KR100493051B1 - 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법 - Google Patents

광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법 Download PDF

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Abstract

광 재생 및 기록 장치의 틸트 각을 측정 및 보상하기 위한 방법이 개시된다. 본 발명에 의한 방법은 a) 광 기록 매체를 1회 회전 시켜 대략적인 틸트를 계산하는 거친 측정 단계 b) 거친 측정 단계 수행 후 수행하는 미세 측정 단계로서, 광 기록 매체에 레이저 빔을 조사하는 광 픽업의 각도를 변경하면서 광 기록 매체에 의해 반사된 레이저 빔을 분석하여, 지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러 및 에러율 중 적어도 하나 이상의 물리량을 측정하여 측정된 물리량이 최적화되는 광 픽업의 최적 틸트 각을 결정하는 미세 측정 단계 및 c) 미세 측정 단계에서 측정된 최적 틸트 각을 이용하여 광 기록 매체의 기울기를 기술하는 기울기 함수를 결정하는 기울기 함수 결정 단계를 포함한다. 특히, 본 발명에 따른 틸트 각 측정 방법은 광 픽업의 기울기를 조정하는 광 픽업 조절 단계로서, 광 기록 매체가 연속적으로 동작 중일 경우(Sequence Mode), 기울기 함수를 이용하여 광 픽업의 각도를 연속적으로 조절하고, 광 기록 매체의 소정 부분을 탐색하는 경우(Seek Mode), 탐색 대상 부분에 해당하는 광 픽업의 각도를 결정하여 결정된 각도로 광 픽업을 조절하는 광 픽업 조절 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하여, 광 디스크의 정밀한 틸트각을 신속히 검출하여 보상할 수 있다.

Description

광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법{Method for detecting and compensating tilt angle of optical reproducing and recording apparatus}
본 발명은 광 재생 및 기록 장치에 관한 것으로서, 특히 광 재생 및 기록 장치의 틸트각을 측정 및 보상하기 위한 방법에 관한 것이다.
광 기록 매체의 표면과 광 픽업 수단은 항상 직각인 상태를 유지하여야 광 기록 매체에 기록되어 있는 신호를 효율적으로 독출할 수 있다. 그런데, 광 기록 매체는 제조 공정, 사용 단계 등을 통하여 어느 정도 휨(tilt : 이하 틸트라 함)이 발생한다. 광 기록 매체 중 고밀도 기록에 사용되는 광 디스크, 예컨대 DVD나 CD-RW등이 틸트되는 경우, 그 정도에 따라 데이터 기록이나 재생 시에 에러가 발생되고 심할 경우 데이터의 기록이나 재생 자체가 어려워진다. 특히, 이러한 틸트 상태에 의해 광 기록 매체의 기록 면과 광 픽업수단의 수직 상태가 어긋나게 되므로 이를 억제하기 위하여 틸트 보상 장치가 채용된다.
틸트 보상 장치는 광 기록 매체의 기록면의 틸트 상태에 대응하여 광 픽업수단을 회전시키는 광 픽업 구동부를 정방향 또는 역방향으로 구동시켜서 광 픽업 수단이 기록면에 대하여 정확하게 수직상태를 유지하도록 보상한다.
그런데, 고밀도 기록이 요구되는 광 디스크가 틸트되어 있는 경우, 틸트의 영향이 기존의 적색 레이저를 사용하는 광 디스크보다 훨씬 크게 나타나기 때문에 기계적으로 보상하는 방법은 한계가 있으므로 다른 보상 방법의 필요성이 대두되고 있다. 즉, 기존의 적색 레이저(파장 650nm)를 사용하는 광 디스크에 있어서 반경 방향 틸트(radial tilt)와 트랙 방향 틸트(tangential tilt)의 허용 범위는 각각 0.7°, 0.3°이다. 따라서, 이와 같은 틸트의 허용 범위 내에서 기본적인 광 디스크의 특성이 만족되어야 한다. 예를 들어, 기록에 필요한 파워(기록 파워, 소거 파워 등)는 디스크 규격에 정한 기록 특성을 얻는 데 충분한 파워 레벨을 유지해야 한다.
그러나, 고밀도 기록이 요구됨에 따라 단파장의 청색 레이저(파장 400nm)를 사용할 경우 틸트에 따른 영향이 크게 나타난다. 즉, 기존의 적색 레이저(파장 650nm)를 사용하는 광 디스크와 동일한 기판 두께와 고밀도를 얻기 위해 높은 개구수(Numerical Aperture: NA)를 사용한다면 코마 수차(coma aberration)값이 훨씬 크게 나타난다. 즉, 파장이 짧아질 수록, 개구수가 커질 수록 코마 수차가 증가한다.
또한, 틸트가 커질 수록 기록 빔의 세기는 파장이 400nm인 경우가 파장이 650nm인 경우보다 매우 급격하게 감소되기 때문에 이와 같은 상태에서 기록을 하면, 원하는 길이 및 폭을 갖는 마크를 기록할 수 없다. 동일한 파장 400nm과 동일한 기판 두께(t) 0.6mm를 갖더라도 개구수(NA)가 커질 수록 빔의 세기가 감소된다. 뿐만 아니라, 틸트 각이 커질 수록 스폿 크기(spot size)는 파장이 400nm인 경우가 파장이 650nm인 경우보다 증가된다. 그런데, 틸트 각을 정밀하게 측정하려면 오랜 시간이 요구된다. 이러한 틸트각 측정 시간 동안 사용자는 대기할 수 밖에 없다.
그러므로, 광 기록 매체가 고밀도화 될수록 틸트의 영향을 감소시키기 위하여 광 디스크의 틸트 각을 신속하게 측정하여 보정하는 방법이 절실히 요구된다.
본 발명의 목적은 광 기록 매체의 틸트 각을 정밀하게 측정 및 보상하기 위한 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 광 기록 매체의 틸트 각을 신속하게 측정 및 보상하기 위한 방법을 제공하는 것이다.
상기와 같은 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 일면은, 광 재생 및 기록 장치의 틸트각을 측정 및 보상하기 위한 방법에 관한 것으로서, a) 광 기록 매체를 1회 회전 시켜 대략적인 틸트를 계산하는 거친 측정 단계, b) 거친 측정 단계 수행 후 수행하는 미세 측정 단계로서, 광 기록 매체에 레이저 빔을 조사하는 광 픽업의 각도를 변경하면서 광 기록 매체에 의해 반사된 레이저 빔을 분석하여, 지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러 및 에러율 중 적어도 하나 이상의 물리량을 측정하여 측정된 물리량이 최적화되는 광 픽업의 최적 틸트각을 결정하는 미세 측정 단계 및 c) 미세 측정 단계에서 측정된 최적 틸트각을 이용하여 광 기록 매체의 기울기를 기술하는 기울기 함수를 결정하는 기울기 함수 결정 단계를 포함한다. 특히, 미세 측정 단계는 광 픽업의 각도를 일정한 간격(STEP)을 갖는 상이한 세 개의 각도로 설정하여 물리량을 측정하는 물리량 측정 단계, 간격을 감소시켜가면서 광 픽업의 각도를 조절하며 물리량이 최적화되는 광 픽업의 각도를 저장하는 최적화 각도 저장 단계 및 간격이 소정치 이상이면 단계들을 반복하는 반복 단계를 포함하는 것이 바람직하다. 바람직하게는, 미세 측정 단계는 광 기록 매체가 삽입된 후 자동 실행(Auto Run)될 경우에는 리드 인(Lead in)이 종료된 후 수행되거나, 광 기록 매체가 대기(Pause) 상태일 경우에는 대기 중 소정 시간 경과 후에 수행되는 것을 특징으로 한다. 뿐만 아니라, 본 발명에 따른 틸트 각 측정 방법은 광 픽업의 기울기를 조정하는 광 픽업 조절 단계로서, 광 기록 매체가 연속적으로 동작 중일 경우(Sequence Mode), 기울기 함수를 이용하여 광 픽업의 각도를 연속적으로 조절하고, 광 기록 매체의 소정 부분을 탐색하는 경우(Seek Mode), 탐색 대상 부분에 해당하는 광 픽업의 각도를 결정하여 결정된 각도로 광 픽업을 조절하는 광 픽업 조절 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의한 틸트 각 측정 방법에서 결정되는 함수들은, 선형 보간법, 선형 회귀법, 최소 자승법 및 스플라인 함수를 이용하여 결정될 수 있다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로서, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 대하여, 동일한 참조부호는 동일한 부재임을 나타낸다.
도 1은 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법이 적용되는 광 재생 및 기록 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1에 도시된 광 재생 및 기록 장치는 광 디스크(110), 광 픽업부(pick-up unit, 120), 재생 신호 검출부(140), 틸트 검출부(160) 및 광 픽업 구동부(180)를 포함한다. 또한, 광 픽업부(120)는, 레이저 다이오드(137), 대물 렌즈(objective lens, 130), 반미러(half mirror) 및 콜리메이터 렌즈(collimator lens, 135)를 포함한다.
광 검출부(125)는 광 디스크(110)로부터 반사되는 광 신호를 다분할해서 검출한다. 또한, 광 픽업부(120)는 포커싱(focusing) 및 트래킹(tracking)을 행하기 위한 액튜에이터(actuator, 미도시) 등을 내장하고 있다. 바람직한 일 실시예에서는, 광 픽업부(120)의 레이저 다이오드(137)는 파장이 대략 430nm(청색 파장) 이하인 것을 사용하고, 광 디스크(110)의 기판의 두께가 0.3mm 이상일 경우, 대물 렌즈(130)의 개구수는 0.6 이상인 것이 바람직하고, 광 디스크(110)의 기판의 두께가 0.3mm 이하이면, 대물 렌즈(130)의 개구수는 0.7 이상인 것이 바람직하다.
재생 신호 검출부(140)는 광 검출부(125)의 출력 신호로부터 재생 신호를 검출한다. 틸트 검출부(160)는 재생 신호 검출기(140)로부터 제공되는 재생 신호 및/또는 광 검출부(125)의 출력 신호를 이용하여 광 디스크(110)의 틸트를 검출한다.
광 픽업 구동부(180)는 레이저 다이오드(137)를 구동하여 광 픽업부(120)를 통해 광 디스크(110)에 기록을 수행한다. 기록시, 멀티 채널의 기록 파형을 갖는 기록 펄스를 레이저 다이오드(137)에 인가함으로써 레이저 다이오드(137)가 연속적인 온과 오프의 동작을 통해 광 디스크(110)에 열을 가해주게 되면 기록 데이터가 기록 마크로 기록된다. 이 경우, 레이저 다이오드(137)에 흐르는 전류를 제어 시간(기록 시간, 소거 시간 등)에 상응하도록 변화시킬 수 있도록 파워 레벨(기록 파워, 소거 파워)을 조절하는 기록 보상기(미도시)가 더 포함될 수 있다. 기록 보상기(미도시)는 틸트 검출기(160)에서 검출된 틸트 각에 따라 기록 펄스의 기록 파워, 소거 파워, 기록 시간 및/또는 소거 시간을 증가시켜 틸트가 제로에 근접하도록 조절한다.
본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법이 적용되는 광 픽업부(120)는 광 디스크(110)의 틸트 각을 측정하기 위하여 미세 측정 단계를 수행하기 이전에 거친 측정 단계를 거친다. 그러므로, 거친 측정 단계에서 구해진 측정 값을 이용하여 미세 측정을 수행하기 때문에, 틸트각을 정밀하게 측정할 수 있다. 뿐만 아니라, 정밀한 틸트 각을 측정하기 위한 미세 측정 단계는 거친 측정 이후 즉시 수행되는 것이 아니라, 광 기록 매체가 자동 실행 모드인지 대기 모드인지에 따라 수행되는 시기가 다르다. 즉, 광 기록 매체가 자동 실행 모드일 경우에는 리드인(Lead in)이 종료된 후 미세 측정 단계가 수행되고, 광 기록 매체가 대기 모드일 경우에는 대기 중 소정 시간 경과 이후 자동으로 수행된다. 그러므로 전반적인 틸트각 측정이 수행되는 시간이 단축되어 사용자는 미세 측정 단계가 수행되는지를 거의 인지할 수 없다.
도 2는 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법을 나타내는 흐름도이다.
우선, 광 디스크의 개략적 틸트 각을 측정하는 거친 측정 단계가 수행된다(S210). 거친 틸트각을 측정하는 방법으로는 포커스 에러를 이용하는 방법이 이용될 수 있다. 거친 측정 단계(S210)를 수행하여, 삽입된 광 디스크가 틸트된 광 디스크인지 여부를 판단하여, 틸트 각이 0이거나 극히 작으면 미세 측정 단계를 수행하지 않는다. 그러므로, 모든 광 디스크에 대하여 틸트 각을 정밀하게 측정하는 것에 비하여 틸트각 측정 시간이 단축된다.
거친 측정 단계(S210)를 수행한 결과 삽입된 광 디스크가 기울어진 것으로 판단되면 미세 측정 단계를 수행한다. 미세 측정 단계는 다음과 같은 순서로 진행된다. 우선, 광 픽업부의 각도를 변경하면서 광 디스크로부터 반사되는 신호들을 분석하여, 지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러, 에러율(error rate) 등의 물리량을 측정한다(S230). 광 픽업부의 각도를 변경하는 과정은 광 픽업부 내의 대물 렌즈의 각도를 변경하는 것에 해당한다. 지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러, 에러율(error rate) 들은 미세 측정 단계에서 디스크의 틸트 각을 정밀하게 측정하기 위해 이용되는 신호들이다. 이 경우, 각 물리량이 최적화 되려면, 지터 값, 트래킹 에러 및 에러율은 최소값이 되어야 하는 반면 RF 신호의 크기는 최대가 되어야 한다. 그러므로, 광 픽업부의 각도를 변경하면서, 각 물리량이 최적화되는 각도를 결정한다(S250). 이 경우, 설정된 광 픽업부의 각도 각각에 따라 광 디스크는 한번씩 회전하면서 물리량을 측정하는 것을 원칙으로 한다. 광 디스크를 1회전만 시키는 이유는 미세 측정 단계가 수행되는 시간을 최소화하기 위해서이다.
지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러, 에러율과 같은 물리량들은 두 개 이상의 신호가 조합되어 사용될 수도 있고, 하나의 신호만이 이용될 수도 있다. 그러므로 삽입된 광 디스크의 상태에 따라 가장 측정하기 용이한 신호를 대표적으로 사용하여 틸트각을 구할 수 있다. 두 개 이상의 신호들을 이용하여 틸트 각을 구하면 틸트 각이 더 정밀하게 측정될 수 있지만, 틸트각 측정에 오랜 시간이 소요되는 단점을 가진다. 또한, 각 물리량의 최적값을 구하기 위하여는 반복 3점법이 사용되는 것이 바람직하다. 반복 3점법이란 미리 정한 간격(STEP)을 이용하여 광 픽업부의 각도를 3가지 결정하고, 각 각도 당 물리량을 광 디스크를 1회전 시키는 동안 측정한 후, 가장 바람직한 각도 사이를 다시 일정한 간격으로 분할하고 분할된 각도당 전술한 과정을 반복해 나감으로써 바람직한 최적화 위치를 알아내는 것이다. 반복 3점법은 반복된 회수가 소정 회수가 초과되거나 또는 소정 간격 이하로 간격이 분할될 경우까지 반복 수행된다. 반복 3점법은 공학적으로 공지된 방법이므로 명세서의 간략화를 위하여 부가적인 설명이 생략된다.
S250 단계에서 최적 틸트각이 결정되면 이를 이용하여 기울기 함수(slope describing function)를 결정한다. 기울기 함수란 삽입된 광 디스크의 기울기를 기술하는 함수로서, 광 디스크의 몇 개의 위치에서 측정된 틸트각을 이용하여 광 디스크 전체의 틸트각을 기술하도록 결정된다.
기울기 함수를 결정하기 위한 방법으로는 다음과 같은 방법이 사용될 수 있다.
1) 선형 보간법(linear interpolation)
보간법은 함수 값을 알고있는 주위 점들에 대한 가중 평균을 이용하여 중간에 빠진 함수 값을 추정하는 방법이다. 특히, 선형 보간법에서는 두 개의 샘플 점들을 지나는 직선을 이용하여 다수 개의 샘플 점들 간의 함수 관계를 기술한다. 선형 보간법은 계산이 간단하므로 기울기 함수를 구하는 데 걸리는 시간을 단축시킬 수 있으나 근사화 오차가 상대적으로 많이 발생하는 단점을 가진다.
2) 선형 회귀법(linear regression)
선형 회귀법이란 쌍으로 관찰된 연속형 변수들 사이의 관계에 있어서 한 변수를 원인으로 하고 다른 변수들을 결과로 하여 원인 변수들과 결과 변수 사이의 선형식을 구하고 그 식을 이용하여 원인변수들의 변수 값들이 주어졌을 때, 결과 변수의 변수값을 예측하는 통계적 분석방법이다. 선형 회귀법을 이용하면 주어진 샘플 점들로부터 설정한 모형이 잘 적합하는 가에 대한 검토를 수행할 수 있으므로 선형 보간법보다 유리하다. 이러한 검토는 적합도 검토(Goodness of Fit)라 부른다.
3) 최소 자승법(least mean square)
최소 자승법이란, 샘플 점들에 대한 함수치가 주어져 있고 이 함수치들을 근사화하는 근사 함수가 주어졌을 경우, 근사 함수와 샘플 점들의 함수치들 간의 차이의 제곱의 합이 최소가 되도록 근사 함수를 모델링하는 방법이다. 보간법에서는 샘플 점으로 주어진 값에 오차가 없다는 가정 하에서 모든 샘플 점을 지나는 보간 다항식이 구해지나, 각각의 샘플 점들의 함수값이 오차를 포함하고 있다면 최소 자승법이 더 유용하다.
4) 스플라인(spline) 함수 이용
샘플 점들의 집합을 다항식 곡선으로 적합하는 방법은 CAD(computer-assisted design, 컴퓨터 이용 설계), CAM(computer-assisted manufacturing, 컴퓨터 이용 생산), 컴퓨터 그래픽스 시스템 등에서 많이 사용된다. 이것의 목적은 주어진 점들을 지나면서 오차에 영향을 받지 않는 유연한(smooth) 곡선을 그리는 것이다. 최종적인 곡선과 이것의 1차, 2차 도함수가 모두 전체구간 에서 연속이라는 조건을 만족하도록 각 구간 에서 3차 함수를 구하는 것이 수학적으로 가능하다. 이때의 연속성은 그래프의 모든 점에서 곡률반경(radius of curvature)을 정의할 수 있음을 의미한다. 이러한 정의를 만족하도록 정의되는 함수를 스플라인 함수라 한다. 스플라인 함수를 이용하면, 가장 근사한 함수를 구할 수 있으나 측정하는데 시간이 많이 소요되는 단점을 가진다.
전술된 바와 같은 기울기 함수 측정 방법들은 수치 해석 분야 및 당업계에서 공지된 방법들이므로 명세서의 간략화를 위하여 불필요한 설명이 생략된다. 본 발명에서는 이러한 측정 방법을 기술적 사상으로 하는 것은 아니며, 이러한 방법들을 이용하여 기술되는 기울기 함수를 이용하는 것을 기술적 사상으로 포함하는 것에 주의하여야 한다.
또한, 전술된 바와 같은 기울기 함수 측정 방법은 반드시 별개로 사용되어야 하는 것은 아니다. 바람직한 기울기 함수를 구하기 위하여 이상의 방법들을 병행하여 사용할 수 있음은 물론이다. 다만, 기울기 함수의 정밀도를 향상시킬수록 기울기 함수를 구하는데 걸리는 시간이 증가되므로, 적정한 타협점을 구하는 것이 바람직하다.
전술된 바와 같은 미세 측정 단계는 다음과 같은 경우에 수행되는 것이 바람직하다.
1) 자동 실행 모드(Auto Run Mode)
운영 프로그램에서 자동 실행이 설정되어 있는 경우와 같이 리드인이 종료되고 바로 ATAPI(AT Attachment Packet Interface)에서 READ 명령이 떨어진 경우에는, 리드 인 종료 후 디스크 회전수가 증가되는 과정에서 미세 측정이 수행된다. 리드인 과정에서 미세 측정을 수행하지 않으므로, 사용자는 리드 인 시간이 연장되는 것을 인식하지 못하게 되어 체감 속도가 증가된다.
2) 대기 모드(Pause Mode)
리드 인 후 ATAPI 명령이 없으면 삽입된 광 디스크는 대기 상태에 들어간다. 이 경우, 소정 시간이 지난 후 자동으로 미세 측정이 수행된다. 광 디스크가 대기 모드일 경우 자동적으로 미세 측정이 수행되므로 사용자는 미세 측정이 수행되는지를 인식할 수 없다. 그러므로, 별도로 미세 측정을 수행하는 것에 비하여 측정 시간이 단축된다. 만일, 미세 측정이 수행되는 동안 ATAPI 명령이 전달되면 진행 중이던 미세 측정을 임시 중단하고 광 디스크의 배속을 상승시키면서 나머지 미세 측정을 자동 실행 모드에서와 같이 수행할 수 있다.
기울기 함수가 결정되면 결정된 기울기 함수를 이용하여 광 픽업부를 조절한다(S290). 이 경우, 기울기 함수는 다음과 같이 이용된다.
1) 연속 모드(Sequence Mode)
일반 재생 모드에서와 같이 광 디스크가 연속적으로 재생/기록되는 경우 결정된 기울기 함수를 이용하여 광 픽업부를 연속적으로 조절한다. 이 경우 대물 렌즈를 이용하여 광 픽업부의 각도를 조절하는 것은 전술한 바와 같다.
2) 탐색 모드(Seek Mode)
연속 모드에서와는 달리 탐색 모드에서는 현 위치로부터 탐색 대상 위치로의 불연속적인 접근이 필요하다. 그러므로 광 픽업부의 각도를 조절하는 경우 안정성이 고려되어야 한다. 또한, 탐색 동작을 수행하기 위하여 광 픽업부는 매우 큰 가속도 운동을 하게 되므로 정지시킬 경우 광 픽업부의 각도에 따라 가속력의 영향을 받을 수 있다. 그러므로, 탐색 대상 위치에서 포커싱을 수행할 경우 시간이 지연되거나 포커싱을 실패하는 경우가 발생될 수 있다. 최악의 경우 광 픽업부가 광 디스크와 충돌하는 경우도 발생될 수 있다. 그러므로, 다음과 같은 방법이 사용된다.
- 0점법 : 현재 위치에서 탐색 대상 위치가 정해지면, 광 픽업부의 회전량을 0도로 초기화하여 탐색 대상 위치로 광 픽업부를 이동한 후 탐색 대상 위치에 해당하는 각도로 광 픽업부를 회전시킨다.
- 선회전법 : 탐색 대상 위치의 해당 각도를 결정하여 해당 각도로 광 픽업부를 미리 회전시킨 후에 탐색 대상 위치로 이동시킨다.
- 후회전법 : 현재 광 픽업부의 각도를 유지하고 탐색 대상 위치로 이동한 후, 탐색 대상 위치에서 해당하는 각도로 회전시킨다.
- 점증법 : 현재 광 픽업부의 각도로부터 탐색 대상 위치에 해당하는 각도까지 점진적으로 각도를 변경함과 동시에 이동시킨다.
따라서, 광 디스크의 상태 및 광 픽업부의 상태에 따라 전술된 방법 중 타당한 방법을 이용하여 광 픽업부를 탐색 대상 위치로 이동시킨다. 또한, 선회전법, 후회전법 및 점증법에서 광 픽업부의 각도를 변경하는 방법으로는 탐색 대상 위치의 각도 및 현재 광 픽업부의 각도 및 광 픽업부의 이동 방향에 따라 다음과 같은 방법이 사용될 수 있다.
- 정회전법 : 광 픽업부의 각도를 탐색 대상 위치의 각도로 정밀하게 회전시킨다.
- 과회전법 : 광 픽업부의 각도를 탐색 대상 위치의 각도보다 큰 값으로 회전시킨다.
- 부회전법 : 광 픽업부의 각도를 탐색 대상 위치의 각도보다 작은 값으로 회전시킨다.
전술된 바와 같은 방법들을 적용하여, S270 단계에서 결정된 기울기 함수를 이용하여 광 픽업부의 각도를 조절할 수 있다.
도 3은 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법에서 측정되는 물리량의 최적값을 예시하는 도면이다.
도 3a에 도시된 바와 같이, 지터값, 트래킹 에러 및 에러율은 광 픽업부의 각도를 변경함에 따라서 최저값을 가지는 각도(MIN)가 최적 틸트각으로 결정될 수 있다.
반면에, RF 신호의 크기는 광 픽업부의 각도를 변경함에 따라 최대값을 가지는 각도(MAX)가 최적 틸트값으로 결정된다.
도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 각각의 물리량이 최적화되는 최적 틸트각을 결정하기 위하여 반복 3점법이 사용되는 것은 전술된 바와 같다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.
따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
본 발명에 의하여, 거친 측정 및 미세 측정을 이용하여 광 기록 매체의 틸트 각을 정밀하게 측정 및 보상하기 위한 방법이 제공되었다.
또한, 본 발명에 의하여, 미세 측정을 거친 측정과 분리하여 광 디스크의 실행 모드별로 상이한 시점에서 수행함으로써, 광 기록 매체의 틸트 각을 신속하게 측정 및 보상하기 위한 방법이 제공되었다.
도 1은 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법이 적용되는 광 재생 및 기록 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 본 발명에 의한 틸트각 측정 및 보상 방법에서 측정되는 물리량의 최적값을 예시하는 도면이다.

Claims (8)

  1. 광 재생 및 기록 장치의 틸트각을 측정 및 보상하기 위한 방법에 있어서,
    a) 상기 광 기록 매체를 1회 회전 시켜 대략적인 틸트를 계산하는 거친 측정 단계;
    b) 거친 측정 단계 수행 후 수행하는 미세 측정 단계로서,
    상기 광 기록 매체에 레이저 빔을 조사하는 광 픽업의 각도를 변경하면서 상기 광 기록 매체에 의해 반사된 레이저 빔을 분석하여, 지터 값, RF 신호의 크기, 트래킹 에러 및 에러율 중 적어도 하나 이상의 물리량을 측정하여 측정된 물리량이 최적화되는 상기 광 픽업의 최적 틸트각을 결정하는 미세 측정 단계 및
    c) 미세 측정 단계에서 측정된 최적 틸트각을 이용하여 상기 광 기록 매체의 기울기를 기술하는 기울기 함수(slope describing function)를 결정하는 기울기 함수 결정 단계를 포함하는 미세 측정 단계를 포함하며, 상기 미세 측정 단계는,
    상기광 기록 매체의 동작 모드에 따라 상이한 시점에 수행되는 것을 특징으로 하는 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 미세 측정 단계는,
    상기 광 픽업의 각도를 일정한 간격(STEP)을 갖는 상이한 세 개의 각도로 설정하여 상기 물리량을 측정하는 물리량 측정 단계;
    상기 간격을 감소시켜가면서 상기 광 픽업의 각도를 조절하며 상기 물리량이 최적화되는 상기 광 픽업의 각도를 저장하는 최적화 각도 저장 단계 및
    상기 간격이 소정치 이상이면 상기 단계들을 반복하는 반복 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 미세 측정 단계는,
    상기 광 기록 매체가 삽입된 후 자동 실행(Auto Run)되는 동작 모드일 경우에는 리드 인(Lead in)이 종료된 후 수행되고,
    상기 광 기록 매체가 대기(Pause) 모드일 경우에는 대기 중 소정 시간 경과 후에 수행되는 것을 특징으로 하는 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광 픽업의 기울기를 조정하는 광 픽업 조절 단계로서,
    상기 광 기록 매체가 연속적으로 동작(Sequence Mode)하는 동작 모드일 경우, 상기 기울기 함수를 이용하여 상기 광 픽업의 각도를 연속적으로 조절하고,
    상기 광 기록 매체의 소정 부분을 탐색(Seek Mode)하는 동작 모드일 경우, 탐색 대상 부분에 해당하는 상기 광 픽업의 각도를 결정하여 결정된 각도로 상기 광 픽업을 조절하는 광 픽업 조절 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 기울기 함수 결정 단계는,
    선형 보간법(linear interpolation), 선형 회귀법(linear regression), 최소 자승(least mean square)법, 및 스플라인(spline) 함수 중 적어도 하나를 이용하여 상기 기울기 함수를 결정하는 것을 특징으로 하는 광 재생 및 기록 장치의 틸트각 측정 및 보상 방법.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
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