KR100364089B1 - 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치 - Google Patents
진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (9)
- 웨이퍼를 어닐링 처리하는 핫플레이트 챔버와; 상기 핫플레이트 챔버와 진공개폐 가능하게 일측이 게이트 밸브에 의해 결합되고, 타측이 외부와 진공개폐 가능한 게이트 도어와 결합되며, 내부를 진공 및 냉각시킬 수 있도록 구성된 진공 버퍼 챔버와; 상기 웨이퍼를 외부에서 상기 진공 버퍼 챔버내로 또는 그 반대로 이동시키는 이동수단 및; 상기 진공 버퍼 챔버에서 상기 핫플레이트 챔버내로 또는 그 반대로 웨이퍼를 이송시키는 이송수단을 포함하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치에 있어서,상기 이송수단은, 상기 진공 버퍼 챔버의 내부 양 측에 상호 높낮이를 달리하면서 선회 가능하게 각각의 구동축에 결합되는 2쌍의 핸들러와, 서로 대응하는 상기 구동축들을 동시에 상호 반대방향으로 회전시킴으로써 상기 웨이퍼를 상기 진공 버퍼 챔버에서 상기 핫플레이트 챔버내의 해당 핫플레이트로 또는 그 반대로 이송시키는 구동모터를 포함하는 것을 특징으로 하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 2쌍의 핸들러 중에서, 1쌍의 핸들러는 상기 웨이퍼를 상기 핫플레이트 챔버로 이송시켜 해당 핫플레이트에 안착시키고, 다른 1쌍의 핸들러는 상기 핫플레이트 챔버내의 상기 웨이퍼를 상기 진공 버퍼 챔버로 이송시켜 지지하는 것을 특징으로 하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 핫플레이트 챔버에는 상기 웨이퍼에 공정가스를 균일하게 분사시키기 위해 다수의 관통홀이 형성된 하나 이상의 샤워헤드가 설치되는 것을 특징으로 하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치.
- 제4항에 있어서, 상기 핫플레이트 챔버의 저면에 설치되어 공정가스를 균일하게 배기하기 위해 다수의 배기홀이 형성된 하나 이상의 진공배플을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치.
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 진공 버퍼 챔버는 그 내부를 대기압상태로 형성하기 위해 비활성 가스를 공급하는 가스 공급계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000045030A KR100364089B1 (ko) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000045030A KR100364089B1 (ko) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020011625A KR20020011625A (ko) | 2002-02-09 |
KR100364089B1 true KR100364089B1 (ko) | 2002-12-12 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000045030A KR100364089B1 (ko) | 2000-08-03 | 2000-08-03 | 진공 버퍼 챔버를 구비한 핫플레이트 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100364089B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100843103B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2008-07-02 | 주식회사 아이피에스 | 반도체공정장치 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8741096B2 (en) * | 2006-06-29 | 2014-06-03 | Wonik Ips Co., Ltd. | Apparatus for semiconductor processing |
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2000
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KR20020011625A (ko) | 2002-02-09 |
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