KR100426990B1 - 외부의 코드에 따라 프로그래머블하게 기준 전압을 발생시키는 기준 전압 발생 회로 - Google Patents
외부의 코드에 따라 프로그래머블하게 기준 전압을 발생시키는 기준 전압 발생 회로 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
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Abstract
Description
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- 전원전압과 내부 기준 전압 사이에 연결되는 다이오드형 제1 트랜지스터와 상기 내부 기준 전압과 접지 전압 사이에 연결되는 다이오드형 제2 트랜지스터를 갖는 기준 전압 바이어스부; 및외부의 2진 신호들을 조합한 써모미터 코드들에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 상승시키거나 떨어뜨리는 기준 전압 코딩부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 기준 전압 코딩부는상기 써모미터 코드들 각각을 수신하고 상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되는 전압-업 조절부들; 및상기 써모미터 코드들 각각을 수신하고 상기 내부 기준 전압과 상기 접지 전압 사이에 연결되는 전압-다운 조절부들을 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
- 제2항에 있어서, 상기 전압-업 조절부 각각은상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되고 상기 써모미터 코드를 입력하는 인버터형의 제1 및 제2 트랜지스터들; 및상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되고 상기 제1 및 제2 트랜지스터들의 출력에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 상승시키는 제3 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
- 제2항에 있어서, 상기 전압-다운 조절부 각각은상기 내부 기준 전압과 상기 접지전압 사이에 연결되고 상기 써모미터 코드를 입력하는 인버터형의 제4 및 제5 트랜지스터들; 및상기 내부 기준 전압과 상기 접지전압 사이에 연결되고 상기 제4 및 제5 트랜지스터들의 출력에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 떨어뜨리는 제6 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
- 외부로부터 제공되는 2진 코드들을 변환시켜 써모미터 코드들(Thermometer codes)을 발생시키는 바이너리-투-써모미터(Binary-to-Thermometer);소정의 전압레벨로 자동 설정된 후 상기 써모미터 코드들에 응답하고 내부 기준 전압 레벨을 조절하여 내부 기준 전압을 발생하는 내부 기준 전압 발생부;기준 전압 선택 신호에 응답하여 상기 내부 기준 전압 또는 외부 기준 전압을 선택하는 선택부; 및상기 선택부에 의해 선택된 기준 전압을 미세 조정하는 전압 레귤레이터(Voltage Regulator)를 구비하는 것을 특징으로 하는 기준 전압 발생 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 바이너리-투-써모미터는상기 2진 신호들에 응답하는 제1 내지 제7 써모미터 코드 발생부를 구비하는 데,상기 제1 내지 제7 써모미터 코드 발생부 각각은소정의 상기 2진 신호들을 선택적으로 입력하는 논리 게이트;상기 2진 코드들 중 MSB에 응답하여 상기 3-입력 노아 게이트의 출력을 제1 써모미터 코드들로 전송하는 제1 및 제2 전송 게이트; 및상기 2진 코드들 중 MSB에 응답하여 상기 제1 써모미터 코드들을 각각 리셋시키는 트랜지스터들을 구비하는 것을 특징으로 하는 기준 전압 발생 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 내부 기준 전압부는전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되는 다이오드형 제1 트랜지스터와 상기 내부 기준 전압과 접지 전압 사이에 연결되는 다이오드형 제2 트랜지스터를 갖는 기준 전압 바이어스부; 및외부의 2진 신호들을 조합한 써모미터 코드들에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 상승시키거나 떨어뜨리는 기준 전압 코딩부를 구비하는 것을 특징으로 하는 기준 전압 발생 회로.
- 제7항에 있어서, 상기 기준 전압 코딩부는상기 써모미터 코드들 각각을 수신하고 상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되는 전압-업 조절부들; 및상기 써모미터 코드들 각각을 수신하고 상기 내부 기준 전압과 상기 접지 전압 사이에 연결되는 전압-다운 조절부들을 구비하는 것을 특징으로 하는 기준 전압 발생 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 전압-업 조절부 각각은상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되고 상기 써모미터 코드를 입력하는 인버터형의 제1 및 제2 트랜지스터들; 및상기 전원전압과 상기 내부 기준 전압 사이에 연결되고 상기 제1 및 제2 트랜지스터들의 출력에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 상승시키는 제3 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
- 제8항에 있어서, 상기 전압-다운 조절부 각각은상기 내부 기준 전압과 상기 접지전압 사이에 연결되고 상기 써모미터 코드를 입력하는 인버터형의 제4 및 제5 트랜지스터들; 및상기 내부 기준 전압과 상기 접지전압 사이에 연결되고 상기 제4 및 제5 트랜지스터들의 출력에 응답하여 상기 내부 기준 전압을 떨어뜨리는 제6 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 기준 전압 발생 회로.
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Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036883A KR100426990B1 (ko) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 외부의 코드에 따라 프로그래머블하게 기준 전압을 발생시키는 기준 전압 발생 회로 |
US10/059,676 US6806763B2 (en) | 2001-06-27 | 2002-01-30 | Programmable reference voltage generating circuit |
JP2002074362A JP4184680B2 (ja) | 2001-06-27 | 2002-03-18 | 基準電圧発生回路及びその配置方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036883A KR100426990B1 (ko) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 외부의 코드에 따라 프로그래머블하게 기준 전압을 발생시키는 기준 전압 발생 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030000765A KR20030000765A (ko) | 2003-01-06 |
KR100426990B1 true KR100426990B1 (ko) | 2004-04-13 |
Family
ID=19711384
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036883A KR100426990B1 (ko) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 외부의 코드에 따라 프로그래머블하게 기준 전압을 발생시키는 기준 전압 발생 회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6806763B2 (ko) |
JP (1) | JP4184680B2 (ko) |
KR (1) | KR100426990B1 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7541845B2 (en) * | 2001-08-31 | 2009-06-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Signal receiver apparatus and method for detecting logic state represented by an input signal and semiconductor integrated circuit device having the same |
ATE367436T1 (de) * | 2002-05-30 | 2007-08-15 | Natureworks Llc | Verfahren und materialien zur produktion von d- milchsäure in hefe |
JP4419067B2 (ja) * | 2004-07-26 | 2010-02-24 | 株式会社日立製作所 | ディジタルインターフェースを有する半導体装置、メモリ素子及びメモリモジュール |
US20090195286A1 (en) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Sergey Vladimirovich Rylov | Phase shifting using asymmetric interpolator weights |
US7961025B2 (en) * | 2008-01-31 | 2011-06-14 | International Business Machines Corporation | Current-mode phase rotator with partial phase switching |
FR2935559B1 (fr) * | 2008-08-26 | 2011-06-03 | Valeo Equip Electr Moteur | Procede de protection d'une source d'energie, notamment une batterie d'un vehicule automobile |
WO2012164341A1 (en) * | 2011-05-27 | 2012-12-06 | Freescale Semiconductor, Inc. | Voltage regulating circuit and method |
US9075421B2 (en) | 2011-05-27 | 2015-07-07 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit device, voltage regulator module and method for compensating a voltage signal |
US8698534B1 (en) * | 2013-01-10 | 2014-04-15 | Himax Technologies Limited | Digital-to-analog conversion apparatus and current-mode interpolation buffer thereof |
US9699096B2 (en) * | 2013-12-26 | 2017-07-04 | Intel Corporation | Priority-based routing |
CN114499526B (zh) * | 2021-12-31 | 2024-10-11 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 模数转换电路 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0661832A (ja) * | 1992-08-06 | 1994-03-04 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
JPH06261450A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-09-16 | Nittetsu Semiconductor Kk | ヒューズ・プログラマブル降圧回路 |
JPH08237103A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Nec Corp | 半導体集積回路の入力バッファ回路 |
US6087851A (en) * | 1997-04-30 | 2000-07-11 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Method and apparatus for configuring a semiconductor device for compatibility with multiple logic interfaces |
US6331962B1 (en) * | 1999-07-26 | 2001-12-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device including voltage down converter allowing tuning in short period of time and reduction of chip area |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6288563B1 (en) * | 1998-12-31 | 2001-09-11 | Intel Corporation | Slew rate control |
US6185139B1 (en) * | 2000-01-12 | 2001-02-06 | Motorola, Inc. | Circuit and method for enabling semiconductor device burn-in |
-
2001
- 2001-06-27 KR KR10-2001-0036883A patent/KR100426990B1/ko active IP Right Grant
-
2002
- 2002-01-30 US US10/059,676 patent/US6806763B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-03-18 JP JP2002074362A patent/JP4184680B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0661832A (ja) * | 1992-08-06 | 1994-03-04 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
JPH06261450A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-09-16 | Nittetsu Semiconductor Kk | ヒューズ・プログラマブル降圧回路 |
JPH08237103A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Nec Corp | 半導体集積回路の入力バッファ回路 |
US6087851A (en) * | 1997-04-30 | 2000-07-11 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Method and apparatus for configuring a semiconductor device for compatibility with multiple logic interfaces |
US6331962B1 (en) * | 1999-07-26 | 2001-12-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device including voltage down converter allowing tuning in short period of time and reduction of chip area |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030000765A (ko) | 2003-01-06 |
US20030001661A1 (en) | 2003-01-02 |
JP2003032094A (ja) | 2003-01-31 |
US6806763B2 (en) | 2004-10-19 |
JP4184680B2 (ja) | 2008-11-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20010627 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20030730 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20040325 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20040401 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20040402 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070327 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080401 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090316 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100315 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110404 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120330 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130329 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140331 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150331 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160331 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170331 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180330 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190329 Year of fee payment: 16 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190329 Start annual number: 16 End annual number: 16 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200330 Start annual number: 17 End annual number: 17 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |