KR100464763B1 - 광학픽업및그광편향커버 - Google Patents

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Abstract

광학픽업장치의 광편향커버는 광원으로부터 출사되는 광빔 또는 외부로부터의 귀환광의 광로중에 설치되고, 상기 광로를 절곡하기 위하여 광빔을 편향하는 반사부를 구비한다. 광편향부품인 커버는 이 광편향부품이 구비되는 광학기기의 동작특성에 기여하지 않는 불요광을 제거하기 위한 광흡수부를 구비하고 있다. 광학픽업은 수발광소자와, 상기 수발광소자로부터 출사된 레이저광을 광디스크의 신호기록면상에 합초(合焦)시켜 조사(照射)하는 동시에, 상기 광디스크의 신호기록면으로부터의 귀환광을 상기 수발광소자에 도입하는 광학계와, 상기 광학계의 광로중에 설치되어 광로를 절곡하기 위하여, 광빔을 편향하는 반사부를 가지는 광편향부품을 구비하고, 상기 광편향부품은 이 광편향부품이 구비되는 광학픽업의 동작특성에 기여하지 않는 불요광을 제거하기 위한 광흡수부를 구비하고 있다.

Description

광학 픽업 및 그 광편향 커버 {OPTICAL PICK-UP AND LIGHT DEFLECTING COVER THEREFOR}
본 발명은, 예를 들면 미니디스크(MD) · 콤팩트디스크(CD)나 이들의 매체를 이용한 콤퓨터의 기록재생장치 등의 기록 · 재생 광디스크장치를 위한 광학픽업에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 광빔을 발광 및 검출하고, 발광수단으로부터의 광빔의 비점격차 보정용의 커버를 가지는 광학픽업장치에 관한 것이다. 또한, 특히 광흡수부 및 광반사부를 포함하는 커버부재가 여러가지의 구조로 형성된 타입의 광학픽업장치에 관한 것이다.
종래, 콤팩트디스크용의 광학픽업은, 예를 들면 제1도에 나타낸 바와 같이 구성되어 있다. 제1도에 있어서, 광학픽업(21)은 대물렌즈(22)를 구비한 홀더(23)와, 베이스부(24)와, 베이스부(24)상에 설치된 복합형 수발광디바이스로서의 수발광소자(25) 및 광학계(26)를 구비하고 있다.
광학픽업(21)은 홀더(23)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동됨으로써, 수발광소자(25)로부터 출사된 레이저광 L1을 광학계(26) 및 대물렌즈(22)를 통하여, 화살표 a로 나타낸 바와 같이 홀더(23)의 위쪽에서 회전구동 되는 광디스크(27)의 신호기록면(27a)상의 어느 한 점에 수속합초(收束合焦)시키고, 광디스크(27)의 신호기록면(27a)으로부터 반사된 레이저광(귀환광)을 대물렌즈(22) 및 광학계(26)를 통하여 수발광소자(25)내에 재입사시킨다.
여기서, 광학계(26)는 수발광소자(25)로부터 출사된 레이저광 L1을 대물렌즈(22)에 도입하고, 또 광디스크(27)로부터의 귀환광 L1을 대물렌즈(22)로부터 수발광소자(25)에 도입하는 것으로, 직립반사미러(26a)를 가지고 있다.
또, 대물렌즈(22)를 2축 방향으로 구동하기 위한 도시하지 않은 2축 액튜에이터에 의하여, 대물렌즈(22)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동조정됨으로써, 수발광소자(25)로부터 출사된 레이저광은 직립미러(26a), 대물렌즈(22)를 통하여, 광디스크(27)의 신호기록면(27a)에 수속합초하도록 되어 있다. 광디스크(27)의 신호기록면(27a)에서 반사된 레이저광(귀환광)은 대물렌즈(22) 및 직립미러(26a)를 통하여, 수발광소자(25)에 입사된다.
상기 수발광소자(25)는 제2도에 나타낸 바와 같이, 제1의 반도체기판(25a)상에 광출력용의 제2의 반도체기판(25b)이 탑재되고, 이 제2의 반도체 기판(25b)상에 레이저광 L1을 발광하는 발광소자로서의 반도체레이저(25c)가 탑재되어 있다. 반도체레이저(25c)의 앞쪽의 제1의 반도체기판(25a)상에는, 사다리꼴 형상의 마이크로프리즘(25d)이 그 반투과면으로서의 경사면(25h)을 반도체레이저(25c)측으로 하여, 설치되어 있다.
또한, 수발광소자(25)는 그 전체가 커버(28)에 의하여 덮여져 있는 동시에, 이 커버(28)의 내면(28f)에, 직립미러(26a)에 향하여 45도 경사진 반사면(28a)을 구비하고 있다.
이로써, 반도체레이저(25c)로부터 제2의 반도체기판(25b)의 표면에 따라서 출사한 광빔은 마이크로프리즘(25d)의 경사면(25h)에서 반사되어, 위쪽으로 향하여 진행하고, 커버(28)의 내면(28f)의 반사면(28a)에 의하여 반사되어, 직립미러(26a)에 향하여 진행하게 된다. 그리고, 직립미러(26a)에 의하여 반사된 광빔은 대물렌즈(22)를 통하여, 광디스크(27)의 신호기록면(27a)에 수속된다. 광디스크(27)의 신호기록면으로부터의 귀환광은 다시 대물렌즈(22), 직립미러(26a)를 통하여, 또한 커버(28)의 반사면(28a)을 통하여, 마이크로프리즘(25d)의 경사면(25h)으로부터, 마이크로프리즘(25d)내에 입사하여, 마이크로프리즘(25d)의 저면에 도달한다. 이 마이크로프리즘(25d)의 저면에 도달한 귀환광은 일부가 이 저면을 투과하는 동시에, 일부가 이 저면에서 반사되어, 마이크로프리즘(25d)의 상면으로 향하여 진행한다.
여기서, 제2도에 나타낸 바와 같이, 마이크로프리즘(25d)의 귀환광 입사 위치의 하부의 제1의 반도체기판(25a)상에는, 제1의 광검출기(25e)가 형성되어 있다. 또, 상기 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(25d)의 상면에서 내부로 반사되고, 다시 마이크로프리즘(25d)의 저면에 입사된다. 그리고, 마이크로프리즘(25d)의 상면에서 반사된 귀환광이 입사되는 마이크로프리즘(25d)의 저면부분의 하부의 제1의 반도체기판(25a)에는, 제2의 광검출기(25f)가 형성되어 있다.
상기 제1의 광검출기(25e), 제2의 광검출기(25f)는 각각 복수의 센서블록으로 분할되어 있으며, 각 센서블록의 검출신호가 각각 독립하여 출력되도록 되어 있다. 또한, 제2의 반도체기판(25b)상에는, 반도체레이저(25c)의 출사측과는 반대측에, 제3의 광검출기(25g)가 구비되어 있다. 이 제3의 광검출기(25g)는 반도체레이저(25c)의 발광강도를 모니터하기 위한 것이다. 또, 수발광소자(25)는, 예를 들면 제3도에 나타낸 바와 같이, 발광소자 및 수광소자를 일체의 광학블록으로서, 패키지(25i)에 밀봉됨으로써, 일체화되어 있다.
이와 같이 구성된 광학픽업(21)에 의하면, 수발광소자(25)의 반도체레이저(25c)로부터 출사된 레이저광은 마이크로프리즘(25d)의 경사면(25h)에 입사하고, 이 경사면에서 반사된다. 마이크로프리즘(25d)의 경사면(25h)에서 반사된 레이저광은 직립미러(26a) 및 대물렌즈(22)를 통하여, 광디스크(27)의 신호기록면(27a)의 원하는 트랙위치의 어느 한 점에 집속된다. 광디스크(27)로부터의 귀환광은 다시 대물렌즈(22), 직립미러(26a)를 통하여, 수발광소자(25)의 마이크로프리즘(25d)의 경사면(25h)에 입사하고, 이 경사면을 투과함으로써, 마이크로프리즘(25d)내로 진행한다.
마이크로프리즘(25d)내에 입사한 귀환광은 이 마이크로프리즘(25d)의 저면에 도달한다. 이 저면에 입사한 귀환광은 일부가 투과하는 동시에, 일부가 마이크로프리즘(25d)의 상면방향으로 반사된다. 저면을 통과한 귀환광은 제1의 광검출기(25e)에 입사되고, 한편 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(25d)의 상면에서 반사되어, 마이크로프리즘(25d)의 저면을 통과하여, 제2의 광검출기(25f)에 입사한다.
이와 같이, 귀환광이 제1의 광검출기(25e) 및 제2의 광검출기(25f)에 입사하므로, 광검출기(25e) 및 (25f)의 각 센서블록으로부터의 검출신호에 따라서, 재생신호나, 예를 들면 이른바 "차동(差動) 3분할법"(D- 3DF법)에 의하여, 포커스신호가 검출되고, 또 제1의 광검출기(25e)의 각 센서부의 검출신호에 따라서, 이른바 푸시풀(push-pull)방식 등에 의하여 트래킹에러신호가 검출된다.
그러나, 전술한 실시예는 종래기술보다 개선된 것이나 제1도에 나타낸 콤팩트디스크용의 광학픽업(21)에 있어서는, 수발광소자(25)의 반도체레이저(25c)로부터 출사되는 광빔중, 광디스크(27)에 도달하여, 광디스크(27)의 신호재생에 기여하는 것은 일부이다. 즉, 반도체레이저(25c)로부터 마이크로프리즘(25d)과는 반대측의 면으로부터 출사하는 광빔은 일부가 제3의 광검출기(25g)에 입사하여, 그 발광강도의 모니터에 사용될 뿐이고, 다른 광빔은 제1도에 사선으로 나타낸 바와 같이, 불요광(不要光)으로서, 커버(28)내에 확산하게 된다. 따라서, 이들의 불요광의 확산에 의하여, 미광(迷光)이 생기고, 광학픽업(21)의 동작특성이 저하되게 되어, 광학픽업(21)에 의한 광디스크(27)의 재생동작의 안정성이 손상된다는 문제가 있었다.
또, 상기 광학픽업(21)은 수발광소자(25)가 제3도에 나타낸 바와 같이, 패키지화됨으로써, 내부의 광학부품이 외부로부터 차폐되어, 높은 신뢰성을 얻도록 하고 있으나, 광학픽업의 보다 소형화나 코스트다운에 장해로 되어 버린다. 그러므로, 제4도에 나타낸 바와 같이, 수발광소자가 일체화된, 이른바 집적일체형의 광학픽업도 고안되어 있다. 제4도에 있어서, 광학픽업(29)은 광학픽업(29)의 신호처리 등의 회로가 구성되는 기판(29a)상에, 수발광소자(25)가 직접 설치되어 있는 동시에, 대물렌즈(22)를 구비한 홀더(23)를 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동조정하기 위한 2축 액튜에이터(29b), 광학계(26)의 직립미러(26a)도 기판(29a)상에 장착되어 있다. 이와 같은 구성의 집적일체형 광학픽업(29)의 경우, 전술한 반도체레이저(25c)로부터의 불요광은 더욱 증가하게 되어, 광학픽업(29)의 동작특성을 열화시키게 되어 버린다.
종래, 콤팩트디스크용의 광학픽업은, 예를 들면 제5도에 나타낸 바와 같이 구성되어 있으며, 제1도의 종래의 광학픽업과 동일하게 동작한다. 제5도에 있어서, 광학픽업(31)은 대물렌즈(32)와, 베이스부(도시하지 않음)상에 고정배치된 수발광소자(33)와, 광학계(34)를 포함하고 있다. 광학픽업(31)은 대물렌즈(32)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동됨으로써, 수발광소자(33)로부터 출사된 레이저광을 광학계(34) 및 대물렌즈(32)를 통하여, 제5도의 화살표 a로 나타낸 바와 같이 대물렌즈(32)의 위쪽에서 회전구동되는 광디스크(35)의 신호기록면(35a)상의 어느 한 점에 수속합초시킨다.
여기서, 광학계(34)는 제1도에서의 기능과 같이 수발광소자(33)로부터 출사된 레이저광을 대물렌즈(32)에 도입하고, 또 광디스크(35)로부터의 귀환광을 대물렌즈(32)로부터 수발광소자(33)에 도입하는 것으로, 도시의 경우, 소자(33)는 비점격차를 보정하기 위한 2개의 광로절곡용 미러(34a),(34b)로 구성되어 있다. 또, 도시하지 않은 2축 액튜에이터에 의하여, 대물렌즈(32)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동조정됨으로써, 수발광소자(33)로부터 출사된 레이저광은 광학계(34)의 미러(34a),(34b) 그리고 대물렌즈(32)를 통하여, 광디스크(35)의 신호기록면에 수속합초하도록 되어 있다. 광디스크(35)의 신호기록면(35a)으로부터 귀환광은 대물렌즈(32) 및 광학계의 미러(34a),(34b)를 통하여, 수발광소자(33)에 입사된다.
상기 수발광소자(33)는 제6도 및 제7도에 나타낸 바와 같이, 제1의 반도체기판(33a)상에 광출력용의 제2의 반도체기판(33b)이 탑재되고, 이 제2의 반도체기판(33b)상에 발광소자로서의 반도체레이저소자(33c)가 탑재되어 있으며, 제2도 및 제3도의 시스템과 동일하게 기능한다. 반도체레이저소자(33c)의 앞쪽의 제1의 반도체기판(33a)상에는, 사다리꼴 형상의 마이크로프리즘(33d)이 그 반투과면으로서의 경사면(33h)은 반도체레이저소자(33c)측에 대향시켜서, 설치되어 있다. 또한, 수발광소자(33)는 상단이 개방된 직방체형의 케이스(36)내에 수용되어 있는 동시에, 제6도에 나타낸 바와 같이 그 케이스(36)의 상단이 유리판(37)에 의하여 닫혀 있다. 이로써 , 반도체레이저소자(33c)로부터 제2의 반도체기판(33b)의 표면에 따라서 출사한 광빔은 마이크로프리즘(33d)의 경사면(33h)에서 반사되어, 위쪽으로 향하여 진행하고, 유리판(37)을 투과하여, 제5도에 나타낸 바와 같이 광학계(34)의 미러(34a)에 향하여 진행하게 된다. 그리고, 미러(34a)에 의하여 반사된 광빔은 다시 광학계(34)의 미러(34b)에 의하여 반사된 후, 대물렌즈(32)를 통하여, 광디스크(35)의 신호기록면(35a)에 수속된다. 광디스크(35)의 신호기록면(35a)으로부터의 귀환광은 다시 대물렌즈(32), 광학계(34)의 미러(34b),(34a)를 통하여, 또한 유리판(37)을 통하여, 마이크로프리즘(33d)의 경사면으로부터, 마이크로프리즘(33d)내에 입사하여, 마이크로프리즘(33d)의 저면에 도달한다. 이 마이크로프리즘(33d)의 저면에 도달한 귀환광은 일부가 이 저면을 투과하는 동시에, 일부가 이 저면에서 반사되어, 마이크로프리즘(33d)의 상면으로 향하여 진행한다.
여기서, 마이크로프리즘(33d)의 귀환광 입사위치의 하부의 제1의 반도체 기판(33a)상에는, 제1의 광검출기(33e)가 형성되어 있다. 또, 상기 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(33d)의 상면에서 반사되어, 다시 마이크로프리즘(33d)의 저면에 입사된다. 그리고, 마이크로프리즘(33d)의 상면에서 반사된 귀환광이 입사되는 마이크로프리즘(33d)의 저면부분의 하부의 제1의 반도체기판(33a)에는, 제2의 광검출기(33f)가 형성되어 있다.
상기 제1의 광검출기(33e), 제2의 광검출기(33f)는 각각 복수의 센서블록으로 분할되어 있으며, 각 센서블록의 검출신호가 각각 독립하여 출력되도록 되어 있다. 또한, 제2의 반도체기판(33b)상에는, 반도체레이저소자(33c)의 출사측과는 반대측에, 제3의 광검출기(33g)가 구비되어 있다. 이 제3의 광검출기(33g)는 반도체레이저소자(33c)의 발광강도를 모니터하기 위한 것이다.
이와 같이 구성된 광학픽업(31)에 의하면, 수발광소자(33)의 반도체레이저소자(33c)로부터 출사된 레이저광은 마이크로프리즘(33d)의 경사면(33h)에 입사하고, 이 경사면(33h)에서 반사된다. 마이크로프리즘(33d)의 경사면(33h)에서 반사된 레이저광은 광학계(34)의 미러(34a),(34b) 및 대물렌즈(32)를 통하여, 광디스크(35)의 신호기록면(35a)의 원하는 트랙위치의 어느 한 점에 집속된다. 광디스크(35)로부터의 귀환광은 다시 대물렌즈(32), 광학계(34)의 미러(34b),(34a)를 통하여, 수발광소자(33)의 마이크로프리즘(33d)의 경사면(33h)에 입사하고, 그 경사면을 투과함으로써, 마이크로프리즘(33d)내로 진행한다.
마이크로프리즘(33d)내에 입사한 귀환광은 이 마이크로프리즘(33d)의 저면에 도달한다. 이 저면에 입사한 귀환광은 일부가 투과하는 동시에, 일부가 마이크로프리즘(33d)의 상면방향으로 반사된다. 저면을 통과한 귀환광은 제1의 광검출기(33e)에 입사되고, 한편 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(33d)의 상면에서 반사되어, 마이크로프리즘(33d)의 저면을 통과하여, 제2의 광검출기(33f)에 입사한다. 이와 같이 귀환광이 제1의 광검출기(33e)및 제2의 광검출기(33f)에 입사하므로, 광검출기(33e) 및 (33f)의 각 센서블록으로부터의 검출신호에 따라서, 재생신호나, 예를 들면 이른바 "차동 3분할법"(D-3DF법)에 의하여, 포커스신호가 검출되고, 또 제1의 광검출기(33e)의 각 센서부의 검출신호의 차에 따라서, 트래킹에러신호가 검출된다.
그러나, 제1도∼제3도의 실시예의 경우와 같이 제5도에 나타낸 콤팩트디스크용의 광학픽업(31)에 있어서는, 광학픽업(31) 전체의 두께, 즉 광디스크(35)의 하면으로부터 광학픽업(31)의 최하부까지의 두께를 가능한 한 얇게 하기 위하여, 광학계(34)의 미러(34a),(34b)에 의하여 광로를 절곡하도록 하고 있다. 그러므로, 부품개수가 많아지는 동시에, 광학계(34)의 각 미러(34a),(34b)의 위치결정을 정확하게 행할 필요가 있으므로, 조립이 복잡하게 되어, 부품코스트 및 조립코스트가 높아져 버린다는 문제가 있었다.
또, 반도체레이저소자(33c)로부터 출사하는 광빔의 비점격차를 보정하기 위하여는, 예를 들면 제8도에 나타낸 바와 같이, 출사측에 경사로 설치된 비점격차 보정용의 평판유리(38a)를 구비한 반도체레이저다이오드(38)가 알려져 있지만, 이와 같은 반도체레이저다이오드(38)를 제5도에 나타낸 광학픽업(31)에 편입하는 것은 곤란하였다. 또한, 반도체레이저소자(33c)의 발광광량모니터로서, 반도체레이저소자(33c)의 뒤쪽으로부터 출사하는 광이 입사하도록, 제2의 반도체기판(33b)상에, 제3의 광검출기(33g)(제7도)가 형성되어 있다. 이 경우, 광디스크(35)로부터의 귀환광도 제3의 광검출기(33g)에 입사하게 되므로, 반도체레이저소자(33c)의 앞쪽의 출사광량과 뒤쪽의 출사광량의 비가 변화하여 버리므로, 반도체레이저소자(33c)의 출사광량의 정확한 모니터를 할 수 없다. 그러므로, 광디스크(35)에 조사(照射)되는 광빔의 강도가 정확하게 제어될 수 없게 되어 버려서, 광학픽업(31)의 재생동작의 안정성이 손상된다는 문제가 있었다.
본 발명은 이상의 점을 감안하여, 비점격차가 보정되는 동시에, 소형으로 구성되도록 한 광학픽업용 수발광소자 및 그 커버를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
본 발명은 이상의 점을 감안하여, 발광소자로부터의 불요광을 제거함으로써, 소형, 경량이고 또한 신뢰성이 높은 광편향부품 및 이것을 이용한 광학픽업을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
상기 목적은 본 발명에 의하면, 광원으로부터 출사되는 광빔 또는 외부로부터의 귀환광의 광로중에 설치되고, 상기 광로를 절곡하기 위하여 광빔을 편향하는 반사부를 구비한 광편향커버에 있어서, 이 광편향부품이 구비되는 광학기기의 동작특성에 기여하지 않는 불요광을 제거하기 위한 광흡수부를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 광편향커버에 의하여 달성된다. 또, 상기 목적은 본 발명에 의하면, 수발광소자와, 상기 수발광소자로부터 출사된 레이저광을 광디스크의 신호기록면상에 합초시켜 조사하는 동시에, 상기 광디스크의 신호기록면으로부터의 귀환광을 상기 수발광소자에 도입하는 광학계와, 상기 광학계의 광로중에 설치되어, 광로를 절곡하기 위하여, 광빔을 편향하는 반사부를 가지는 광편향부품을 구비하고, 상기 광편향부품은 이 광편향부품이 구비되는 광학픽업의 동작특성에 기여하지 않는 불요광을 제거하기 위한 광흡수부를 구비하고 있는 광학픽업에 의하여 달성된다.
상기 구성에 의하면, 광편향부품에 불요광을 제거하기 위한 광흡수부가 구비되어 있으므로, 이 광편향부품이 장착되는 광학기기, 예를 들면 광학픽업의 수발광소자로부터 출사된 광빔중, 이 광학픽업의 동작특성에 기여하지 않는 불요광은 광편향부품의 광흡수부에 입사함으로써, 흡수되게 된다.
상기 목적은 본 발명에 의하면, 제1의 반도체기판상에 형성된 제1 및 제2의 광검출기와, 상기 제1의 반도체기판상에 탑재된 제2의 반도체기판상에 형성되고, 레이저광을 출사하는 발광소자와, 상기 제1의 반도체기판상에 탑재되고, 상기 발광소자로부터 출사된 레이저광이 조사되는 부분에 경사면이 형성되고, 그 저면에 반투과막과 무반사막이 형성되고, 그 상면에 전반사막이 형성된 마이크로프리즘과, 상기 기판의 표면과 발광소자, 광검출기 및 마이크로프리즘을 덮는 커버를 가지고, 상기 발광소자로부터의 레이저광을 상기 경사면에서 반사시켜서, 광디스크에 도입하는 동시에, 광디스크로부터의 귀환광을 상기 경사면으로부터 마이크로프리즘내에 입사시켜서, 상기 제1의 광검출기에 조사시키는 동시에, 상기 반투과막에서 반사된 레이저광을 상기 전반사막에서, 다시 반사한 후, 상기 무반사막을 투과시켜서, 상기 제2의 광검출기에 조사시키는 구성으로 하고, 다시 상기 커버에, 발광소자로부터의 레이저광의 비점격차를 보정하기 위한 보정수단이 구비되어 있는 수발광소자에 의하여 달성된다. 상기 구성에 의하면, 반도체기판의 상면, 발광소자, 마이크로프리즘 및 제1 및 제2의 광검출기를 덮는 커버의 내면에, 발광소자로부터의 광빔의 비점격차를 보정하기 위한 보정수단이 일체로 형성되어 있으므로, 당해 보정수단이 용이하게 편입되게 되어, 비점격차가 적은 광빔에 따라서, 광디스크의 신호기록면에 기록된 정보신호의 재생이 행해지게 된다.
다음에, 본 발명의 적합한 실시예를 첨부도면에 따라서 상세히 설명한다.
그리고, 다음에 설명할 실시예는 본 발명의 적합한 구체예이므로, 기술적으로 바람직한 여러가지의 한정이 붙어 있지만, 본 발명의 범위는 다음의 설명에 있어서, 특히 본 발명을 한정하는 취지의 기재가 없는 한, 이들의 양태에 한하는 것은 아니다.
제9도는 본 발명에 의한 광편향부품을 구비한 콤팩트디스크용의 광학픽업의 적합한 실시예를 나타낸 도면이다. 제9도에 있어서, 광학픽업(40)은 대물렌즈(41)를 구비한 홀더(42)와, 베이스부(기판)(43)와, 베이스부(43)상에 설치된 수발광소자(44) 및 광학계(45)를 포함하고 있다. 이들의 구성에 있어서, 수발광소자(44)를 포위하는 커버(47) 이외의 구성은 제1도의 광학픽업과 동일하므로, 다음에 상위점을 중심으로 설명한다.
수발광소자(44)는 제1도의 것과 대략 동일하지만, 제10도에 나타낸 바와 같이, 제1의 반도체기판(44a)상에 광출력용의 제2의 반도체기판(44b)이 탑재되고, 이 제2의 반도체기판(44b)상에 발광소자로서의 반도체레이저(44c)가 탑재되고, 반도체레이저(44c)의 앞쪽의 제1의 반도체기판(44a)상에는, 사다리꼴 형상의 마이크로프리즘(44d)이 설치되어 있다. 또한, 수발광소자(44)는 그 전체가 광편향부품으로서 기능하는 커버(47)에 의하여 완전히 덮혀 있는 동시에, 이 커버(47)의 내면에 광학계(45)의 직립미러(45a)에 향하여 45도 경사진 반사면(47a)을 구비하고 있다. 이로써, 반도체레이저(44c)로부터 출사한 광빔 L1은 제1도의 경우와 대략 동일한 광로를 통하여 광디스크(46)의 신호기록면(46a)으로 진행하고, 또 광디스크(46)의 신호기록면(46a)으로부터의 귀환광은 커버(47)의 반사면(47a)을 통하여, 마이크로프리즘(44d)의 경사면을 투과하여, 마이크로프리즘(44d)의 저면에 도달한다. 이 마이크로프리즘(44d)의 저면에 도달한 귀환광은 일부가 이 저면을 투과하는 동시에, 일부가 이 저면에서 반사되어, 마이크로프리즘(44d)의 상면으로 향하여 진행한다.
여기서, 마이크로프리즘(44d)의 귀환광 입사위치의 하부의 제1의 반도체기판(44a)상에는, 제1의 광검출기(44e)가 형성되어 있다. 또, 상기 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(44d)의 상면에서 반사되어, 다시 마이크로프리즘(44d)의 저면에 입사된다. 그리고, 마이크로프리즘(44d)의 상면에서 반사된 귀환광이 입사되는 마이크로프리즘(44d)의 저면부분의 하부의 제1의 반도체기판(44a)에는, 제2의 광검출기(44f)가 형성되어 있다.
그리고, 상기 제1의 광검출기(44e), 제2의 광검출기(44f)는 각각 복수의 센서블록으로 분할되어 있으며, 각 센서블록의 검출신호가 각각 독립하여 출력되도록 되어 있다. 또, 제2의 반도체기판(44b)상에는, 반도체레이저(44c)의 출사측과는 반대측에, 제3의 광검출기(44g)가 구비되어 있다. 이 제3의 광검출기(44g)는 반도체레이저(44c)의 발광강도를 모니터하기 위한 것이다.
광편향부품으로서의 커버(47)는 그 내면(47a)중, 전술한 반사면(47a) 및 투광부인 앞면(47b)을 제외한 내면이 광흡수부(47c)로서 구성되어 있다. 여기서, 커버(47)는, 예를 들면 투명재료인 플라스틱 등으로 성형되지만, 투광부인 앞면(47b) 이외는 광투과성을 필요로 하지 않으므로, 예를 들면 아크릴, 폴리에스테르, 아몰퍼스 폴리올레핀 등의 투명한 광학플라스틱과 폴리페닐렌설파이드(PPS), 열경화성 에폭시수지 등의 불투명수지에 의한 2색 성형이나, 투명유리와 불투명수지에 의한 일체성형 등에 의해서도 구성된다.
또, 제10도 및 제11도에 나타낸 바와 같이, 상기 반사면(47a)은, 예를 들면 유전체 다층막이나 고반사 금속막으로 구성되어 있다. 또한, 상기 광흡수부(47c)는 불요광을 흡수하는 특성을 갖도록, 예를 들면 제11도에 나타낸 바와 같이, 커버(47)의 내면에, SiO2 등으로 이루어지는 접착층(47d), 크롬등의 금속흡수막(47e), TiO2 등으로 이루어지는 무반사막(47f)을 적층하고, 다시 그 위로부터 SiO2 등으로 이루어지는 보호층(47g)을 형성함으로써, 구성되지만, 흑색도료를 도포하거나, 흑색재료를 표면처리함으로써도, 구성된다.
본 실시예는 이상과 같이 구성되어 있으며 , 본 실시예의 광학픽업(40)에서는 광디스크(46)에 입사하는 광빔 L1은 홀더(42)(제9도 참조)의 개구(42a)에 의하여 제한됨으로써, 광디스크(46)에 대한 신호의 기록 또는 재생에 기여하지만, 이 광빔 L1의 외측의 광은 불요광으로 된다. 또, 반도체레이저(44c)로부터 뒤쪽으로 향하여 출사하는 출사광제어용 광빔 L2은 하측부분이 광검출기(44g)에 입사함으로써 이용되지만, 상측부분은 불요광으로 된다.
이들의 불요광이 직접 또는 간접으로 제1 및 제2의 광검출기(44e),(44f)에 입사하면, 광학픽업(40)의 동작특성이 불안정하게 되어, 최악의 경우에는, 오동작이 생기게 된다. 그러나, 이들의 불요광은 광편향부품인 커버(47)의 내면의 광흡수부(47c)에 의하여 흡수됨으로써, 상기 불요광이 제거된다.
이로써, 광학픽업(40)은 불요광에 의하여 동작특성이 불안정하게 되는 일은 없고, 정확한 신호의 기록 또는 재생이 행해지게 된다.
제12도는 본 발명에 의한 광편향부품의 제2의 실시예를 나타내고 있다.
제12도에 있어서, 광편향부품인 커버(47)는 제9도 및 제10도의 실시예와 대략 동일하게 구성되어 있으며, 반사면(47a), 투광부(47b) 및 광흡수부(47c)를 구비하고 있다. 또한, 커버(47)는 그 전단부 및 후단부에서 각각 아랫쪽으로 돌출하는 걸어맞춤부(48),(49)를 구비하고 있다. 각 걸어맞춤부(48),(49)는 하단에 내측으로 돌출된 걸어맞춤클릭(48a),(49a)을 가지고 있다. 이에 대하여, 베이스부(기판)(43)에는, 상기 각 걸어맞춤부(48),(49)를 수용하기 위한 장착공(43a),(43b)이 설치되어 있다. 이들의 장착공(43a),(43b)은 마이크로프리즘(44d)의 경사면에서 위쪽으로 향하여 반사된 광빔의 광축 L3을 중심으로 하는 원호형으로 형성되어 있다. 이로써, 커버(47)는 그 걸어맞춤부(48),(49)가 베이스부(43)의 장착공(43a),(43b)에 삽입되었을 때, 각 걸어맞춤부(48),(49)가 외측으로 변형됨으로써, 걸어맞춤클릭(48a),(49a)이 장착공(43a),(43b)내에 끼워넣어진다. 그리고, 커버(47)가 베이스부(43)의 표면에 탑재된 상태에서, 걸어맞춤클릭(48a),(49a)은 장착공(43a),(43b)을 통과하여, 그 탄성에 따라서 내측으로 복원된다. 이로써, 걸어맞춤클릭(48a),(49a)은 베이스부(43)의 하면에 걸어맞추어져, 커버(47)가 베이스부(43)에 대하여 고정지지되게 된다.
여기서, 장착공(43a),(43b)은 전술한 바와 같이 원호형으로 형성되어 있으므로, 커버(47)는 상기 광축 L3의 주위에 회동된다. 따라서, 커버(47)의 반사면(47a)에 의한 광빔의 편향방향이 베이스부(43)의 표면에 평행한 면내에서 회동조정되게 된다. 이로써, 각 광학부품의 장착오차에 의한 광축의 시프트가 있을 경우에는, 예를 들면 광학픽업(40)의 광학부의 조립 후에, 대물렌즈(41)의 출사광빔의 강도분포를 측정하면서, 커버(47)를 상기 광축 L3의 주위에 회동시킴으로써, 출사광빔의 강도의 최적의 상태로, 광편향부품인 커버(47)의 반사면(47a)에 의한 편향광축의 조정이 행해지게 된다. 즉, 광편향부품인 커버(47)가 상기 광축 L3의 주위에 회동됨으로써, 커버(47)는 베이스부(43)와 평행한 면내에서 편향방향의 조정이 행해지게 되고, 수발광소자(44)의 장착정밀도가 완화되어, 조립이 용이하게 행해지고, 조립코스트가 저감되게 된다.
상기 2가지 실시예에 있어서는, 콤팩트디스크용의 광학픽업(40)의 경우에 대하여 설명하였지만, 이것에 한하지 않고, 미니디스크 등의 광자기디스크를 포함하는 다른 타입의 광디스크를 위한 광학픽업 및 그 광편향부품에 대하여, 본 발명을 적용할 수 있는 것은 명백하다. 이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 발광소자로부터의 불요광을 제거함으로써, 소형, 경량이고 또한 신뢰성이 높은 광편향부품인 커버 및 이것을 이용한 광학픽업을 제공할 수 있다.
따라서, 본 발명의 앞의 2가지 실시예에 관하여 설명한 바와 같이, 광편향부품인 커버(47)는 광학픽업의 광원으로부터 출사되는 광빔 또는 광디스크로부터의 귀환광의 광로중에 설치되고, 광로를 절곡하기 위하여 광빔을 편향하는 반사부(47a)를 구비하고, 광편향부(47)는 광학픽업의 동작특성에 기여하지 않는 불요광을 제거하기 위한 광흡수부(47c)를 구비한다.
제13도는 본 발명에 의한 수발광소자 및 그 커버를 구비한 콤팩트디스크용 광학픽업의 적합한 제3의 실시예를 나타낸 도면이다.
제13도에 있어서, 광학픽업(50)은 제9도∼제12도에 나타낸 본 발명의 전술한 실시예와 마찬가지로, 대물렌즈(51)와, 베이스부(기판)(52)와, 베이스부(52)상에 설치된 수발광소자(53) 및 광학계를 일체로 편입한 커버(54)를 포함하고 있다. 광학픽업(50)은 대물렌즈(51)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동됨으로써, 수발광소자(53)로부터 출사된 레이저광 L4을 커버(54)내의 광학계 및 대물렌즈(51)를 통하여, 대물렌즈(51)의 도시의 경우 아래쪽에서 회전구동되는 광디스크(55)의 신호기록면(55a)상의 어느 한 점에 수속합초시킨다. 그리고, 광디스크(55)의 신호기록면으로부터의 귀환광 L4을 대물렌즈(51) 및 커버(54)내의 광학계를 통하여 수발광소자(53)내에 입사시킨다. 상기 커버(54)는 수발광소자(53) 전체를 덮도록, 기밀적으로 베이스부(52)에 장착되어 있고, 수발광소자(53)를 외기로부터 보호하도록 되어 있다.
여기서, 커버(54)내의 광학계는, 제14도 및 제15도에 나타낸 바와 같이, 전술한 바와 마찬가지로 통상 수발광소자(53)로부터 출사된 레이저광을 대물렌즈(51)에 도입하고, 또 광디스크(55)로부터의 귀환광을 대물렌즈(51)로부터 수발광소자(53)에 도입하는 것이다. 이 광학계는 커버(54)의 내면에 일체로 형성된 제1의 반사면(54a) 및 제2의 반사면(54b)과, 이들의 반사면(54a),(54b)의 사이에 설치된 비점격차 보정용의 평판부(54c)를 구비하고 있다. 또, 이 커버(54)는 또한 제2의 반사면(54b)과는 반대측의 끝부(즉, 도면에서 우측의 끝부) 부근의 내면에 45도만큼의 경사 아래쪽으로 향한 제3의 반사면(54d)을 구비하고 있다.
제1의 반사면(54a)은 수발광소자(53)로부터 위쪽으로 향하여 진행하는 광빔을 반사에 의하여 베이스부(52)의 표면에 따라서 대략 평행으로 도입하도록, 45도만큼 경사지게 설치되어 있는 동시에, 제2의 반사면(54b)은 제1의 반사면(54a)에 의하여 반사되어 수평으로 진행하는 광빔을 반사에 의하여 아래쪽으로 향하여 도입하도록, 마찬가지로 45도만큼 경사지게 설치되어 있다.
또한, 상기 평판부(54c)는 커버(54)와 일체로 형성되어 있는 동시에, 광투과성을 가지고 있으며, 제14도에 나타낸 바와 같이, 수발광소자(53)로부터의 광빔의 광축에 대하여, 경사지게 설치되어 있다. 이로써, 수발광소자(53)로부터의 광빔은 이 평판부(54c)를 통과할 때에 비점격차가 보정되게 된다. 여기서, 커버(54)는, 예를 들면 투명재료인 플라스틱 등으로 성형된다.
그러나, 평판부(54c) 이외는 광투과성을 필요로 하지 않으므로, 예를 들면 아크릴, 폴리에스테르, 아몰퍼스 폴리올레핀 등의 투명한 광학플라스틱과 폴리페닐렌설파이드(PPS), 열경화성 에폭시수지 등의 불투명수지에 의한 2색 성형이나, 투명유리와 불투명수지에 의한 일체성형 등에 의해서도 구성된다.
또, 상기 반사면(54a),(54b),(54d)은, 예를 들면 유전체 다층막이나 고반사 금속막으로 구성되어 있다. 또한, 커버(54)의 내면중, 상기 반사면(54a),(54b),(54d) 이외의 내면은 바람직하게는 불요광을 흡수하는 특성을 가지도록, 예를 들면 광흡수막을 형성함으로써 구성되어도 되고, 또 흑색도료를 도포하거나, 흑색재료를 표면처리하는 것에 의하여도 구성된다.
이렇게 하여, 도시하지 않은 2축 액튜에이터에 의하여, 대물렌즈(51)가 포커싱방향 및 트래킹방향으로 이동조정됨으로써, 수발광소자(53)로부터 출사된 레이저광은 상기 제1의 반사면(54a), 평판부(54c) 및 제2의 반사면(54b)을 통하여, 대물렌즈(51)에 입사하고, 또한 대물렌즈(51)에 의하여 광디스크(55)의 신호기록면에 수속합초하도록 되어 있다. 광디스크(55)의 신호기록면으로부터의 귀환광은 대물렌즈(51) 및 제2의 반사면(54b)에서 반사되고, 평판부(54c)를 통하여, 제1의 반사면(54a)에서 반사되어, 수발광소자(53)에 입사되도록 되어 있다. 상기 수발광소자(53)는 제16도에 나타낸 바와 같이, 제1의 반도체기판(53a)상에 광출력용의 제2의 반도체기판(53b)이 탑재되고, 이 제2의 반도체기판(53b)상에 발광소자로서의 반도체레이저소자(53c)가 탑재되어 있다. 반도체레이저소자(53c)의 앞쪽의 제1의 반도체기판(53d)상에는, 사다리꼴 형상의 마이크로프리즘(53d)이 그 반투과면으로서의 경사면을 반도체레이저소자(53c)측으로 하여, 설치되어 있다. 이로써, 반도체레이저소자(53c)로부터 제2의 반도체기판(53b)의 표면에 따라서 출사한 광빔은 마이크로프리즘(53d)의 경사면에서 반사되어, 위쪽으로 향하여 진행하고, 상기 커버(54)의 제1의 반사면(54a)에 의하여 반사되어, 평판부(54c)를 통하여, 제2의 반사면(54b)에 향하여 진행하게 된다. 또, 광디스크(55)의 신호기록면(55a)으로부터의 귀환광은 커버(54)의 제2의 반사면(54b), 평판부(54c) 및 제1의 반사면(54a)을 통하여, 마이크로프리즘(53d)의 경사면을 투과하여, 마이크로프리즘(53d)의 저면에 도달한다. 이 마이크로프리즘(53d)의 저면에 도달한 귀환광은 일부가 이 저면을 투과하는 동시에, 일부가 이 저면에서 반사되어, 마이크로프리즘(53d)의 상면으로 향하여 진행한다. 여기서, 마이크로프리즘(53d)의 귀환광 입사위치의 하부의 제1의 반도체기판(53a)상에는, 제1의 광검출기(53e)가 형성되어 있다. 또, 상기 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(53d)의 상면에서 반사되어, 다시 마이크로프리즘(53d)의 저면에 입사된다. 그리고, 마이크로프리즘(53d)의 상면에서 반사된 귀환광이 입사되는 마이크로프리즘(53d)의 저면부분의 하부의 제1의 반도체기판(53a)에는, 제2의 광검출기(53f)가 형성되어 있다. 상기 제1의 광검출기(53e), 제2의 광검출기(53f)는 제17도에 나타낸 바와 같이, 각각 복수(도시의 경우에는, 중앙과 양측의 3개)의 센서블록 A, B, C, D, E, F로 분할되어 있고, 각 센서블록 A, B, C, D, E, F의 검출신호 SA, SB, SC, SD, SE, SF가 각각 독립하여 출력되도록 되어 있다.
또한, 제1의 반도체기판(53a)상에는, 마이크로프리즘(53d)의 제2의 반도체기판(53b)과는 반대측에, 제3의 광검출기(53g)가 구비되어 있다. 이 제3의 광검출기(53g)는 반도체레이저소자(53c)의 발광강도를 모니터하기 위한 것이고, 반도체레이저소자(53c)로부터 출사한 광빔이 마이크로프리즘(53d)의 경사면으로부터 입사하여, 마이크로프리즘(53d)의 반대측의 끝면으로부터 출사한 후, 전술한 커버(54)의 제3의 반사면(54d)에 의하여 반사되어, 입사하도록 되어 있다.
제3의 실시예는 이상과 같이 구성되어 있고, 수발광소자(53)의 반도체레이저소자(53c)로부터 출사된 레이저광은 마이크로프리즘(53d)의 경사면에 입사하여, 이 경사면에서 반사된다. 마이크로프리즘(53d)의 경사면에서 반사된 레이저광은 커버(54)의 제1의 반사면(54a)에서 반사되고, 평판부(54c)에 의하여 비점격차의 보정이 행해진 후, 제2의 반사면(54b) 및 대물렌즈(51)를 통하여, 광디스크(55)의 신호기록면의 원하는 트랙위치의 어느 한 점에 집속된다. 광디스크(55)로부터의 귀환광은 다시 대물렌즈(51), 제2의 반사면(54b), 비점격차 보정용의 평판부(54c) 및 제1의 반사면(54a)을 통하여, 수발광소자(53)의 마이크로프리즘(53d)의 경사면에 입사하여, 이 경사면을 투과함으로써, 마이크로프리즘(53d)내로 진행한다.
마이크로프리즘(53d)내에 입사한 귀환광은 이 마이크로프리즘(53d)의 저면에 도달하고, 일부가 투과하는 동시에, 일부가 마이크로프리즘(53d)의 상면방향으로 반사된다. 저면을 통과한 귀환광은 제1의 광검출기(53e)에 입사되고, 한편 저면에서 반사된 귀환광은 마이크로프리즘(53d)의 상면에서 반사되어, 마이크로프리즘(53d)의 저면을 통과하여, 제2의 광검출기(53f)에 입사한다. 여기서, 광디스크(55)가 저스트포커스의 위치에 있는 경우에는, 상기 제1의 광검출기(53e)와 제2의 광검출기(53f)상에 형성되는 스폿은 제17도에 나타낸 바와 같이, 동일 크기이다. 또, 광디스크(55)가 가까운 경우에는, 제18도에 나타낸 바와 같이, 제1의 광검출기(53e)상에 형성되는 스폿이 크고, 또 제2의 광검출기(53f)상에 형성되는 스폿은 작아진다. 또한, 광디스크(55)가 먼 경우에는, 제19도에 나타낸 바와 같이, 제1의 광검출기(53e)상에 형성되는 스폿은 작고, 또 제2의 광검출기(53f)상에 형성되는 스폿은 커진다. 이와 같이 , 귀환광이 제1의 광검출기(53e) 및 제2의 광검출기(53f)에 입사하여, 광디스크(55)의 포커스상태에 따라서 각 광검출기(53e),(53f)상에 형성되는 스폿의 크기가 변화하므로, 광검출기(53e) 및 (53f)의 각 센서블록으로부터의 검출신호에 따라서, 재생신호나, 예를 들면 이른바 차동 3분할법(D - 3DF법)에 의하여, 포커스신호가 검출되고, 또 제1의 광검출기(53e)의 각 센서부의 검출신호의 차에 따라서, 트래킹에러신호가 검출된다.
예를 들면, 차동 3분할법에 있어서는, 제1의 광검출기(53e) 및 제2의 광검출기(53f)로부터의 검출신호 SA 내지 SF에 따라서, 포커스에러신호 FE는,
[식 1] FE = (SB + SD + DF) - (SA + SC + SE)
에 의하여 얻어진다. 또, 트래킹에러신호 TE는,
[식 2] TE = (SA + SB + SC) - (SD + SE + SF)
에 의하여 얻어진다. 또한, 재생신호 RF는,
[식 3] RF = (SA + SB + SC) + (SD + SE + SF)
에 의하여 얻어진다.
또, 수발광소자(53)의 반도체레이저소자(53c)로부터 출사한 광빔은 마이크로프리즘(53d)의 경사면에 입사하였을 때, 일부가 마이크로프리즘(53d)내로 진행하고, 마이크로프리즘(53d)의 반대측의 끝면으로부터 출사한 후, 커버(54)의 내면에 형성된 제3의 반사면(54d)에 의하여 반사되어, 제1의 반도체기판(53a)상의 제3의 광검출기(53g)에 입사한다. 이로써, 반도체레이저소자(53c)의 발광광량의 모니터가 행해진다. 이 경우, 제3의 광검출기(53g)에는, 광디스크(55)로부터의 귀환광이 입사하는 것은 없으므로, 귀환광에 의한 간섭이 배제되게 되어, 반도체레이저소자(53c)의 발광광량의 정확한 모니터가 행해진다. 따라서, 광디스크(55)의 신호기록면에 조사하는 광빔의 광량이 정확히 제어되게 되어, 광학픽업(50)의 재생동작의 안정성이 향상되게 된다.
상기 제3 실시예에 있어서는, 콤팩트디스크용의 광학픽업(50)의 경우에 대하여 설명하였으나, 이것에 한하지 않고, 미니디스크 등의 광자기디스크를 포함하는 다른 타입의 광디스크를 위한 광학픽업용의 수발광소자 및 그 커버에 대하여, 본 발명을 적용할 수 있는 것은 명백하다. 이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 비점격차가 보정되는 동시에, 소형으로 구성되는 광학픽업용 수발광소자 및 그 커버를 제공할 수 있다.
.
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제1도는 종래의 광학픽업의 일례를 나타낸 개략도.
제2도는 제1도의 광학픽업에 있어서의 수발광(受發光)소자의 구성을 나타낸 확대사시도.
제3도는 제2도의 수발광소자의 패키지를 나타낸 사시도.
제4도는 종래의 광학픽업의 다른 제2의 예를 나타낸 개략도.
제5도는 종래의 광학픽업의 다른 제3의 예를 나타낸 개략도.
제6도는 제5도의 광학픽업에 있어서의 수발광소자의 구성을 나타낸 확대 사시도.
제7도는 제6도의 수발광소자의 단면도.
제8도는 종래의 광학픽업에서 사용되는 비점격차(非点隔差)보정용 유리판을 구비한 반도체레이저소자의 구성예를 나타낸 개략도.
제9도는 본 발명에 의한 광편향커버를 구비한 광학픽업의 제1의 실시예를 나타낸 개략도.
제10도는 제9도의 광학픽업의 요부(要部)를 나타낸 확대단면도.
제11도는 제10도의 광편향커버의 광흡수부의 구성예를 나타낸 확대단면도.
제12도는 본 발명에 의한 광편향커버를 구비한 광학픽업의 제2의 실시예의 요부를 나타낸 확대단면도.
제13도는 본 발명에 의한 커버를 구비한 수발광소자의 제3의 실시예를 편입한 광학픽업을 나타낸 개략도.
제14도는 제13도의 광학픽업에 있어서의 커버의 확대평면도.
제15도는 제13도의 광학픽업에 있어서의 커버의 확대단면도.
제16도는 제13도 및 제15도의 광학픽업에 있어서의 수발광소자의 확대사시도.
제17도는 제13도의 광학픽업에 있어서의 수발광소자의 제1 및 제2의 광검출기의 합초(合焦)상태를 나타낸 확대평면도.
제18도는 제17도의 제1 및 제2의 광검출기에 있어서의 광디스크가 합초위치보다 가까운 경우를 나타낸 확대평면도.
제19도는 제17도의 제1 및 제2의 광검출기에 있어서의 광디스크가 합초위치보다 먼 경우를 나타낸 확대평면도.

Claims (25)

  1. 광빔을 발생하는 반도체 레이저 유니트와,
    상기 광빔을 검출하는 검출 수단과,
    상기 반도체 레이저 유니트와 상기 검출 수단이 설치되는 반도체 기판과,
    상기 반도체기판을 덮는 커버유니트
    를 포함하고,
    상기 커버 유니트는 상기 광빔을 투과시키는 투광부, 상기 광빔을 반사시키는 반사부, 상기 광빔을 흡수하는 광흡수부, 및 상기 반도체 레이저 유니트로부터의 상기 광빔의 비점격차(非点隔差)를 보정하기 위한 보정 수단을 구비하며,
    상기 보정 수단은 광투과성을 가지며, 상기 커버 유니트와 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 장치는 상기 반도체 기판 상에 부착된 빔스플릿 프리즘으로 이루어지는 수발광 소자를 추가로 포함하고, 상기 검출 수단은 상기 프리즘 아래에 설치되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 장치는 상기 반도체 기판 상의 상기 반도체 레이저 유니트의 레이저 출력을 모니터하는 모니터 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 광흡수부는 상기 커버 유니트의 내면에 접착층, 금속 흡수막 및 무반사막을 적층한 후, 그 상부에 보호층을 형성함으로써 구성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 광흡수부는 흑색 재료에 의하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 커버 유니트는 상기 발광 수단 및 상기 검출 수단에 대하여 배열된 베이스부에 부착되어, 반사부의 방향이 광축에 수직인 면내에서 회동할 수 있는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  7. 광빔을 발생하는 발광 수단과,
    상기 광빔을 검출하는 검출 수단과,
    상기 발광 수단으로부터 광학 기록 매체에 상기 광빔을 도입하고, 상기 기록 매체로부터 상기 검출 수단에 상기 광빔을 반사시키는 광 안내 수단과,
    상기 발광 수단 및 상기 검출 수단을 덮는 커버 유니트
    를 포함하고,
    상기 커버 유니트는 상기 발광 수단으로부터의 상기 광빔의 비점격차를 보정하기 위한 보정 수단을 구비하며,
    상기 보정 수단은 광투과성을 가지며, 상기 커버 유니트와 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 발광 수단 및 상기 검출 수단은 배선 패턴이 형성되는 배선 보드 상에 배열되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  9. 제7항에 있어서, 상기 커버 유니트에는 상기 광빔을 투과시키는 제1 부분과, 상기 광빔을 차단시키는 제2 부분으로 이루어지고, 상기 보정 수단은 상기 제1 부분에 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 커버 유니트에는 상기 제2 부분 상에 상기 광빔을 반사시키는 반사부를 설치하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 커버유니트에는 상기 광빔을 흡수하는 광흡수부와, 상기 제2 부분상에 상기 광빔을 반사시키는 상기 반사부를 설치하는 것을 특징으로 하는 광학픽업장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 커버 유니트에는 상기 제2 부분이 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  13. 제7항에 있어서,
    상기 보정 수단은 상기 광빔의 광축에 대하여 경사지도록 설치되는 것을 특징으로 하는 광학픽업장치.
  14. 제7항에 있어서,
    상기 장치는 상기 발광수단의 레이저출력을 모니터하는 모니터수단을 추가로 포함하고, 상기 모니터수단, 상기 발광수단 및 상기 검출수단은 배선 패턴이 형성되는 배선보드상에 배열되는 것을 특징으로 하는 광학픽업장치.
  15. 제7항에 있어서,
    상기 커버 유니트는 상기 발광 수단 및 상기 검출 수단에 대하여 배열된 베이스부에 부착되어, 반사부의 방향이 광축에 수직인 면내에서 회동할 수 있는 것을 특징으로 하는 광학픽업장치.
  16. 광빔을 발생하는 반도체 레이저 유니트와,
    상기 광빔을 검출하는 검출 수단과,
    상기 반도체 레이저 유니트와 상기 검출 수단이 설치되는 반도체 기판과,
    상기 반도체 기판 상에 지지되는 빔스플릿 프리즘으로 이루어지는 수발광소자로서, 상기 검출 수단이 상기 프리즘 아래에 설치되는 수발광 소자와,
    상기 반도체 기판을 덮는 커버 유니트
    를 포함하고,
    상기 커버 유니트는 상기 반도체 레이저 유니트로부터의 상기 광빔의 비점격차를 보정하기 위한 보정 수단을 구비하며,
    상기 보정 수단은 광투과성을 가지며, 상기 커버 유니트와 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 커버 유니트에는 상기 광빔을 투과시키는 제1 부분과, 상기 광빔을 차단시키는 제2 부분으로 이루어지고, 상기 보정 수단은 상기 제1 부분에 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  18. 제17항에 있어서, 상기 커버 유니트에는 상기 제2 부분 상에 상기 광빔을 반사시키는 반사부를 설치하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 커버유니트에는 상기 광빔을 흡수하는 광흡수부와, 상기 제2 부분상에 상기 광빔을 반사시키는 상기 반사부를 설치하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  20. 제17항에 있어서,
    상기 커버 유니트에는 상기 제2 부분이 일체로 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  21. 제16항에 있어서,
    상기 커버 유니트는 상기 수발광 소자로부터 상기 광학 기록 매체에 상기 레이저빔을 반사시키는 반사부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  22. 제16항에 있어서, 상기 보정 수단은 상기 광빔의 광축에 대하여 경사지도록 설치되는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  23. 제16항에 있어서, 상기 장치는 상기 반도체 기판 상의 상기 반도체 레이저 유니트의 레이저 출력을 모니터하는 모니터 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 커버 유니트는 상기 모니터 수단에 상기 레이저빔을 반사시키는 반사부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
  25. 제16항에 있어서,
    상기 커버 유니트는 상기 발광 수단 및 상기 검출 수단에 대하여 배열된 상기 베이스부에 부착되어, 반사부의 방향이 광축에 수직인 면 내에서 회동할 수 있는 것을 특징으로 하는 광학 픽업 장치.
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6012853A (en) * 1996-01-18 2000-01-11 E-Tek Dynamics, Inc. Laser diode with anti-reflection and anti-scattering coating
JPH09320098A (ja) * 1996-05-27 1997-12-12 Sony Corp 光ピックアップ装置および複合光学装置
JPH10320810A (ja) * 1997-05-22 1998-12-04 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 半導体レーザ装置および光ピックアップ装置
DE19882689T1 (de) * 1997-09-22 2000-09-28 Seagate Technology Apertursperre für einen schwebenden Optikkopf
US6721262B1 (en) 1997-09-22 2004-04-13 Seagate Technology Llc Aperture stop for a flying optical head
JP2000011422A (ja) * 1998-04-24 2000-01-14 Sony Corp 集積化受発光装置
JP2000182253A (ja) * 1998-12-15 2000-06-30 Sony Corp 情報記録再生装置
JP2001056952A (ja) * 1999-08-19 2001-02-27 Hitachi Ltd 光ヘッド装置およびその製造方法
DE19942323B4 (de) * 1999-09-06 2007-03-01 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Drehwinkelsensor
JP2002025096A (ja) * 2000-07-07 2002-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体光源、光ピックアップヘッド装置及び情報記録再生装置
JP4439978B2 (ja) * 2003-05-26 2010-03-24 パナソニック株式会社 光学ヘッド及びそれを用いた光ディスク装置
US20060180262A1 (en) * 2005-02-08 2006-08-17 Konica Minolta Opto, Inc. Manufacturing method of optical elements
CN101339127B (zh) * 2008-08-07 2012-11-28 石兆奇 用于测量单质及化合物气体的传感器
CN105982654B (zh) * 2015-03-03 2019-05-03 东莞市美光达光学科技有限公司 一种用于心率及血压监测仪的光学传感装置
TWM532577U (zh) * 2015-03-24 2016-11-21 山姆科技公司 具有紋理表面的光學阻障物
WO2018063939A1 (en) * 2016-09-29 2018-04-05 Coherent, Inc. Laser power and energy sensor using anisotropic thermoelectric material
CN112888931A (zh) * 2018-10-29 2021-06-01 京瓷株式会社 测量装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6399322U (ko) * 1986-12-16 1988-06-28
EP0301793A2 (en) * 1987-07-30 1989-02-01 Sony Corporation Optical pickup element
JPH0276328U (ko) * 1988-11-24 1990-06-12
JPH06252281A (ja) * 1992-12-28 1994-09-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置用キャップ及びその製造方法
JPH06333290A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Sony Corp 光ピックアップ装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01273238A (ja) * 1988-04-25 1989-11-01 Sony Corp 光学ヘッド装置
JP2682087B2 (ja) * 1988-11-22 1997-11-26 ソニー株式会社 光学ピックアップ装置
US5350917A (en) * 1991-12-27 1994-09-27 Sony Corporation Opto-magnetic recording polarization optical apparatus including a laser diode and a light absorbing film
KR100269161B1 (ko) * 1993-02-27 2000-10-16 윤종용 광헤드

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6399322U (ko) * 1986-12-16 1988-06-28
EP0301793A2 (en) * 1987-07-30 1989-02-01 Sony Corporation Optical pickup element
JPH0276328U (ko) * 1988-11-24 1990-06-12
JPH06252281A (ja) * 1992-12-28 1994-09-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置用キャップ及びその製造方法
JPH06333290A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Sony Corp 光ピックアップ装置

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