KR100457264B1 - 자기저항 메모리 내 셀 저항을 평가하기 위한 장치 - Google Patents
자기저항 메모리 내 셀 저항을 평가하기 위한 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 자기저항 메모리용 평가 회로에 관한 것이다. 특히 낮은 전압 레벨 및 낮은 손실 전도도를 갖는 새로운 부품에 있어 위험한 하이 오프셋 전압은 상기 평가 회로에 의해, 셀의 실제 정보 상태에 따라 좌우되는 셀 전류가 평균 셀 전류만큼 감소되고, 상기 전압차가 상응하는 출력 전위로 변환됨으로써 제거된다
Description
상기 장치는 미국특허 5,173,873, 특히 도 4에 공지되어 있으며, 열마다 각각 하나의 기준 셀의 저항이 사용되고, 그로 인해 평가가 적은 전력 손실로 신속하게 수행된다.
제조 허용오차로 인해, 전체 메모리 셀 필드에 걸쳐 셀 저항이 일정하지 않고, 평가 회로에 의한 저항-전압-변환의 실행 이후 동일한 정보 상태동안 상이한 출력 전압이 발생하며, 이러한 출력 전압은 더이상 후방접속된 결정자 회로에 의해 정확하게 할당될 수 없다.
본 발명은 기준 저항을 이용하여 자기저항 메모리 셀(MRAM)의 자기적으로 변동 가능한 전기 저항을 평가하기 위한 장치에 관한 것이다. 상기 메모리 셀은 일반적으로 연자성층 및 강자성층을 가지며, 상기 층들은 도전성을 나타내고 터널 산화막에 의해 서로 분리된다. 이 때 터널링 가능성 및 그에 따른 전기 저항은 상기 두 층의 분극 방향에 따라 좌우된다.
도면은 자기저항 메모리의 하나의 셀 필드의 단면도로서, 비트라인(y+2...y...y-2) 및 워드라인(x-2...x...x+3)의 매트릭스형 배열을 나타낸다.
본 발명의 목적은, 특히 낮은 전압 레벨 및 낮은 전력 손실을 갖는 새로운 부품을 위해 상기 평가 장치 내에서 높은 임계 오프셋-전압이 제거되는, 자기저항 메모리 내 셀 저항을 평가하기 위한 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적은 청구항 제 1항의 특징부에 의해 달성된다. 본 발명의 바람직한 실시예는 종속항인 제 2항에 제시되어있다.
본 발명에 따르면, 셀의 각각의 정보 상태에 따라 좌우되는 셀 전류가 평균 셀 전류만큼 감소되고, 상기 전류차가 상응하는 출력 전압으로 변환되며, 이 때 상기 평균 셀 전류의 형성을 위해서는 상이한 정보 내용을 가진 셀들로부터 이루어지는 셀 저항의 조합이 사용된다.
하기에는 본 발명의 바람직한 실시예가 도면을 참고로 더 자세히 설명된다.
각각의 비트라인과 워드라인 사이에는 자기저항성 저항(R)이 존재하며, 상기 저항(R)은 통상 서로 적층 배치되어 터널 산화막에 의해 분리된 연자성 영역 및 강자성 영역으로 구성된다. 선택된 워드라인(x)과 선택된 비트라인(y) 사이에는 선택된 셀 저항(R)이 놓인다. 여기서는 워드라인의 선택 내지는 어드레싱이 예컨대 전환 스위치(US-2...US+3)에 의해 이루어지고, 상기 전환 스위치(US-2...US+3)는 차례로 각각 워드라인들(x-2...x+3) 중 하나에 연결되며, 상기 전환 스위치(US-2...US+3)를 통해 각각 하나의 선택된 워드라인, 여기서는 워드라인 (x)가 워드라인 전압(VWL)에 연결되고, 다른 워드라인들은 기준 전위(GND)에 연결된다. 상기 워드라인(x)에 연결된 모든 셀 저항이 아니라, 어드레싱된 비트라인(y)에 연결된 셀 저항(R)만이 공통 라인(L)에 접속되기 위해, 스위치 (S)를 제외한 모든 스위치(S-2...S+2)가 개방된 채로 유지된다.
다수의 비트라인 및 워드라인으로 형성된 셀 필드 영역의 경우, 또는 전체 셀 필드의 경우 후방접속된 결정자 단(E)을 가진 평가 회로가 존재하며, 상기 결정자 단(E)은 상기 평가 회로의 출력 전압(VOUT)으로부터 상응하는 데이터 레벨(D)을 발생시킨다.
고유 평가 회로는 연산 증폭기(OP1)를 포함하고, 상기 연산 증폭기(OP1)의 출력부는 출력 전압(VOUT)을 유도하며, 피드백 저항(RG)을 통해 반전 입력부로 피드백되고, 비반전 입력부는 기준 전위에 연결된다. 상기 연산 증폭기(OP1)의 반전 입력부는 분기 라인(L)에 연결되고, 그로 인해 상기 실시예에서는 워드라인 전압(VWL)이 변환 스위치(US), 선택된 셀 저항(R) 및 폐쇄된 스위치(S)를 통해 상기 변환 입력부에 연결되며, 상기 라인(L)으로부터 상응하는 셀 전류(I)가 흘러 나온다. 셀 저항(R)은 저장된 정보에 따라 좌우되고, 다음과 같이 표현될 수 있다.
,
여기서은 평균 저항을, d는 예컨대 소수 % 크기의, 정보에 따라 좌우되는 상대적 저항 변동을 의미한다. 본 발명에서는 전류(I)로부터 평균 전류()가 감산되고, 저항 (RG)에 의해 피드백된 연산 증폭기(OP1)의 반전 입력부에는 전류차()만 전달된다. 상기 평균 전류()는 기준 저항(RREF) 및 기준 전압(VREF)으로 형성되고, 이 때 상기 전압(VREF)은 워드라인 전압(VWL)과 다른 부호를 갖는다. 상기 기준 저항(RREF) 및 기준 전압(VREF)은 셀 저항() 및 워드라인 전압(VWL)에서는 전류 I =이고, 따라서 출력 전압(VOUT)은 0과 같다.
이 경우 기준 전압(VREF)이 바람직하게는 일반적인 변환 연산 증폭기 회로를 이용하여 워드라인 전압(VWL)에 따라 발생할 수 있다. 그러나 역으로, 워드라인 전압(VWL)이 사전 설정된 기준 전압(VREF)으로부터 상기 방식에 의해 발생될 수도 있다.
기준 저항(RREF)은 바람직하게는 셀 저항과 동일한 재료로 형성되어야 한다. 기준 저항(RREF)의 기하학적 특성이 셀 저항과 동일한 경우에는, 저항()만 사용될 수 있고, 평균값()은 사용될 수 없다. 이를 위해 가장 간단한 경우, 저장된 논리 "1"을 갖는 셀의 셀 저항 및 저장된 논리 "0"을 갖는 셀의 셀 저항이 직렬로 접속되고, 이는 값()을 갖는 기준 저항을 공급하며, 상응하는 기준 전압(VREF)을 요구한다. 상기 2 개의 직렬 회로의 병렬 접속을 통해 기준 저항(RREF=)이 간단하게 형성될 수 있다. 가능한 한 많은 셀에 대해 최적인 평균값을 달성하기 위해, 상기와 같은 추가 직렬 회로들이 병렬 접속될 수 있으며, 그로 인해 기준 저항이 감소되고, 이를 위해 필요한 기준 전압도 그에 상응하게 감소된다.
Claims (4)
- 셀 저항 및 상기 셀 저항의 평가를 위한 장치를 갖춘 자기저항 메모리로서,개별 셀 저항(R)의 제 1 단자는 스위치(US)를 통해 워드라인 전압(VWL)에 연결되고, 상기 개별 셀 저항(R)의 제 2 단자는 또 다른 스위치(S)를 통해 라인 노드(L)에 연결될 수 있으며,상기 라인 노드는 기준 저항(RREF)을 통해 기준 전압원(VREF)에 연결되고, 상기 기준 전압원(VREF)은 각각 상기 라인 노드로부터 흘러나오는 셀 전류(I)를 평균 전류()만큼 감소시키며,증폭기(OP1, RG)가 각각의 셀 전류와 평균 전류의 차를 평가 신호로서의 전압(VOUT)으로 변환시키는 자기저항 메모리.
- 제 1항에 있어서,상기 기준 저항(RREF)은 상이한 정보 내용을 갖는 셀의 셀 저항들의 직렬 또는 병렬 접속으로 형성되는 것을 특징으로 하는 자기저항 메모리.
- 제 2항에 있어서,상기 기준 저항은 상이한 정보 내용을 갖는 셀들의 2 개의 셀 저항으로 형성된 직렬 회로를 포함하거나, 또는 직렬 회로들의 병렬 접속을 포함하는 것을 특징으로 하는 자기저항 메모리.
- 제 1항 내지 3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기준 전압(VREF)은 워드라인 전압(VWL)으로부터 형성되거나, 역으로 상기 워드라인 전압은 반전 전압 증폭기 회로를 이용하여 상기 기준 전압으로부터 형성되는 것을 특징으로 하는 자기저항 메모리.
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