KR100408030B1 - Method for forming electrode pattern of display - Google Patents

Method for forming electrode pattern of display Download PDF

Info

Publication number
KR100408030B1
KR100408030B1 KR10-2001-0042632A KR20010042632A KR100408030B1 KR 100408030 B1 KR100408030 B1 KR 100408030B1 KR 20010042632 A KR20010042632 A KR 20010042632A KR 100408030 B1 KR100408030 B1 KR 100408030B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
pattern
photosensitive resin
electrode
forming
Prior art date
Application number
KR10-2001-0042632A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030006743A (en
Inventor
김경구
문원석
차홍래
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR10-2001-0042632A priority Critical patent/KR100408030B1/en
Publication of KR20030006743A publication Critical patent/KR20030006743A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100408030B1 publication Critical patent/KR100408030B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems

Abstract

본 발명은 표시소자의 전극패턴 형성방법에 관한 것으로, 씨드금속층의 식각할 영역과 잔류할 영역을 제1감광성 수지층의 패턴을 통해 단차를 갖도록 형성한 다음 식각할 영역을 선택적으로 식각함으로써, 잔류하는 씨드금속층의 측면식각을 방지함에 따라 후속 유전막의 형성 및 소성에서 전극층으로부터 유리기판으로 Ag 확산을 방지하여 유리기판의 변색을 최소화할 수 있으며, 이에 따라 대화면 표시장치의 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to a method of forming an electrode pattern of a display device, wherein the region to be etched and the region to be etched are formed to have a step through the pattern of the first photosensitive resin layer and then selectively etched to be etched. By preventing side etching of the seed metal layer, discoloration of the glass substrate can be minimized by preventing Ag diffusion from the electrode layer to the glass substrate in the formation and firing of the subsequent dielectric layer, thereby improving the efficiency of the large display device. There is.

Description

표시소자의 전극패턴 형성방법{METHOD FOR FORMING ELECTRODE PATTERN OF DISPLAY}Method of forming electrode pattern of display device {METHOD FOR FORMING ELECTRODE PATTERN OF DISPLAY}

본 발명은 표시소자의 전극패턴 형성방법에 관한 것으로, 특히 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel : PDP)과 같은 대화면 표시장치에서 전극패턴을 형성하는 경우에 씨드금속층의 측면 식각을 방지하기에 적당하도록 한 표시소자의 전극패턴 형성방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of forming an electrode pattern of a display device, and particularly to prevent side etching of a seed metal layer when forming an electrode pattern in a large display device such as a plasma display panel (PDP). The present invention relates to a method of forming an electrode pattern of a display element.

일반적으로, 대화면 표시소자의 전극은 스퍼터링(sputtering), 스크린 인쇄(screen printing) 또는 도금 등의 방법을 통해 형성하고 있으며, 특히 도금 방법의 경우에는 순수한 금속만으로 이루어지는 금속전극을 형성할 수 있으므로, 전기전도도가 우수할 뿐만 아니라 원하는 영역에 선택적으로 형성할 수 있는 장점으로 인해 폭넓게 사용되고 있다. 이와같은 도금 방법을 이용한 종래 표시소자의 전극패턴을 형성하는 예를 첨부한 도1a 내지 도1d의 수순단면도를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.In general, the electrode of the large-screen display element is formed by a method such as sputtering, screen printing, or plating, and in particular, in the case of the plating method, a metal electrode composed of pure metal can be formed. It is widely used because of its excellent conductivity and the ability to selectively form a desired area. The procedure for forming an electrode pattern of a conventional display device using such a plating method will be described in detail with reference to the procedure cross-sectional view of FIGS. 1A to 1D.

먼저, 도1a에 도시한 바와같이 유리기판(1)의 상부에 진공증착법을 통해 씨드금속층(2)을 형성한다.First, as shown in FIG. 1A, the seed metal layer 2 is formed on the glass substrate 1 by vacuum deposition.

그리고, 도1b에 도시한 바와같이 상기 씨드금속층(2)의 상부에 감광성 수지층(3)을 도포한 다음 전극패턴이 형성될 영역의 씨드금속층(2)이 노출되도록 선택적으로 노광 및 현상하여 감광성 수지층(3)의 패턴을 형성한다.1B, the photosensitive resin layer 3 is coated on the seed metal layer 2, and then selectively exposed and developed so as to expose the seed metal layer 2 in the region where the electrode pattern is to be formed. The pattern of the resin layer 3 is formed.

그리고, 도1c에 도시한 바와같이 노출된 씨드금속층(2) 상에 전기도금이나무전해도금 등의 방법을 이용하여 Ag 재질의 금속전극(4)을 형성한다.As shown in FIG. 1C, the Ag metal electrode 4 is formed on the exposed seed metal layer 2 using a method such as electroplating or wood electroplating.

그리고, 도1d에 도시한 바와같이 상기 감광성 수지층(3)의 패턴을 제거한 다음 이로 인해 노출된 씨드금속층(2)을 식각한다. 이때, 씨드금속층(2)은 분무식 식각이나 스핀 식각 또는 침적식 식각 방법을 사용하고 있으며, 분무식 식각의 경우에는 많은 에천트(etchant)가 요구되고, 고가의 장비가 요구되는 관계로 스핀 식각이나 침적식 식각이 선호되고 있다.As shown in FIG. 1D, the pattern of the photosensitive resin layer 3 is removed and the seed metal layer 2 exposed thereby is etched. In this case, the seed metal layer 2 uses spray etching, spin etching, or deposition etching, and in the case of spray etching, a lot of etchant is required and spin etching is required because expensive equipment is required. Or immersion etching is preferred.

그러나, 상기한 바와같은 스핀 식각이나 침적식 식각의 경우에는 장치구성이 비교적 간단하지만, 식각의 선택성 및 방향성이 분무식 식각에 비하여 낮기 때문에 도2의 단면도에 도시한 바와같이 식각진행시 잔류하는 상기 씨드금속층(2)의 측면식각이 발생함에 따라 후속 유전체 형성 및 소성공정이 진행될 때, 금속전극(4)으로부터 유리기판(1)으로 Ag 확산이 발생하여 투명 유리기판(1)의 변색을 초래하며, 이에 따라 대화면 표시장치의 효율을 저하시키는 결정적인 원인을 제공하게 된다.However, in the case of the spin etching or the immersion etching as described above, the device configuration is relatively simple, but since the selectivity and the directionality of the etching are lower than that of the spray etching, the above-mentioned residues remaining during the etching process as shown in the cross-sectional view of FIG. As the lateral etching of the seed metal layer 2 occurs, subsequent Ag formation and firing process causes Ag diffusion from the metal electrode 4 to the glass substrate 1, thereby causing discoloration of the transparent glass substrate 1. This provides a decisive cause for lowering the efficiency of the large display.

따라서, 본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 본 발명의 목적은 표시소자의 전극패턴을 형성하는 경우에 씨드금속층의 측면 식각을 방지하여 후속공정에서 유리기판으로의 Ag확산을 방지할 수 있는 표시소자의 전극패턴 형성방법을 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to prevent the side etching of the seed metal layer when forming the electrode pattern of the display device, and then to the glass substrate in a subsequent process. The present invention provides a method of forming an electrode pattern of a display device capable of preventing Ag diffusion.

도1a 내지 도1d는 도금 방법을 이용하여 종래 표시소자의 전극패턴을 형성하는 예를 보인 수순단면도.1A to 1D are cross-sectional views showing an example of forming an electrode pattern of a conventional display device using a plating method.

도2는 종래 도금 방법을 이용하여 전극패턴을 형성하는 경우에 씨드금속층의 측면식각을 보인 단면도.Figure 2 is a cross-sectional view showing the side etching of the seed metal layer when forming an electrode pattern using a conventional plating method.

도3a 내지 도3f는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시소자의 전극패턴을 형성하는 예를 보인 수순단면도.3A to 3F are cross-sectional views showing an example of forming an electrode pattern of a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **** Explanation of symbols for main parts of drawings **

11:유리기판 12,15:제1,제2감광성 수지층11: glass substrate 12, 15: the first and second photosensitive resin layer

13:씨드금속층 14:전극층13: seed metal layer 14: electrode layer

상기한 바와같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 표시소자의 전극패턴 형성방법은 기판 상에 제1감광성 수지층을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 기판의 일부 영역이 노출되는 제1감광성 수지층의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 결과물의 상부전면에 씨드금속층을 형성한 다음 그 씨드금속층의 상부에 도금 방법을 통해 전극층을 형성하는 공정과; 상기 전극층의 상부에 제2감광성 수지층을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 상기 제1감광성 수지층의 패턴과는 반대되는 패턴으로 전극층의 상부에 잔류하는 제2감광성 수지층의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 제2감광성 수지층의 패턴을 마스크로 적용하여 전극층을 식각한 다음 계속해서 노출되는 씨드금속층을 식각하는 공정과; 상기 제2,제1감광성 수지층의 패턴을 제거하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The electrode pattern forming method of the display device for achieving the object of the present invention as described above is to apply the first photosensitive resin layer on the substrate and then to expose a portion of the substrate through selective exposure and development of the first photosensitive resin layer Forming a pattern; Forming a seed metal layer on an upper surface of the resultant, and then forming an electrode layer on the seed metal layer by plating; Applying a second photosensitive resin layer on the electrode layer, and then forming a pattern of the second photosensitive resin layer remaining on the electrode layer in a pattern opposite to that of the first photosensitive resin layer through selective exposure and development. Process; Etching the electrode layer after etching the electrode layer by applying the pattern of the second photosensitive resin layer as a mask; And removing the pattern of the second and first photosensitive resin layers.

상기한 바와같은 본 발명에 의한 표시소자의 전극패턴 형성방법을 첨부한 도3a 내지 도3f의 수순단면도를 일 실시예로 하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The cross-sectional view of FIG. 3A to FIG. 3F attached to the method of forming the electrode pattern of the display device according to the present invention as described above will be described in detail as an embodiment.

먼저, 도3a에 도시한 바와같이 유리기판(11) 상부에 제1감광성 수지층(12)을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 유리기판(11)의 일부 영역이 노출되는 제1감광성 수지층(12)의 패턴을 형성한다.First, as shown in FIG. 3A, the first photosensitive resin layer 12 is coated on the glass substrate 11, and then the first photosensitive resin layer exposing a portion of the glass substrate 11 through selective exposure and development. The pattern of (12) is formed.

그리고, 도3b에 도시한 바와같이 상기 결과물의 상부전면에 이온 플레이팅(ion plating), 스퍼터링(sputtering), 전자빔 증착(e-beam evaporation), 또는 무전해 도금 방법을 통해 씨드금속층(13)을 형성한다. 이때, 씨드금속층(13)은 Cr, Ti, Cr/Ti 합금, Cr 산화물 또는 Ti 산화물로 이루어지는 제1씨드층과 Cu, Ni, Au 중에 선택된 하나의 재질로 이루어지는 제2씨드층을 적층 형성하는 것이 바람직하며, 한편 무전해 도금 방법을 통해 씨드금속층(13)을 형성하는 경우에는 Co, Ni, Cu 중에 선택된 하나의 재질로 형성하는 것이 바람직하다. 아울러, 씨드금속층(13)은 제1감광성 수지층(12)의 패턴에 의해 단차를 갖게 된다.As shown in FIG. 3B, the seed metal layer 13 is formed on the upper surface of the resultant through ion plating, sputtering, e-beam evaporation, or electroless plating. Form. In this case, the seed metal layer 13 may be formed by stacking a first seed layer made of Cr, Ti, Cr / Ti alloy, Cr oxide, or Ti oxide and a second seed layer made of one material selected from Cu, Ni, and Au. On the other hand, when forming the seed metal layer 13 through the electroless plating method, it is preferable to form with one material selected from Co, Ni, Cu. In addition, the seed metal layer 13 has a step by the pattern of the first photosensitive resin layer 12.

그리고, 도3c에 도시한 바와같이 상기 씨드금속층(13)의 상부에 전기도금 또는 무전해 도금 방법을 통해 Ag를 석출시켜 전극층(14)을 형성한다.As shown in FIG. 3C, Ag is deposited on the seed metal layer 13 by electroplating or electroless plating to form an electrode layer 14.

그리고, 도3d에 도시한 바와같이 상기 전극층(14)의 상부에 제2감광성 수지층(15)을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 상기 제1감광성 수지층(12)의 패턴과는 반대되는 패턴으로 전극층(14)의 상부에 잔류하는 제2감광성 수지층(15)의 패턴을 형성한 다음 그 제2감광성 수지층(15)의 패턴을 마스크로 적용하여 전극층(14)을 식각한다.As shown in FIG. 3D, the second photosensitive resin layer 15 is coated on the electrode layer 14, and then subjected to selective exposure and development to thereby reverse the pattern of the first photosensitive resin layer 12. After forming the pattern of the second photosensitive resin layer 15 remaining on the electrode layer 14 in a pattern, the electrode layer 14 is etched by applying the pattern of the second photosensitive resin layer 15 as a mask.

그리고, 도3e에 도시한 바와같이 상기 전극층(14)의 식각으로 인해 상기 제1감광성 수지층(12)의 패턴 상부에 노출된 씨드금속층(13)을 제1감광성 수지층(12)의 패턴이 노출될때까지 식각한다. 이때, 제1감광성 수지층(12)의 패턴 및 그 패턴의 측면에 형성된 씨드금속층(13)으로 인해 씨드금속층(13)의 측면식각을 차단하여 후속 유전막의 형성 및 소성에서 전극층(14)으로부터 유리기판(11)으로 Ag 확산을 방지할 수 있게 된다.As shown in FIG. 3E, the seed metal layer 13 exposed on the upper surface of the pattern of the first photosensitive resin layer 12 due to the etching of the electrode layer 14 may have a pattern of the first photosensitive resin layer 12. Etch until exposed. At this time, the pattern of the first photosensitive resin layer 12 and the seed metal layer 13 formed on the side surface of the pattern block the side etching of the seed metal layer 13 to free glass from the electrode layer 14 in the subsequent formation and firing of the dielectric film. Ag diffusion into the substrate 11 can be prevented.

그리고, 도3f에 도시한 바와같이 상기 제2,제1감광성 수지층(15,12)의 패턴을 제거한다.As shown in FIG. 3F, the patterns of the second and first photosensitive resin layers 15 and 12 are removed.

상기한 바와같은 본 발명에 의한 표시소자의 전극패턴 형성방법은 씨드금속층의 식각할 영역과 잔류할 영역을 제1감광성 수지층의 패턴을 통해 단차를 갖도록 형성한 다음 식각할 영역을 선택적으로 식각함으로써, 잔류하는 씨드금속층의 측면식각을 방지함에 따라 후속 유전막의 형성 및 소성에서 전극층으로부터 유리기판으로 Ag 확산을 방지하여 유리기판의 변색을 최소화할 수 있으며, 이에 따라 대화면 표시장치의 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The electrode pattern forming method of the display device according to the present invention as described above is formed by forming a region to be etched and remaining regions of the seed metal layer to have a step through the pattern of the first photosensitive resin layer and then selectively etching the regions to be etched. By preventing side etching of the remaining seed metal layer, discoloration of the glass substrate can be minimized by preventing Ag diffusion from the electrode layer to the glass substrate in the formation and firing of the subsequent dielectric layer, thereby improving the efficiency of the large display device. It has an effect.

Claims (4)

기판 상에 제1감광성 수지층을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 기판의 일부 영역이 노출되는 제1감광성 수지층의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 결과물의 상부전면에 씨드금속층을 형성한 다음 그 씨드금속층의 상부에 도금 방법을 통해 전극층을 형성하는 공정과; 상기 전극층의 상부에 제2감광성 수지층을 도포한 다음 선택적 노광 및 현상을 통해 상기 제1감광성 수지층의 패턴과는 반대되는 패턴으로 상기 전극층의 상부에 잔류하는 제2감광성 수지층의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 제2감광성 수지층의 패턴을 마스크로 적용하여 상기 전극층을 식각한 다음 계속해서 노출되는 상기 씨드금속층을 식각하는 공정과; 상기 제2,제1감광성 수지층의 패턴을 제거하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 표시소자의 전극패턴 형성방법.Coating a first photosensitive resin layer on the substrate, and then forming a pattern of the first photosensitive resin layer to expose a portion of the substrate through selective exposure and development; Forming a seed metal layer on an upper surface of the resultant, and then forming an electrode layer on the seed metal layer by plating; The second photosensitive resin layer is coated on the electrode layer, and then a pattern of the second photosensitive resin layer is formed on the electrode layer in a pattern opposite to that of the first photosensitive resin layer through selective exposure and development. Process of doing; Etching the electrode layer after etching the electrode layer by applying the pattern of the second photosensitive resin layer as a mask; And removing the pattern of the second and first photosensitive resin layers. 제 1 항에 있어서, 상기 씨드금속층은 Cr, Ti, Cr/Ti 합금, Cr 산화물 또는 Ti 산화물로 이루어지는 제1씨드층과, Cu, Ni, Au 중에 선택된 하나의 재질로 이루어지는 제2씨드층을 적층 형성하는 것을 특징으로 하는 표시소자의 전극패턴 형성방법.The method of claim 1, wherein the seed metal layer comprises a first seed layer made of Cr, Ti, Cr / Ti alloy, Cr oxide, or Ti oxide, and a second seed layer made of one material selected from Cu, Ni, and Au. Forming an electrode pattern of the display element, characterized in that formed. 제 1 항에 있어서, 상기 씨드금속층은 무전해 도금 방법을 통해 Co, Ni, Cu 중에 선택된 하나의 재질로 형성하는 것을 특징으로 하는 표시소자의 전극패턴 형성방법.The method of claim 1, wherein the seed metal layer is formed of one material selected from Co, Ni, and Cu through an electroless plating method. 제 1 항에 있어서, 상기 전극층은 전기도금 또는 무전해 도금 방법을 통해 Ag 재질로 형성하는 것을 특징으로 하는 표시소자의 전극패턴 형성방법.The method of claim 1, wherein the electrode layer is formed of Ag by electroplating or electroless plating.
KR10-2001-0042632A 2001-07-14 2001-07-14 Method for forming electrode pattern of display KR100408030B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0042632A KR100408030B1 (en) 2001-07-14 2001-07-14 Method for forming electrode pattern of display

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0042632A KR100408030B1 (en) 2001-07-14 2001-07-14 Method for forming electrode pattern of display

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030006743A KR20030006743A (en) 2003-01-23
KR100408030B1 true KR100408030B1 (en) 2003-12-03

Family

ID=27715195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0042632A KR100408030B1 (en) 2001-07-14 2001-07-14 Method for forming electrode pattern of display

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100408030B1 (en)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09283016A (en) * 1996-04-10 1997-10-31 Fujitsu Ltd Formation of barrier rib for gas discharge panel
KR19980076919A (en) * 1997-04-15 1998-11-16 구자홍 U-shaped electrode formation method of color plasma display panel
KR100197131B1 (en) * 1996-05-22 1999-06-15 김영환 Plasma display panel and manufacturing method thereof
KR19990054298A (en) * 1997-12-26 1999-07-15 김영환 Manufacturing Method of Plasma Display Panel
KR100300392B1 (en) * 1993-08-24 2001-10-22 김순택 Anode of flat display device and manufacturing method thereof

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100300392B1 (en) * 1993-08-24 2001-10-22 김순택 Anode of flat display device and manufacturing method thereof
JPH09283016A (en) * 1996-04-10 1997-10-31 Fujitsu Ltd Formation of barrier rib for gas discharge panel
KR100197131B1 (en) * 1996-05-22 1999-06-15 김영환 Plasma display panel and manufacturing method thereof
KR19980076919A (en) * 1997-04-15 1998-11-16 구자홍 U-shaped electrode formation method of color plasma display panel
KR19990054298A (en) * 1997-12-26 1999-07-15 김영환 Manufacturing Method of Plasma Display Panel

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030006743A (en) 2003-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100614456B1 (en) Display substrate electrodes with auxiliary metal layers for enhanced conductivity
JP4534984B2 (en) Method for producing metal photoetched product
CN1917743B (en) Method of forming metal plate pattern and circuit board
US4202914A (en) Method of depositing thin films of small dimensions utilizing silicon nitride lift-off mask
CN104576323B (en) A kind of metal patternization structure and method
JPS5812344B2 (en) Method for forming metal patterns using copper as a base material
KR970054272A (en) Thin-film transistor substrate having low resistance and chemical resistance electrode wiring and manufacturing method thereof
US4451554A (en) Method of forming thin-film pattern
US6020261A (en) Process for forming high aspect ratio circuit features
US6989219B2 (en) Hardmask/barrier layer for dry etching chrome films and improving post develop resist profiles on photomasks
KR100408030B1 (en) Method for forming electrode pattern of display
US3537925A (en) Method of forming a fine line apertured film
KR100783297B1 (en) Silicon mask for mask-deposition process
KR100408029B1 (en) Method for forming electrode pattern of display
CN113817981B (en) Mask and manufacturing method thereof
JP2005236188A (en) Method for forming conductor pattern
JPH05291256A (en) Manufacture of thin-film conductor pattern
JPH0629647A (en) Peeling method of photo resist
JP2001127062A (en) Method of forming wiring
JPS6014453A (en) Forming method of metallic layer pattern
KR101250422B1 (en) High Definition Printing Plate of Liquid Crystal Display and Method for Manufacture using the same
KR100252757B1 (en) Method of forming metal pattern
KR100781445B1 (en) Method for manufacturing metal layer in semiconductor device
CN117219647A (en) Preparation method of high-uniformity contact holes of small-spacing tellurium-cadmium-mercury chips
JP2699498B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070918

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee