KR100470099B1 - Apparatus for inspecting defect of glass - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 유리에 형성된 결함을 검사하는 유리의 결함 검사장치에 관한 것으로서, 베이스부와; 상기 베이스부에 대해 기립배치되는 컬럼과; 상기 컬럼의 단부에 마련되는 장치본체와, 상기 장치본체의 상부에 부분적으로 노출되게 마련되어 검사대상의 유리를 척킹하는 척킹부와, 상기 척킹부의 하부에 마련되며 상기 유리에 형성된 유리결함을 나타내는 검사시트와, 상기 검사시트를 이동시켜 상기 유리의 판면에 접촉지지시키는 시트이동부와, 상기 검사시트의 하부에 마련되어 상호 접촉된 상기 검사시트 및 유리를 향해 발광하는 발광부재를 갖는 검사장치부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 유리 내부에 형성된 유리결함을 연마 공정 직후 검출할 수 있게 되어 불량제품으로 인한 비용의 증대를 차단하고, 품질 향상 및 공정 손실을 방지할 수 있게 된다.The present invention relates to a defect inspection apparatus for inspecting a defect formed in the glass, comprising: a base portion; A column standing up with respect to the base portion; An apparatus body provided at an end of the column, a chucking portion partially exposed to an upper portion of the apparatus body, and a chucking portion for chucking the glass to be inspected, and an inspection sheet provided under the chucking portion to indicate a glass defect formed in the glass. And an inspection apparatus part having a sheet moving part which moves the inspection sheet to be in contact with the plate surface of the glass, and a light emitting member which is provided below the inspection sheet and emits light toward the glass which is in contact with each other. It is done. As a result, the glass defects formed in the glass can be detected immediately after the polishing process, thereby preventing the increase of the cost due to the defective product, and improving the quality and preventing the process loss.
Description
본 발명은, 유리의 결함 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 유리의 성형과정 중에 형성된 결함을 검사하는 유리의 결함 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect inspection apparatus and method for glass, and more particularly, to a defect inspection apparatus and method for inspecting a defect formed during a molding process of glass.
각종 제조법으로 제조되는 투명 또는 반투명한 평판 모양이나 부드러운 곡률을 보유한 유리의 내부에 이질유리층과 같은 유리결함이 있는 경우에, 이 유리결함이 규정된 규격이나 시방서 등에 명시된 결함의 크기를 초과하게 되면 불량제품으로 판정되어 폐기되는 것이 일반적이다. 이러한 유리에는, TV(Television)의 브라운관이나 컴퓨터 모니터 등에 사용되는 음극선관 유리뿐만 아니라 넓게는 건물이나 자동차의 창유리 등도 포함하지만 이하에서는 설명의 편의를 위해 음극선관 유리에 한정하여 기술하기로 한다.If there is a glass defect such as a dissimilar glass layer inside a transparent or semi-transparent flat plate or soft curvature produced by various manufacturing methods, if the glass defect exceeds the size of the defect specified in the prescribed standard or specification, etc. It is generally judged to be a defective product and discarded. Such glass includes not only cathode ray tube glass used in TVs (Television), computer monitors, etc. but also window glass of buildings and automobiles, but will be described below with respect to cathode ray tube glass for convenience of description.
음극선관은 일반적으로 화상이 투사되는 패널과, 전자총을 구비하여 패널의 배후에 결합되는 깔때기 형상의 펀넬을 가진다. 이러한 패널의 성형은 유리용융로에서 가열용융되어 고브형태로 제공된 유리원료를 프레스성형장치로 가압함으로써 이루어진다.Cathode ray tubes generally have a panel on which an image is projected and a funnel-shaped funnel having an electron gun coupled to the back of the panel. The molding of such a panel is performed by pressing a glass raw material which is heated and melted in a glass melting furnace and provided in the form of a gob by a press molding apparatus.
이와 같이, 압축성형된 패널은 새도우마스크의 지지를 위한 스터드핀 융착장치에 의해 소정의 스터드핀이 융착된 다음, 서냉로를 거쳐 소정의 온도조건으로 서냉되고, 뒤 이어, 패널의 각 관리포인트별 치수를 측정하는 게이징공정으로 향하게된다. 게이지공정으로부터 페리페리 및 주위치수의 측정을 마친 패널은 1차 외관검사를 마친 후 소정의 이송수단에 의해 단부면 및 유효면을 연마하는 연마공정으로 향하여 연마공정을 마친 다음, 최종적으로 연마 검사과정을 통해 최종제품을 제조하는 업체에 제품으로 출시된다.In this way, the compression molded panel is a predetermined stud pin is fused by a stud pin fusion device for supporting the shadow mask, and then slowly cooled to a predetermined temperature condition through a slow cooling furnace, and then for each control point of the panel The dimension is directed to the gauging process. After measuring the Ferri Peri and the peripheral dimensions from the gauge process, the panel finishes the first external inspection and finishes the polishing process toward the polishing process for polishing the end and effective surfaces by a predetermined conveying means. It is released as a product to companies that manufacture the final product.
이러한 일련의 제조공정을 통하여 제조되는 제품 중에는 소정의 이유로 인하여 결함을 내부에 보유한 패널 즉, 불량 제품이 제조되기도 하는데, 그럼에도 불구하고 이러한 불량 제품을 발견하는 것이 용이하지 않은 문제점이 있다. 그 이유는, 연마 공정 이전의 경우 표면 자체의 굴곡이 심해 표면에서의 난반사와 복굴절이 발생하여 패널의 유리결함을 검출하는 것이 어렵기 때문이며, 연마공정 이후에는 평면연마가 되어있으므로 음극선관 내부에 있는 유리결함에 대한 육안검사가 가능하나 다른 한 쪽 면이 거친 사포(sanding)면이므로 이곳에서의 난반사로 인하여 굴절률 차이에 의한 유리결함을 좀처럼 발견해 내기 어렵기 때문이다. 그러므로 작업자의 육안에 의존하는 목시검사로는 정확한 유리결함을 판별해 내기가 매우 곤란하다는 문제점이 있다.Among products manufactured through such a series of manufacturing processes, a panel having defects therein, that is, a defective product, may be manufactured for some reason, but there is a problem in that it is not easy to find such a defective product. The reason is that before the polishing process, the curvature of the surface itself is so severe that diffuse reflection and birefringence on the surface make it difficult to detect the glass defect of the panel. Visual inspection of glass defects is possible, but since the other side is a rough sanding surface, it is difficult to find glass defects due to refractive index differences due to diffuse reflection here. Therefore, there is a problem that it is very difficult to determine the correct glass defect by visual inspection which depends on the naked eye of the worker.
또한, 종래에 있어서 이와 같이 작업자의 육안에 의존하여 목시검사하는 경우에는, 연마 공정 직후 정확한 검사가 수행되지 못하기 때문에 패널 내부에 형성된 유리결함을 발견하는 것이 곤란하여 유리결함을 가진 패널이 최종 제품을 생산하는 업체에 출하되므로, 출하 후 회수비용 지출 등과 같은 불량제품으로 인한 비용이 증대되고, 출하되는 제품의 품질이 통계적으로 저하되는 결과를 초래하며, 또 한편으로는 원인이 되는 공정에 피드백(FEED-BACK)이 늦어지게 되고 결과적으로 시정이 늦어짐으로써 많은 공정 손실을 초래한다는 문제점이 있다.In addition, in the case of visual inspection in accordance with the naked eye of the prior art, it is difficult to find the glass defects formed inside the panel because the accurate inspection is not performed immediately after the polishing process, the panel with glass defects is the final product As a result, the cost of defective products, such as post-shipment recovery expenses, is increased, and the quality of the shipped products is statistically degraded. There is a problem that the feed-back is delayed and consequently the correction is delayed, resulting in a large process loss.
따라서, 본 발명의 목적은, 종래의 이러한 문제점을 고려하여, 유리의 결함을 연마 공정 직후 검출할 수 있는 유리의 결함 검사장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a defect inspection apparatus and method for glass that can detect defects in glass immediately after the polishing step in view of such a conventional problem.
도 1은 본 발명에 따른 유리의 결함 검사장치의 사시도,1 is a perspective view of a defect inspection apparatus for glass according to the present invention;
도 2는 도 1의 하방사시도,Figure 2 is a downward perspective view of Figure 1,
도 3은 도 2에 따른 장치본체 내부에 마련되는 척킹부, 검사시트, 시트이동부, 발광부재의 결합사시도,3 is a combined perspective view of the chucking unit, the inspection sheet, the sheet moving unit, the light emitting member provided in the apparatus main body according to FIG.
도 4 내지 도 5는 도 3에 따른 작동상태도,4 to 5 is an operating state according to FIG.
도 6은 검사시트의 광투과대역 및 광차단대역을 도시한 도면,6 is a view illustrating a light transmission band and a light blocking band of an inspection sheet;
도 7은 본 발명에 따른 유리의 결함을 검출하는 원리를 도시하기 위한 도면이다.7 is a diagram for illustrating the principle of detecting a defect in glass according to the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
3 : 베이스부 5 : 컬럼3: base portion 5: column
7 : 검사장치부 9 : 지지플레이트7: Inspection unit 9: Support plate
10 : 장치본체 11 : 검사시트10: device body 11: inspection sheet
12 : 형광램프 20 : 실린더부12 fluorescent lamp 20 cylinder portion
30 : 고정블록 31 : 스토퍼30: fixed block 31: stopper
40 : 힌지부 43 : 링크바아40: hinge part 43: link bar
44 : 상부바아지지부 50 : 하부바아지지부44: upper bar support 50: lower bar support
상기 목적은, 본 발명에 따라, 유리에 형성된 결함을 검사하는 유리의 결함 검사장치에 있어서, 베이스부와; 상기 베이스부에 대해 기립배치되는 컬럼과; 상기 컬럼의 단부에 마련되는 장치본체와, 상기 장치본체의 상부에 부분적으로 노출되게 마련되어 검사대상의 유리를 척킹하는 척킹부와, 상기 척킹부의 하부에 마련되며 상기 유리에 형성된 유리결함을 나타내는 검사시트와, 상기 검사시트를 이동시켜 상기 유리의 판면에 접촉지지시키는 시트이동부와, 상기 검사시트의 하부에 마련되어 상호 접촉된 상기 검사시트 및 유리를 향해 발광하는 발광부재를 갖는 검사장치부를 포함하는 것을 특징으로 하는 유리의 결함 검사장치에 의해 달성된다.According to the present invention, there is provided a defect inspection apparatus for inspecting a defect formed in glass, comprising: a base portion; A column standing up with respect to the base portion; An apparatus body provided at an end of the column, a chucking portion partially exposed to an upper portion of the apparatus body, and a chucking portion for chucking the glass to be inspected, and an inspection sheet provided under the chucking portion to indicate a glass defect formed in the glass. And an inspection apparatus part having a sheet moving part which moves the inspection sheet to be in contact with the plate surface of the glass, and a light emitting member which is provided below the inspection sheet and emits light toward the glass which is in contact with each other. It is achieved by the defect inspection apparatus of glass.
또한, 상기 컬럼의 상단에 결합되어 상기 검사장치부를 지지하는 지지플레이트를 더 포함하며; 상기 검사장치부와 상기 지지플레이트 사이에 마련되어 상기 지지플레이트에 대해 상기 검사장치부를 소정의 각도로 위치 유지시키는 각도유지수단을 더 포함할 수 있다.The apparatus further includes a support plate coupled to an upper end of the column to support the inspection apparatus. It may further include an angle maintaining means provided between the inspection device unit and the support plate to maintain the inspection device unit at a predetermined angle with respect to the support plate.
여기서, 상기 각도유지수단은, 상기 검사장치부와 상기 지지플레이트의 접촉 연부면에 마련되어 상기 지지플레이트에 대해 상기 검사장치부를 회동시키는 힌지부와; 상기 검사장치부와 상기 지지플레이트 사이에 마련되는 적어도 한 쌍의 링크바아와; 상기 힌지부로부터 이격된 상기 검사장치부 및 상기 지지플레이트의 양측에 각각 마련되어 상기 링크바아의 양단을 회동가능하게 지지하는 한 쌍의 바아지지부로 구성될 수도 있다.Here, the angle holding means, a hinge portion provided on the contact edge surface of the inspection device portion and the support plate to rotate the inspection device portion with respect to the support plate; At least one pair of link bars provided between the inspection device unit and the support plate; It may be composed of a pair of bar support portions provided on both sides of the inspection device portion and the support plate spaced apart from the hinge portion to rotatably support both ends of the link bar.
그리고, 상기 한 쌍의 바아지지부 중 상기 지지플레이트에 마련된 바아지지부는, 상기 지지플레이트의 판면에 고정되는 수평플레이트와; 상기 수평플레이트의 양측에 상호 이격간격을 두고 수직되게 형성되며 판면을 관통한 장공의 내측 연부면에 소정의 요철면이 형성된 수직플레이트와; 상기 장공의 높이방향에 따른 직경에 비해 크게 형성되는 머리부와, 상기 머리부로부터 연장되고 상기 장공을 통과하여 단부가 상기 링크바아에 결합되며 선택적으로 상기 요철면의 골부에 배치되는 축부를 가지고 상기 검사장치부를 상기 지지플레이트의 판면에 대해 접근 및 이격시키는 링크지지핀을 포함할 수 있다.The bar support part provided on the support plate of the pair of bar support parts includes: a horizontal plate fixed to the plate surface of the support plate; A vertical plate formed vertically at intervals spaced apart from each other on both sides of the horizontal plate, and having a predetermined concave-convex surface formed on an inner edge surface of the long hole passing through the plate surface; The head portion is formed larger than the diameter along the height direction of the long hole, and the shaft portion extending from the head and passing through the long hole is coupled to the link bar and optionally disposed in the bone of the concave-convex surface It may include a link support pin for accessing and spaced apart from the inspection device unit plate surface of the support plate.
여기서, 상기 척킹부는, 상호 이격배치되며 대면하는 내측 연부면에 상기 유리의 양측 하단을 지지하는 지지턱이 형성된 한 쌍의 고정블럭과; 상하방향을 따라 상기 고정블럭의 하부에 배치된 실린더본체와, 상기 실린더본체의 단부로부터 길이 연장 및 축소되며 상기 고정블럭의 판면을 관통하여 배치되는 실린더로드를 갖는 복수의 실린더부와; 상기 실린더로드의 단부에 결합되어 상기 고정블럭의 지지턱에 상기 유리가 지지되었을 때, 상기 지지턱으로부터 상기 유리가 이탈되는 것을 저지하는 복수의 스토퍼를 포함하는 것이 바람직하다.Here, the chucking unit, a pair of fixed blocks formed with support jaws for supporting both lower ends of the glass on the inner edge surface facing each other spaced apart; A plurality of cylinders each having a cylinder body disposed below the fixed block along a vertical direction, and a cylinder rod extending and contracting from an end of the cylinder body and penetrating through a plate surface of the fixed block; It is preferable to include a plurality of stoppers coupled to an end of the cylinder rod to prevent the glass from being separated from the support jaw when the glass is supported by the support jaw of the fixed block.
그리고, 상기 복수의 스토퍼는 상기 척킹부에 척킹된 검사대상의 유리를 사이에 두고 적어도 삼각구도 배치될 수 있다.In addition, the plurality of stoppers may also be arranged at least a triangle sphere with the glass of the inspection object chucked to the chucking portion therebetween.
또한, 상기 각 스토퍼의 상하 이동공간을 사이에 두고 상기 각 스토퍼의 상부에 상기 각 스토퍼를 부분적으로 둘러싸도록 마련되는 스토퍼커버를 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable to further include a stopper cover provided to partially surround each stopper on the top of each stopper with the vertical movement space of each stopper interposed therebetween.
한편, 상기 시트이동부는, 상기 장치본체 내에 마련되고 상기 검사시트를 하부에서 지지하는 하부지지부와; 상기 하부지지부 및 상기 검사시트와 함께 내부에 밀폐공간이 형성되도록 상기 검사시트의 하부에 배치되어 상기 하부지지부와 함께 이동가능한 이동판과; 단부가 상기 이동판에 결합되어 상기 이동판을 상기 유리를 향해 접근 및 이격시키는 액츄에이터와; 상기 검사시트가 상기 유리의 판면에 밀착되도록 상기 밀폐공간으로 압축공기를 공급하는 압축공기공급부를 포함하는 것이 바람직하다.On the other hand, the sheet moving portion, the lower support portion is provided in the device body for supporting the inspection sheet from the bottom; A movable plate disposed below the test sheet and movable together with the lower support part such that a sealed space is formed together with the lower support part and the test sheet; An actuator having an end coupled to the moving plate to access and space the moving plate toward the glass; Preferably, the test sheet includes a compressed air supply unit for supplying compressed air to the closed space to be in close contact with the plate surface of the glass.
그리고, 상기 이동판은 광투과성재질로 이루어져 있는 것이 바람직하다.In addition, the moving plate is preferably made of a light transmissive material.
또한, 상기 발광부재는 상기 장치본체 내의 이동판 하부에 마련되는 형광램프, 할로겐램프, led 중 어느 하나일 수 있다.In addition, the light emitting member may be any one of a fluorescent lamp, a halogen lamp, and a led provided under the moving plate in the device body.
한편, 상기 컬럼은 상기 베이스부에 대해 승강가능한 것이 바람직하다.On the other hand, the column is preferably liftable relative to the base portion.
또한, 상기 베이스부, 상기 컬럼 및 상기 검사장치부는 상호 분리 가능하도록 마련될 수 있다.In addition, the base portion, the column and the inspection device may be provided to be separated from each other.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 유리의 결함 검사장치의 사시도이고, 도 2는 도 1의 하방사시도이며, 도 3은 도 2에 따른 장치본체(10) 내부에 마련되는 척킹부, 검사시트(11), 시트이동부, 발광부재의 결합사시도이고, 도 4 내지 도 5는 도 3에 따른 작동상태도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 유리의 결함 검사장치(1)는, 설치면에 놓이는 베이스부(3)와, 베이스부(3)에 대해 기립배치되는 컬럼(5)과, 컬럼(5)의 상부에 배치되어 검사대상인 패널(2)의 유리결함을 검사하는 검사장치부(7)와, 컬럼(5)과 검사장치부(7) 사이에 배치되어 검사장치부(7)를 지지하는 지지플레이트(9)를 포함한다.1 is a perspective view of a defect inspection apparatus of the glass according to the present invention, Figure 2 is a downward perspective view of Figure 1, Figure 3 is a chucking unit, the inspection sheet 11 provided in the device body 10 according to Figure 2 And a perspective view of the sheet moving part and the light emitting member. FIG. 4 to FIG. 5 are operation state diagrams according to FIG. 3. As shown in these figures, the defect inspection apparatus 1 for glass according to the present invention includes a base portion 3 placed on an installation surface, a column 5 standing up with respect to the base portion 3, and a column. An inspection apparatus portion 7 disposed on the upper portion of the inspection apparatus 5 for inspecting glass defects of the panel 2 to be inspected; and a support disposed between the column 5 and the inspection apparatus portion 7 to support the inspection apparatus portion 7. Plate 9.
베이스부(3)는, 원반형상으로 설치면에 배치되며, 중앙영역에는 컬럼(5)이 기립설치되어 있다. 여기서 베이스부(3)와 컬럼(5)이 상호 분리 가능하게 결합되어 있으나 일체로 마련할 수도 있음은 물론이다.The base part 3 is arrange | positioned at the installation surface in disk shape, and the column 5 is standing up in the center area | region. Here, the base 3 and the column 5 are coupled to each other to be separated from each other, but of course, may be provided integrally.
컬럼(5)은, 소정의 높이를 갖는 기둥형상으로, 일측은 베이스부(3)에 결합되고 타 측은 지지플레이트(9)에 결합되며, 길이 조절이 가능하도록 베이스부(3)에 대해 승강가능하게 마련된다.Column 5 is a columnar shape having a predetermined height, one side is coupled to the base portion 3 and the other side is coupled to the support plate 9, can be elevated relative to the base portion 3 to enable the length adjustment To be prepared.
지지플레이트(9)는, 소정의 넓이를 갖는 사각형상으로 베이스부(3)에 결합된 컬럼(5)의 단부에 설치되어 검사장치부(7)를 지지하게 된다.The support plate 9 is installed at the end of the column 5 coupled to the base portion 3 in a quadrangular shape having a predetermined width to support the inspection device portion 7.
지지플레이트(9)와 검사장치부(7) 사이에는, 지지플레이트(9)에 대해 검사장치부(7)를 소정의 각도로 위치유지시키는 각도유지수단이 마련되어 있다.An angle holding means is provided between the support plate 9 and the inspection device portion 7 to hold the inspection device portion 7 at a predetermined angle with respect to the support plate 9.
각도유지수단은, 검사장치부(7)와 지지플레이트(9)의 접촉연부면에 마련된 힌지부(40)와, 검사장치부(7)와 지지플레이트(9) 사이에 배치되는 한 쌍의 링크바아(43)와, 힌지부(40)로부터 이격된 검사장치부(7) 및 지지플레이트(9)의 양측에 각각 마련되는 한 쌍의 바아지지부를 갖는다.The angle holding means includes a hinge portion 40 provided on the contact edge surface of the inspection device portion 7 and the support plate 9, and a pair of link bars disposed between the inspection device portion 7 and the support plate 9 ( 43 and a pair of bar support portions provided on both sides of the inspection device portion 7 and the support plate 9 spaced apart from the hinge portion 40, respectively.
힌지부(40)는, 검사장치부(7)의 가로방향을 따라 결합되는 회동축(41)과 지지플레이트(9)의판면위에 한 쌍으로 마련되어 회동축(41)의 양측을 각각 회전가능하게 수용하는 축지지부(42)를 갖는다. 이에 회동축(41)의 양측이 각각 축지지부(42) 내에 수용되어 회전하게 됨으로써, 회동축(41)과 결합된 검사장치부(7)가 지지플레이트(9)에 대해 검사장치부(7)를 회동하게 된다.The hinge portion 40 is provided in pairs on the plate surface of the pivot shaft 41 and the support plate 9 which are coupled along the transverse direction of the inspection device portion 7 so as to rotatably receive both sides of the pivot shaft 41, respectively. It has a shaft support 42. Accordingly, both sides of the rotation shaft 41 are accommodated in the shaft support portion 42 and rotated, so that the inspection device portion 7 coupled with the rotation shaft 41 rotates the inspection device portion 7 with respect to the support plate 9. Done.
한 쌍의 바아지지부는 검사장치부(7)의 배면에 설치되는 상부바아지지부(44)와, 지지플레이트(9) 상부면에 설치되는 하부바아지지부(50)로 구성된다.The pair of bar support portions are composed of an upper bar support portion 44 provided on the rear surface of the inspection device portion 7 and a lower bar support portion 50 provided on the upper surface of the support plate 9.
지지플레이트(9) 상부면에 설치된 하부바아지지부(50)는, 지지플레이트(9) 판면에 고정되는 수평플레이트(51)와, 수평플레이트(51)의 양측에 상호 이격간격을 두고 수직되게 형성된 수직플레이트(52)와, 수직플레이트(52)와 링크바아(43)를 연결지지하는 링크지지핀(54)을 포함한다.The lower bar support part 50 provided on the upper surface of the support plate 9 is a vertical plate formed vertically at a spaced interval from both sides of the horizontal plate 51 fixed to the plate surface of the support plate 9 and the horizontal plate 51. The plate 52 includes a link support pin 54 for supporting the vertical plate 52 and the link bar 43.
수직플레이트(52)는, 한 쌍으로 마련되어 수평플레이트(51)를 사이에 두고 나란히 배치되며, 일측에는 판면을 관통하여 링크지지핀(54)이 통과하게 되는 장공이 형성되어 있고 장공과 인접한 연부에는 골부를 갖는 요철면(53)이 형성되어 있다.The vertical plate 52 is provided in pairs and arranged side by side with the horizontal plate 51 interposed therebetween, and on one side there is a long hole through which the link support pin 54 passes, and the edge adjacent to the long hole is formed at the edge thereof. The uneven surface 53 which has a valley part is formed.
링크지지핀(54)은, 수직플레이트(52)의 장공을 통과하여 링크바아(43)에 결합되며, 장공의 높이방향에 따른 직경에 비해 크게 형성되는 머리부와, 머리부로부터 연장되고 장공을 통과하여 일측단부가 링크바아(43)에 결합되며 선택적으로 요철면(53)의 골부에 배치되는 축부를 가지고 검사장치부(7)를 지지플레이트(9)의 판면에 대해 접근 및 이격시시키게 된다.The link support pin 54 is coupled to the link bar 43 by passing through the long hole of the vertical plate 52, and extends from the head and extends from the head to form a larger diameter than the diameter along the height direction of the long hole. Passing through one side end is coupled to the link bar 43, and has an axis portion that is selectively disposed in the bone of the concave-convex surface 53 to approach and space the inspection device 7 with respect to the plate surface of the support plate (9).
검사장치부(7)의 배면에 설치되는 상부바아지지부(44)는, 한 쌍의 수직플레이트(52)와 각각 대응되는 위치에 배치되며, 링크지지핀(54)에 의해 일측단부가 수직플레이트(52)에 결합된 링크바아(43)의 타측단부를 결합지지하게 된다.The upper bar support portion 44 provided on the rear surface of the inspection device portion 7 is disposed at a position corresponding to each of the pair of vertical plates 52, and one side end thereof is connected to the vertical plate 52 by the link support pin 54. The other end of the link bar 43 coupled to the support is coupled.
검사장치부(7)는, 지지플레이트(9)와 각도유지수단을 사이에 두고 배치되며, 장치본체(10)와, 장치본체(10)의 상부에 부분적으로 노출되게 마련되어 검사대상인 패널(2)을 척킹하는 척킹부를 갖는다.The inspection device portion 7 is disposed with the support plate 9 and the angle holding means interposed therebetween, so as to partially expose the device body 10 and the upper portion of the device body 10 to inspect the panel 2 to be inspected. It has a chucking part to chuck.
척킹부는, 검사대상인 패널(2)의 양측을 지지하는 한 쌍의 고정블록(30)과, 각 고정블록(30)에 설치되는 복수의 실린더부(20)와, 후술할 실린더로드(22)의 단부에 결합되는 복수의 스토퍼(31)를 포함한다.The chucking part includes a pair of fixed blocks 30 supporting both sides of the panel 2 to be inspected, a plurality of cylinders 20 provided in each fixed block 30, and a cylinder rod 22 to be described later. It includes a plurality of stoppers 31 coupled to the end.
고정블럭은, 한 쌍으로 검사대상인 패널(2)을 중심으로 상호 이격배치되고, 각 내측 연부면에는 검사대상인 패널(2)의 양측 하단을 지지하는 지지턱(33)이 형성되어 있으며, 실린더본체(21)와 동일축선상에 판면을 관통하는 관통공(34)이 형성되어 있다.The fixed blocks are spaced apart from each other around the panel 2 to be inspected in pairs, and each of the inner edges has support jaws 33 for supporting lower ends of both sides of the panel 2 to be inspected. A through hole 34 penetrating the plate surface is formed on the same axis as 21.
실린더부(20)는, 각 고정블록(30)에 한 쌍씩 마련되며, 상하방향을 따라 고정블럭의 하부면에 설치된 실린더본체(21)와, 고정블록(30)의 관통공(34)을 통과한 상태에서 실린더본체(21)에 설치되어 실린더본체(21)의 단부로부터 길이 연장 및 축소가능한 실린더로드(22)를 갖는다.The cylinder part 20 is provided in pairs in each fixed block 30, and passes through the cylinder body 21 and the through-hole 34 of the fixed block 30 provided on the lower surface of the fixed block in the vertical direction. It is provided in the cylinder body 21 in one state and has the cylinder rod 22 which can extend and contract from the end part of the cylinder body 21.
스토퍼(31)는, 각 실린더로드(22)에는 단부에 결합되어 고정블럭(30)의 지지턱(33)에 검사대상인 패널(2)이 지지되었을 때, 지지턱(33)으로부터 검사대상인 패널(2)이 이탈되는 것을 저지하며, 스토퍼(31)의 상부에는 스토퍼커버(32)가 마련되어 있다.The stopper 31 is coupled to an end portion of each cylinder rod 22, and when the panel 2 to be inspected is supported by the support jaw 33 of the fixed block 30, the stopper 31 is inspected from the support jaw 33. 2) is prevented from coming off, and the stopper cover 32 is provided on the top of the stopper 31.
스토퍼커버(32)는, 고정블록(30)의 상부면에 마련되며 각 스토퍼(31)를 부분적으로 둘러싸도록 고정블록(30)의 상부면으로부터 스토퍼(31)의 상하 이동공간을 두고 각 스토퍼(31)의 상부에 배치된다.The stopper cover 32 is provided on the upper surface of the fixing block 30 and each stopper (upper and lower moving space of the stopper 31 from the upper surface of the fixing block 30 so as to partially surround each stopper 31). 31) is arranged on top.
장치본체(10) 내부에는, 척킹부에 의해 척킹된 검사대상인 패널(2)의 유리결함을 나타내는 검사시트(11)와, 검사시트(11)를 이동시켜 검사대상인 패널(2)의 배면에 접촉지지시키는 시트이동부와, 검사시트(11)의 하부에 마련되는 발광부재를 갖는다.Inside the apparatus body 10, the inspection sheet 11 indicating the glass defect of the panel 2 to be inspected chucked by the chucking unit and the inspection sheet 11 are moved to contact the back surface of the panel 2 to be inspected. It has a sheet moving part to support and the light emitting member provided in the lower part of the test | inspection sheet 11.
검사시트(11)는, 도 6에서와 같이, 광투과대역 및 광차단대역이 교호적으로 배치되어 형성된 필름으로, 광투과대역(D)의 폭이 대략 30 내지 70㎛ 이고 광차단대역(C)의 폭이 대략 80㎛ 내지 150㎛인 것으로 구성되어 있다.The inspection sheet 11 is a film formed by alternately arranging the light transmission band and the light blocking band, as shown in FIG. 6. The width of the light transmission band D is approximately 30 to 70 μm, and the light blocking band C is shown. ) Width is approximately 80 µm to 150 µm.
시트이동부는, 장치본체(10) 내부에서 둘레방향을 따라 검사시트(11)의 둘레연부를 지지하는 하부지지부(14)와, 하부지지부(14)의 하부에 배치되어 하부지지부(14)와 함께 이동가능한 이동판(15)과, 하부지지부(14)의 하부에 배치된 이동판(15)을 검사대상인 패널(2)의 배면을 향해 접근 및 이격시키는 액츄에이터(16)와, 하부지지부(14)의 상부에 지지된 검사시트(11)가 검사대상인 패널(2)의 배면에 밀착되도록 압축공기를 공급하는 압축공기공급부(17)를 갖는다.The sheet moving part includes a lower support part 14 supporting the circumferential edge of the inspection sheet 11 in the circumferential direction in the apparatus main body 10 and a lower support part 14 disposed below the lower support part 14. The movable moving plate 15, the actuator 16 for approaching and separating the moving plate 15 disposed below the lower support 14 toward the rear surface of the panel 2 to be inspected, and the lower support 14. The inspection sheet 11 supported on the upper portion of the inspection sheet 11 has a compressed air supply unit 17 for supplying compressed air to be in close contact with the rear surface of the panel 2 to be inspected.
하부지지부(14)는, 검사시트(11)의 형상에 대응하여 거의 사각형상을 가지며, 상하 개구가 형성되어 있어, 상부에는 검사시트(11)가 설치되고 하부에는 이동판(15)이 배치된다.The lower support portion 14 has a substantially rectangular shape corresponding to the shape of the inspection sheet 11, and has an upper and lower opening formed therein, and an inspection sheet 11 is provided at an upper portion and a moving plate 15 is disposed at a lower portion thereof. .
이동판(15)은, 아크릴 같이 빛이 통과할 수 있는 광투과성재질로서, 하부지지부(14)의 상부에 배치된 검사시트(11)와 평행하게 배치되어 하부지지부(14) 및 검사시트(11)와 함께 밀폐공간(G)이 형성되도록 하부지지부(14)의 하부에 결합된다. 한편, 이동판(15)은 투명할 수도 있고 색상을 가질 수도 있다.The movable plate 15 is a light transmissive material through which light may pass, such as acrylic, and is disposed in parallel with the inspection sheet 11 disposed on the upper portion of the lower support portion 14, and thus the lower support portion 14 and the inspection sheet 11. ) Is coupled to the lower portion of the lower support 14 to form a closed space (G). Meanwhile, the moving plate 15 may be transparent or may have a color.
여기서 이동판(15)은 후술할 형광램프(12)로부터 조사되는 빛을 확산시켜 검사시트(11)가 배면에 밀착된 패널(2)로 빛이 고르게 분포되도록 하는 역할을 한다.Here, the movable plate 15 serves to diffuse the light emitted from the fluorescent lamp 12 to be described later to distribute the light evenly to the panel 2 in which the test sheet 11 is in close contact with the back surface.
그리고, 이렇게 상부에 검사시트(11)가 배치되고 하부에 이동판(15)이 배치된 하부지지부(14)의 하부에는 하부지지부(14)가 안착되는 안착반(18)이 마련되어 있다.In addition, the seating plate 18 on which the lower support part 14 is seated is provided at the lower part of the lower support part 14 on which the test sheet 11 is disposed on the upper part and the moving plate 15 is disposed on the lower part.
액츄에이터(16)는, 안착반(18)의 하부 양측 연부영역에 설치되며 도시하지 않은 공압라인에 연결되어 하부지지부(14)가 안착된 안착반(18)을 검사대상인 패널(2)을 향해 접근 및 이격시키게 된다.The actuator 16 is connected to a pneumatic line (not shown) at both lower edge portions of the seating panel 18 and approaches the seating panel 18 on which the lower support 14 is seated toward the panel 2 to be inspected. And spaced apart.
압축공기공급부(17)는, 미도시 압축공기발생부와 연결되어 액츄에이터(16)에 의해 안착반(18)의 하부지지부(14)가 상향이동된 상태에서 검사시트(11)가 검사대상인 패널(2)의 배면에 밀착되도록 검사시트(11)와 하부지지부(14)와 이동판(15)에 의해 형성되는 밀폐공간(G)으로 압축공기발생부(미도시)로부터의 압축공기를 공급하게 된다.The compressed air supply unit 17 is connected to the compressed air generating unit (not shown) and the panel on which the test sheet 11 is inspected in the state in which the lower support portion 14 of the seating plate 18 is moved upward by the actuator 16 ( Compressed air from the compressed air generating unit (not shown) is supplied to the sealed space G formed by the test sheet 11, the lower support part 14, and the movable plate 15 so as to be in close contact with the back surface of 2). .
발광부재는, 형광램프(12)로서, 이동판(15) 하부에 배치된 형광램프수용부(13)에 수용되어 검사시트(11)가 밀착된 패널(2)의 배면을 향해 빛을 조사한다. 즉, 형광램프(12)로부터의 빛은 순차적으로 광투과성재질의이동판(15)과 검사시트(11)와 패널(2)을 통과하게 된다. 한편, 본 실시예에서는 발광부재로 형광램프(12)를 사용하였으나, 발광부재로 할로겐램프, LED를 사용할 수도 있음은 물론이다.The light emitting member, as the fluorescent lamp 12, is accommodated in the fluorescent lamp receiving portion 13 disposed below the moving plate 15 and irradiates light toward the rear surface of the panel 2 in which the test sheet 11 is in close contact. . That is, the light from the fluorescent lamp 12 sequentially passes through the light transmissive transfer plate 15, the inspection sheet 11, and the panel 2. Meanwhile, although the fluorescent lamp 12 is used as the light emitting member in this embodiment, a halogen lamp and an LED may be used as the light emitting member.
이러한 구성에 의해, 유리의 결함 검사방법을 설명하면 다음과 같다.According to such a structure, the defect inspection method of glass is demonstrated as follows.
전술한 바와 같이, 패널(2)의 성형은 유리용융로에서 가열용융되어 고브형태로 제공된 유리원료를 프레스성형장치로 가압함으로써 이루어지며, 압축성형된 패널(2)은 새도우마스크의 지지를 위한 스터드핀 융착장치에 의해 소정의 스터드핀이 융착된 다음, 서냉로를 거쳐 소정의 온도조건으로 서냉되고, 뒤 이어, 패널(2)의 각 관리포인트별 치수를 측정하는 게이징공정으로 향한 후, 1차 목시에 의한 외관검사를 마친 후, 소정의 이송수단에 의해 단부면 및 유효면을 연마하는 연마공정으로 향하여 연마작업이 수행된다.As described above, the molding of the panel 2 is performed by pressing a glass raw material which is heated and melted in a glass melting furnace and provided in the form of a gob by a press molding apparatus, and the compression molded panel 2 has a stud pin for supporting the shadow mask. After the predetermined stud pins are fused by the fusion device, they are slowly cooled to a predetermined temperature condition through a slow cooling furnace, and then directed to a gauging process for measuring the dimensions for each control point of the panel 2, and then the first step. After the visual inspection by visual inspection, the polishing operation is performed toward the polishing process for polishing the end face and the effective face by a predetermined conveying means.
이 때, 본 발명에 따른 코드검사장치로, 패널(2)이 연마 공정을 마친 후의 모든 제품을 추출하여 검사하는 전수검사를 수행하게 된다.At this time, with the cord inspection apparatus according to the present invention, the panel 2 performs a full inspection to extract and inspect all products after the polishing process.
본 발명에 따른 검사방법은 모아레(Moire) 현상에 기초한 것으로서, 등방성과 규칙성을 갖는 검사시트(11)를 빛이 통과하면 규칙성을 갖는 격자 무늬가 생성되는데, 검사시트(11)를 통과한 빛이 패널(2)의 유리결함(6)에 굴절되어 격자 무늬와 간섭현상을 일으킴으로써 육안으로는 격자 무늬가 왜곡되어 나타나는 물결 무늬가 생성되며 이를 인식함으로써 미세 불량이나 미세 단차 등을 검출할 수 있는 원리를 이용한 것이다.The inspection method according to the present invention is based on the moire (Moire) phenomenon, when the light passes through the test sheet 11 having isotropy and regularity, a lattice pattern having regularity is generated, which passes through the test sheet 11 The light is refracted by the glass defect 6 of the panel 2, causing interference with the lattice pattern, thereby generating a wavy pattern in which the lattice pattern is distorted by the naked eye. By detecting the defect, fine defects or fine steps can be detected. It is based on the principles that exist.
검사를 수행하는 방법은 먼저, 상부에 검사시트(11)가 배치되고 하부에 이동판(15)이 배치되어 내부에 밀폐공간(G)이 형성된 하부지지부(14)가 안착반(18) 위에 안착되어 장치내부에 배치된 상태에서, 검사대상인 패널(2)을 고정블럭(30)의 지지턱(33) 위에 안착시키면 실린더 본체의 실린더 로드가 하향 이동됨에 따라 실린더 로드의 단부에 설치된 스토퍼(31)가 패널(2)의 상부를 지지하게 된다.In the method of performing the inspection, first, the inspection sheet 11 is disposed on the upper portion and the moving plate 15 is disposed on the lower portion of the lower support part 14 having a closed space G formed therein. When the panel 2 to be inspected is seated on the support jaw 33 of the fixed block 30 in the state of being disposed inside the apparatus, the stopper 31 installed at the end of the cylinder rod as the cylinder rod of the cylinder body moves downward. Will support the top of the panel (2).
이렇게 검사대상인 패널(2)이 지지된 상태에서 압축공기공급부(17)로부터 압축공기가 밀폐공간(G)으로 주입되기 때문에 둘레연부가 하부지지부(14)에 고정설치된 검사시트(11)는 중앙부분이 상승하여 검사시트(11)가 불룩하게 되고 이때, 액츄에이터(16)에 의해 안착반(18)이 상승하게 됨에 따라 안착반(18) 위의 하부지지부(14)의 검사시트(11)가 패널(2)의 배면을 향해 이동하게 된다.Since the compressed air is injected from the compressed air supply unit 17 into the closed space G while the panel 2 to be inspected is supported as described above, the inspection sheet 11 having the circumferential edge fixed to the lower support 14 is the center portion. This rises and the test sheet 11 is bulged. At this time, as the seating plate 18 is raised by the actuator 16, the test sheet 11 of the lower support portion 14 on the seating plate 18 is paneled. It moves toward the back of (2).
이에 하부지지부(14)의 검사시트(11)가 패널(2)의 후면에 말착되게 되면, 이러한 상태에서 형광램프(12)가 점등되어 형광램프(12)의 빛이 조사되며, 형광램프(12)로부터 조사된 소정의 빛은 형광램프(12) 위에 배치된 이동판(15), 그리고 소정폭의 광차단대역 및 광투과대역이 교호적으로 배치형성된 검사시트(11)를 통과하게 된다. 또한, 검사시트(11)를 투과한 빛은 패널(2)의 배면인 검출 영역으로 검사시트(11)에 의하여 형성되는 격자 무늬를 전부 조사시키기 위해 조사 영역이 조정된다.When the inspection sheet 11 of the lower support portion 14 is attached to the rear of the panel 2, the fluorescent lamp 12 is turned on in this state, the light of the fluorescent lamp 12 is irradiated, the fluorescent lamp 12 The predetermined light irradiated from the light passes through the moving plate 15 disposed on the fluorescent lamp 12 and the inspection sheet 11 in which the light blocking band and the light transmitting band of a predetermined width are alternately arranged. In addition, the irradiation area is adjusted so that the light transmitted through the inspection sheet 11 is irradiated with the grid pattern formed by the inspection sheet 11 to the detection region that is the rear surface of the panel 2.
이렇게 검사시트(11)를 투과한 빛은 패널(2)의 배면으로 향하게 되고 패널(2)의 배면인 검출영역에 등방성과 규칙성을 갖는 격자무늬를 형성하게 된다. 이렇게 형성된 격자 무늬는 패널(2)의 내부에 유리결함(6)이 있는 경우에는 도 7에 도시된 바와 같이 유리결함(6)과 간섭현상을 일으켜 물결무늬(Moire Fringe)를 생성시키게 된다. 즉, 패널(2)에 형성된 결함을 통과한 빛에 의해 생성되는 선(Line)은 결함이 없는 패널(2) 내부를 통과하여 생성되는 다른 선(Line)에 비해 꺾여서 이웃한 선(Line)과의 부분적인 간격 및 폭 차이를 보이게 된다(A 및 A' 또는 B영역). 이러한 부분적인 간격 및 폭 차이가 발견되면 패널(2)의 내부에 결함이 있음을 알 수 있게 된다. A 및 A'영역의 경우에는 유리결함 중 이질유리층이 있는 경우에 해당하고 'B' 영역의 경우에는 유리결함 중 석물 또는 기포에 해당한다.The light transmitted through the inspection sheet 11 is directed to the rear surface of the panel 2 and forms a lattice pattern having isotropy and regularity in the detection area that is the rear surface of the panel 2. When the grid pattern formed as described above has a glass defect 6 inside the panel 2, as shown in FIG. 7, the grid pattern causes interference with the glass defect 6 to generate a moire fringe. That is, the line generated by the light passing through the defect formed in the panel 2 is compared with the other line generated by passing through the inside of the panel 2 without defect and is adjacent to the line. Partial spacing and width difference are shown in (A and A 'or B area). If this partial gap and width difference is found, it can be seen that there is a defect inside the panel 2. Areas A and A 'correspond to the presence of heterogeneous glass layers in glass defects, and area' B 'corresponds to stones or bubbles in glass defects.
이상과 같이, 패널(2)을 향해 빛을 조사하는 형광램프(12)와 패널(2)의 배면에 밀착되어 형광램프(12)로부터 조사된 빛에 의해 검출영역에 격자무늬를 형성하는 검사시트(11)를 포함하여 구성되는 유리의 결함 검사장치(1)에 의하여, 연마 공정 직후, 그리고 출하 전 단계에서 패널(2)에 형성 가능한 유리결함(6)을 검출할 수 있게 된다. 이에 따라, 불량 제품에 의한 비용의 증대를 차단하고, 품질의 향상 및 피드백에 의해 유리결함(6)의 발생 원인공정을 신속하게 식별하여 이를 시정할 수 있게 된다.As described above, the inspection sheet which is in close contact with the back surface of the fluorescent lamp 12 and the panel 2 irradiating light toward the panel 2 and forms a grid pattern in the detection area by the light irradiated from the fluorescent lamp 12 By the defect inspection apparatus 1 of the glass comprised including (11), the glass defect 6 which can be formed in the panel 2 immediately after a grinding | polishing process and in a pre-shipment step can be detected. Accordingly, it is possible to block the increase of the cost due to the defective product and to quickly identify and correct the process causing the glass defect 6 by the improvement of the quality and the feedback.
한편, 전술한 실시 예에서는, 음극선관용 패널(2)에 형성된 물결무늬를 조사하여 음극선관용 패널(2)의 유리결함(6)을 검출하는 것에 대하여 상술하였으나, 본 발명에 따른 유리의 결함 검사장치(1)는, 음극선관용 패널(2)뿐만 아니라 다양한 종류의 유리를 대상으로 하여 유리결함을 검출하는데 사용될 수 있음은 물론이다.Meanwhile, in the above-described embodiment, the glass defect 6 of the cathode ray tube panel 2 is detected by irradiating a wave pattern formed on the cathode ray tube panel 2, but the defect inspection apparatus for glass according to the present invention has been described. (1) can be used to detect glass defects not only for the cathode ray tube panel 2 but also for various kinds of glass.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 패널의 유리결함을 연마공정 직후 검출할 수 있도록 한 유리의 결함 검사장치 및 그 방법이 제공된다.As described above, according to the present invention, there is provided an apparatus for inspecting defects of glass and a method for detecting glass defects immediately after a polishing process.
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