KR100441249B1 - 반도체 제조 공정에서의 티오씨 측정 장치 및 그 측정 방법 - Google Patents
반도체 제조 공정에서의 티오씨 측정 장치 및 그 측정 방법 Download PDFInfo
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- 웨이퍼에 형성된 막질과 반응하여 소정의 공정이 진행되는 공정조가 구비되어 있는 공정설비와;상기 공정수행을 위한 하나 이상의 종류의 유체중 어느 하나를 상기 공정조로부터 표본으로 추출하여 공급하는 추출수단과; 그리고상기 추출수단으로부터 공급되는 상기 표본에 포함되어 있는 티오씨(TOC)의 농도를 분석하는 분석기를 포함하되;상기 추출수단은,상기 표본에 포함될 수 있는 기포를 걸러서 상기 분석기로 공급하기 위한 버퍼가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 추출수단의 전단에는 상기 기포의 유무에 따라 상기 추출수단이 상기 표본의 추출방향을 다르게 하기 위한 센서가 설치된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 분석기에는,상기 표본의 농도 또는 산도(pH)에 따라 희석 또는 중화시키기 위한 약액을 공급하는 수용조가 더 연결된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 수용조에는 상기 분석기로 공급되는 상기 약액의 양을 조절하는 유량제어기가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 웨이퍼에 형성된 막질과 반응하여 소정의 공정이 진행되는 공정조가 구비되어 있는 공정설비와;상기 공정수행을 위한 하나 이상의 종류의 유체 중 어느 하나를 상기 공정조로부터 표본으로 추출하여 서로 다른 라인으로 선별적으로 분기되도록 공급하는 추출수단과;상기 추출수단에 연결되어서 상기 유체에 포함될 수 있는 이물질을 걸러내는 버핑수단과; 그리고일측은 상기 추출수단에 연결되며 타측은 상기 버핑수단에 연결되어서 상기 유체에 포함되어 있는 티오씨의 농도를 분석하는 분석기가 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 추출수단의 전단에는 상기 이물질 중 기포를 감지하는 센서가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 분석기에는 상기 유체의 농도가 일정 수준으로 유지되도록 순수가 공급되어 희석하는 순수공급조가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 분석기에는 상기 유체의 산도가 높을 경우 중화시키기 위한 중화조가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 중화를 위해 사용되는 물질은 H3PO4인 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 9 항 또는 제 10 항에 있어서,상기 분석기의 전단에는 공급되는 유량을 제어하기 위한 유량제어기가 더 구비된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 버핑수단은 상기 이물질 중 상기 유체에 포함되어 있는 기포를 제거하기 위한 것임을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 버핑수단은,소정 공간 이격되어 있는 하측으로부터 소정 높이 개방되어서 상기 공간을 수직으로 나누는 격벽을 구비하고 있는 용기와;상기 용기의 상측에 형성되어서 상기 기포를 포함하는 상기 유체가 공급되는 유입구와; 그리고상기 격벽에 근접되게 상기 용기의 하측에 형성되어서 유입된 상기 기포가 부력에 의해 자동으로 걸러진 후 배출되도록 하는 유출구를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 장치.
- 반도체 장치 제조 설비의 티오씨 농도 자동측정 방법은공정조에서 약액표본을 추출하는 단계;추출된 약액표본에 기포가 포함되어 있는지를 감지하는 단계;기포가 포함된 약액표본을 버퍼탱크로 공급하여 버퍼탱크에서 기포를 제거하는 단계;기포가 제거된 약액표본을 분석기로 공급하는 단계;분석기에서 약액표본의 TOC를 분석하는 단계;분석완료된 약액표본을 공정조로 회수하는 단계를 포함하는 반도체 장치 제조 설비의 티오씨 농도 자동측정 방법.
- 제 15항에 있어서,상기 분석기에서 TOC를 분석하기 전 약액표본의 점도와 산도를 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조 설비의 티오씨 농도 자동측정 방법.
- 제 16항에 있어서,약액표본의 전도와 산도 조절은 초순수와 중화액을 공급하여 조절하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조 설비의 티오씨 농도 자동측정 방법.
- 제 17항에 있어서,상기 중화액은 H3PO4인 것을 특징으로 하는 반도체 장치 제조설비의 티오씨 농도 자동측정 방법.
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