KR100380023B1 - 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치 - Google Patents

단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100380023B1
KR100380023B1 KR1019960000220A KR19960000220A KR100380023B1 KR 100380023 B1 KR100380023 B1 KR 100380023B1 KR 1019960000220 A KR1019960000220 A KR 1019960000220A KR 19960000220 A KR19960000220 A KR 19960000220A KR 100380023 B1 KR100380023 B1 KR 100380023B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
side direction
cell blocks
pair
blocks
common data
Prior art date
Application number
KR1019960000220A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970060228A (ko
Inventor
서동일
윤세승
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1019960000220A priority Critical patent/KR100380023B1/ko
Publication of KR970060228A publication Critical patent/KR970060228A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100380023B1 publication Critical patent/KR100380023B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/025Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/18Bit line organisation; Bit line lay-out
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/14Word line organisation; Word line lay-out
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4097Bit-line organisation, e.g. bit-line layout, folded bit lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/10Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
    • G11C2207/105Aspects related to pads, pins or terminals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로써, 특히 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 2이상의 짝수배로 분할되어 배치된 복수의 셀블럭들; 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치된 장변 방향으로 연장된 적어도 하나 이상의 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블릭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스를 연결하는 적어도 하나 이상의 제 2 공통 데이터 버스 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 적어도 하나 이상의 제 3 공통 데이터 버스; 및 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드를 연결하는 적어도 하나 이상의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명에서는 단변 방향으로 하나의 데이터 버스만이 배치되게 되므로 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있다.

Description

단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치
본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로서, 특히 데이터 버스의 배치구조를 보다 효율적으로 배치함으로써 단변 방향의 칩사이즈를 효과적으로 줄일 수 있는 256메가비트 이상의 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.
최근, 컴퓨터와 같은 전자 제품의 시스템 성능 향상에 따라 고성능의 메모리 장치를 요구하게 되었으며 이런 것들 중에 하나가 동기형(Synchronous) DRAM(SDRAM)이다. 또한 wide-bit의 데이터 입출력을 요구함에 따라 칩 내부의 데이터 패스를 어떻게 구성하느냐에 따라 칩 사이즈의 변화가 커지게 되었다.
1994, Symposium on VLSI, P81∼82에 기재된 일본 후지스사의 "A 150MHz 4Bank 64M-bit SRAM with Address Incrementing Pipeline Scheme"에서는 좌우 2분할, 상하 4분할된 셀어레이 블록 구조를 나타내고 이 칩에서는 칩사이즈가 21.0*11.0㎣이고 장변방향으로 연장된 비트라인과 단변방향으로 연장된 워드라인을 가진다.
1995, Symposium on VLSI, P113∼114에 기재된 한국 현대전자의 "A Low Noise 256Mbit SRAM with Column-Decoded I/O Line"에서는 좌우 8분할, 상하 2분할된 셀어레이 블록 구조를 나타내고 이 칩에서는 칩사이즈가 23.6*13.7㎣이고 장변방향으로 연장된 워드라인과 단변방향으로 연장된 비트라인을 가진다.
제 1 도는 종래 기술에 의한 256M SDRAM(16Mx16)의 칩 배치구조를 나타내고 제 2 도는 제 1 도의 데이터 버스 구조를 나타낸다. 제 1 도에서 20은 상위 비트 셀어레이블럭이고 30은 하위 비트 셀어레이 블록이고, 각 블록의 셀어레이들(CA0, CA1, CA2, CA3)상에는 워드라인과 비트라인이 배치되어 있다. R/D는 로우 어드레스 디코더로서 워드라인을 구동하고 C/D는 칼럼 어드레스 디코더로서 비트라인을 선택한다. 데이터 패스는 어드레스 스큐를 줄여주기 위해 제안된 방법의 하나인 ODIC(Outer DQ Inner Clock) 구조이며, 또한 4 뱅크 구성으로 되어 있다. 뱅크 구성은 ODIC 구조에서 데이터 패스가 짧아지도록 상위 8비트와 하위 8비트가 분리된 스플리트(Split) 뱅크(Bank)로 되어 있다.
제 2 도는 제 1 도의 256메가 비트의 셀구성 중에서 오른쪽 128메가 비트 블럭(30)을 나타낸다. 상단의 32메가 비트 셀어레이 블록(CA0)에서 데이터는 입출력 버스에 실린 데이터를 증폭시켜주는 입출력 센스증폭블럭(34)로 입력되며, 입출력 센스증폭블럭의 출력들은 옆에 있는 다른 뱅크의 셀어레이 블록(CA1)의 입출력 센스증폭블럭(34)의 출력과 제 1 공통 데이터 버스(DL1)로 상호 연결된다. 또한, 하단에 있는 32메가비트 셀어레이 블록들(CA2, CA3)도 마찬가지로 구성되며, 각각 상, 하단에서 구성된 입출력 센스증폭블럭(34)의 출력들은 제 1 공통 데이터 라인(DL1), 제 2 공통 데이터 라인(DL2), 제 3 공통 데이터 라인(DL3)을 순차적으로 거쳐서 데이터 입출력회로블럭(32)으로 전달되어 데이터 입출력 패드까지 출력된다. 서로 다른 뱅크들끼리 데이터 버스로 묶을 수 있는 것은 SDRAM이 뱅크단위로 동작을 하기 때문이다. 즉, 각 센스증폭블럭(34)들은 뱅크정보에 응답하여 서로 배타적으로 인에이블되어 데이터 버스에 연결되고 데이터를 입출력하게 된다.
이와 같은 종래의 칩구조에서는 제 1 동에 도시한 바와 같이 칩의 장변 방향으로 달려야 하는 3개의 데이터 버스의 각 라인들이 8비트이므로 데이터 패스의 폭이 차지하는 전체적인 라인수는 8 + 8 + 8 = 24개이다. 패키지 입장에서 보면 폭 방향의 크기는 실장 면적을 높이기 위해 더 작은 패키징을 하는 데 있어서 장변 방향 보다 더 중요한 요인이 되므로 칩폭을 줄이는 데 있어서 이와 같은 구조는 매우 불리하다.
본 발명의 목적은 이와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 데이터 버스의 배치 구조를 보다 효율적으로 배치함으로써 단변 방향의 칩사이즈를 효과적으로 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 장치는 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 2이상의 짝수배로 분할되어 배치된 복수의 셀블럭들; 각 셀블럭들상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들; 각 셀블럭들 상에 단변방향으로 연장된 복수의 워드라인들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치된 장변 방향으로 연장된 적어도 하나 이상의 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스, 복수의 쎌블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스를 연결하는 적어도 하나 이상의 제 2 공통 데이터 버스; 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 적어도 하나 이상의 제 3 공통 데이터 버스; 및 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드를 연결하는 적어도 하나 이상의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 변형된 장치는 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들; 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들; 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들; 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고, 4개의 블록들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터를 입출력하는 복수의 입출력 센스 증폭 블록들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들과 연결되고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들; 복수의 셀블럭들중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들을 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들; 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스; 및 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀불럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 변형된 장치는 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들; 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들; 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들; 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 마주보는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들을 상호 연결하고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들; 두쌍의 제1 공통 데이터 버스들에 각각 연결되고 상하블럭을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터를 입출력하는 복수의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭 블럭등; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭블럭들을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들; 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들; 및 복수의 셀블럭들중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 변형된 장치는 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들, 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들; 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들; 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 하나의 뱅크를 구성하는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들을 상호 연결하고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들; 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들; 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들에 각각 연결되고 뱅크정보에 응답하여 데이터를 입출력하는 한 쌍의 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블럭들; 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고 장변 방향으로 연장되어, 상기 각 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블럭과 각각 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들; 및 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.
제 3 도는 본 발명에 의한 256M SDRAM의 칩구조론 나타내고 제 4 도 내지 제 6 도는 데이터 버스 구조를 나타낸다.
제 3 도에서 칩(100)은 상위 8비트 블록(120)과 하위 8비트 블록(130)으로 분리된다. 각 블록들은 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 2분할된 4개의 뱅크(CA0, CA1, CA2, CA3)로 구성된다. 각 뱅크의 셀어레이 블럭에는 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인(B/L)들을 선택하는 칼럼 어드레스 디코더(C/D)가 좌 도는 우측에 배치되고, 각 뱅크의 셀어레이 블록에는 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인(W/L)들을 선택하는 로우 어드레스 디코더(R/D)가 상 도는 하에 배치된다. 또한, 칩(100)은 제 2 도를 참조하면, 각 셀블럭들의 비트라인(B/L)들과 연결되고, 4개의 셀블록들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터를 입출력하는 복수와입출력 센스 증폭 블록들(134), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들과 연결되고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들(DL1), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스(DL1)들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들을 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스(DL2)들, 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스(DL2)와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스(DL3), 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 3 공통 데이터 버스(DL3)와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭(132)들을 포함한다.
따라서, 본 발명에서는 단변 방향에 8비트의 데이터 라인만이 존재하게 되므로 칩 폭을 줄일 수 있다.
제 5 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 데이터 버스구조의 변형된 실시예의 구성을 나타낸다. 제 5 도는 상술한 제 4 도의 실시예와 비교하여, 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 마주보는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들(142), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들을 상호 연결하고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들(DL1), 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들에 각각 연결되고 상하블럭을 하나의 단위로하여 서로배타적으로 데이터를 입출력하는 복수의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭 블록들(144), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스(DL1)들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭블럭(144)들을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들(DL2), 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스(DL2)와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들(DL3)을 포함하는 구성이 다르다.
즉, 다른 실시예에서는 데이터 버스 구조는 유사하지만 2블럭선택 및 상하 선택에 의해 4개의 뱅크 중 하나가 입출력 패드와 연결되게 된다. 이와 같이 하면 32메가비트 어레이 블럭 2개에서 필요로 하는 입출력 센스 증폭블럭의 갯수가 반으로 줄어들게 되고 대부분의 경우 입출력 센스증폭블럭의 면적이 데이터 선택블럭의 면적 보다 큰 레이아웃 사이즈를 가지고 있으므로 칩 사이즈를 줄이는 데 기여한다.
제 6 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 데이터 버스구조의 변형된 실시예의 구성을 나타낸다. 제 6 도는 상술한 제 4 도의 실시예와 비교하여 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 하나의 뱅크를 구성하는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들(152), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들(CA0, CA1)의 데이터 버스선택블럭들(152)을 상호 연결하고 장변 방향으로연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들(DL1), 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들(CA0, CA1) 또는 (CA3, CA2)의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들(DL1) 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들(DL1)을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들(DL2), 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들(DL2)에 각각 연결되고 뱅크정보에 응답하여 데이터를 입출력하는 한 쌍의 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블록들(154), 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고 장변 방향으로 연장되어, 상기 각 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블럭과 각각 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들(DL3)을 포함한다.
즉, 다른 실시예에서는 4블럭에서 하나의 입출력 센스 증폭 블록을 공통으로 사용하여 데이터를 입출력한다. 셀블럭들은 데이터 버스 선택블럭, 즉 멀티 플렉서를 통하여 입출력 센스증폭 블럭으로 연결되며, 입출력 센스증폭 블럭은 모두 합해서 데이터 입출력 패드 수만큼만 있게 된다. 즉, 모든 뱅크들에 대해서 입출력 센스증폭블럭이 공통적으로 사용되게 된다. 따라서 칩 사이즈를 더욱 줄일 수 있게 해준다.
이상과 같이 본발명에서는 4뱅크 방식의 SDRM에서 단변 방향의 칩 사이즈를 줄이기 위하여 데이터 버스의 구조를 개선한 것으로써, 종래의 방식에 비해 데이터 라인수를 24에서 8로 감소시킬 수 있다.
상술한 실시에들에서는 동기형 DRAM을 예로들어 설명하였지만 후술하는 청구범위에 기재된 본 발명의 사상과 범주에 의해 모든 메모리 장치, 예컨대 비동기식디램 등에 대해서도 용이하게 실시할 수 있음을 주의하여야 한다.
제 1 도는 종래의 반도체 메모리 장치의 내부 배치 구조를 설명하기 위한 개략도.
제 2 도는 종래의 반도체 메모리 장치의 데이터 버스의 구조를 설명하기 위한 개략도.
제 3 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 내부 배치 구조를 설명하기 위한 개략도.
제 4 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 데이터 버스의 구조의 바람직한 일실시예를 나타낸 개략도.
제 5 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 데이터 버스의 구조의 바람직한 다른 실시예를 나타낸 개략도.
제 6 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 데이터 버스의 구조의 바람직한 또 다른 실시예를 나타낸 개략도.

