JPH095507A - 光偏向部品及び光学ピックアップ - Google Patents
光偏向部品及び光学ピックアップInfo
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- JPH095507A JPH095507A JP7175407A JP17540795A JPH095507A JP H095507 A JPH095507 A JP H095507A JP 7175407 A JP7175407 A JP 7175407A JP 17540795 A JP17540795 A JP 17540795A JP H095507 A JPH095507 A JP H095507A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 発光素子からの不要光を除去することによ
り、小型，軽量で且つ信頼性の高い光偏向部品及びこれ
を利用した光学ピックアップを提供すること。 【構成】 光学ピックアップの光源から出射される光ビ
ームまたは光ディスクからの戻り光の光路中に配設さ
れ、光路を折曲げるために、光ビームを偏向する反射部
１７ａを備えた、光偏向部品１７において、光学ピック
アップの動作特性に寄与しない不要光を除去するための
光吸収部１７ｃを備えるように、光偏向部品１７を構成
する。
り、小型，軽量で且つ信頼性の高い光偏向部品及びこれ
を利用した光学ピックアップを提供すること。 【構成】 光学ピックアップの光源から出射される光ビ
ームまたは光ディスクからの戻り光の光路中に配設さ
れ、光路を折曲げるために、光ビームを偏向する反射部
１７ａを備えた、光偏向部品１７において、光学ピック
アップの動作特性に寄与しない不要光を除去するための
光吸収部１７ｃを備えるように、光偏向部品１７を構成
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばミニディスク
（ＭＤ）・コンパクトディスク（ＣＤ）やこれらの媒体
を利用したコンピュータの記録再生装置等の記録・再生
光ディスク装置のための光学ピックアップに関するもの
である。
（ＭＤ）・コンパクトディスク（ＣＤ）やこれらの媒体
を利用したコンピュータの記録再生装置等の記録・再生
光ディスク装置のための光学ピックアップに関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンパクトディスク用の光学ピッ
クアップは、例えば、図５に示すように構成されてい
る。図５において、光学ピックアップ１は、対物レンズ
２を備えたホルダー３と、ベース部４と、ベース部４上
に配設された複合型受発光デバイスとしての受発光素子
５及び光学系６とを備えている。
クアップは、例えば、図５に示すように構成されてい
る。図５において、光学ピックアップ１は、対物レンズ
２を備えたホルダー３と、ベース部４と、ベース部４上
に配設された複合型受発光デバイスとしての受発光素子
５及び光学系６とを備えている。
【０００３】光学ピックアップ１は、ホルダー３がフォ
ーカシング方向及びトラッキング方向に移動されること
により、受発光素子５から出射されたレーザ光を光学系
６及び対物レンズ２を介して、ホルダー３の上方で回転
駆動される光ディスク７の信号記録面上のある一点に収
束合焦させ、光ディスク７の信号記録面から反射された
レーザ光（戻り光）を対物レンズ２及び光学系６を介し
て受発光素子５内に入射させる。
ーカシング方向及びトラッキング方向に移動されること
により、受発光素子５から出射されたレーザ光を光学系
６及び対物レンズ２を介して、ホルダー３の上方で回転
駆動される光ディスク７の信号記録面上のある一点に収
束合焦させ、光ディスク７の信号記録面から反射された
レーザ光（戻り光）を対物レンズ２及び光学系６を介し
て受発光素子５内に入射させる。
【０００４】ここで、光学系６は、受発光素子５から出
射されたレーザ光を対物レンズ２に導き、また、光ディ
スク７からの戻り光を対物レンズ２から受発光素子５に
導くもので、立ち上げミラー６ａを有している。また、
対物レンズ２を二軸方向に駆動するための図示しない二
軸アクチュエータにより、対物レンズ２がフォーカシン
グ方向及びトラッキング方向に移動調整されることによ
り、受発光素子５から出射されたレーザ光は、立ち上げ
ミラー６ａ，対物レンズ２を介して、光ディスク７の信
号記録面に収束合焦するようになっている。光ディスク
７の信号記録面で反射されたレーザ光（戻り光）は、対
物レンズ２及び立ち上げミラー６ａを介して、受発光素
子５に入射される。
射されたレーザ光を対物レンズ２に導き、また、光ディ
スク７からの戻り光を対物レンズ２から受発光素子５に
導くもので、立ち上げミラー６ａを有している。また、
対物レンズ２を二軸方向に駆動するための図示しない二
軸アクチュエータにより、対物レンズ２がフォーカシン
グ方向及びトラッキング方向に移動調整されることによ
り、受発光素子５から出射されたレーザ光は、立ち上げ
ミラー６ａ，対物レンズ２を介して、光ディスク７の信
号記録面に収束合焦するようになっている。光ディスク
７の信号記録面で反射されたレーザ光（戻り光）は、対
物レンズ２及び立ち上げミラー６ａを介して、受発光素
子５に入射される。
【０００５】上記受発光素子５は、図６に示すように、
第一の半導体基板５ａ上に光出力用の第二の半導体基板
５ｂが載置され、この第二の半導体基板５ｂ上に発光素
子としての半導体レーザ５ｃが搭載されている。半導体
レーザ５ｃの前方の第一の半導体基板５ａ上には、台形
形状のマイクロプリズム５ｄが、その半透過面としての
傾斜面を半導体レーザ５ｃ側にして、設置されている。
さらに、受発光素子５は、その全体がカバー８により覆
われていると共に、このカバー８の内面に、立ち上げミ
ラー６ａに向いて４５度傾斜した反射面８ａを備えてい
る。
第一の半導体基板５ａ上に光出力用の第二の半導体基板
５ｂが載置され、この第二の半導体基板５ｂ上に発光素
子としての半導体レーザ５ｃが搭載されている。半導体
レーザ５ｃの前方の第一の半導体基板５ａ上には、台形
形状のマイクロプリズム５ｄが、その半透過面としての
傾斜面を半導体レーザ５ｃ側にして、設置されている。
さらに、受発光素子５は、その全体がカバー８により覆
われていると共に、このカバー８の内面に、立ち上げミ
ラー６ａに向いて４５度傾斜した反射面８ａを備えてい
る。
【０００６】これにより、半導体レーザ５ｃから第二の
半導体基板５ｂの表面に沿って出射した光ビームは、マ
イクロプリズム５ｄの傾斜面にて反射されて、上方に向
かって進み、カバー８の反射面８ａによって反射され、
立ち上げミラー６ａに向かって進むことになる。そし
て、立ち上げミラー６ａにより反射された光ビームは、
対物レンズ２を介して、光ディスク７の信号記録面に収
束される。光ディスク７の信号記録面からの戻り光は、
再び、対物レンズ２，立ち上げミラー６ａを介して、さ
らにカバー８の反射面８ａを介して、マイクロプリズム
５ｄの傾斜面から、マイクロプリズム５ｄ内に入射し、
マイクロプリズム５ｄの底面に達する。このマイクロプ
リズム５ｄの底面に達した戻り光は、一部がこの底面を
透過すると共に、一部がこの底面で反射され、マイクロ
プリズム５ｄの上面に向かって進む。
半導体基板５ｂの表面に沿って出射した光ビームは、マ
イクロプリズム５ｄの傾斜面にて反射されて、上方に向
かって進み、カバー８の反射面８ａによって反射され、
立ち上げミラー６ａに向かって進むことになる。そし
て、立ち上げミラー６ａにより反射された光ビームは、
対物レンズ２を介して、光ディスク７の信号記録面に収
束される。光ディスク７の信号記録面からの戻り光は、
再び、対物レンズ２，立ち上げミラー６ａを介して、さ
らにカバー８の反射面８ａを介して、マイクロプリズム
５ｄの傾斜面から、マイクロプリズム５ｄ内に入射し、
マイクロプリズム５ｄの底面に達する。このマイクロプ
リズム５ｄの底面に達した戻り光は、一部がこの底面を
透過すると共に、一部がこの底面で反射され、マイクロ
プリズム５ｄの上面に向かって進む。
【０００７】ここで、図６に示すように、マイクロプリ
ズム５ｄの戻り光入射位置の下部の第一の半導体基板５
ａ上には、第一の光検出器５ｅが形成されている。ま
た、上記底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム
５ｄの上面にて内部へ反射されて、再びマイクロプリズ
ム５ｄの底面に入射される。そして、マイクロプリズム
５ｄの上面で反射された戻り光の入射されるマイクロプ
リズム５ｄの底面部分の下部の第一の半導体基板５ａに
は、第二の光検出器５ｆが形成されている。
ズム５ｄの戻り光入射位置の下部の第一の半導体基板５
ａ上には、第一の光検出器５ｅが形成されている。ま
た、上記底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム
５ｄの上面にて内部へ反射されて、再びマイクロプリズ
ム５ｄの底面に入射される。そして、マイクロプリズム
５ｄの上面で反射された戻り光の入射されるマイクロプ
リズム５ｄの底面部分の下部の第一の半導体基板５ａに
は、第二の光検出器５ｆが形成されている。
【０００８】上記第一の光検出器５ｅ，第二の光検出器
５ｆは、それぞれ複数のセンサブロックに分割されてお
り、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独立して出
力されるようになっている。尚、第二の半導体基板５ｂ
上には、半導体レーザ５ｃの出射側とは反対側に、第三
の光検出器５ｇが備えられている。この第三の光検出器
５ｇは、半導体レーザ５ｃの発光強度をモニタするため
のものである。また、受発光素子５は、例えば図７に示
すように、発光素子及び受光素子を一体の光学ブロック
として、パッケージ５ｈに封止されることにより、一体
化されている。
５ｆは、それぞれ複数のセンサブロックに分割されてお
り、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独立して出
力されるようになっている。尚、第二の半導体基板５ｂ
上には、半導体レーザ５ｃの出射側とは反対側に、第三
の光検出器５ｇが備えられている。この第三の光検出器
５ｇは、半導体レーザ５ｃの発光強度をモニタするため
のものである。また、受発光素子５は、例えば図７に示
すように、発光素子及び受光素子を一体の光学ブロック
として、パッケージ５ｈに封止されることにより、一体
化されている。
【０００９】このように構成された光学ピックアップ１
によれば、受発光素子５の半導体レーザ５ｃから出射さ
れたレーザ光は、マイクロプリズム５ｄの傾斜面に入射
し、この傾斜面で、反射される。マイクロプリズム５ｄ
の傾斜面で反射されたレーザ光は、立ち上げミラー６ａ
及び対物レンズ２を介して、光ディスク７の信号記録面
の所望のトラック位置のある一点に集束される。光ディ
スク７からの戻り光は、再び、対物レンズ２，立ち上げ
ミラー６ａを介して、受発光素子５のマイクロプリズム
５ｄの傾斜面に入射し、この傾斜面を透過することによ
り、マイクロプリズム５ｄ内に進む。
によれば、受発光素子５の半導体レーザ５ｃから出射さ
れたレーザ光は、マイクロプリズム５ｄの傾斜面に入射
し、この傾斜面で、反射される。マイクロプリズム５ｄ
の傾斜面で反射されたレーザ光は、立ち上げミラー６ａ
及び対物レンズ２を介して、光ディスク７の信号記録面
の所望のトラック位置のある一点に集束される。光ディ
スク７からの戻り光は、再び、対物レンズ２，立ち上げ
ミラー６ａを介して、受発光素子５のマイクロプリズム
５ｄの傾斜面に入射し、この傾斜面を透過することによ
り、マイクロプリズム５ｄ内に進む。
【００１０】マイクロプリズム５ｄ内に入射した戻り光
は、このマイクロプリズム５ｄの底面に達する。この底
面に入射した戻り光は、一部が透過すると共に、一部が
マイクロプリズム５ｄの上面方向に反射される。底面を
通過した戻り光は、第一の光検出器５ｅに入射され、他
方、底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム５ｄ
の上面で反射され、マイクロプリズム５ｄの底面を通過
して、第二の光検出器５ｆに入射する。
は、このマイクロプリズム５ｄの底面に達する。この底
面に入射した戻り光は、一部が透過すると共に、一部が
マイクロプリズム５ｄの上面方向に反射される。底面を
通過した戻り光は、第一の光検出器５ｅに入射され、他
方、底面で反射された戻り光は、マイクロプリズム５ｄ
の上面で反射され、マイクロプリズム５ｄの底面を通過
して、第二の光検出器５ｆに入射する。
【００１１】このように戻り光が、第一の光検出器５ｅ
及び第二の光検出器５ｆに入射するので、光検出器５ｅ
及び５ｆの各センサブロックからの検出信号に基づい
て、再生信号や、例えばいわゆる差動３分割法（Ｄ−３
ＤＦ法）により、フォーカス信号が検出され、また第一
の光検出器５ｅの各センサ部の検出信号に基づいて、所
謂プッシュプル方等により、トラッキングエラーが検出
される。
及び第二の光検出器５ｆに入射するので、光検出器５ｅ
及び５ｆの各センサブロックからの検出信号に基づい
て、再生信号や、例えばいわゆる差動３分割法（Ｄ−３
ＤＦ法）により、フォーカス信号が検出され、また第一
の光検出器５ｅの各センサ部の検出信号に基づいて、所
謂プッシュプル方等により、トラッキングエラーが検出
される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５に
示したコンパクトディスク用の光学ピックアップ１にお
いては、受発光素子５の半導体レーザ５ｃから出射する
光ビームのうち、光ディスク７に達して、光ディスク７
の信号再生に寄与するのは、一部である。即ち、半導体
レーザ５ｃからマイクロプリズム５ｄとは反対側の面か
ら出射する光ビームは、一部が第三の光検出器５ｇに入
射して、その発光強度のモニタに使用されるだけで、他
の光ビームは、図５に斜線で示すように、不要光とし
て、カバー８内に拡散することになる。従って、これら
の不要光の拡散により、迷光が生じ、光学ピックアップ
１の動作特性が低下することになり、光学ピックアップ
１による光ディスク７の再生動作の安定性を損なうこと
になるという問題があった。
示したコンパクトディスク用の光学ピックアップ１にお
いては、受発光素子５の半導体レーザ５ｃから出射する
光ビームのうち、光ディスク７に達して、光ディスク７
の信号再生に寄与するのは、一部である。即ち、半導体
レーザ５ｃからマイクロプリズム５ｄとは反対側の面か
ら出射する光ビームは、一部が第三の光検出器５ｇに入
射して、その発光強度のモニタに使用されるだけで、他
の光ビームは、図５に斜線で示すように、不要光とし
て、カバー８内に拡散することになる。従って、これら
の不要光の拡散により、迷光が生じ、光学ピックアップ
１の動作特性が低下することになり、光学ピックアップ
１による光ディスク７の再生動作の安定性を損なうこと
になるという問題があった。
【００１３】また、上記光学ピックアップ１は、受発光
素子５が図７に示すように、パッケージ化されることに
より、内部の光学部品が外部から遮蔽され、高い信頼性
を得るようにしているが、光学ピックアップのさらなる
小型化やコストダウンに障害になってしまう。
素子５が図７に示すように、パッケージ化されることに
より、内部の光学部品が外部から遮蔽され、高い信頼性
を得るようにしているが、光学ピックアップのさらなる
小型化やコストダウンに障害になってしまう。
【００１４】このため、図８に示すように、受発光素子
が一体化された、所謂集積一体型の光学ピックアップも
考案されている。図８において、光学ピックアップ９
は、光学ピックアップ９の信号処理等の回路が構成され
る基板９ａ上に、受発光素子５が直接に配設されている
と共に、対物レンズ２を備えたホルダー３をフォーカシ
ング方向及びトラッキング方向に移動調整するための二
軸アクチュエータ９ｂ，光学系６の立ち上げミラー６ａ
も基板９ａ上に装着されている。このような構成の集積
一体型光学ピックアップ９の場合、前述した半導体レー
ザ５ｃからの不要光は、さらに増加することになり、光
学ピックアップ９の動作特性を劣化させることになって
しまう。
が一体化された、所謂集積一体型の光学ピックアップも
考案されている。図８において、光学ピックアップ９
は、光学ピックアップ９の信号処理等の回路が構成され
る基板９ａ上に、受発光素子５が直接に配設されている
と共に、対物レンズ２を備えたホルダー３をフォーカシ
ング方向及びトラッキング方向に移動調整するための二
軸アクチュエータ９ｂ，光学系６の立ち上げミラー６ａ
も基板９ａ上に装着されている。このような構成の集積
一体型光学ピックアップ９の場合、前述した半導体レー
ザ５ｃからの不要光は、さらに増加することになり、光
学ピックアップ９の動作特性を劣化させることになって
しまう。
【００１５】本発明は、以上の点に鑑み、発光素子から
の不要光を除去することにより、小型，軽量で且つ信頼
性の高い光偏向部品及びこれを利用した光学ピックアッ
プを提供することを目的としている。
の不要光を除去することにより、小型，軽量で且つ信頼
性の高い光偏向部品及びこれを利用した光学ピックアッ
プを提供することを目的としている。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光源から出射される光ビームまたは外部からの戻
り光の光路中に配設され、前記光路を折曲げるために光
ビームを偏向する反射部を備えた光偏向部品において、
この光偏向部品が備えられる光学機器の動作特性に寄与
しない不要光を除去するための光吸収部を備えているこ
とを特徴とする光偏向部品により、達成される。
れば、光源から出射される光ビームまたは外部からの戻
り光の光路中に配設され、前記光路を折曲げるために光
ビームを偏向する反射部を備えた光偏向部品において、
この光偏向部品が備えられる光学機器の動作特性に寄与
しない不要光を除去するための光吸収部を備えているこ
とを特徴とする光偏向部品により、達成される。
【００１７】また、上記目的は、本発明によれば、受発
光素子と、前記受発光素子から出射されたレーザ光を光
ディスクの信号記録面上に合焦させて照射するととも
に、前記光ディスクの信号記録面からの戻り光を前記受
発光素子に導入する光学系と、上記光学系の光路中に配
設され、光路を折曲げるために、光ビームを偏向する反
射部を有する光偏向部品とを備え、前記光偏向部品は、
この光偏向部品が備えられる光学ピックアップの動作特
性に寄与しない不要光を、除去するための光吸収部を備
えている光学ピックアップにより、達成される。
光素子と、前記受発光素子から出射されたレーザ光を光
ディスクの信号記録面上に合焦させて照射するととも
に、前記光ディスクの信号記録面からの戻り光を前記受
発光素子に導入する光学系と、上記光学系の光路中に配
設され、光路を折曲げるために、光ビームを偏向する反
射部を有する光偏向部品とを備え、前記光偏向部品は、
この光偏向部品が備えられる光学ピックアップの動作特
性に寄与しない不要光を、除去するための光吸収部を備
えている光学ピックアップにより、達成される。
【００１８】
【作用】上記構成によれば、光偏向部品に、不要光を除
去するための光吸収部が備えられているので、この光偏
向部品が装着される光学機器，例えば光学ピックアップ
の受発光素子から出射された光ビームのうち、この光学
ピックアップの動作特性に寄与しない不要光は、光偏向
部品の光吸収部に入射することにより、吸収されること
になる。
去するための光吸収部が備えられているので、この光偏
向部品が装着される光学機器，例えば光学ピックアップ
の受発光素子から出射された光ビームのうち、この光学
ピックアップの動作特性に寄与しない不要光は、光偏向
部品の光吸収部に入射することにより、吸収されること
になる。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施例は、
本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種
々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説
明において、特に本発明を限定する旨の記載がない限
り、これらの態様に限られるものではない。
づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施例は、
本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種
々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説
明において、特に本発明を限定する旨の記載がない限
り、これらの態様に限られるものではない。
【００２０】図１は、本発明による光偏向部品を備えた
コンパクトディスク用の光学ピックアップの好適な実施
例を示す図である。図１において、光学ピックアップ１
０は、対物レンズ１１を備えたホルダー１２と、ベース
部（基板）１３と、ベース部１３上に配設された受発光
素子１４及び光学系１５とを含んでいる。これらの構成
において、受発光素子１４を包囲するカバー１７以外の
構成は図５の光学ピックアップと同様であるから、以
下、相違点を中心に説明する。
コンパクトディスク用の光学ピックアップの好適な実施
例を示す図である。図１において、光学ピックアップ１
０は、対物レンズ１１を備えたホルダー１２と、ベース
部（基板）１３と、ベース部１３上に配設された受発光
素子１４及び光学系１５とを含んでいる。これらの構成
において、受発光素子１４を包囲するカバー１７以外の
構成は図５の光学ピックアップと同様であるから、以
下、相違点を中心に説明する。
【００２１】受発光素子１４は、図６のものとほぼ同様
であるが、図２に示すように、第一の半導体基板１４ａ
上に光出力用の第二の半導体基板１４ｂが載置され、こ
の第二の半導体基板１４ｂ上に発光素子としての半導体
レーザ１４ｃが搭載され、半導体レーザ１４ｃの前方の
第一の半導体基板１４ａ上には、台形形状のマイクロプ
リズム１４ｄが、設置されている。さらに、受発光素子
１４は、その全体が光偏向部品として機能するカバー１
７により覆われていると共に、このカバー１７の内面
に、立ち上げミラー１５ａに向いて４５度傾斜した反射
面１７ａを備えている。
であるが、図２に示すように、第一の半導体基板１４ａ
上に光出力用の第二の半導体基板１４ｂが載置され、こ
の第二の半導体基板１４ｂ上に発光素子としての半導体
レーザ１４ｃが搭載され、半導体レーザ１４ｃの前方の
第一の半導体基板１４ａ上には、台形形状のマイクロプ
リズム１４ｄが、設置されている。さらに、受発光素子
１４は、その全体が光偏向部品として機能するカバー１
７により覆われていると共に、このカバー１７の内面
に、立ち上げミラー１５ａに向いて４５度傾斜した反射
面１７ａを備えている。
【００２２】これにより、半導体レーザ１４ｃから出射
した光ビームは、図５の場合とほぼ同様の光路を通って
光ディスク１６の信号記録面に進み、また、光ディスク
１６の信号記録面からの戻り光は、カバー１７の反射面
１７ａを介して、マイクロプリズム１４ｄの傾斜面を透
過して、マイクロプリズム１４ｄの底面に達する。
した光ビームは、図５の場合とほぼ同様の光路を通って
光ディスク１６の信号記録面に進み、また、光ディスク
１６の信号記録面からの戻り光は、カバー１７の反射面
１７ａを介して、マイクロプリズム１４ｄの傾斜面を透
過して、マイクロプリズム１４ｄの底面に達する。
【００２３】このマイクロプリズム１４ｄの底面に達し
た戻り光は、一部がこの底面を透過すると共に、一部が
この底面で反射され、マイクロプリズム１４ｄの上面に
向かって進む。ここで、マイクロプリズム１４ｄの戻り
光入射位置の下部の第一の半導体基板１４ａ上には、第
一の光検出器１４ｅが形成されている。また、上記底面
で反射された戻り光は、マイクロプリズム１４ｄの上面
にて反射されて、再びマイクロプリズム１４ｄの底面に
入射される。そして、マイクロプリズム１４ｄの上面で
反射された戻り光の入射されるマイクロプリズム１４ｄ
の底面部分の下部の第一の半導体基板１４ａには、第二
の光検出器１４ｆが形成されている。
た戻り光は、一部がこの底面を透過すると共に、一部が
この底面で反射され、マイクロプリズム１４ｄの上面に
向かって進む。ここで、マイクロプリズム１４ｄの戻り
光入射位置の下部の第一の半導体基板１４ａ上には、第
一の光検出器１４ｅが形成されている。また、上記底面
で反射された戻り光は、マイクロプリズム１４ｄの上面
にて反射されて、再びマイクロプリズム１４ｄの底面に
入射される。そして、マイクロプリズム１４ｄの上面で
反射された戻り光の入射されるマイクロプリズム１４ｄ
の底面部分の下部の第一の半導体基板１４ａには、第二
の光検出器１４ｆが形成されている。
【００２４】尚、上記第一の光検出器１４ｅ，第二の光
検出器１４ｆは、それぞれ複数のセンサブロックに分割
されており、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独
立して出力されるようになっている。また、第二の半導
体基板１４ｂ上には、半導体レーザ１４ｃの出射側とは
反対側に、第三の光検出器１４ｇが備えられている。こ
の第三の光検出器１４ｇは、半導体レーザ１４ｃの発光
強度をモニタするためのものである。
検出器１４ｆは、それぞれ複数のセンサブロックに分割
されており、各センサブロックの検出信号がそれぞれ独
立して出力されるようになっている。また、第二の半導
体基板１４ｂ上には、半導体レーザ１４ｃの出射側とは
反対側に、第三の光検出器１４ｇが備えられている。こ
の第三の光検出器１４ｇは、半導体レーザ１４ｃの発光
強度をモニタするためのものである。
【００２５】光偏向部品としてのカバー１７は、その内
面のうち、上述した反射面１７ａ及び透光部である前面
１７ｂを除く内面が、光吸収部１７ｃとして構成されて
いる。ここで、カバー１７は、例えば透明材料であるプ
ラスチック等から成形されるが、透光部である前面１７
ｂ以外は、光透過性を必要としないため、例えばアクリ
ル，ポリエステル，アモルファスポリオレフィン等の透
明な光学プラスチックとポリフェニレンサルファイド
（ＰＰＳ），熱硬化性エポキシ樹脂等の不透明樹脂によ
る二色成形や、透明ガラスと不透明樹脂による一体成形
等によっても構成される。
面のうち、上述した反射面１７ａ及び透光部である前面
１７ｂを除く内面が、光吸収部１７ｃとして構成されて
いる。ここで、カバー１７は、例えば透明材料であるプ
ラスチック等から成形されるが、透光部である前面１７
ｂ以外は、光透過性を必要としないため、例えばアクリ
ル，ポリエステル，アモルファスポリオレフィン等の透
明な光学プラスチックとポリフェニレンサルファイド
（ＰＰＳ），熱硬化性エポキシ樹脂等の不透明樹脂によ
る二色成形や、透明ガラスと不透明樹脂による一体成形
等によっても構成される。
【００２６】また、上記反射面１７ａは、例えば誘電体
多層膜や高反射金属膜から構成されている。さらに、上
記光吸収部１７ｃは、不要光を吸収する特性を有するよ
うに、例えば図３に示すように、カバー１７の内面に、
ＳｉＯ２等から成る接着層１７ｄ，クロム等の金属吸収
膜１７ｅ，ＴｉＯ２等から成る無反射膜１７ｆを積層
し、さらにその上からＳｉＯ２等から成る保護層１７ｇ
を形成することにより、構成されるが、黒色塗料を塗布
したり、黒色材料を表面処理することによっても、構成
される。
多層膜や高反射金属膜から構成されている。さらに、上
記光吸収部１７ｃは、不要光を吸収する特性を有するよ
うに、例えば図３に示すように、カバー１７の内面に、
ＳｉＯ２等から成る接着層１７ｄ，クロム等の金属吸収
膜１７ｅ，ＴｉＯ２等から成る無反射膜１７ｆを積層
し、さらにその上からＳｉＯ２等から成る保護層１７ｇ
を形成することにより、構成されるが、黒色塗料を塗布
したり、黒色材料を表面処理することによっても、構成
される。
【００２７】本実施例は以上のように構成されており、
本実施例の光学ピックアップ１０では、光ディスク１６
に入射する光ビームＬ１は、ホルダー１２の開口１２ａ
によって制限されることにより、光ディスク１６に対す
る信号の記録または再生に寄与するが、この光ビームＬ
１の外側に光は、不要光となる。また、半導体レーザ１
４ｃから後方に向かって出射する出射光制御用光ビーム
Ｌ２は、下側部分が、光検出器１４ｇに入射することに
より利用されるが、上側部分は、不要光となる。
本実施例の光学ピックアップ１０では、光ディスク１６
に入射する光ビームＬ１は、ホルダー１２の開口１２ａ
によって制限されることにより、光ディスク１６に対す
る信号の記録または再生に寄与するが、この光ビームＬ
１の外側に光は、不要光となる。また、半導体レーザ１
４ｃから後方に向かって出射する出射光制御用光ビーム
Ｌ２は、下側部分が、光検出器１４ｇに入射することに
より利用されるが、上側部分は、不要光となる。
【００２８】これらの不要光が、直接または間接に第一
及び第二の光検出器１４ｅ，１４ｆに入射すると、光学
ピックアップ１０の動作特性が不安定になって、最悪の
場合には、誤動作が生ずることになる。しかしながら、
これらの不要光は、光偏向部品であるカバー１７の内面
の光吸収部１７ｃによって吸収されることにより、上記
不要光が除去される。これにより、光学ピックアップ１
０は、不要光によって動作特性が不安定になるようなこ
とはなく、正確な信号の記録または再生が行われること
になる。
及び第二の光検出器１４ｅ，１４ｆに入射すると、光学
ピックアップ１０の動作特性が不安定になって、最悪の
場合には、誤動作が生ずることになる。しかしながら、
これらの不要光は、光偏向部品であるカバー１７の内面
の光吸収部１７ｃによって吸収されることにより、上記
不要光が除去される。これにより、光学ピックアップ１
０は、不要光によって動作特性が不安定になるようなこ
とはなく、正確な信号の記録または再生が行われること
になる。
【００２９】図４は、本発明による光偏向部品の第二の
実施例を示している。図４において、光偏向部品である
カバー１７は、図１及び図２の実施例とほぼ同様に構成
されており、反射面１７ａ，透光部１７ｂ及び光吸収部
１７ｃを備えている。さらに、カバー１７は、その前端
部及び後端部にて、それぞれ下方に突出する係合部１
８，１９を備えている。各係合部１８，１９は、下端に
内側に突出した係合爪１８ａ，１９ａを有している。
実施例を示している。図４において、光偏向部品である
カバー１７は、図１及び図２の実施例とほぼ同様に構成
されており、反射面１７ａ，透光部１７ｂ及び光吸収部
１７ｃを備えている。さらに、カバー１７は、その前端
部及び後端部にて、それぞれ下方に突出する係合部１
８，１９を備えている。各係合部１８，１９は、下端に
内側に突出した係合爪１８ａ，１９ａを有している。
【００３０】これに対して、ベース部（基板）１３に
は、上記各係合部１８，１９を受容するための取付孔１
３ａ，１３ｂが設けられている。これらの取付孔１３
ａ，１３ｂは、マイクロプリズム１４ｄの傾斜面で上方
に向かって反射された光ビームの光軸を中心とする弧状
に形成されている。これにより、カバー１７は、その係
合部１８，１９が、ベース部１３の取付孔１３ａ，１３
ｂに挿入されたとき、各係合部１８，１９が外側に変形
することにより、係合爪１８ａ，１９ａが取付孔１３
ａ，１３ｂ内に嵌入する。そして、カバー１７がベース
部１３の表面に載置された状態で、係合爪１８ａ，１９
ａは、取付孔１３ａ，１３ｂを通過して、その弾性に基
づいて内側に復元する。これにより、係合爪１８ａ，１
９ｃは、ベース部１３の下面に係合することになり、カ
バー１７がベース部１３に対して固定保持されることに
なる。
は、上記各係合部１８，１９を受容するための取付孔１
３ａ，１３ｂが設けられている。これらの取付孔１３
ａ，１３ｂは、マイクロプリズム１４ｄの傾斜面で上方
に向かって反射された光ビームの光軸を中心とする弧状
に形成されている。これにより、カバー１７は、その係
合部１８，１９が、ベース部１３の取付孔１３ａ，１３
ｂに挿入されたとき、各係合部１８，１９が外側に変形
することにより、係合爪１８ａ，１９ａが取付孔１３
ａ，１３ｂ内に嵌入する。そして、カバー１７がベース
部１３の表面に載置された状態で、係合爪１８ａ，１９
ａは、取付孔１３ａ，１３ｂを通過して、その弾性に基
づいて内側に復元する。これにより、係合爪１８ａ，１
９ｃは、ベース部１３の下面に係合することになり、カ
バー１７がベース部１３に対して固定保持されることに
なる。
【００３１】ここで、取付孔１３ａ，１３ｂは、上述の
ように弧状に形成されていることから、カバー１７は、
上記光軸の周りに回動される。従って、カバー１７の反
射面１７ａによる光ビームの偏向方向が、ベース部１３
の表面に平行な面内で回動調整されることになる。これ
により、各光学部品の取付誤差による光軸のズレがある
場合には、例えば光学ピックアップ１０の光学部の組立
後に、対物レンズ１１の出射光ビームの強度分布を測定
しながら、カバー１７を上記光軸の周りに回動させるこ
とにより、出射光ビームの強度の最適な状態に、光偏向
部品であるカバー１７の反射面１７ａによる偏向光軸の
調整が行われることになる。
ように弧状に形成されていることから、カバー１７は、
上記光軸の周りに回動される。従って、カバー１７の反
射面１７ａによる光ビームの偏向方向が、ベース部１３
の表面に平行な面内で回動調整されることになる。これ
により、各光学部品の取付誤差による光軸のズレがある
場合には、例えば光学ピックアップ１０の光学部の組立
後に、対物レンズ１１の出射光ビームの強度分布を測定
しながら、カバー１７を上記光軸の周りに回動させるこ
とにより、出射光ビームの強度の最適な状態に、光偏向
部品であるカバー１７の反射面１７ａによる偏向光軸の
調整が行われることになる。
【００３２】即ち、光偏向部品であるカバー１７が上記
光軸の周りに回動されることにより、カバー１７は、ベ
ース部１３と平行な面内で偏向方向の調整が行われるこ
とになり、受発光素子１４の取付精度が緩和され、組立
が容易に行なわれ、組立コストが低減されることにな
る。
光軸の周りに回動されることにより、カバー１７は、ベ
ース部１３と平行な面内で偏向方向の調整が行われるこ
とになり、受発光素子１４の取付精度が緩和され、組立
が容易に行なわれ、組立コストが低減されることにな
る。
【００３３】上記実施例においては、コンパクトディス
ク用の光学ピックアップ１０の場合について説明した
が、これに限らず、ミニディスク等の光磁気ディスクを
含む他のタイプの光ディスクのための光学ピックアップ
及びその光偏向部品に対して、本発明を適用できること
は明らかである。
ク用の光学ピックアップ１０の場合について説明した
が、これに限らず、ミニディスク等の光磁気ディスクを
含む他のタイプの光ディスクのための光学ピックアップ
及びその光偏向部品に対して、本発明を適用できること
は明らかである。
【００３４】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、発
光素子からの不要光を除去することにより、小型，軽量
で且つ信頼性の高い光偏向部品及びこれを利用した光学
ピックアップを提供することができる。
光素子からの不要光を除去することにより、小型，軽量
で且つ信頼性の高い光偏向部品及びこれを利用した光学
ピックアップを提供することができる。
【図１】本発明による光偏向部品を備えた光学ピックア
ップの第一の実施例を示す概略図である。
ップの第一の実施例を示す概略図である。
【図２】図１の光学ピックアップの要部を示す拡大断面
図である。
図である。
【図３】図２の光偏向部品の光吸収部の構成例を示す拡
大断面図である。
大断面図である。
【図４】本発明による光偏向部品を備えた光学ピックア
ップの第二の実施例の要部を示す拡大断面図である。
ップの第二の実施例の要部を示す拡大断面図である。
【図５】従来の光学ピックアップの一例を示す概略図で
ある。
ある。
【図６】図５の光学ピックアップにおける受発光素子の
構成を示す拡大斜視図である。
構成を示す拡大斜視図である。
【図７】図６の受発光素子のパッケージを示す斜視図で
ある。
ある。
【図８】従来の光学ピックアップの他の例を示す概略図
である。
である。
１０ 光学ピックアップ １１ 対物レンズ １２ ホルダー １３ ベース部 １４ 受発光素子 １５ 光学系 １６ 光ディスク １７ カバー（光偏向部品） １７ａ 反射面 １７ｂ 透光部 １７ｃ 光吸収部 １８ 係合部 １９ 係合部
Claims (6)
- 【請求項１】 光源から出射される光ビームまたは外部
からの戻り光の光路中に配設され、前記光路を折曲げる
ために光ビームを偏向する反射部を備えた光偏向部品に
おいて、 この光偏向部品が備えられる光学機器の動作特性に寄与
しない不要光を除去するための光吸収部を備えているこ
とを特徴とする光偏向部品。 - 【請求項２】 前記光吸収部が、反射部と一体に成形さ
れていることを特徴とする請求項１に記載の光偏向部
品。 - 【請求項３】 取り付けられるべき基板と平行な面内に
て、前記反射部による偏向方向が回動可能であるよう
に、基板に対して配設されていることを特徴とする請求
項１に記載の光偏向部品。 - 【請求項４】 受発光素子と、 前記受発光素子から出射されたレーザ光を光ディスクの
信号記録面上に合焦させて照射するとともに、前記光デ
ィスクの信号記録面からの戻り光を前記受発光素子に導
入する光学系と、 前記光学系の光路中に配設され、光路を折曲げるため
に、光ビームを偏向する反射部を有する光偏向部品とを
備え、 前記光偏向部品は、 この光偏向部品が備えられる光学ピックアップの動作特
性に寄与しない不要光を、除去するための光吸収部を備
えていることを特徴とする光学ピックアップ。 - 【請求項５】 前記光吸収部が、反射部と一体に成形さ
れていることを特徴とする請求項４に記載の光学ピック
アップ。 - 【請求項６】 取り付けられるべき基板と平行な面内に
て、前記反射部による偏向方向が回動可能であるよう
に、前記光偏向部品が基板に対して配設されていること
を特徴とする請求項４に記載の光学ピックアップ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7175407A JPH095507A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光偏向部品及び光学ピックアップ |
| US08/661,460 US5727111A (en) | 1995-06-19 | 1996-06-11 | Optical pick-up and light detecting cover therefor |
| KR1019960021936A KR100464763B1 (ko) | 1995-06-19 | 1996-06-18 | 광학픽업및그광편향커버 |
| CNB021406367A CN1221958C (zh) | 1995-06-19 | 1996-06-19 | 光学传感装置 |
| CN96110481A CN1106008C (zh) | 1995-06-19 | 1996-06-19 | 光学传感装置和用于光学传感装置的光偏转覆盖层 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7175407A JPH095507A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光偏向部品及び光学ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095507A true JPH095507A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15995560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7175407A Pending JPH095507A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 光偏向部品及び光学ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH095507A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164382A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Mitsutoyo Corp | ミロー型干渉対物レンズ、及び光学機器 |
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7175407A patent/JPH095507A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011164382A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Mitsutoyo Corp | ミロー型干渉対物レンズ、及び光学機器 |
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