KR100338498B1

KR100338498B1 - 볼-그리드-어레이 패키지용 프로우브 어댑터

Info

Publication number: KR100338498B1
Application number: KR1020000027679A
Authority: KR
Inventors: 캠벨줄리에이.; 잔도나티레이몬드에이.
Original assignee: 윈켈만 존 디.; 텍트로닉스 인코포레이티드
Priority date: 1999-05-28
Filing date: 2000-05-23
Publication date: 2002-05-30
Also published as: CN1275719A; JP2001013164A; US6222378B1; CN1180263C; KR20000077385A; JP3369147B2

Abstract

본 발명에 따른 볼-그리드-어레이(Ball-Grid-Array) 패키지용 검사 어댑터(probing adapter)는 길게 연장된 몸체(elongate body)를 포함하며, 길게 연장된 몸체는 자신의 중심부에 배치되는 슬롯 형성부를 구비하고, 슬롯 형성부는 자신의 내부에서 이동 가능한 슬라이더(slider)를 구비한다. 전기적으로 도전성인 공이쇠(plunger)는 슬라이더에 부착되고 길게 연장된 몸체의 외부로 노출되는 전기적 콘택에 전기적으로 연결된다. 전극(electrode)은 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼 콘택(solder ball contact)과 전기적으로 연결하기 위한 후크-형상의 콘택(hook-shaped contact)을 노출시키기 위해 길게 연장된 몸체의 일측 단부에 형성되는 간극(aperture)을 통해 공이쇠로부터 연장된다.

Description

볼-그리드-어레이 패키지용 프로우브 어댑터 {PROBE ADAPTER FOR A BALL- GRID-ARRAY PACKAGE}

본 발명은 일반적으로 집적회로 패키지의 전기 검사에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 볼-그리드-어레이 패키지(Ball-Grid-Array package)의 납땜볼 연결점(solder ball connection)으로부터 신호를 획득하는 프로우브 어댑터(probe adapter)에 관한 것이다.

표면 장착(Surface mounted; SMT) 집적회로 소자가 전자 산업의 IC 패키지 분야에서 보다 우세해졌다. 이들 소자는 패키지 구성 및 리드 피치(lead pitch) 구조가 매우 다양하다. 예를 들면, IC 패키지는 44부터 232까지 또는 그 이상의전기적 콘택 또는 리드 수를 갖는 정방형 또는 장방형의 형상일 수 있다. 또한 여러 종류의 전기적 콘택 또는 리드가 사용되고 있다. 4면 팩 IC는 갈매기 날개(Gull wing) 형상의 리드 또는 J자 형상의 리드를 사용한다. 2종의 리드 모두는 IC 패키지 주위로부터 연장되는데, 갈매기 날개 형상의 리드는 하부가 굽혀져서 패키지로부터 외부 쪽을 향하며, J자 형상의 리드는 J자 형상으로 하부가 굽혀지고 패키지 아래로 접혀 있다. 상기 리드는 회로 기판 상에 형성되는 전기적 콘택 패드에 납땜된다. 핀-그리드-어레이(PGA) 및 볼-그리드-어레이(BGA) 소자는 IC 패키지의 하부 표면 상에 행렬(matrix)로 형성되는 전기적 콘택을 갖는다. 상기 PGA 소자는 회로 기판 내 대응하는 관통홀(through-hall) 행렬과 체결되도록 하부로 연장되는 리드 선(lead wire)을 갖는다. 상기 리드는 전기적으로 연결되도록 상기 관통홀 내에 납땜된다. 상기 BGA 소자는 각각의 콘택 상에 형성되는 납땜볼을 갖는 IC 하부 표면 상에 형성되는 전기적 콘택 행렬을 구비하며, 회로 기판 상의 대응하는 전기적 콘택 패드 행렬에 상기 콘택의 납땜이 가능하다.

수동 또는 능동 오실로스코프 프로우브와 같은 표준 측정 장비의 전기 프로우브로 PGA 소자를 검사하려면 상기 PGA 소자가 납땜되는 회로 기판의 반대측으로 액세스할 필요가 있다. BGA 소자에 대해, 추가 콘택 패드는 상기 소자의 검사가 가능하도록 회로 기판 상에 형성되어야 하고 BGA 소자 하부에서 콘택 패드 행렬에 전기적으로 연결되어야 한다.

BGA 소자의 전기적 콘택을 검사하는 다른 해결책으로는 본 발명의 양수인인 Tektronix, Inc.에게 양도된 미국 특허번호 제5,548,223호에 기재되어 있는 프로우브 어댑터가 있다. 상기 프로우브 어댑터는 BGA 소자 상의 전기적 콘택에 대응하는 중심부에 형성되는 전기적 콘택을 갖는 신축성 유전 재료(flexible dielectric material)로 이루어진다. 도전성 경로(run)가 형성되는 측면(wing)이 상기 어댑터의 중심부로부터 외부로 연장되며, 도전성 경로는 상기 중심부의 전기적 콘택 각각으로부터 상기 측면의 주변에 형성되는 전기적 콘택까지 연장된다. 상기 어댑터의 중심부가 상기 BGA 소자 및 상기 회로 기판 사이에 위치되며 상기 BGA 소자의 납땜볼을 사용하여 정해진 위치에 납땜된다. 이와 같은 어댑터는 프로토타입 회로 설계의 문제점을 해결하고 수정하는데 사용하기 위한 것이며, 제조 회로 기판 내의 회로 또는 제품 내의 고장 회로 기판의 문제점을 해결하기 위한 것은 아니다.

따라서 표면 장착 볼-그리드-어레이 소자의 개별적인 납땜볼 연결점의 전기적 검사를 가능하게 하는 프로우브 어댑터가 요구된다.

따라서, 본 발명은 볼-그리드-어레이 패키지용 검사 어댑터에 관한 것이다. 상기 검사 어댑터는 길게 연장된 몸체를 포함하며, 길게 연장된 몸체는 자신의 내부 중심에 배치되는 슬롯 형성부를 구비하고, 길게 연장된 몸체의 일측 단부에 형성되는 간극이 상기 슬롯 형성부까지 연장된다. 상기 슬롯 형성부는 제1 위치로부터 제2 위치로 이동 가능한 슬라이더를 보유한다. 상기 슬라이더는 자신에게 부착되는 전기적으로 도전성인 공이쇠를 갖는다. 전기적 콘택이 상기 공이쇠와 전기적으로 결합되며, 상기 전기적 콘택의 일부는 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 노출된다. 전극은 상기 공이쇠로부터 및 상기 길게 연장된 몸체 내의 간극을 통해 연장되는데, 상기 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼 콘택과 전기적으로 접촉하도록 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 상기 전극이 노출되어 있다. 상기 어댑터는 상기 길게 연장된 몸체의 일측 단부에 부착되는 신축성 부재를 포함하며, 상기 길게 연장된 몸체 내에 형성되는 간극을 통해 전극이 연장된다. 상기 슬라이더는 상기 슬롯 내에 형성되는 대응 멈춤쇠와 체결되도록 자신의 내부에 형성되는 멈춤쇠를 구비한다. 스프링이 적재된 푸시-버튼이 상기 슬라이더 상에 장착되어 상기 슬롯 형성부로부터 상기 슬라이더 멈춤쇠를 체결 및 체결해제한다. 눈금자 위치지정 부재가 상기 슬라이더에 부착되어 상기 길게 연장된 몸체 상에 배치되는 인접 눈금자의 위치를 지정할 수 있다. 상기 눈금자가 상기 슬라이더에 인접하는 상기 슬롯 내에 배치되는 것이 바람직하다. 본 발명의 바람직한 실시예에서, 상기 눈금자는 제1 간극과 대향하는 상기 길게 연장된 몸체 내의 제2 간극 내에 배치되는 눈금자 조정 부재를 사용하여 조정될 수 있다. 상기 전극의 상당 부분은 절연 재료로 커버되며, 상기 전극의 단부들이 상기 공이쇠 및 상기 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼과 전기적 접촉을 형성하기 위해 노출되어 있다. 상기 전극의 노출된 단부가 상기 볼-그리드-어레이 소자의 납땜볼과 체결되도록 후크-형상일 수 있다.

본 발명의 목적, 장점 및 신규한 특징이 첨부되는 청구범위 및 도면을 참조하여 이해하는 경우 이하의 상세한 설명으로부터 명백해진다.

본 발명은 첨부되는 도면의 참조부호에서 예를 드는 방식으로 예시되며, 유사한 참조부호는 유사한 구성 요소를 나타낸다.

도 1은 본 발명에 따른 볼-그리드-어레이 패키지용 검사 어댑터의 사시도.

도 2는 본 발명에 따른 볼-그리드-어레이 패키지용 검사 어댑터의 확대 사시도.

도 3은 본 발명에 따른 볼-그리드-어레이 패키지용 검사 어댑터의 절개선 A-A'를 따라 절개되는 측단면도.

도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 볼-그리드-어레이(BGA) 소자 또는 패키지(12)를 검사하기 위한 검사 어댑터(10)가 도시되어 있다. BGA 소자(12)는 자신의 하부 표면의 어레이에 형성되는 전기적 콘택을 구비하며, 각각의 콘택은 자신의 상부에 형성되는 납땜볼(solder ball; 14)을 갖는다. 납땜볼(14)은 기판 또는 회로 기판(18) 상에 형성되는 대응 도전성 패드 어레이 상에 배치된다. BGA 소자(12)를 보유하는 기판 또는 회로 기판(18) 영역은 상기 납땜볼(14)이 상기 BGA 소자(12) 및 상기 회로 기판(18) 상의 전기적 콘택 사이에 영구적인 전기적 연결이 가능하도록 가열된다.

검사 어댑터(10)는 중심부에 슬롯 형성부(22)가 배치되는 길게 연장된 몸체(20)를 구비한다. 푸시-버튼(26)을 갖는 이동 가능한 슬라이더(24)가 상기 슬롯 형성부(22) 내에 배치된다. 도 2 및 도 3에 보다 명백하게 도시되는 바와 같이, 검사 전극(30)에 연결되는 공이쇠(28)가 상기 슬라이더(24)에 부착된다. 검사 전극(30)은 BGA 소자(12)의 납땜볼(14)과 전기적으로 접촉하는 후크-형상의 콘택(31)을 구비한다. 전기적 콘택(32)이 상기 전극(30) 및 수동 또는 능동 전압 프로우브 등과 같은 측정 프로우브(34) 사이의 전기적 연결을 제공하는 상기 길게 연장된 몸체(20)로부터 연장된다.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 볼-그리드-어레이(BGA) 패키지를 검사하는 검사 어댑터(10)의 확대 사시도, 및 절개선 A-A'를 따라 절개되는 검사 어댑터(10)의 측단면도를 도시하고 있다. 도 2 및 도 3의 유사한 구성 요소는 도1에서와 동일한 참조부호를 갖는다. 어댑터(10)는 길게 연장된 몸체(20)가 형성되도록 서로 결합되는 2개의 절반부(42, 44)로 이루어진다. 대안적으로, 상기 길게 연장된 몸체(20)는 사출 성형품으로 제작되거나 생산될 수 있는 단일 부재일 수 있다. 상기 길게 연장된 몸체는 폴리탄산에스테르(polycarbonate) 또는 플라스틱과 같은 전기적 절연 재료로 이루어지는 것이 바람직하다. 상기 길게 연장된 몸체(20)의 중심 부분에는 슬롯 형성부(22)가 배치된다. 점점 가늘어지는 돌출부(tapered nose region; 46)가 상기 슬롯 형성부(22)로부터 연장되며, 전극(30) 및 연관된 공이쇠(28)를 수납하기 위해 자신의 내부에 간극을 갖는다. 신축성 있는 돌출부(flexible nose section; 50)가 상기 점점 가늘어지는 돌출부(46)에 추가될 수 있다.

상기 슬롯 형성부(22)는 자신의 내부에서 이동하는 슬라이더(24)를 수납한다. 상기 슬롯 형성부(22)의 일측 또는 양측 모두에 하부를 향하는 손톱 톱니바퀴 돌기(rachet teeth; 23)가 형성된다. 상기 슬라이더(24)는 푸시-버튼(26)을 구비하며, 푸시-버튼(26)은 상기 슬라이더(24) 및 자신 사이에 스프링(52)을 배치하여 스프링이 적재된다. 상기 푸시-버튼(26)은 상기 슬롯 형성부(22) 내의 손톱 톱니바퀴 돌기(23)를 체결하기 위해 상기 푸시-버튼(26)의 측면으로부터 연장되는 수평으로 배치되는 핀(27) 또는 숄더(shoulder)를 포함한다. 제2 스프링(54)이 상기 슬라이더(24) 및 상기 푸시-버튼(26) 상에 각각 형성되는 돌기(lug; 56, 58)에 부착된다. 공이쇠(28)가 상기 슬라이더(24)에 부착되며, 상기 슬롯 형성부(22)내에서 이동한다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 부착은 상기 슬라이더(24) 내에 형성되는 대응 홈(groove) 또는 리브(rib)(62)와 짝이 되는 상기 공이쇠(28)의 일측 단부 상에 리브 또는 홈(60)을 형성함으로써 달성될 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 에폭시 아교(epoxy glue)와 같은 접착제가 상기 공이쇠(28)를 슬라이더(24)에 부착하는데 사용될 수 있다. 상기 공이쇠(28)를 상기 전극(30)에 고정시키기 위해 상기 공이쇠(28)의 타측 단부에 홀 또는 노치(notch)(64)가 형성된다. 본 발명의 다른 실시예에서, 상기 전극(30) 및 공이쇠(28)는 전기적으로 도전성인 재료로 이루어진다. 상기 전극(30)은 공이쇠(28)에 연결되는 단부를 제외한 부분이 절연 재료로 커버된다. 상기 절연 재료는 상기 전극(30)이 상기 납땜볼(14)과 서로 단락되는 것을 방지한다. 상기 전극(30)의 타측 단부는 후크-형상의 콘택(31)을 형성하도록 구부러져 있다. 상기 전극(30)의 단부 면은 전기적 접촉을 제공하도록 상기 절연 재료로부터 개방된다. 상기 절연 개방 단부 면은 와이어 절단기(wire cutter)로 상기 전극의 단부를 절단함으로써 만들어질 수 있다. 상기 절단의 각도는 상기 콘택(31) 상의 노출형 단부(bare-like end)를 제공하도록 경사질 수 있다. 상기 전기적 콘택(32)은 제1 및 제2 콘택(66, 68)―여기서 제1 콘택(66)이 상기 공이쇠(28)와 전기적으로 결합하고, 제2 콘택(68)이 상기 길게 연장된 몸체(20)의 외부로 노출됨―을 구비하고, 상기 길게 연장된 몸체(20) 내에 고정된다.

본 발명의 바람직한 실시예에서, 이동 가능한 눈금자(70)가 상기 슬라이더(24) 다음의 슬롯 형성부(22) 내에 장착되거나 또는 슬롯 형성부(22)에 인접하게 배치된다. 상기 슬라이더(24)에 눈금자 위치지정 부재(72)가 제공된다.상기 돌출 단부로부터 상기 길게 연장된 몸체의 대향 단부가 눈금자 조정 부재(74)를 수납하기 위해 자신의 내부에 형성되는 나사식 간극(threaded aperture; 34)을 구비한다. 상기 눈금자 조정 부재(74)는 도톨도톨한 손잡이(knurled knob; 76), 및 상기 간극(340 내의 대응 나사와 체결되는 나사식 중심부(78)를 구비한다. 상기 도톨도톨한 손잡이(76)의 대향 단부에는 상기 눈금자 조정 부재(74)를 돌려서 상기 눈금자(70)의 이동을 가능하게 하도록 상기 눈금자(70) 내에 형성되는 슬롯(82)과 체결되는 원형의 가장자리 부재(circular flange element; 80)가 형성된다.

상기 검사 어댑터(10)는 볼-그리드-어레이 패키지(12)의 에지(edge)에 대향하여 상기 어댑터(10)의 돌출부(50)를 먼저 배치하여 사용된다. 상기 어댑터(10)의 돌출부(50)를 향해 상기 슬라이더(24)를 이동하면 상기 어댑터(10)의 전극(30) 중에서 후크-형상의 콘택(31) 단부가 진행된다. 상기 후크-형상의 콘택(31) 단부는 2 줄(row)의 납땜볼(14)에 의해 형성되는 터널로의 진입부에 제1 납땜볼(14)을 통과하여 이동된다. 상기 공이쇠(28)는 상기 전극(30)의 후크-형상의 콘택(31) 단부가 임의의 특정 납땜볼 터널에서 우 또는 좌 납땜볼 쪽에 배치되도록 상기 슬라이더(24)에 대해 자유롭게 회전하는 것이 바람직하다. 이후 상기 슬라이더(24)는 스프링(54)의 탄성력에 의해 상기 어댑터(10)의 후측 단부 쪽으로 수축 및 래치(latch)된다. 이것은 후크-형상의 콘택(31) 끝이 통과하는 상기 납땜볼(14)을 물거나 또는 걸리게 한다. 이러한 작용에 의해 상기 전극(30) 및 상기 제1 납땜볼(14) 사이에 양호한 전기적 연결이 이루어진다. 상기 어댑터(10)의 단부에서 도톨도톨한 손잡이(76)는 조절 가능한 눈금자(70) 상의 값 '1' 이 상기 눈금자 위치지정 부재(72)와 정렬될 때까지 회전시켜서 상기 전극(30)의 후크-형상의 콘택(31) 단부가 납땜볼 '1' 상에 있는 것을 나타낸다. 이러한 조정은 패키지 에지(edge)로부터 상기 제1 납땜볼까지의 치수가 납품업자 간에 서로 다를 수 있기 때문에 볼-그리드-어레이 패키지(12) 납품업자 사이의 치수 공차에 대한 염려를 제거하는 역할을 한다.

상기 납땜볼(14) 상의 전기 신호는 상기 전극(30)으로부터 상기 공이쇠(28)로 연결된다. 상기 공이쇠(28)는 납땜 시에 상기 전기적 콘택(32)과 전기적으로 연결된다. 수동 또는 능동 전압 프로우브와 같은 측정 프로우브는 오실로스코프, 논리 분석기 등과 같은 측정 시험 장비에 전기 신호를 연결하기 위해 상기 길게 연장된 몸체(20) 외부로 노출되는 상기 전기적 콘택(32) 상에 배치된다. 사용자가 상기 줄(row) 내의 다른 납땜볼(14)을 검사하고자 하는 경우, 상기 푸시-버튼(26)이 눌릴 수 있고, 상기 슬라이더(24)는 상기 슬라이더(24) 상의 눈금자 위치지정 부재(72)가 상기 이동 가능한 눈금자(70) 상의 대응 납땜볼에 도달할 때까지 상기 슬롯 형성부(22)를 따라 진행할 수 있다. 상기 푸시-버튼(26)이 눌린 채 상기 어댑터(10)의 후측 단부 쪽으로 이동하면 상기 슬라이더(24)는 상기 어댑터(10)의 후측 단부 쪽으로 다시 수축하게 되고, 결국 상기 후크-형상의 콘택(31) 끝이 통과되는 상기 납땜볼(14)에 물리게 된다. 상기 푸시-버튼(26)은 가장 가까운 멈춤쇠에 자리잡도록 해방될 수 있다. 상기 푸시-버튼(26) 및 상기 슬라이더(24) 사이의 스프링(54)은 상기 후크-형상의 콘택(31) 상에 작용되는 힘을 발생하게 된다.

사용자가 임의의 특정 줄을 따라 상기 납땜볼(14)을 검사하는 것이 완료되는 경우, 상기 슬라이더(24)는 상기 슬롯 형성부(22)의 전방 단부로 완전히 진행된다. 이것은 상기 전극(30)의 후크-형상의 콘택(31) 단부가 자신이 출발하는 곳으로부터 상기 볼-그리드-어레이 패키지(12)의 대향 단부로부터 돌출시킨다. 상기 슬라이더(24)는 상기 공이쇠(28) 및 상기 전극(30) 사이의 기계적 결합부를 노출시키도록 상기 슬롯 형성부(22) 내에서 충분히 이동된다. 상기 전극(30)은 상기 공이쇠(28)로부터 탈착될 수 있는데, 상기 전극(30)은 상기 후크-형상의 콘택 단부를 잡고 상기 볼-그리드-어레이 패키지 하부로부터 상기 전극(30)을 분리함으로써 상기 볼-그리드-어레이 패키지(12) 하부로부터 분리될 수 있다.

볼-그리드-어레이 패키지용 검사 어댑터(10)는 길게 연장된 몸체(20)를 포함하며, 길게 연장된 몸체(20)는 자신의 중심부 내부에 배치되는 슬롯 형성부(22)를 구비하고, 상기 슬롯 형성부(22)가 자신의 내부에서 이동 가능한 슬라이더(24)를 구비한다. 전기적으로 도전성인 공이쇠(28)는 상기 슬라이더(24)에 부착되고 상기 길게 연장된 몸체(20)의 외부로 노출되는 전기적 콘택(32)에 전기적으로 연결된다. 전극(30)은 상기 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼(14) 콘택과 전기적으로 연결하기 위한 후크-형상의 콘택(31)을 노출시키기 위해 상기 길게 연장된 몸체(20)의 일측 단부에 형성되는 간극을 통해 상기 공이쇠(28)로부터 연장된다. 상기 슬라이더(24)는 상기 볼-그리드-어레이 패키지(12) 하부에 납땜볼(14) 콘택 각각의 위치를 지정하기 위해 상기 슬라이더(24)에 인접하게 장착되는 이동 가능한 눈금자(70)를 참조하여 작용하는 눈금자 위치지정 부재(72)를 포함할 수 있다.

전술한 본 발명의 실시예의 상세한 설명이 그 기본적 원칙을 벗어남이 없이 많은 변경이 이루어질 수 있다는 점은 당업자에게 명백하다. 따라서, 본 발명의 범위는 첨부되는 청구범위에 의해서만 한정되어야 한다.

본 발명에 따르면 표면 장착 볼-그리드-어레이 소자의 개별적인 납땜볼 연결점의 전기적 검사를 가능하게 하는 검사 어댑터를 제공할 수 있다.

Claims

볼-그리드-어레이(Ball-Grid-Array) 패키지용 검사 어댑터(probing adapter)에 있어서,

a) 자신의 중심부에 배치되는 슬롯 형성부(centrally disposed slotted region)를 구비하는 길게 연장된 몸체(elongate body)―여기서 길게 연장된 몸체의 일측 단부는 자신의 내부에 형성되며, 상기 슬롯 형성부까지 연장되는 간극(aperture)을 구비함 ―;

b) 상기 슬롯 형성부에 배치되며, 제1 위치에서 제2 위치로 이동 가능한 슬라이더(slider);

c) 상기 슬라이더에 부착되는 전기적으로 도전성인 공이쇠(plunger);

d) 상기 공이쇠―여기서 공이쇠는 그 일부가 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 노출됨―에 전기적으로 연결되는 전기적 콘택(electrical contact); 및

e) 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼(solder ball)과 전기적 접촉을 형성하기 위해 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 자신을 노출시키도록 상기 공이쇠로부터상기 길게 연장된 몸체 내의 간극을 통해 연장되는 전극(electrode)

을 포함하는 검사 어댑터.
제1항에 있어서,

상기 간극을 구비하는 길게 연장된 몸체의 일측 단부에 부착되는 신축성 부재(flexible member)―여기서 신축성 부재는 상기 전극을 수납하기 위해 자신의 내부에 형성되는 간극을 구비함―를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제1항에 있어서,

상기 슬롯 내에 형성되며, 상기 슬라이더 상의 대응 멈춤쇠(detent)와 체결되는 복수의 멈춤쇠를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제3항에 있어서,

상기 슬라이더 상에 장착되며, 상기 슬롯 멈춤쇠로부터 상기 슬라이더 멈춤쇠를 체결 및 체결해제하는, 스프링이 적재된 푸시-버튼(spring-loaded push- button)을 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제1항에 있어서,

상기 슬라이더에 인접한, 상기 길게 연장된 몸체의 슬롯 내에 배치되는 눈금자(scale)를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제5항에 있어서,

상기 눈금자에 인접한 상기 슬라이더에 부착되는 눈금자 위치지정 부재(scale pointing element)를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제5항에 있어서,

상기 눈금자는 제1 위치로부터 제2 위치로 조정 가능하며,

상기 어댑터는 상기 길게 연장된 몸체의 대향 단부에서 상기 길게 연장된 몸체 내에 형성되는 제2 간극―여기서 제2 간극은 자신의 내부에 배치되며, 상기 조정 가능한 눈금자에 접촉하는 눈금자 조정 부재를 구비함―을 추가로 포함하는

검사 어댑터.
제1항에 있어서,

상기 전극―여기서 전극의 단부는 상기 공이쇠 및 상기 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼과 전기적으로 접촉하도록 노출됨―의 상당 부분을 둘러싸는 절연 재료를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제8항에 있어서,

상기 납땜볼에 접촉되는 상기 전극 단부가 후크(hook)-형상의 콘택인 검사 어댑터.
볼-그리드-어레이(Ball-Grid-Array) 패키지용 검사 어댑터에 있어서,

a) 자신의 중심부에 배치되며, 복수의 멈춤쇠를 구비하는 슬롯 형성부(centrally disposed slotted region)를 내부에 구비하는 길게 연장된 몸체(elongate body)―여기서 길게 연장된 몸체의 대향 단부들은 자신의 내부에 형성되며 상기 슬롯 형성부까지 연장되는 간극(aperture)을 각각 구비함―;

b) 상기 슬라이더에 인접한, 상기 길게 연장된 몸체의 슬롯 내에 배치되는 위치 조정 가능 눈금자;

c) 상기 간극의 일측에 배치되며 상기 조정 가능 눈금자와 접촉하는 눈금자조정 부재;

d) 상기 슬롯 형성부 내에 배치되며, 자신의 상부에 형성되는 멈춤쇠를 갖되 상기 슬롯 형성부 내의 멈춤쇠와 체결되는 슬라이더―여기서 슬라이더는 상기 눈금자에 인접한 자신에게 부착되는 눈금자 위치지정 부재를 구비하며, 제1 위치로부터 제2 위치로 이동 가능함―;

e) 상기 슬라이더에 부착되는 전기적으로 도전성인 공이쇠(plunger);

f) 상기 공이쇠―여기서 공이쇠는 그 일부가 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 노출됨―와 전기적으로 연결되는 전기적 콘택(electrical contact); 및

g) 상기 길게 연장된 몸체의 외부로 자신을 노출시키도록 상기 공이쇠로부터 상기 길게 연장된 몸체 내의 간극을 통해 연장되는 전극(electrode)―여기서 전극은 자신의 노출된 단부가 볼-그리드-어레이 패키지의 납땜볼(solder ball)과 전기적으로 접촉하기 위한 후크-형상의 콘택을 구비하며, 상기 대향 단부를 제외한 전극을 둘러싸는 절연 재료를 구비함―

를 포함하는 검사 어댑터.
제10항에 있어서,

상기 간극을 구비하는 길게 연장된 몸체의 일측 단부에 부착되는 신축성 부재(flexible member)―여기서 신축성 부재는 상기 전극을 수납하기 위해 자신의 내부에 형성되는 간극을 구비함―를 추가로 포함하는 검사 어댑터.
제10항에 있어서,

상기 슬라이더 상에 장착되며, 상기 슬롯 멈춤쇠로부터 상기 슬라이더 멈춤쇠를 체결 및 체결해제하는 스프링이 적재된 푸시-버튼을 추가로 포함하는 검사 어댑터.