Claims (4)

  1. 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 2이상의 짝수배로 분할되어 배치된 복수의 셀블럭들;
    상기 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들;
    상기 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치된 장변 방향으로 연장된 적어도 하나 이상의 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스를 연결하는 적어도 하나 이상의 제 2 공통 데이터 버스;
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 적어도 하나 이상의 제 3 공통 데이터 버스; 및
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 적어도 하나 이상의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 하는 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치.
  2. 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들;
    상기 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들;
    상기 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들;
    상기 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고, 4개의 블록들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터를 입출력하는 복수의 입출력 센스 증폭 블럭들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들과 연결되고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 단변 방향으로 연장되어 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들를 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스; 및
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 하는 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치.
  3. 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 적어도 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들;
    상기 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들;
    상기 각 셀블럭들 상에 단면 방향으로 연장된 복수의 워드라인들;
    상기 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 마주보는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들을 상호 연결하고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들;
    상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들에 각각 연결되고 상하블럭을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터를 입출력하는 복수의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭 블럭들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 2블럭 공통 입출력 센스 증폭블럭들을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 장변 방향으로 연장되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들; 및
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 하는 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치.
  4. 단변 방향으로는 2분할되고 장변 방향으로는 4분할되어 배치된 복수의 셀블럭들;
    상기 각 셀블럭들 상에 장변 방향으로 연장된 복수의 비트라인들;
    상기 각 셀블럭들 상에 단변 방향으로 연장된 복수의 워드라인들;
    상기 각 셀블럭들의 비트라인들과 연결되고 하나의 뱅크를 구성하는 셀블럭들을 하나의 단위로하여 서로 배타적으로 데이터 버스를 선택하는 복수의 데이터 버스 선택블럭들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 입출력 센스증폭블럭들을 상호 연결하고 장변 방향으로 연장된 두쌍의 제 1 공통 데이터 버스들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 장변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고, 단변 방향으로 연장되어, 상기 두 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들 중 상하로 마주보는 한 쌍의 제 1 공통 데이터 버스들을 상호 연결하는 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들;
    상기 한 쌍의 제 2 공통 데이터 버스들에 각각 연결되고 뱅크정보에 응답하여 데이터를 입출력하는 한 쌍의 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블럭들;
    상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되고 장변 방향으로 연장되어, 상기 각 뱅크 공통 입출력 센스 증폭 블럭과 각각 연결되는 한 쌍의 제 3 공통 데이터 버스들; 및 상기 복수의 셀블럭들 중 단변 방향으로 마주보는 한 쌍의 셀블럭들의 사이에 각각 배치되어 상기 각 제 2 공통 데이터 버스와 입출력 패드들을 연결하는 한 쌍의 입출력 회로블럭들을 구비하는 것을 특징으로 하는 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치.
KR1019960000220A 1996-01-08 1996-01-08 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치 KR100380023B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960000220A KR100380023B1 (ko) 1996-01-08 1996-01-08 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960000220A KR100380023B1 (ko) 1996-01-08 1996-01-08 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970060228A KR970060228A (ko) 1997-08-12
KR100380023B1 true KR100380023B1 (ko) 2003-07-18

Family

ID=37417153

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960000220A KR100380023B1 (ko) 1996-01-08 1996-01-08 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100380023B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100746225B1 (ko) 2006-02-13 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 구비한 메모리 시스템

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100558035B1 (ko) * 1999-12-30 2006-03-07 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리소자

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100746225B1 (ko) 2006-02-13 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 구비한 메모리 시스템
US7882417B2 (en) 2006-02-13 2011-02-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device and memory system including the same
US8756475B2 (en) 2006-02-13 2014-06-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of detecting error in a semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
KR970060228A (ko) 1997-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100220000B1 (ko) 데이타와 패리티 비트용으로 정렬된 메모리 모듈
KR0184091B1 (ko) 다이나믹형 메모리
US20080265284A1 (en) Semiconductor device
US6847576B2 (en) Layout structures of data input/output pads and peripheral circuits of integrated circuit memory devices
KR100733406B1 (ko) 글로벌 데이터 버스를 구비한 반도체 메모리 소자
US7068551B2 (en) Semiconductor memory device
JP2786609B2 (ja) 高帯域幅を可能とした半導体メモリ装置
US5940315A (en) Strapped wordline architecture for semiconductor memory
US6448602B1 (en) Semiconductor memory device with improved arrangement of memory blocks and peripheral circuits
US5831912A (en) Semiconductor memory having space-efficient layout
US6788600B2 (en) Non-volatile semiconductor memory
US5657265A (en) Semiconductor memory device having circuit array structure for fast operation
US5680364A (en) Integrated circuit memory device having equally spaced apart cell arrays
US5517442A (en) Random access memory and an improved bus arrangement therefor
KR100380023B1 (ko) 단변 방향의 칩 사이즈를 줄일 수 있는 반도체메모리장치
JPH08255479A (ja) 半導体記憶装置
JPH0582746A (ja) 半導体記憶装置
US6396763B1 (en) DRAM having a reduced chip size
US5877994A (en) Space-efficient MDQ switch placement
KR100552654B1 (ko) 칩 상에서 평면적으로 비사각형의 메모리 뱅크를 갖는반도체 메모리 장치
JP2000058772A (ja) 半導体メモリ装置
KR20010002116A (ko) 스태틱 랜덤 액세스 메모리를 다이내믹 랜덤 액세스 메모리와 로직회로 사이에서 버퍼로 사용하는 반도체 집적회로
KR100498448B1 (ko) 데이터 버스 사이의 커플링을 최소화하는 동기식 반도체장치 및 방법
US6975527B1 (en) Memory device layout
JPH06267271A (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100315

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee