되어 있다. 도 1b를 참조하면, 이웃하는 두 픽셀의 밝기차가 설정되어 있는 임계값보다 크거나 작은 경우에 밝기값이 차이가 나는 픽셀에 결함이 있는 것으로 판정한다.
픽셀에 결함이 존재를 파악하기 위한 비교방법에는 다음과 같은 방법들이 존재한다. 하나의 방법은 도 2a에 도시되어 있는 것과 같이 광학적인 배율을 조정하여 비교주기(comparing distance)를 정수로 설정하는 방법이며, 다른 하나는 도 2b에 도시되어 있는 것과 같이 비교주기를 임의로 설정하는 방법이다. 비교주기를 정수로 설정하는 방법에서 픽셀1(210)과 픽셀2(220)의 시작위치가 비교주기와 일치할 때에는 문제가 발생하지 않는다. 그러나, 픽셀1(210)과 픽셀2(220)의 시작위치가 비교주기와 일치히지 않을 때에는 비교되는 픽셀들에 결함이 존재하지 않음에도 불구하고 밝기값의 차이가 발생하여 허보(false alarm)가 발생할 수 있다. 이러한 허보는 주로 패턴의 에지부분에서 나타난다.
종래에는 비교대상 픽셀의 주변에 위치한 일정한 개수의 픽셀들의 밝기에 대해 산출된 평균값과 비교대상 픽셀의 밝기값을 비교하는 저역통과필터링 방법을 사용하여 이러한 허보를 감소시켰다. 저역통과필터링 방법은 간단하고 구현이 용이하다는 장점이 있으나 픽셀들의 평균값을 산출하는 과정에서 주변 픽셀들에 의해 비교대상 픽셀의 결함정도가 감소한다. 따라서, 결함검출을 위한 임계값을 낮춰야 하지만, 1픽셀 이하의 결함을 검출할 수 있을 정도로 임계값을 낮추어도 에지부위에 발생하는 허보를 방지할 수 없는 문제가 존재한다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 픽셀의 결함을 검출하기 위한 비교주기가 임의로 설정되어 있는 경우에도 에지부위에서의 허보발생을 방지하면서 1픽셀 이하의 결함을 검출할 수 있는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법을 제공하는 데 있다.
상기의 기술적 과제를 달성하기 위한, 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치는, 디스플레이 패널을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 출력하는 스캐닝부; 상기 그레이 데이터에 존재하는 현재 픽셀을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 경계면에 대해 수평방향으로 제1거리 또는 수직방향으로 제2거리만큼 떨어진 지점에 위치하는 픽셀들로 구성된 제1픽셀그룹 중에서 선택된 복수의 이웃 픽셀 각각과 중첩되는 픽셀들의 밝기값 및 상기 현재 픽셀로부터 상기 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀들까지의 거리를 기초로 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 전처리부; 상기 현재 픽셀의 밝기값과 상기 추정된 이웃 픽셀의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 상기 디스플레이 패널의 균일성을 판정하고, 결함으로 판정된 상기 현재 픽셀에 대응하는 결함이미지를 출력하는 비교부; 및 상기 결함이미지를 클러스터링하여 결함의 위치, 결함의 크기, 및 결함의 부호 중에서 적어도 하나를 포함하는 결함의 특징을 추출하는 후처리부;를 갖는다.
상기의 다른 기술적 과제를 달성하기 위한, 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법은, (a) 디스플레이 패널을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 생성하는 단계; (b) 상기 그레이 데이터에 존재하는 현재 픽셀을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 경계면에 대해 수평방향으로 제1거리 또는 수직방향으로 제2거리만큼 떨어진 지점에 위치하는 픽셀들로 구성된 제1픽셀그룹 중에서 선택된 복수의 이웃 픽셀 각각과 중첩되는 픽셀들의 밝기값 및 상기 현재 픽셀로부터 상기 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀들까지의 거리를 기초로 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 단계; (c) 상기 현재 픽셀의 밝기값과 상기 추정된 이웃 픽셀의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 상기 디스플레이 패널의 균일성을 판정하고, 결함으로 판정된 상기 현재 픽셀에 대응하는 결함이미지를 출력하는 단계; 및 (d) 상기 결함이미지를 클러스터링하여 결함의 위치, 결함의 크기, 및 결함의 부호 중에서 적어도 하나를 포함하는 결함의 특징을 추출하는 단계;를 포함한다.
이에 의해, 픽셀의 결함을 검출하기 위한 비교주기가 임의로 설정되어 있는 경우에도 에지부위에서의 허보발생을 방지하면서 1픽셀 이하의 결함을 검출할 수 있다.
이하에서, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법에 대한 바람직한 실시예에 대해 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치에 대한 바람직한 실시예의 구성을 도시한 블록도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치는 스캐닝부(310), 전처리부(320), 비교부(330), 및 후처리부(340)로 구성된다.
스캐닝부(310)는 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 출력한다. 스캐닝부(310)는 광원부(312) 및 CCD카메라(314)로 구성된다. 도 4a에는 반사광을 이용하여 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하는 스캐닝부(310)의 배치상태가 도시되어 있다. 광원부(312)는 디스플레이 패널(350)로 빛을 출사한다. CCD카메라(314)는 디스플레이 패널(350)로부터 반사되는 패턴을 촬상하여 2차원 이미지를 생성한다. CCD카메라(314)는 광원부(312)로부터 출사된 빛이 디스플레이 패널(350)에 반사되어 진행하는 경로상에 설치된다. 또한, 도 4b에는 투과광을 이용하여 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하는 스캐닝부(310)의 배치상태가 도시되어 있다. 도 4b를 참조하면, 디스플레이 패널(350)은 광원부(312)와 CCD카메라(314) 사이에 위치한다. 광원부(312)로부터 출사된 빛은 디스플에이 패널(350)을 투과하여 CCD카메라(314)로 입력된다. 도 5는 스캐닝부(310)가 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하여 생성한 2차원 이미지의 일 예를 도시한 도면이다. 도 5를 참조하면, 스캐닝부(310)에서 출력되는 2차원 이미지에는 주변보다 밝기값이 낮은 흑점 결함(510)이 존재한다.
전처리부(320)는 픽셀보간을 수행한다. 전처리부(320)는 디스플레이 패널(350)의 주기패턴의 불균일성을 판정하기 위해 현재 픽셀(Pcurr)(600)의 밝기값과 현재 픽셀(600)에서 일정거리만큼 떨어져 있는 이웃 픽셀(Pneigh)(610 내지 680)의 밝기값을 비교한다. 픽셀의 밝기값은 8비트 그레이레벨로 표현된 정수값이며, 0~255의 범위에 존재한다. 도 6에는 현재 픽셀(600)과 이웃 픽셀(610 내지 680)들이 도시되어 있다. 이웃 픽셀(Pneigh)은 현재 픽셀(Pcurr)(600)을 기준으로 수평 및 수직방향으로 각각 Dx(Dx=Nx+Mx, Nx≥1인 정수, 0≤Mx<1) 및 Dy(Dy=Ny+My, Ny≥1인 정수, 0≤My<1)만큼 떨어진 지점에 위치한 4개의 픽셀(610 내지 640)과 만큼 떨어진 지점에 위치한 4개의 픽셀(650 내지 680) 중에서 선택된 픽셀로 정의된다. 수평주기 Dx와 수직주기 Dy는 주기 패턴 형상에 따라 동일하게 설정될 수도 있고, 서로 다르게 설정될 수도 있다. 한편, 거리 D(x,y)는 다음의 수학식으로 정의된다.
전처리부(320)는 각각의 이웃 픽셀(610 내지 680)과 중첩되는 픽셀의 밝기값을 이용하여 각각의 이웃 픽셀(610 내지 680)의 밝기값을 추정한다. 이 때, 중첩되는 픽셀의 개수는 이웃 픽셀(610 내지 680)의 위치에 달라진다. 도 7a에는 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌측 수평방향에 존재하는 이웃 픽셀(610)에 대한 전처리방법을 일 예가 도시되어 있다. 도 7a를 참조하면, 전처리부(122)는 다음의 수학식을 이용하여 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌측 수평방향에 존재하는 이웃 픽셀(610)과 중첩되는 픽셀(710, 720)들의 밝기값을 기초로 해당 이웃 픽셀(610)의 밝기값을 추정한다.
여기서, pneigh, pn, 및 pn+1은 각각 8비트 그레이 레벨로 표시한 이웃 픽셀(610)의 밝기값, 이웃 픽셀(610)의 우측에서 중첩되는 픽셀(720)의 밝기값, 그리고, 이웃 픽셀(610)의 좌측에서 중첩되는 픽셀(710)의 밝기값이다.
도 7b에는 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌상측 대각방향에 존재하는 이웃 픽셀(650)에 대한 전처리방법을 일 예가 도시되어 있다. 도 7b를 참조하면, 전처리부(122)는 다음의 수학식을 이용하여 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌상측 수평방향에 존재하는 이웃 픽셀(650)과 중첩되는 픽셀(750 내지 780)의 밝기값을 기초로 해당 이웃 픽셀(650)의 밝기값을 추정한다. 도 7b에 도시된 바와 같이 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌상측 수평방향에 존재하는 이웃 픽셀(610)은 최대 4개까지 존재할 수 있다.
여기서, p1 및 p2는 각각 다음의 수학식에 의해 얻어진다.
수학식 4 및 수학식 5에서, p(n,n), p(n+1,n), p(n+1,n), 및 p(n+1,n+1)
은 각각 현재 픽셀(600)로부터 디스플레이 패널(350)의 수평 및 수직방향으로 Dx, Dy만큼 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀(650)을 기준으로 우하, 좌하, 우상, 및 좌상 지점에서 중첩되는 픽셀(750 내지 780)의 8비트 그레이 레벨로 표시된 밝기값이며, Mx 및 My는 각각 p(n,n)에 대응되는 픽셀(750)로부터 이웃 픽셀(650)까지의 수평 및 수직거리이다.
비교부(330)는 현재 픽셀(600)의 밝기값과 전처리부(320)에서 추정된 이웃 픽셀(610 내지 680)의 밝기값의 차이를 비교하여 디스플레이 패널(150)의 균일성을 판정한다. 이 때, 비교부(330)는 현재 픽셀(600)의 밝기값과 이웃 픽셀(610 내지 680) 중에서 하나의 픽셀의 밝기값의 차이가 소정의 임계값보다 크면 현재 픽셀(600)에 결함이 존재하는 것으로 판단한다.
임계값은 결함이 없고 픽셀이 존재하지 않는 균일한 대상체에 스캐닝부(310)가 획득한 밝기값에 의해 설정된다. 스캐닝부(310)를 구성하는 CCD카메라(314)는 다수의 광전변환소자로 입사되는 광을 전기신호로 변환하여 대상체의 영상을 얻는다. 이때, 광전변환소자는 입사되는 광의 밝기에 비례하는 크기를 갖는 전기신호를 출력하며, 각각의 광전변환소자는 광의 밝기변화에 대응하는 전기신호의 크기변화가 일치하지는 않는다. 이러한 광전변환소자의 불균일성을 고려하여, 광원부(312)에서 출력되는 일정한 밝기의 광이 균일한 대상체에 의해 반사되어 CCD카메라(314)에서 촬영된 검사시야내의 영상의 최대 밝기값과 최소 밝기값의 차이가 256그레이 레벨상에서 10이하가 되도록 CCD카메라(314)를 조정한다. 이와 같이 조정된 CCD카메라(314)에 대해 설정되는 임계값은 256그레이 레벨에서 13~15이다. 한편, 임계값은 실험적으로 결정될 수도 있다. 이 경우, 임계값을 순차적으로 하향조정하면서 결함검출결과를 분석하여 최적의 임계값을 설정한다.
비교부(330)는 디스플레이 패널(350)의 균일성에 대한 판정결과, 결함으로 판정된 부위의 이진화 이미지(binarized image)를 압축된 데이터 형식으로 출력한다. 도 8a 내지 도 8c에는 각각 본 발명에 따른 전처리과정을 거친 후 검출된 결함이미지, 전처리과정을 거치지 않고 검출된 결함이미지, 및 여러개의 픽셀을 평균하는 종래의 전처리과정을 거친 후 검출된 결함이미지가 도시되어 있다. 도 8a 내지 도 8c에서 결함이라고 판정된 픽셀(510)은 백색으로 표현되어 있고, 결함이 아닌 픽셀은 흑색으로 표현되어 있다. 도 8b 및 도8c에 도시된 결함이미지의 경우, 도 5에 도시된 바와 같은 원이미지에 대한 패턴의 에지부위에서 허보(520)가 발생한다. 이와 달리, 도 8a에 도시된 결함이미지는 어떠한 허보도 나타나지 않는다.
후처리부(340)는 비교부(330)로부터 입력된 압축된 이미지 데이터를 클러스터링하여 결함의 특징을 추출한다. 후처리부(330)에 의해 추출되는 결함의 특징에는 결함의 위치, 결함의 크기, 결함의 부호 등이 포함된다.
도 9는 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 대한 바람직한 일 실시예의 수행과정을 도시한 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 스캐닝부(310)는 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 출력한다(S900). 전처리부(320)는 현재 픽셀(600)에 대한 각각의 이웃 픽셀(610 내지 680)과 중첩되는 픽셀의 밝기값을 이용하여 각각의 이웃 픽셀(610 내지 680)의 밝기을 추정한다(S910). 비교부(330)는 현재 픽셀(600)의 밝기값과 전처리부(320)에서 추정된 이웃 픽셀(610 내지 680)의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 디스플레이 패널(150)의 균일성을 판정하고, 결함이 검출된 부분에 대한 결함이미지를 출력한다(S920). 후처리부(340)는 비교부(330)로부터 입력된 압축된 결함이미지 데이터를 클러스터링하여 결함의 특징을 추출한다(S930).
본 발명은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피디스크, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법에 의하면, 복수개의 카메라의 장착이 필수적이나 각각의 카메라별 배율조정이 거의 불가능한 인라인시각 검사 시스템(In-line Visual Ispection System)에서 비교주기가 픽셀수의 정수배가 아닌 경우에도 픽셀의 ½크기의 결함까지 검출할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법에 의하면, 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값을 평균하여 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 종래기술에 비해 절반크기의 임계값에 의해 픽셀의 결함을 검출할 수 있다.
도 1a는 주기 패턴의 결함을 검출하기 위한 일반적인 검사 방법을 도시한 도면,
도 1b는 패턴의 일부에 결함이 존재하는 디스플레이 패널의 예를 도시한 도면,
도 2a는 픽셀에 결함이 존재를 파악하기 위한 종래의 비교방법 중에서 광학적인 배율을 조정하여 비교주기를 정수로 설정하는 방법의 예를 도시한 도면,
도 2b는 픽셀에 결함이 존재를 파악하기 위한 종래의 비교방법 중에서 비교주기를 임의로 설정하는 방법의 예를 도시한 도면,
도 3은 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치에 대한 바람직한 실시예의 구성을 도시한 블록도,
도 4a는 반사광에 의해 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하는 스캐닝부(310)의 배치상태를 도시한 도면,
도 4b는 투과광에 의해 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하는 스캐닝부(310)의 배치상태를 도시한 도면,
도 5는 스캐닝부(310)가 디스플레이 패널(350)을 스캐닝하여 생성한 2차원 이미지의 일 예를 도시한 도면,
도 6은 현재 픽셀(600)과 이웃 픽셀(610 내지 680)들을 도시한 도면,
도 7a 및 도 7b는 각각 현재 픽셀(600)을 기준으로 좌측 수평방향 및 좌상측 대각방향에 존재하는 이웃 픽셀(610, 650)에 대한 전처리방법의 일 예를 도시한 도면,
도 8a 내지 도 8c는 각각 본 발명에 따른 전처리과정을 거친 후 검출된 결함이미지, 전처리과정을 거치지 않고 검출된 결함이미지, 및 여러개의 픽셀을 평균하는 종래의 전처리과정을 거친 후 검출된 결함이미지를 도시한 도면, 그리고,
도 9는 본 발명에 따른 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법에 대한 바람직한 일 실시예의 수행과정을 도시한 도면이다.
Claims (12)
- 디스플레이 패널을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 출력하는 스캐닝부;상기 그레이 데이터에 존재하는 현재 픽셀을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 경계면에 대해 수평방향으로 제1거리 또는 수직방향으로 제2거리만큼 떨어진 지점에 위치하는 픽셀들로 구성된 제1픽셀그룹 중에서 선택된 복수의 이웃 픽셀 각각과 중첩되는 픽셀들의 밝기값 및 상기 현재 픽셀로부터 상기 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀들까지의 거리를 기초로 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 전처리부;상기 현재 픽셀의 밝기값과 상기 추정된 이웃 픽셀의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 상기 디스플레이 패널의 균일성을 판정하고, 결함으로 판정된 상기 현재 픽셀에 대응하는 결함이미지를 출력하는 비교부; 및상기 결함이미지를 클러스터링하여 결함의 위치, 결함의 크기, 및 결함의 부호 중에서 적어도 하나를 포함하는 결함의 특징을 추출하는 후처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 이웃 픽셀은 상기 제1픽셀그룹에 속하는 픽셀들과 상기 제1픽셀그룹에 속하는 픽셀들을 각 변의 중심으로 하는 사각형의 각 꼭지점에 위치한 픽셀들로 구성된 제2픽셀그룹 중에서 복수개 선택되는 것을 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치.
- 제 2항에 있어서,상기 전처리부는 상기 선택된 이웃픽셀이 상기 제1그룹에 속하면 다음의 수학식에 의해 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하고,,여기서, pneigh, pn, 및 pn+1은 각각 8비트 그레이 레벨로 표시된 이웃 픽셀의 밝기값, 현재 픽셀을 기준으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값, 그리고, 현재 픽셀을 기준으로 원거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값이며, Mx or y는 현재 픽셀과 이웃픽셀간의 거리에서 현재 픽셀과 현재 픽셀을 기준으로 수평 또는 수직방향으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀간의 거리차이며,상기 전처리부는 상기 이웃 픽셀이 상기 제2그룹에 속하면, 다음의 수학식에 의해 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치:,여기서, 및 이고, p(n,n), p(n+1,n), p(n+1,n), 및 p(n+1,n+1)은 각각 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀을 기준으로 우하, 좌하, 우상, 및 좌상 지점에서 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 8비트 그레이 레벨로 표시된 밝기값이며, Mx 및 My는 각각 p(n,n)에 대응되는 픽셀로부터 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀까지의 수평 및 수직거리이다.
- 제 1항에 있어서,상기 전처리부는 다음의 수학식에 의해 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치:,여기서, pneigh, pn, 및 pn+1은 각각 8비트 그레이 레벨로 표시된 이웃 픽셀의 밝기값, 현재 픽셀을 기준으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값, 그리고, 현재 픽셀을 기준으로 원거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값이며, Mx or y는 현재 픽셀과 이웃픽셀간의 거리에서 현재 픽셀과 현재 픽셀을 기준으로 수평 또는 수직방향으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀간의 거리차이다.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 임계값은 상기 스캐닝부가 결함이 없고 픽셀이 존재하지 않는 균일한 대상체로부터 획득한 밝기값의 최대값과 최소값의 차이가 소정의 기준값 이하인 조건에서 8비트 그레이 레벨상의 13 내지 15의 범위에서 결정되는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 비교부는 상기 이웃 픽셀 중에서 적어도 하나의 이웃 픽셀의 밝기값과 상기 현재 픽셀의 밝기값의 차이가 상기 임계값보다 크면 상기 현재 픽셀을 결함픽셀로 판정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 장치.
- (a) 디스플레이 패널을 스캐닝하여 8비트 그레이 데이터를 생성하는 단계;(b) 상기 그레이 데이터에 존재하는 현재 픽셀을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 경계면에 대해 수평방향으로 제1거리 또는 수직방향으로 제2거리만큼 떨어진 지점에 위치하는 픽셀들로 구성된 제1픽셀그룹 중에서 선택된 복수의 이웃 픽셀 각각과 중첩되는 픽셀들의 밝기값 및 상기 현재 픽셀로부터 상기 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀들까지의 거리를 기초로 상기 이웃 픽셀의 밝기값을 추정하는 단계;(c) 상기 현재 픽셀의 밝기값과 상기 추정된 이웃 픽셀의 밝기값의 차이를 소정의 임계값과 비교하여 상기 디스플레이 패널의 균일성을 판정하고, 결함으로 판정된 상기 현재 픽셀에 대응하는 결함이미지를 출력하는 단계; 및(d) 상기 결함이미지를 클러스터링하여 결함의 위치, 결함의 크기, 및 결함의 부호 중에서 적어도 하나를 포함하는 결함의 특징을 추출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법.
- 제 7항에 있어서,상기 이웃 픽셀은 상기 제1픽셀그룹에 속하는 픽셀들과 상기 제1픽셀그룹에 속하는 픽셀들을 각 변의 중심으로 하는 사각형의 각 꼭지점에 위치한 픽셀들로 구성된 제2픽셀그룹 중에서 복수개 선택되는 것을 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법.
- 제 8항에 있어서,상기 (b)단계에서, 상기 제1픽셀그룹에 속하는 이웃 픽셀에 대해 다음의 수학식에 의해 밝기값을 추정하고,,여기서, pneigh, pn, 및 pn+1은 각각 8비트 그레이 레벨로 표시된 이웃 픽셀의 밝기값, 현재 픽셀을 기준으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값, 그리고, 현재 픽셀을 기준으로 원거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값이며, Mx or y는 현재 픽셀과 이웃픽셀간의 거리에서 현재 픽셀과 현재 픽셀을 기준으로 수평 또는 수직방향으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀간의 거리차이며,상기 (b)단계에서, 상기 제2픽셀그룹에 속하는 이웃픽셀에 대해 다음의 수학식에 의해 밝기값을 추정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법:,여기서, 및 이고, p(n,n), p(n+1,n), p(n+1,n), 및 p(n+1,n+1)은 각각 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀을 기준으로 우하, 좌하, 우상, 및 좌상 지점에서 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 8비트 그레이 레벨로 표시된 밝기값이며, Mx 및 My는 각각 p(n,n)에 대응되는 픽셀로부터 상기 현재 픽셀로부터 상기 디스플레이 패널의 대각방향으로 소정 거리 떨어진 지점에 위치한 이웃 픽셀까지의 수평 및 수직거리이다.
- 제 7항에 있어서,상기 (b)단계에서, 상기 제1픽셀그룹에 속하는 이웃 픽셀에 대해 다음의 수학식에 의해 밝기값을 추정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법:,여기서, pneigh, pn, 및 pn+1은 각각 8비트 그레이 레벨로 표시된 이웃 픽셀의 밝기값, 현재 픽셀을 기준으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값, 그리고, 현재 픽셀을 기준으로 원거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀의 밝기값이며, Mx or y는 현재 픽셀과 이웃픽셀간의 거리에서 현재 픽셀과 현재 픽셀을 기준으로 수평 또는 수직방향으로 근거리에서 이웃 픽셀과 중첩되는 픽셀간의 거리차이다.
- 제 7항 또는 제8항에 있어서,상기 임계값은 상기 스캐닝부가 결함이 없고 픽셀이 존재하지 않는 균일한 대상체로부터 획득한 밝기값의 최대값과 최소값의 차이가 소정의 기준값 이하인 조건에서 8비트 그레이 레벨상의 13 내지 15의 범위에서 결정되는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법.
- 제 7항 또는 제 8항에 있어서,상기 (c)단계에서, 상기 이웃 픽셀 중에서 적어도 하나의 이웃 픽셀의 밝기값과 상기 현재 픽셀의 밝기값의 차이가 상기 임계값보다 크면 상기 현재 픽셀을 결함픽셀로 판정하는 것을 특징으로 하는 픽셀보간을 이용한 디스플레이 패널 검사 방법.
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