KR100305419B1 - 영상 위치맞춤 방법, 영상 위치맞춤 장치 및 기록 매체 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 노이즈 또는 영상 장치의 특성 영향으로 인해 왜곡되는 영상이 있을 때조차 정밀도를 잃지 않는 서브픽셀 정밀 위치맞춤 기술을 제공하는 것이다. 피팅 범위 설정 장치(105)는 피팅 범위로서 크게 다른 값의 입력 영상의 픽셀 범위를 세트한다. 함수 피팅 장치(104)는 각각의 피팅 범위에 대해 모노-피크 함수를 피팅하고, 서브픽셀 정밀 에지 위치를 얻는다. 위치맞춤은 그리고 나서 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(107)로 달성된다. 어떤 하나의 영상 상의 에지 지점에 대해 대응하는 후보 곡선 발생 장치(108)는 곡선으로 결합된 후보 곡선에 대응하는 다른 영상 위에 대응하는 복수의 에지 지점을 만든다. 위치편차 산출 장치(109)는 모든 대응하는 후보 곡선이 교차하거나 또는 대부분이 집중되는 점을 얻으며, 하나의 영상에서 다른 영상으로 서브픽셀 정밀도에서 변위되는 좌표를 고려한다.

Description

영상 위치맞춤 방법, 영상 위치맞춤 장치 및 기록 매체{Image registration method, image registration apparatus and recording medium}
본 발명은 서브픽셀 정밀도(픽셀의 크기보다 정교한 정밀도)로 복수의 디지털 영상을 위치맞춤하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
디지털 영상의 영상 처리를 수행할 때, 픽셀의 크기 보다 정교한 정밀도(서브픽셀 정밀도)로 복수의 디지털 영상을 위치맞춤하는 것이 바람직하다. 서브픽셀 정밀도로 복수의 영상을 위치맞춤하는 종래의 기술은 대략 세 종류로 나눌 수 있다. 첫 번째 기술은 서브픽셀 정밀도로 크로스-상관 함수의 최대 값 지점의 좌표를 얻고 내부-영상 크로스-상관 함수에 피팅한 실행 곡선을 수반하는 브이.엔. 드보르첸코(브이.엔. 드보르첸코 : IEEE Trans. Pattern. Anal. Mach. Intell., Vol. PAMI-5, No2, pp. 206-213, 1983' 위치맞춤을 위한 응용의 (결정적인)상관 함수의 경계')의 기술에 의해 나타난 상관 함수 보간 법이다. 두 번째 기술은 1/N 픽셀의 정밀도로 위치편차를 얻도록 가장 좋은 좌표를 얻으며, 이동되지 않는 다른 영상에서 템플레이트 매칭을 수행하고, 1/N 픽셀 단위로 영상을 이동하며, 보간 법에 의한 하나의 영상에 대해 픽셀 사이의 그레이 레벨 값을 얻고, 비교되는 각 영상에 대해 수반하는 제이. 에이. 파커 등(제이. 에이. 파커, 알. 브이. 케년 및 디. 이. 드록셀 : IEEE Trans. Med. Imaging, Vol. MI-2, No.1, pp. 31-39, 1983' 영상 리샘플링에 대한 보간 법의 비교')의 기술에 의해 나타난 그레이 레벨 값 보간 법이다. 세번째 기술은 Dx 및 Dy를 얻도록 상기 식을 풀고, 영상(A) 및 영상(B)의 그레이 레벨 값의 차로부터 Dx 및 Dy에 대한 1차 연립 방정식을 얻고 Dx 및 Dy에 대한 테일러 팽창으로 영상(B)의 그레이 레벨 값이 되고, 증가 거리 Dy만큼 Y 방향으로, 증가 거리 Dx만큼 X 방향으로 다른 영상(영상(B))으로부터 변위되는 하나의 영상(영상(A))을 고려하며, 수반하는 다른 방법인 티. 에스. 황(티. 에스. 황 : 1981년 스프링거-벨라그, 303페이지 '영상 시퀀스 분석')의 기술에 의해 나타난 기술이다. 이하는 다른 방법의 상세한 설명이다. 비교되는 영상의 그레이 레벨 값은 각각 f(x,y), g(x,y)로 나타내는데, 여기서, g(x,y) 와 f(x,y)는 (Dx 및 Dy)만큼 변위 되며, g(x,y)=f(x-Dx, y-Dy)로 나타낼 수 있다. 만일 (Dx 및 Dy)가 매우 작다면, f(x,y) 와 g(x,y)의 차 I(x,y)는
(1)
으로 나타낼 수 있다.
I(x,y)의 값과 f(x,y)의 부분적인 미분 값은 여러 좌표에 대해 얻어지며, 여러 좌표에서 (Dx 및 Dy)에 대한 연립 방정식은 식(1)으로부터 셋업 된다. 상기 연립 방정식을 풀음으로써, 두 영상 사이의 상관 위치의 이동량인 (Dx 및 Dy)가 얻어진다.
그레이 레벨 값 보간 법과 다른 방법에 의하면, 표현 방식이 다른데, 어쨌든 이것은 크로스-상관 함수가 최대를 취하는 지점에 대해 탐색하는 상관 함수 보간 법과 이론상 동일하다.
하지만 전술된 종래 기술에 의하면, 절대적으로 가정된 조건은 위치맞춤된 영상이 완전히 동일한 영상이어야 하며, 단지 서로에 대한 위치만이 이동된다. 그러므로 왜곡 또는 노이즈가 영상에 부가된 경우에, 가정된 조건은 위치편차 양을 정밀히 얻을 수 없는 가능성에 따라 무너진다. 이하의 예는 종래 기술에 따른 위치편차 양을 정밀히 얻을 수 없는 상황을 설명하도록 주어진다.
도10a는 에지의 경사 부분의 그레이 레벨 값 변화가 비교적 완만한 입력 영상의 일 예를 도시하는 반면, 도10b는 에지의 경사 부분의 그레이 레벨 값 변화가 비교적 가파른 입력 영상의 일 예를 도시한다. 상기 두 입력 영상이 위치맞춤되고 겹친 결과는 도10c에 도시된다. 도10a 및 도10b에 도시된 바와 같은 경우에서, 영상에서 단지 한 에지가 있고, 예컨대 영상 장치의 광학 특성에 기인하여 입력 영상간의 에지 프로파일은 다르며, 상술된 종래 기술이 사용될 때, 도10c에 도시된 바와 같이 겹치지 않는 부분의 영역이 최소화되도록 겹치므로, 1차 미분의 최대 값 지점에 의해 규정된 쌍의 에지는 항상 겹칠 수 없다. 결국 위치편차 양이 정밀하게 얻어질 수 없다.
도11a는 에지에서의 반경 즉, 에지의 곡률이 비교적 작은 입력 영상의 일 예를 도시하는 반면, 도11b는 에지의 반경이 없는 즉, 에지의 곡률이 상당히 큰 입력 영상의 일 예를 도시한다. 직선 에지 부분이 일치하도록 상기 두 입력 영상 위치맞춤 및 겹침 결과가 도11c에 도시된다. 더욱이, 서로 겹치지 않는 부분의 영역이 최소화 되도록하는 겹침의 결과는 도11d에 도시된다. 상기 방식에서 패턴의 코너 모양이 다른 경우에, 종래 기술에 의하면, 겹치지 않는 부분의 영역이 최소가 되도록 겹치게 되므로, 도11c에 도시된 바와 같이 서로 상부에 놓인 에지 쌍보다 도11d에 도시된 바와 같이 이동하여 겹친다.
도12a는 패턴상의 텍스쳐인 입력 영상의 일 예를 도시한다. 도12b 또한 패턴상의 텍스쳐인 입력 영상의 일 예를 도시한다. 중요한 것은 도12b의 입력 영상에 의하면 텍스쳐는 도12a의 입력 영상에 비해 다소 에지 쪽으로 위치된 것이다. 에지 부분이 일치하도록 상기 두 입력 영상 겹침 결과가 도12c에 도시되는 반면, 패턴상의 텍스쳐가 일치하도록 겹침의 결과가 도12d에 도시된다. 도12a 및 도12b에서와 같이, 각 주사 라인의 시작 타이밍 이동으로 인한 비디오 지터 등과 또는 영상 장치의 각 검출 요소 사이의 감도 변화에 기인하는 패턴상의 미세한 그레이 레벨의 파동을 갖는 텍스쳐가 있는 경우에 도12c에 도시된 바와 같이 겹친 에지 쌍 보다는 도12d에 도시된 바와 같이 다소 이동된 에지 쌍의 겹침 가능성이 있다.
도13a는 패턴상의 약한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐인 영상 입력의 일 예를 도시한다. 도13b는 또한 패턴상의 경미한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐를 갖는 영상 입력의 일 예를 도시하며, 어쨌든, 도13a의 입력 영상에 비해, 주기적인 노이즈의 위상은 에지 쪽으로 다소 이동된다. 에지 부분이 일치하도록 상기 두 입력 영상 겹침 결과는 도13c에 도시된다. 패턴상의 경미한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐가 일치하도록 겹침의 결과가 도13d에 도시된다. 도13a 및 도13b에 도시된 바와 같은 경우, 비교된 영상의 둘 다에 대해 동일한 크기와 주파수를 갖는 주기적인 노이즈가 있지만, 노이즈의 위상은 약하게 영상 사이로 이동되고, 에지 쌍이 일치하게 겹치는 것이 아니라 주기적인 노이즈 쌍이 일치하게 겹치도록 도13d에 도시된 바와 같이 영상이 겹칠 때의 비-일치 부분의 영역은 에지 쌍이 일치하게 겹치지만 주기적인 노이즈 쌍은 일치하게 겹치지 않도록 도13c에 도시된 바와 같이 영상이 겹칠 때의 비-일치 부분의 영역보다 적다. 동시에 위치맞춤이 상술된 종래 기술을 사용하여 이루어지면, 위치맞춤은 도13d에 도시된 바와 같이 된다. 그래서 정밀한 위치맞춤은 가능하지 않다. 게다가, 또한, 노이즈의 한 피크가 아주 작아서 눈으로 볼 수 없거나 주기적인 노이즈가 있어서 확인할 수 없는 경우에, 그러한 피크가 많으면, 비-일치 부분의 영역이 누적되어, 위치맞춤 에러 가능성이 있다. 그러한 주기적인 노이즈의 예로서, 비월된 주사 비디오 영상에서 종종 볼 수 있다는, 주사 라인 사이의 그레이 레벨값의 비-균일성을 수반하는 측면 스트라이프 등이 있다.
본 발명의 목적은 위치맞춤될 영상이 노이즈 또는 영상 장치의 특성의 영향으로 인해 왜곡되기 쉬운 경우에서조차 좋은 정밀도로 위치맞춤을 수행할 수 있는 영상 위치맞춤 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
도1은 본 발명의 제1 실시예의 영상 위치맞춤 장치의 구조를 도시하는 블록도.
도2a는 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도2b는 도2a에 도시된 입력 영상의 횡 미분 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도2c는 횡 미분 영상의 에지 부분에 대한 횡 방향 그레이 레벨 값 변화의 일 예를 도시하는 도면.
도2d는 횡 미분 영상의 에지가 모노-피크 함수로 횡 방향으로 적합된 일 예를 도시하는 도면.
도3a는 종 방향 에지 위치 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도3b는 횡 방향 에지 위치 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도4a는 복수의 입력 영상 중 하나의 입력 영상(1)에 대한 종 미분 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도4b는 복수의 입력 영상 중 하나의 입력 영상(2)에 대한 종 미분 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도4c는 도4a에 의해 도시된 입력 영상과 도4b에 의해 도시된 입력 영상이 픽셀 정밀도로 중첩된 예를 도시하는 도면.
도4d는 영상 입력(1) 상의 에지 픽셀(C)과 대응하는 입력 영상(2) 상의 에지 픽셀(C) 부근의 에지 픽셀(D)을 도시하는 도4c의 횡 에지의 한 부분에 대한 확대 도면.
도4e는 도4d에 도시된 에지 픽셀(C)에 대해, 대응하는 에지 픽셀(D)과 D에 인접한 에지 픽셀로 이루어진 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹의 일 예를 도시하는 도면.
도4f는 도4e에 도시된 에지 픽셀(C)의 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에 대해 어떤 곡선을 피팅함으로써 얻어진 대응하는 후보 곡선의 일 예를 도시하는 도면.
도4g는 대응하는 후보 곡선을 좌표 변환함으로써 얻어진 상대적으로 대응하는 후보 곡선을 도시하는 도면.
도5a는 모든 대응하는 후보 곡선이 변위 백터로서 교차하는 점과 좌표의 원점을 결합하는 벡터를 갖는, 어떤 에지 픽셀에 대해 얻어진 복수의 대응하는 후보 곡선의 일 예를 도시하는 도면.
도5b는 모든 대응하는 후보 곡선 중 하나의 점에서 교차가 없는 경우에 대해, 어떤 에지 픽셀에 대해 얻어진 복수의 대응하는 후보의 일 예를 도시하는 도면.
도5c는 대부분의 대응하는 후보 곡선이 변위 백터로서 통과하는 망사과 좌표의 원점을 결합하는 벡터를 갖는, 망사에 의해 전술된 좌표 시스템이 분할된 도5b에 도시된 대응하는 후보 곡선의 일 예를 도시하는 도면.
도6은 본 발명의 제2 실시예의 영상 위치맞춤 장치의 구조를 도시하는 도면.
도7a는 입력 영상의 한 예인 영상(A)을 도시하는 도면.
도7b는 입력 영상의 한 예인 영상(B)을 도시하는 도면.
도7c는 종 방향 변위 벡터로서, 영상(A)의 종 미분 영상 상의 어떤 에지 픽셀의 중심에서 대응하는 영상(B)의 종 미분 영상 상의 에지 픽셀의 중심으로 유도된 벡터를 갖는, 영상(A)의 종 미분 영상과 영상(B)의 종 미분 영상이 겹친 어떤 에지의 주위에 대한 확대 도면.
도7d는 횡 방향 변위 벡터로서, 영상(A)의 횡 미분 영상 상의 어떤 에지 픽셀의 중심에서 대응하는 영상(B)의 횡 미분 영상 상의 에지 픽셀의 중심으로 유도된 벡터와, 영상(A)의 횡 미분 영상과 영상(B)의 횡 미분 영상이 겹친 어떤 에지의 주위에 대한 확대 도면.
도7e는 변위 추정 직선을 설명하는 도면.
도8은 본 발명의 제3 실시예의 영상 위치맞춤 장치의 구조를 도시하는 블록 도.
도9는 영상 위치맞춤 장치를 실현하는 컴퓨터 시스템의 일 예를 도시하는 블록도.
도10a는 에지 상의 경사 부분의 그레이 레벨 값 변화가 비교적 완만한 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도10b는 에지 상의 경사 부분의 그레이 레벨 값 변화가 비교적 가파른 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도10c는 도10a에 도시된 입력 영상과 도10b에 도시된 입력 영상이 위치맞춤되어 겹친 결과를 도시하는 도면.
도11a는 코너에서 반경(비교적 작은 코너의 곡률)을 갖는 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도11b는 코너에서 반경(비교적 큰 코너의 곡률)이 없는 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도11c는 직선 에지 부분이 일치하도록 도11a에 도시된 입력 영상과 도11b에 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
도11d는 서로 겹치지 않는 부분의 영역이 최소화되도록 도11a에 도시된 입력 영상과 도11b에 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
도12a는 패턴 상의 텍스쳐를 갖는 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도12b는 도12a의 입력 영상에 비해 약간 에지쪽으로 향한 패턴의 텍스쳐를 갖는 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도12c는 에지 부분이 일치하도록 도12a에 도시된 입력 영상 상에 도12b 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
도12d는 패턴상의 텍스쳐가 일치하도록 도12b에 도시된 입력 영상 상에 도12a에 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
도13a는 패턴상의 예리한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐의 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도13b는 도13a의 입력 영상에 비해 주기적인 노이즈의 위상이 에지 쪽으로 약간 이동된, 패턴상의 약한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐의 입력 영상의 일 예를 도시하는 도면.
도13c는 에지 부분이 일치하도록 도13a에 도시된 입력 영상과 도13b에 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
도13d는 패턴상의 약한 주기적인 노이즈로 인한 텍스쳐가 일치하도록 도13a에 도시된 입력 영상과 도13b에 도시된 입력 영상 겹침의 결과를 도시하는 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1, 2 : 입력 영상
25 : 표시 장치
26 : 판독 장치
100, 200 : 영상 위치맞춤 장치
102 : 영상 미분 장치
105 : 영상 분할 장치
본 발명의 영상 위치맞춤 방법은 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하고, 각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하는 단계와, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 단계와, 종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻는 단계와, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 단계와, 상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와, 상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와, 미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와, 상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 단계와, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와, 상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 단계와, 상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 단계를 포함한다.
본 발명의 영상 위치맞춤 장치는, 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하며, 각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하며, 상기 종 미분 영상 및 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 영상 미분 장치와, 종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻고, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 피팅 범위 설정 장치와, 상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 함수 피팅 장치와, 미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 영상 분할 장치와, 상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 픽셀 정밀 위치맞춤 장치와, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 한 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 상기 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 에지 대응 부착 장치와, 상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 대응 후보 곡선 발생 장치와, 상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 위치편차 산출 수단을 포함한다.
본 발명에 의하면, 구별하기 어려운 텍스쳐들 또는 영상들 사이의 에지 프로파일간의 차에 의해 쉽게 영향을 받지 않는 영상 상의 패턴의 에지 부분이 피팅 함수에 의한 서브픽셀 정밀도로 얻어진다. 이러한 에지 위치에 기초하여, 위치맞춤될 영상의 대응하는 에지 사이의 거리는 서브픽셀 정밀도로 얻어져서, 서브픽셀 정밀도로 영상 사이의 위치편차를 얻는다. 게다가, 강도가 작은 에지를 제외한 임계값을 설정할 수 있게 됨으로써, 노이즈에 대한 영향이 최소로 된다.
다음은 도면을 참조하여 본 발명의 양호한 실시예를 설명이다.
제1의 실시예
도1은 본 발명의 제1 실시예의 영상 위치맞춤 장치의 구조를 도시하는 블록도이다.
영상 위치맞춤 장치(100)는 영상 입력 장치(101)에 입력된 두 디지털 영상(이하 영상(A) 및 영상(B)라 언급됨)의 위치맞춤을 행하고, 위치편차 양을 산출한다. 영상 위치맞춤 장치(100)는, 영상(A) 및 영상(B)에 대해 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 완전 미분 영상을 발생하는 영상 미분 장치(102)와, 종 미분 영상과 횡 미분 영상으로부터 종 방향 피팅 범위와 횡 방향 피팅 범위를 각각 얻는 피팅 범위 설정 장치(103)와, 횡 미분 영상으로부터 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 횡 방향 피팅 범위를 토대로 모노-피크 함수를 사용하여 함수 피팅을 수행하며, 종 미분 영상으로부터 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 종 방향 피팅 범위를 토대로 모노-피크 함수를 사용하여 함수 피팅을 수행하는 함수 피팅 장치(104)와, 횡 방향 에지 위치 영상과, 종 방향 에지 위치 영상, 완전한 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 미분 영상을 발생하고, 미리 지정된 크기로 횡 방향 에지 위치 영상, 종 방향 에지 위치 영상, 완전한 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 미분 영상을 분할하는 영상 분할 장치(105)와, 완전한 미분 영상 각각에 대해 템플레이트 매칭을 행함으로써, 픽셀 크기의 정밀도로 영상(A) 및 영상(B)의 위치맞춤을 수행하는 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)와, 픽셀 크기의 정밀도로의 위치맞춤 결과를 이용하여, 에지 위치 영상의 각각에 대해 영상(B)내 에지 픽셀과 영상(A)내 에지 픽셀에 대한 대응 부착을 수행함으로써 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻는 에지 대응 부착 장치(107)와, 미리 지정된 함수 모양으로 규정된 곡선에 따라 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각각의 에지 픽셀의 위치를 피팅하고 이것을 대응 후보 곡선으로 만들며, 상대적인 대응 후보 곡선을 부여하도록 좌표 변환을 수행하는 대응 후보 곡선 발생 장치(108)와, 상대적인 대응 후보 곡선이 가장 집중되는 하나의 지점 또는 소정의 한 지점에서 모든 상대적인 대응 후보 곡선이 교차하는 지점을 서브픽셀 정밀도로 얻고 이것을 대응 후보 교차점으로 만들어 영상(A) 및 영상(B)의 위치편차 양을 산출하는 위치편차 산출 장치(109)를 포함한다. 이하는 각각의 구성 요소의 상세한 설명이다.
영상 미분 장치(102)는 횡 방향과 종 방향으로 순차적으로 또는 병렬로 영상(A) 및 영상(B)에 대해 미분을 각각 실행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 종 미분 영상, 및 픽셀값으로서 횡 미분값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하며, 종 미분 영상과 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생한다.
피팅 범위 설정 장치(103)는 각각의 영상(영상(A) 및 영상(B))의 종 미분 영상의 각각에 대해 종 방향으로 픽셀 값을 주사하고, 미리 지정된 임계값 에지 후보 지점을 초과하는 픽셀을 형성하며, 같은 주사 라인상의 두 임의의 에지 후보 지점에 대해 거리가 미리 지정된 제어 범위 내에 있는 에지 후보 지점 쌍에 동일 라벨을 할당하고, 제어 범위가 초과된 경우에, 다른 라벨을 지정하여, 종 방향의 주사 라인상의 모든 에지 후보 지점에 라벨을 부착하며, 관계에 대해 에지 후보 지점 수가 미리 지정된 임계값, 즉 종 방향 피팅 범위보다 큰 라벨에 관계되는 에지 후보 지점의 세트를 만들며, 종 방향 피팅 범위를 얻도록 종 미분 영상 위의 종 방향으로 모든 주사 라인에 대해 같은 동작을 실행한다. 여기서, 픽셀의 위치가 2차윈 xy 좌표로 나타내는 경우, 종 방향 주사 라인은 동일한 x좌표 값을 갖는 픽셀의 세트이다. 같은 방식으로, 피팅 범위 설정 장치(103)는 횡 방향 피팅 범위를 얻도록 각각의 영상의 횡 미분 영상의 각각에 대해 횡 방향으로 픽셀 값을 주사한다. 픽셀의 위치가 2차원 xy 좌표로 나타나는 경우에 횡 방향 주사선은 동일한 y좌표 값을 갖는 픽셀의 세트이다.
함수 피팅 장치(104)는, 각 영상(A) 및 영상(B)에 대해 그리고 종 미분 영상 위의 각 종 방향 피팅 범위에 대해, 미리 지정된 모노-피크 함수(철면의 단지 하나의 최대 값 지점이 있는 함수)을 사용하여 종 방향으로 피팅을 수행하며, 픽셀 정밀도, 즉 서브픽셀 정밀도인 하나 미만의 픽셀의 정밀도로 분리된 최대 값 지점의 좌표를 얻고, 이들을 각각 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치와 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치로 만든다. 종 방향 피팅 범위의 횡 방향 좌표(x좌표)를 횡 방향 좌표로 만들고, 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치를 종 방향 좌표로 만드는 픽셀을 에지 픽셀로 만든다. 게다가, 상기 에지 픽셀의 픽셀 값에 대해, 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상이 발생된다. 횡 미분 영상과 마찬가지로 함수 피팅 장치(104)는 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치와 픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치를 얻고, 횡 방향 에지 위치 영상을 발생한다.
영상 분할 장치(105)는, 영상(A) 및 영상(B)의 각각을 미리 지정된 크기로, 그리고 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 완전 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상, 횡 방향 에지 위치 영상으로 상술한 바와 같이 얻어진 모두를 분할하여, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 완전 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상, 횡 방향 에지 위치 영상을 발생한다.
완전한 미분 영상의 각각에 대해 템플레이트 매칭을 사용하는 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)는 하나의 픽셀의 정밀도로, 즉, 영상(B)의 완전한 미분 영상에 대해 영상(A)의 전체 미분 영상의 픽셀 정밀도로 위치맞춤을 수행한다. 그리고 나서 상기 위치맞춤 결과에 따라, 영상(B)의 횡 방향 에지 위치 영상, 종 방향 에지 위치 영상, 횡 미분 영상, 종 미분 영상에 대해, 영상(A)의 횡 방향 에지 위치 영상, 종 방향 에지 위치 영상, 횡 미분 영상, 종 미분 영상의 픽셀 정밀도로 위치맞춤을 수행한다.
에지 대응 부착 장치(107)는, 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)에 의한 픽셀 정밀 위치맞춤의 결과에 따라 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상이 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상에 겹치는 경우, 기준 에지 픽셀(C'), 즉 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상 위의 각 에지 픽셀(C)에 따라 레지스터 내로 인입되는 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀을 만들고, 서브픽셀 정밀 에지 위치를 사용하는 에지 픽셀 사이의 거리를 구하며, 기준 에지 픽셀(C')로부터 미리 지정된 범위내에서 가장 가까운 거리의 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상의 에지 픽셀을 에지 픽셀(C)의 제 1 대응 후보 픽셀로 만들며, 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상에서의 제 1 대응 후보 픽셀로부터 미리 지정된 범위 내에서 가까운 거리의 에지 픽셀을 에지 픽셀(C)의 대응 후보 에지 픽셀 그룹(D)으로 만들고, 종 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻는다. 유사한 방식으로 에지 대응 부착 장치(107)는 또한 종 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 종 방향 에지 위치 영상으로부터 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻는다.
대응 후보 곡선 발생 장치(108)는, 미리 지정된 함수 모양에 의해 규정된 곡선에 따라 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹(D)의 각 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀도 에지 위치의 피팅을 행하고, 기준 에지 픽셀(C')의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점이 되고 상기 좌표 시스템에서 대응하는 후보 곡선을 상대적인 대응 후보 곡선으로 만들며 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 상대적인 대응 후보 곡선을 얻도록 좌표 변환을 행한다.
위치편차 산출 장치(109)는, 하나의 평면에서 영상(B)의 각각 대응하는 상대적인 대응 후보 곡선을 영상(A)의 모든 에지 픽셀에 대해 플로트하며, 모든 상대적인 대응 후보 곡선이 가장 집중된 지점 또는 모든 상대적인 대응 후보 곡선이 교차하는 지점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이것을 대응하는 후보 교차 지점로 만들고 나서, 플로트된 평면의 좌표 시스템의 원점으로부터 대응하는 후보 교차 지점로 접속하는 벡터인 변위 벡터를 산출한다. 이 변위 벡터는 영상(A) 및 영상(B) 사이의 상대적인 변위 양을 나타낸다.
다음은 영상 위치맞춤 장치(100)의 동작 설명이다.
먼저, 영상 미분 장치(102)는 예로 소벨 필터를 응용함으로써 외부 영상 입력 장치(101)로부터 두 디지털 영상(영상(A) 및 영상(B)) 입력 각각에 대해 종 방향 및 횡 방향으로 미분을 수행하며, 픽셀 값으로 횡 미분의 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상과, 픽셀 값으로 종 미분의 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상을 발생한다. 이 후, 영상 미분 장치(102)는 종 미분 영상과 횡 미분 영상으로부터 예로 두 영상의 픽셀 값의 2승 합의 제곱근을 산출하며, 상기 결과 픽셀 값을 만드는 전체 미분 영상을 발생한다.
다음으로 제어는 피팅 범위 설정 장치(103)로 이동한다. 피팅 범위 설정 장치(103)는 먼저 영상(A) 및 영상(B)의 종 미분 영상 각각에 대해 종 방향으로 픽셀 값을 주사하며, 픽셀 값이 미리 지정된 임계값을 초과하는 픽셀을 에지 후보 픽셀로 만든다. 다음으로 라벨 부착이 종 방향으로 동일한 주사 라인상에 있는 모든 에지 후보 픽셀에 대해 수행된다. 두 개의 에지 후보 픽셀의 경우에, 그사이의 공간이 미리 지정된 제어 범위 내에 있는 에지 후보 픽셀 쌍에 대해, 동일한 라벨이 주어지며, 동일한 라벨로 주어지는 에지 후보 픽셀의 한 그룹 내의 임의의 한 에지 후보 픽셀로부터의 공간이 제어 범위를 초과하는 에지 후보 픽셀에 대해서는 다른 라벨이 주어진다. 이 후, 라벨의 각각에 대해, 동일한 라벨로 부착된 에지 후보 픽셀의 수가 카운트된다. 에지 후보 픽셀의 수가 미리 지정된 임계값보다 훨씬 큰 라벨의 경우에, 이들 라벨로 부착된 에지 후보 픽셀의 세트는 종 방향 피팅 범위로 된다. 피팅 범위 설정 장치(103)는 종 미분 영상 위의 종 방향으로 모든 주사 라인에 대해 상술한 동작을 행하며, 종 방향 피팅 범위를 얻는다. 횡 미분 영상의 경우에는, 피팅 범위 설정 장치(103)는, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사하며, 종 미분 영상의 경우와 같은 동작을 수행하고 횡 방향 피팅 범위를 얻는다. 물론, 횡 방향 피팅 범위는 종 방향 피팅 범위를 구하기 전에 얻어질 수 있다.
예로, 도2a에 도시된 바와 같은 입력 영상에 대해, 이것이 후술되는 영상 분할로 수행된다면, 도2b에서와 같은 횡 미분 영상이 얻어진다. 횡 미분 영상의 횡 방향으로의 픽셀 값 변화는 도2c에 도시된 바와 같이 되고, 외부로 할당된 임계 값 보다 큰 픽셀 값의 픽셀의 연속은 횡 방향 피팅 범위를 만든다. 또한 종 미분 영상에 대해, 유사한 방식으로 종 방향 피팅 범위가 얻어진다.
계속적으로, 종 미분 영상과 관련하여 각각의 종 방향 피팅 범위에 대해, 함수 피팅 장치(104)는, 예컨대 가장 적은 스퀘어 방법(도2d에 언급)에 의해 종 방향으로 미리 지정된 모노-피크 함수(상방 돌출부상에 단지 하나의 최대 값 지점이 있는 함수)의 피팅을 행하며, 한 픽셀 미만의 정밀도, 즉 서브픽셀 정밀도로 결과인 최대 값 지점의 좌표를 얻고, 이것을 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 만든다. 0.5 이상은 1로 계수되고 0.5 이하는 무시되는 경우 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치의 소수점보다 적은 정밀도의 위치는 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 된다. 다음으로 함수 피팅 장치(104)는 입력 영상과 같은 종 및 횡 크기의 영상을 발생하며, 이것을 종 방향 에지 위치 영상으로 만든다. 어떤 종 방향 피팅 범위에 의하면, 그의 횡 방향 좌표가 x1로 되고, 그의 종 방향 피팅 범위에서 얻어진 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치가 y1로 되는 경우에, 종 방향 에지 위치 영상의 (x1, y1)의 픽셀은 에지를 구성하는 픽셀인 에지 픽셀로 되며, 그의 픽셀 값은 그의 종 방향 피팅 범위에서 얻어진 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 된다. 종 미분 영상의 경우와 같은 방식으로 횡 미분 영상에 대해서도, 함수 피팅 장치(104)는 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치와 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 얻으며, 횡 방향 에지 위치 영상을 발생한다. 따라서, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상은 예컨대 각각 도 3(a) 및 3(b)에서와 같이 된다.
여기서, 최소 제곱 방법을 대신하여 피팅 방법을 사용하는 경우에, 피팅 함수를 사용하여 영상의 모멘트를 미리 구하는 단계와, 피팅 함수를 얻도록 상기 모멘트와 영상의 측정된 모멘트와 비교하는 단계를 포함하는 방법이 사용될 수 있다. 예로, I(x)가 횡 방향에서의 영상의 그레이 레벨 값 변화이고, x가 횡 방향 좌표이고, Ax가 횡 방향 피팅 범위이면, n차 횡 방향 모멘트 Mn는 하기와 같이 규정된다.
(2)
J(y)가 종 방향에서의 영상의 그레이 레벨 값 변화이고, y가 횡 방향 좌표이고, Ay가 횡 방향 피팅 범위이면, n차 종 방향 모멘트 Ln는 다음과 같이 규정된다.
(3)
예를 들어, 피팅 함수가 다음과 같이 규정되는 가우시안(가우스 타입 분배 함수)인 경우
(4)
피팅은 상기 식에서 파라미터 A, m, σ를 얻는 단계를 포함한다. 상기 식에 의해 나타내어진 가우스시안의 0차 모멘트, 즉 면적 S, 1차 모멘트, 즉 중력의 중심 G, 및 2차 모멘트 T는 각각 다음과 같이 주어진다.
(5)
횡 미분 영상의 픽셀 값으로부터 얻어진 모멘트 S, G, T를 상기 식들에 할당함으로써, 상기 식은 가우시안 파라미터 A, m, σ를 제공한다. 종 미분 영상에 있어서도, 가우시안은 유사한 방식으로 피팅될 수 있다.
영상이 서로에 대해 왜곡될지라도, 이들이 어느 정도 미세하다면 각각의 영상들에서의 찌그러짐의 영향은 무시될 수 있다. 그러므로, 이 후, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 완전 미분 영상은 영상 분할 장치(105)에 의해 미리 지정된 크기로 되고, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 완전한 미분 영상이 발생된다. 그러나, 영상의 분할에 있어서, 함수 피팅과 영상의 미분은 독립적으로 실행될 수 있으므로, 영상 분할 장치(105)는 영상 입력 장치(101)와 영상 미분 장치(102)사이에 배치될 수 있거나, 또는 영상 미분 장치(102)와 피팅 범위 설정 장치(103)사이에 배치될 수 있거나, 또는 피팅 범위 설정 장치(103)와 함수 피팅 장치(104)사이에 배치될 수 있다.
일단 영상 분할 및 함수 피팅이 완료되면, 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)는 각각 완전한 미분 영상에 대해, 템플레이트 매칭에 의한 복수의 입력 영상(영상(A) 및 영상(B))에 대해 인터-픽셀 대응 부착에 영향을 주어, 이를 토대로, 하나의 픽셀의 정밀도, 즉 픽셀 정밀도로 영상(A) 및 영상(B)의 변위를 얻는다.
계속적으로, 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)의 결과에 따라, 에지 대응 부착 장치(107)는 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상(Bv) 위에 영상(A)의 종 방향 모서 리 위치 영상(Av)을 중첩시킨다. 그리고 나서, 종 방향 에지 위치 영상(Av)위의 에지 픽셀 내 하나의 에지 픽셀(C)이 관찰되며, 종 방향 에지 위치 영상(Bv)에서, 에지 픽셀(C)에 따라 레지스터 내로 인입되는 픽셀은 기준 에지 픽셀(C')로 된다. 종 방향 에지 위치 영상(Bv)에서, 기준 에지 픽셀(C')로부터 미리-할당된 범위에서 가장 가까운 거리인 에지 픽셀을 에지 픽셀(C)의 제1 대응 후보 픽셀로부터 미리-할당된 범위에서 거리가 가까운 순으로 두 개의 에지 픽셀이 선택되고, 상기 두 에지 픽셀을 제2 대응 후보 픽셀로 한다. 이들 두 개의 대응 후보 픽셀의 각각에 대해 미리-할당된 범위내에서, 제1 대응 후보 픽셀도 제2 대응 후보를 픽셀도 아닌 에지 픽셀 중 가장 가까운 거리를 갖는 에지 픽셀을 제3 대응 후보 픽셀로 한다. 미리-할당된 회수 N만큼 같은 동작을 반복함으로써, N번째 대응 후보 픽셀까지 얻어진다. 제1 대응 후보 픽셀에서 N번째 대응 후보 픽셀까지의 2×(N-1)＋1 개의 에지 픽셀을, 에지 픽셀(C)의 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹으로 하며, 이들을 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹(D)으로 한다. 유사한 공정에 의해, 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹은 종 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 얻어지며, 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹 또한 횡 방향 에지 위치 영상 위에 모든 에지 픽셀에 대해 종 방향 에지 위치 영상의 경우와 유사하게 얻어진다.
예로, 영상(A)의 종 미분 영상은 도 4a(여기서 검은 선으로 나타남)에 도시된 바와 같이 된다. 영상(B)의 종 미분 영상은 도 4b(여기서 회색 선으로 나타남에 의해 도시된 바와 같이 된다. 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상(Bv)과 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상(Av)이 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)에 의해 얻어진 변위에 따라 겹칠 때, 이것은 도 4c에 도시된 바와 같이 된다. 도 4d는 도 4c의 부분을 확대하여 도시한다. 에지 픽셀(C)의 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹(D)은 도 4e에 도시된 바와 같이 된다.
다음에, 대응하는 후보 곡선 발생 장치(106)는 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹(D)을 예컨대 최소 스퀘어 방법을 사용하여 미리 지정된 함수형으로 규정된 곡선에 맞추고, 이것을 대응하는 후보 곡선(E)으로 하고, 종 미분 영상과 횡 미분 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 대응하는 후보 곡선을 얻는다. 종 방향 에지 위치 영상의 경우에, 각각의 에지 픽셀의 종 방향에서의 서브픽셀 정밀 위치는, 에지 픽셀의 픽셀 값인 서브픽셀 정밀 에지 위치이다. 에지 픽셀의 횡 방향에서의 서브픽셀 정밀 위치는 예로 픽셀의 횡 방향 센터가 된다. 횡 방향 에지 위치 영상의 경우에, 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치는 에지 픽셀의 횡 방향에서 서브픽셀 정밀 위치가 되며, 예로 종 방향에서 픽셀의 센터는 종 방향에서 서브픽셀 정밀 위치가 된다. 상기 정의에 따르면, 예로 도 4e에 도시된 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에 대한 대응하는 후보 곡선은 도 4f와 같이 된다.
이후, 도4g에 도시된 바와 같이, 기준 에지 픽셀(C')의 서브픽셀 정밀 위치가 원점이 되도록 좌표가 변경된다. 그리고 나서 그 좌표 시스템에서 대응하는 후보 곡선(E)은 상대적인 대응 곡선(E')이 된다. 유사한 방식으로, 상대적인 대응 후보 곡선은 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 얻어진다.
다음에, 위치편차 산출 장치(109)는 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상(Av)과 횡 방향 에지 위치 영상(Ah)위의 모든 에지 픽셀에 대해, (영상 B의) 종 방향 에지 위치 영상(Bv)과 횡 방향 에지 위치 영상(Bh)위의 모든 상대적인 대응 후보 곡선을 하나의 xy좌표 시스템에서 플로트하고, 모든 상대적인 대응 후보 곡선이 교차하는 지점 또는 모든 상대적인 대응 후보 곡선이 최고로 집중되는 지점을 서브픽셀 정밀도로 얻으며, 이것을 대응하는 후보 교차 지점로 한다. xy 좌표 시스템의 원점에서 대응하는 후보 교차 지점까지 접속하는 벡터를 변위 벡터로 한다. 그리고 나서 상기 변위 벡터에 의해 도시된 방향에 평행하게 상기 변위 벡터에 의해 도시된 거리만큼 영상(A)을 이동시킨으로써, 영상(A)은 영상(B)위에 정확히 겹쳐진 것으로 간주된다.
모든 에지 픽셀에 대해 상대적인 대응 후보 곡선이 얻어졌을 때, 매우 많은 수의 상대적인 대응 후보 곡선이 얻어진다. 도 5a에 도시된 바와 같은 경우에, 모든 대응하는 후보 곡선은 하나의 지점에서 교차하고나서, 그 교차 지점와 좌표 시스템의 원점을 접속하는 벡터인 변위 벡터는 다른 입력 영상에 대한 하나의 입력 영상의 변위가 된다.
그러나, 실제 영상에서는, 도 5b에 도시된 바와 같이, 노이즈 및 유사물의 영향으로 인해, 대응하는 후보 곡선이 한 지점에서 접속되지 않는 경우가 존재한다. 이때, 모든 대응하는 후보 곡선이 대부분 집중되는 지점와 좌표 시스템의 원점을 접속하는 벡터는 변위 벡터가 된다. 모든 대응하는 후보 곡선이 대부분 집중되는 지점을 얻는 방법은 대략 두 가지로 나눌 수 있다.
한 가지 방법은, 도5c에 도시된 바와 같이, 좌표 시스템을 특정 수의 망사로 분할하고, 통과하는 대응하는 후보 곡선이 가장 많은 망사에 좌표 시스템의 원점을 접속하는 벡터를 변위 벡터로 간주하는 것을 포함한다. 그러나, 상기 방법에 따르면, 변위 벡터의 정밀도는 망사의 조악성(coarseness)에 의해 결정된다.
또 다른 방법은 모든 대응하는 후보 곡선에 가까운 지점을 수학적으로 얻는 것을 포함한다. 상기 방법은 아주 복잡하므로, 가장 간단한 경우로 대응하는 후보 곡선이 1차 곡선 즉, 직선인 경우인 경우가 이하 예로서 취해지며 설명된다. 그리고 난 후, 이것은 보다 전형적인 함수의 경우로 확장된다. 교차 지점의 좌표는 또한 모든 대응하는 후보 곡선이 하나의 지점에서 교차하는 경우에 대해 다음 방법에 의해 얻어질 수 있다.
N개의 대응 후보 곡선(상기 경우에서 직선)이 있다고 하자. 각 직선은 aix + biy + ci= 0,(i = 1, 2,..., N)로 표현된다. 지점(x1, y1)과 직선 aix + biy + ci= 0 사이의 거리 L의 제곱은,
(6)
로 된다.
모든 직선에 가까운 지점을 얻는 것은
(7)
를 최소로 만드는 (x,,y,)을 얻는 것을 수반한다. 여기서 wi는 에지 강도로부터 얻어지거나, 사전에 외부로부터 할당된 무게 계수이다. 외부로부터 사전에 할당된 경우에, 예로 모든 wi에 대해, wi= 1 일 수 있다.
이것이 에지 강도로부터 얻어진 경우에, 예로 대응하는 후보 곡선 i에 대해, 이것은 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹의 각각에 대해 피트된 모노-피크 함수의 최대 값을 얻고, 그 평균값을 대응하는 후보 곡선 i에 대한 무게 wi로 하는 것을 포함할 수 있다. f(x',y')을 최소값이 되게 하는(x',y')는 다음 조건을 사용하여 얻어진다.
(8)
상기 식으로부터,
이 얻어진다. 여기서
(9)
그러나, (SAASBB-SAB 2) = 0 일때, 해는 없다. 상기 방식으로 얻어진 (x',y')은 모든 직선에 가까운 지점의 좌표가 된다. 원점과 상기 방식으로 얻어진 (x',y')를 접속하는 벡터는, 한 영상이 다른 영상에 대해 어떤 위치편차를 갖는지의 여부를 나타나는 변위 벡터로서 간주된다.
다음에, 대응하는 후보 곡선으로서 y = gi(x),(I=1, 2,...N)에 의해 N개의 전설된 임의의 곡선이 얻어지는 경우를 고려한다. 지점(x1, y1)이 주어지면 이 지점와 곡선 y=gi(x) 사이의 차는,
M(x) = {gi(x) - y1}2+ (x - x1)2
을 최소로 하는 x=xi,0으로부터,
K = {gi(xi,0) - y1}2+ (xi,0 - x1)2
으로서 획득되고, 한편,
M(x) = {gi(x) - y1}2+ (x - x1)2
을 최소로 하는 xi,0는, 식 dM(x)/dx = 0으로부터 분석적으로 또는 수치 산출에 의해 얻어질 수 있다. 이런식으로, 모든 대응하는 후보 곡선에 대한 xi,0(i = 1,2,,...N)이 얻어진다. 모든 대응하는 후보 곡선에 가까운 지점을 얻는 것은,
(10)
를 최소로 하는 (x1,y1)을 얻는 것을 포함한다. 여기서 wi는 사전에 외부로부터 할당되거나 에지 강도로부터 얻어지는 무게 계수이다. wi는, 대응하는 후보 곡선이 직선인 전술된 경우와 같은 방법에 의해 주어질 수 있다. P(x1,y1)에 대한 최소값을 제공하는 (x1,y1)는
(11)
로부터 얻어진 (x1,y1)에 대한 연립 방정식을 해결함으로써 분석적으로 또는 수치 산출에 의해 얻어질 수 있다.
원점과 상기 방식으로 얻어진 (x1,y1)을 접속하는 벡터는 하나의 영상이 다른 영상에 대해 어떤 위치편차를 갖는지의 여부를 나타내는 변위 벡터로서 간주된다.
상술된 두 방법을 조합하는 방법이 또한 고려될 수 있다. 이것은 먼저 상대적인 대응 후보 곡선이 플로트되는 좌표 시스템을 망사로 분할하고, 통과하는 상대적인 대응 후보 곡선이 가장 많은 망사를 얻고 나서, 상기 망사를 망사(M)로 하는 것을 포함한다. 그리고 나서, 상기 망사(M)를 통과하는 상대적인 대응 후보 곡선에 대해서만, 모든 상대적인 대응 후보 곡선에 가까운 지점이 수학적으로 얻어진다. 그들이 망사(M)를 통과하는지 않는지로 먼저 상대적인 대응 후보 곡선을 좁힘으로써, 노이즈 등에 기인한, 대응하는 후보 교차 지점로부터 상당한 거리에 위치한 대응하는 곡선으로부터의 영향이 제거될 수 있으므로, 대응하는 후보 교차 지점의 정밀도가 증가될 수 있다.
덧붙이면, 각각의 상대적인 대응 후보 곡선에, 그 법선 방향으로 예로 가우시안 분포의 그레이 레벨 분포를 제공하는 방법이 또한 고려된다. 상기 그레이 레벨 분포를 갖는 상대적인 대응 후보 곡선이 xy좌표 시스템에 플로트될 때, 그레이 레벨 값은 빠르게 상승한다. 그레이 레벨 값이 최종적으로 가장 커지는 지점의 좌표는 서브픽셀 정밀도로 얻어지며 대응하는 후보 교차 지점로 한다.
제2 실시예
도6은 본 발명의 제2 실시예의 영상 위치맞춤 장치의 구조를 도시하는 블록도이다. 상기 영상 위치맞춤 장치(200)는, 도 1에 도시된 영상 위치맞춤 장치(100)에서의 에지 대응 부착 장치(107)와 대응하는 후보 곡선 발생 장치(108) 대신 제공 에지 성분 산출 장치(207)와, 편차 벡터 산출 장치(208) 및, 변위 추정 직선 발생 장치(209)로 구성된다. 즉, 영상 위치맞춤 장치(200)에는 에지 픽셀 사이에 대응하는 관계가 있는지를 판단하는 에지 성분 산출 장치(207)와, 픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)의 출력 측에 배열되는, 종 편차 벡터와 횡 편차 벡터를 산출하는 편차 벡터 산출 장치(208)와, 에지 픽셀 사이의 대응하는 관계의 존재 및, 종 편차 벡터와 횡 편차 벡터를 토대로 변위 추정 직선을 발생하는 변위 추정 직선 발생 장치(209)가 제공된다.
에지 성분 산출 장치(207)는 기본적으로 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 겹치게 하고, 종 방향 에지 위치 영상 위의 에지 픽셀(G)에 대해 가장 가까운 좌표를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상에서 에지 픽셀(H)을 검출한다. 상호 거리가 미리 지정된 범위 내에 있다면, 대응 관계가 있으며 각각 같은 에지의 다른 방향에서의 성분으로 간주된다. 상호 거리가 미리 지정된 범위 내에 있지 않으면, 대응 관계도 없고 다른 방향에서의 성분도 없다고 간주된다. 에지 성분 산출 장치(207)는 종 미분 영상과 횡 미분 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 대응하는 관계가 있는지의 여부를 판단한다.
픽셀 정밀 위치맞춤 장치(106)에서의 위치맞춤 결과를 토대로, 편차 벡터 산출 장치(208)는, 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상이 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 평행하게 이동되어 겹쳐질 때, 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상 위의 에지 픽셀(J)에 대해 상하 방향으로 가장 가까운 거리를 갖는 에지 픽셀(K)이 입력 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상 위에 있는지를 검출한다. 에지 픽셀(J)과 에지 픽셀(K) 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 이하라면, 에지 픽셀(J)의 서브픽셀 정밀 에지 위치로부터 에지 픽셀(K)의 서브픽셀 정밀 에지 위치로 연장되는 벡터를 인터-영상 종 방향 위치편차 벡터(L)로 한다. 편차 벡터 산출 장치(208)는 이 동작을 반복함으로써, 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상위의 모든 에지 픽셀에 대한 종 방향 위치편차 벡터를 얻는다. 게다가, 편차 벡터 산출 장치(208)는, 횡 방향 에지 위치 영상에 대해, 영상(A)의 횡 방향 에지 위치 영상 위의 종 에지 픽셀(P)에 대해 좌우 방향으로 가까운 거리를 갖는 에지 픽셀(Q)을, 영상(B)의 횡 방향 에지 위치 영상위에서 서치한다. 에지 픽셀(P)과 픽셀(Q) 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 이하라면, 에지 픽셀(P)의 서브픽셀 정밀 에지 위치로부터 에지 픽셀(Q)의 서브픽셀 정밀 에지 위치로 연장되는 벡터를 인터-영상 횡 방향 위치편차 벡터(R)로 하고, 횡 방향 위치편차 벡터는 영상(A)의 횡 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 대해 얻어진다.
변위 추정 직선 발생 장치(209)는, 에지 성분 산출 장치(207)에서, 종 방향 에지 위치 영상 위의 에지 픽셀(J)과 횡 방향 에지 위치 영상 위의 에지 픽셀(P) 사이에 대응하는 관계가 있는 것이 고려되는 경우에, 종 방향 위치편차 벡터(L)와 횡 방향 위치편차 벡터(R)에 대한 각각의 기준 지점이 좌표의 원점에 위치하도록 플로트하며, 각각의 벡터의 팁 단부를 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 한다. 게다가, 변위 추정 직선 발생 장치(209)는, 횡 에지 픽셀(J)과 종 에지 픽셀(P)사이에 대응 관계가 없는 것이 고려되는 경우에 대해, 종 방향 위치편차 벡터(L)에 대한 기준 지점이 좌표의 원점에 위치하도록 플로트하며, 횡 방향 좌표축인 x 축과 평행하고 종 방향 위치편차 벡터(L)의 팁 단부를 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 횡 방향 위치편차 벡터(R)에 대한 기준 지점이 좌표의 원점에 위치하도록 플로트하며, 종 방향의 좌표축인 y축과 평행이고 횡 방향 위치편차 벡터(R)의 팁 단부를 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 한다. 상기 방식으로 변위 추정 직선 발생 장치(209)는 종 미분 영상과 횡 미분 영상에서의 모든 에지 픽셀에 대한 변위 추정 직선을 얻는다.
게다가, 영상 위치맞춤 장치(200)에서는, 위치편차 산출 장치(109)가, 영상(A)의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상 위의 모든 에지 픽셀에 각각 대응하는 영상(B)의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상 위의 모든 변위 추정 직선을 하나의 평면에 플로트하고, 모든 변위 추정 직선이 교차하는 지점 또는 모든 변위 추정 직선이 대부분 집중된 지점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이것을 대응하는 후보 교차 지점로 하고, 좌표 시스템의 원점에서 대응하는 후보 교차 표인트로 접속하는 변위 벡터를 산출한다.
다음에 영상 위치맞춤 장치(200)의 동작을 설명한다.
제1 실시예의 경우와 같은 방식으로, 먼저 상기 장치는 영상 A 및 영상 B의 입력으로부터 픽셀 정밀도 위치 맞춤 장치(106)에 의한 픽셀 정밀도로 위치 맞춤이 되기까지 실행한다.
그 다음에, 에지 성분 산출 장치(207)로 처리가 이행되어, 에지 A에 대하여, 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀을 횡 에지 성분 픽셀로 하고, 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀을 종 에지 성분 픽셀로 한다. 영상 A의 종 방향 에지 위치 영상 Av 및 동일 영상 A의 횡 방향 에지 위치 영상 Ah은 겹쳐지고, 종 방향 에지 위치 영상 Av의 횡 에지 성분 픽셀은 횡 에지 성분 픽셀(G)를 형성한다. 상기 횡 방향 에지 성분 픽셀(G)에 대하여, 횡 방향 에지 위치 영상의 좌표에 가장 좌표에 근접한 종 에지 성분 픽셀이 검출되고, 이것이 종 에지 성분 픽셀 H로 된다. 횡 에지 성분 픽셀 G와 종 에지 성분 픽셀 H간의 거리가 미리 지정된 범위내에 있다면, 횡 에지 성분 픽셀 G와 종 에지 성분 픽셀 H는 각각 입력 영상 A상의 동일 에지의 횡 에지 성분 및 종 에지 성분으로 되는 것처럼 되고, 종 에지 성분 픽셀 H는 횡 에지 성분 픽셀 G에 대응된다. 종 방향 에지 위치 영상 Av상의 횡 에지 성분 픽셀 모두에 대하여 동일한 처리가 수행되고, 횡 방향 에지 위치 영상 Ah상에 대응하는 종 에지 성분 픽셀이 얻어진다. 횡 방향 에지 위치 영상 Ah상에 대응하는 횡 에지 성분 픽셀이 없는 경우에, 상기 종 방향 에지 위치 영상 Av상의 횡 에지 성분 픽셀은 순 횡 에지 픽셀로 된다. 다음에, 횡 방향 에지 위치 영상 Ah가 기준으로 되고, 횡 방향 에지 위치 영상 Ah상의 종 에지 성분 픽셀내에, 횡 방향 에지 위치 영상 Av상에 대응하는 횡 에지 성분 픽셀이 없는 경우에는 상기 횡 에지 성분 픽셀이 순 횡 에지 픽셀로 된다.
상술한 에지 성분 산출 장치(207)의 처리와 독립하여, 편향 벡터 산출 장치(208)의 처리가 수행된다. 편차 벡터 산출 장치(208)는 픽셀 정밀도 위치 맞춤 장치(106)에서의 위치 맞춤 결과에 기초하여, 영상 A의 종 방향 에지 위치 영상 Av 및 횡 방향 에지 위치 영상 Ah를 영상 B의 종 방향 에지 위치 영상 Bv 및 횡 방향 에지 위치 영상 Bh에 대하여 평행하게 이동시켜 겹친다. 종 방향 에지 위치 영상 Av상의 횡 에지 성분 픽셀을 횡 에지 성분 픽셀 J로 하고, 입력 횡 방향 에지 위치 영상 Bv상에서, 횡 에지 성분 픽셀 J의 상하 방향으로 가장 거리가 근접한 횡 에지 성분 픽셀을 조사하고, 발견한 횡 에지 성분 픽셀을 횡 에지 성분 픽셀 K로 한다. 횡 에지 성분 픽셀 J와 횡 에지 성분 픽셀 K 간의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 작다면, 이들의 횡 에지 성분 픽셀은 서로 대응시키는 것이 고려된다. 횡 에지 성분 픽셀 J의 종 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치로부터 횡 에지 성분 픽셀 K의 종 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치까지 연장하는 벡터는 영상 간의 종 방향 위치 편차 벡터로서 주지되고, 이것은 종 방향 위치 편차 벡터 L로 된다. 편차 벡터 산출 장치(208)는 상기 처리를 반복함으로서, 종 방향 에지 위치 영상 Av상의 모든 횡 에지 성분 픽셀에 대하여 종 방향 위치 편차 벡터를 구한다. 횡 방향 에지 영상에 대하여, 편차 벡터 산출 장치(208)는 입력 횡 방향 에지 위치 영상 Ah상의 종 에지 성분 픽셀을 종 에지 성분 픽셀 P로 하고, 횡 방향 에지 위치 영상 Bh상에서, 종 에지 성분 픽셀 P의 상하 방향으로 가장 거리가 가까운 종 에지 성분 픽셀을 조사하고, 발견한 종 에지 성분 픽셀을 종 에지 성분 픽셀 Q로 한다. 종 에지 성분 픽셀 P와 종 에지 성분 픽셀 Q의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 작다면, 이들의 종 에지 성분 픽셀은 대응되도록 고려된다. 종 에지 성분 픽셀 P의 횡 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치로부터 종 에지 성분 픽셀 Q의 횡 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치까지 연장하는 벡터는 영상간의 횡 방향 위치 편차 벡터로서 간주되고, 이것은 횡 방향 위치 편차 벡터 R로 된다. 이 처리를 반복하여, 횡 방향 에지 위치 영상 Ah상의 모든 종 에지 성분 픽셀에 대하여 횡 방향 위치 편차 벡터를 구한다.
예컨대, 영상 A의 종 미분 영상이 도7a에 도시된 바와 같고, 영상 B의 종 미분 영상이 도7b에 도시된 바와 같은 것인 경우, 그 에지의 부분을 확대하면 도7c와 같이 되며, 영상 A의 에지 픽셀의 종 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치로부터 상하 방향으로 영상 B의 에지 픽셀의 종 방향 서브픽셀 정밀도 에지 위치까지 신장하는 벡터는 종 방향 위치 편차 벡터로 된다. 횡 미분 영상에 대하여, 지금 확대된 종 미분 영상과 같은 영역이라고 간주된다면, 이것은 도7d에 도시된 바와 같이 되고, 영상 A의 에지 픽셀로부터 영상 B의 에지 픽셀까지 좌우 방향으로 연장하는 벡터는 횡 방향 위치 편차 벡터로 된다.
이상과 같이 하여, 에지 픽셀간의 대응 관계의 유무의 판정과, 종 방향 위치 편차 벡터 및 종 방향 위치 편차 벡터의 산출이 종료되며, 변위 추정 직선 발생 장치(209)가 변위 추정 직선을 발생한다. 즉, 변위 추정 직선 발생 수단(209)에서는 종 에지 위치 영상 Av상의 횡 에지 픽셀 J와 영상 A의 횡 에지 위치 영상상의 종 에지 픽셀 P간의 대응 관계가 존재하는 경우, 종 방향 위치 편차 벡터 L과 종 방향 위치 벡터 R에 대한 각각의 기점이 좌표의 원점에 놓여지도록 플로트하고, 각 벡터의 선단(tip ends)을 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 한다.
한편, 횡 에지 픽셀 J와 종 에지 픽셀 P에 대응 관계가 없는 경우, 종 방향 위치 편차 벡터의 기점을 좌표의 원점에 위치하도록 플로트하고, 종 방향 위치 편차 벡터 L의 선단을 통한 횡 방향의 좌표축인 x축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 한다. 동시에, 횡 방향 위치 편차 벡터 R의 기점을 좌표의 원점에 위치하도록 플로트하고, 횡 방향 위치 편차 벡터 R의 선단을 통한 종 방향의 좌표축인 y축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 한다. 변위 추정 직선 발생 장치(209)는 좌표계의 원점으로부터 이들의 변위 추정 직선상의 임의의 점까지 연장하는 벡터를 변위 후보 벡터로 하고, 이 변위 후보 벡터 중에 진짜 영상간의 변위를 나타내는 벡터가 포함된다. 이와 같은 방법으로, 종 미분 영상 및 횡 미분 영상에 있어서의 모든 에지 픽셀에 대하여 변위 추정 직선이 구해진다.
예컨대, 종 방향 위치 편차 벡터가 도 7C에 도시된 것이고, 횡 방향 위치 편차 벡터가 도 7D에 도시된 바와 같이 얻어지는 경우, 변위 추정 직선은 도 7E에 도시된 바와 같이 된다. 그러나, 전체 횡 에지에 대해서, 횡 방향의 위치 편차 벡터만이 있으므로, 상기 벡터의 기점이 원점에 있는 동안 벡터의 선단을 통과하는 x축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 한다. 또한, 전체 종 에지에 대해서, 횡 방향 위치 편차 벡터만이 있으므로, 상기 벡터의 기점이 원점에 있는 동안 벡터의 선단을통하는 y축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 한다.
계속하여, 위치 편차 산출 장치(109)에 있어서, 변위 추정 직선에 대해서, 모든 변위 직선이 교차하는 점, 또는 모든 변위 추정 직선이 가장 집중된 점을 구하고, 이것을 좌표계의 원점과 연결된 진짜 영상간의 서브픽셀 정밀도 위치 편차 벡터로 한다. 이 처리는 도 1에 도시된 영상 위치 맞춤 장치(100)에 있어서 모든 대응 후보 직선이 교차하는 점 또는 모든 대응 후보 직선이 가장 집중되는 점을 구하는 처리에 있어서, 대응 후보 직선을 변위 추정 직선 대신에 판독하는 처리이다. 결국, 변위 벡터는 영상 위치 맞춤 장치(100)에 있어서의 수행된 것과 유사한 절차에 의해 구해진다.
제3 실시예
도8은 본 발명의 제3 실시예의 영상 위치 맞춤 장치의 구성을 도시하는 블록도이다. 이 영상 위치 맞춤 장치(300)는 도 1에 도시된 영상 위치 맞춤 장치(100)에 있어서의 함수 피팅 장치(104)를 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)로 치환됨과 동시에, 다양한 함수 형태를 결정하는 상이한 파라미터를 가진 미리 지정된 수의 모노-피크의 함수를 부가시킨 함수를 합성 모노-피크 함수로서 기억하는 합성 모노-피크 함수 기억 장치(303)를 구비한 구성으로 된 것이다. 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)는 종 미분 영상에 대해서, 종 방향의 각 주사선상의 종 범위마다, 합성 모노-피크 함수를 종 방향으로 피팅하여 수행하고, 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각 모노-피크의 함수의 극대치 점의 좌표를 1 픽셀 미만의 정밀도, 즉, 서브픽셀 정밀도와, 픽셀 정밀도로 분리하여 구하고, 이들을 서브픽셀 정밀도 종 에지 위치 및 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치로 한다. 또한, 횡 방향의 좌표가 종 방향 피팅 범위의 횡 방향 좌표에 동등한 픽셀와, 종 방향 좌표가 픽셀 정밀도 에지에 동등한 픽셀을 각각 에지 픽셀로 하고, 각각의 에지 픽셀의 픽셀 값을 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치의 값으로 하고, 종 방향 에지 위치 영상을 발생한다. 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)는 횡 미분 영상에 대해서도, 마찬가지로 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치와 픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치를 구하고, 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치 영상을 발생한다.
다음은 상기 영상 위치맞춤 장치(300)의 동작에 대한 설명이다.
합성 모노-피크 함수 기억 장치(303)에는 다양한 함수 형태를 결정하는 상이한 파라미터로 미리 지정된 수의 모노-피크 함수를 부가시키는 함수를 합성 모노-피크 함수로서 미리 기억된다. 예컨대, 부가된 함수가 가우시안(Gaussian)인 경우에, 각 가우시안의 분산 σ와 피크 강도 α가 상이하다.
영상 A 및 영상 B의 입력으로부터 피팅 범위의 결정까지를 도 1에 도시하는 영상 위치 맞춤 장치의 경우와 마찬가지로 행한 후, 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)에 처리가 이행된다. 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)는 종 미분 영상에 대해서, 종 방향의 각 주사선상의 종 피팅 범위마다 합성 모노-피크 함수를 종방향으로 피팅하여 수행하고, 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각 모노-피크 함수의 극대값 점의 좌표를 1 픽셀 미만의 정밀도, 즉 서브픽셀 정밀도에서 구한다. 이들의 구해진 에지 위치는 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치의 소수점 이하의 정밀도를 0.5 미만은 무시하고, 0.5 이상은 1로 하여 픽셀 정밀도 방향 에지 위치로 한다. 다음에 영상의 종횡의 크기가 입력 영상과 동등한 영상이 발생되고, 이것을 종방향 에지 위치 영상으로 한다. 상기 종 방향 에지 위치 영상상에 있어서, 횡 방향의 좌표, 즉 x 좌표가 종 방향 피팅 범위의 x 좌표이고, 종 방향의 좌표, 즉 y 좌표가 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치인 픽셀이 에지를 구성하는 요소인 에지 픽셀라고 간주하고, 이 에지 픽셀의 픽셀값이 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치로 한다. 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)는 마찬가지로 횡 미분 영상에 대해서, 횡 방향의 각 주사선상의 횡 피팅 범위마다, 합성 모노-피크 함수를 횡 방향 피팅하고, 종 미분 영상의 경우와 마찬가지로 하여 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치와 픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치를 구하고, 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치 영상을 발생한다.
이 같은 방법으로, 합성 모노-피크 함수 피팅 장치(304)에 의해서, 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치, 픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치, 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치가 구해지고, 서브픽셀 정밀도 종 방향 에지 위치 영상 및 서브픽셀 정밀도 횡 방향 에지 위치 영상이 발생되며, 이후, 도 1에 도시하는 영상 위치 맞춤 장치(100)의 경우와 마찬가지로, 영상 분할 장치(105)후의 처리가 수행될 수 있다. 또한, 도 1에 도시된 영상 위치 맞춤 장치(100)의 처리 대신에, 도 2에 도시된 영상 위치 맞춤 장치(200)의 경우와 마찬가지의 처리가 수행될 수도 있다.
이상, 본 발명의 양호한 실시예에 대해서 설명하였지만, 각 실시예의 영상 위치 맞춤 장치는 그들의 영상 위치 맞춤 장치를 실현할 수 있는 컴퓨터 프로그램에서, 슈퍼 컴퓨터나 엔지니어링 워크 스테이션(EWS)과 같은 컴퓨터로 판독함으로써 실현될 수도 있다. 도 9는 상술한 각각의 실시예의 영상 위치 맞춤 장치를 소프트웨어에 의해 실현하기 위한 컴퓨터의 구성을 도시하는 블록도이다.
상기 컴퓨터는 중앙 처리 장치(CPU)(21)과, 프로그램이나 데이터를 격남하기 위한 하드디스크 유닛(22), 주 메모리(23), 키이 보드 및 마우스와 같은 입력 장치(24), CRT와 같은 표시 장치(25) 및 자기 디스크 또는 CD-ROM과 같은 기록 매체(27)를 판독하기 위한 판독 유닛(26)을 포함한다. 상기 하드 디스크 유닛(22), 주 메모리(23), 입력 장치(24), 표시 장치(25) 및 판독 유닛(26)은 모두 중앙 처리 유닛(21)에 접속되어 있다. 상기 컴퓨터에서는, 영상 위치 맞춤 장치로서 상기 컴퓨터를 기능시키기 위한 프로그램이 격납되어 있는 기록 매체(27)가 상기 판독 유닛(26)내에 장착되어 있다. 상기 프로그램은 기록 매체(27)로부터 판독되고 하드 디스크 유닛(22)에 격납된다. 상기 중앙 처리 유닛(21)은 상기 하드 디스크 유닛(22)에 격납된 프로그램을 실행하여, 상술한 영상 위치 맞춤의 처리가 실행된다. 위치 맞춤 영상으로 될 입력 영상(영상 A 및 영상 B)은 미리 영상 파일로서 하드 디스크 유닛(22)에 격납되어도 좋다.
상술된 바와 같은 본 발명에 의하면, 영상간의 에지 파일의 상이함이나, 미소한 텍스쳐에 쉽게 영향받지 않는, 영상상의 패턴의 에지 위치를 함수 피팅에 의해 서브픽셀 정밀도로 구해진다. 상기 에지 위치에 기초하여, 위치 맞춤될 영상의 대응하는 에지간의 거리가 서브픽셀 정밀도로 구해지게 된다. 따라서, 영상간의 위치 편차가 서브픽셀 정밀도로 구해질 수 있는 효과가 있다. 그 결과, 위치 맞춤 영상끼리 변형이나 노이즈로 인하여 상이하게 위치 맞춤될지라도, 서브픽셀 정밀도로 위치 맞춤이 달성될 수 있다. 특히, 영상상의 세밀한 망사 패턴(텍스쳐 형)의 노이즈가 존재하는 경우, 종래의 기법에 비해서 위치 맞춤의 정밀도는 악영향을 덜 받는다.

Claims (7)

  1. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 방법에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하는 단계와,
    상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 단계와,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 단계와,
    상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와,
    상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와,
    상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 단계와,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 단계를 포함하는 영상 위치맞춤 방법.
  2. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 방법에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하는 단계와,
    상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 단계와,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 단계와,
    상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상에 종 방향 에지 위치 영상을 겹치고, 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀에 대하여 가장 근접한 좌표를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀을 검출하고, 상호 거리를 산출하여 에지 픽셀들 사이의 대응하는 관계의 존재를 판정하는 단계와,
    한 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤의 결과에 기초하여, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상이 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상과 평행하게 이동되어, 겹치게될 때, 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상에서 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀에 상하 방향에서 가장 가까운 거리의 에지 픽셀을 검출하고, 두 에지 픽셀들 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 적을 때, 상기 두 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치를 결합하는 벡터를 종 방향 위치편차 벡터로 하고, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대해 상기 종 방향 위치편차 벡터들을 얻고, 또 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상에서 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀의 좌우 방향에서 가장 가까운 거리의 에지 픽셀을 검출하고, 두 에지 픽셀들 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 적을 때, 상기 두 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치를 결합하는 벡터를 횡 방향 위치편차 벡터로 하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대해 상기 횡 방향 위치편차 벡터를 얻는 단계와,
    상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀과 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀 사이의 대응 관계가 고려된 경우에, 상기 종 방향 위치편차 벡터와 상기 횡 방향 위치편차 벡터의 각각의 기준점들이 좌표의 원점에 위치되도록 플로트하고, 상기 각각의 벡터의 선단을 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀과 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀 사이의 대응 관계가 없다고 고려된 경우에, 상기 종 방향 위치편차 벡터의 기준점은 좌표의 원점에 위치되도록 플로트되며, 상기 종 방향 위치편차 벡터의 선단을 통과하며 횡 방향의 좌표축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 동시에 횡 방향 위치편차 벡터의 기준점이 좌표의 원점에 위치되도록 플로트 하고, 횡 방향 위치편차 벡터의 선단을 통과하며 종방향의 좌표축과 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상에서 모든 에지 픽셀들에 대해 변위 추정 직선들을 얻는 단계와,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 상기 모든 변위 추정 직선들이 교차하는 점 또는 상기 모든 변위 추정 직선들이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 단계를 포함하는 영상 위치맞춤 방법.
  3. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 방법에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하는 단계와,
    상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 단계와,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 단계와,
    다양한 함수 형태들을 결정하기 위해 다른 파라미터들을 갖는 합산된 미리 지정된 수의 모노-피크 함수들의 함수를 합성 모노-피크 함수로 하고, 상기 종 미분 영상 상의 상기 종 피팅 범상의 각각에 대해, 종 방향으로 상기 합성 모노-피크 함수를 피팅하고, 한 픽셀 보다 작은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 상기 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각 모노-피크 함수들의 최대값의 좌표를 얻으며, 이를 각각 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로 하고, 이러한 에지 픽셀의 픽셀 값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 횡 미분 영상 상의 상기 횡 피팅 범상의 각각에 대해, 횡 방향으로 상기 합성 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀 보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 상기 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각각의 모노-피크 함수들의 최대 값의 좌표를 얻고, 이를 각각 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로 하고, 이러한 에지 픽셀의 픽셀 값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 단계와,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 단계와,
    상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와,
    상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 단계와,
    상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 단계와,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 단계를 포함하는 영상 위치맞춤 방법.
  4. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 장치에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하며, 상기 종 미분 영상 및 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 영상 미분 수단과,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻고, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 피팅 범위 설정 수단과,
    상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 함수 피팅 수단과,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 영상 분할 수단과,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 픽셀 정밀 위치맞춤 수단과,
    상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 한 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 상기 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 에지 대응 부착 수단과,
    상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 대응 후보 곡선 발생 수단과,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 위치편차 산출 수단을 포함하는 영상 위치맞춤 장치.
  5. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 장치에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하고, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 영상 미분 수단과,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻고, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 피팅 범위 설정 수단과,
    상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 함수 피팅 수단과,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 영상 분할 수단과,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 픽셀 정밀 위치맞춤 수단과,
    상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상에 종 방향 에지 위치 영상을 겹치고, 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀에 대하여 가장 근접한 좌표를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀을 검출하고, 상호 거리를 산출하여 에지 픽셀들 사이의 대응하는 관계의 존재를 판정하는 에지 성분 산출 수단과,
    한 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤의 결과에 기초하여, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상이 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상과 평행하게 이동되어, 겹치게될 때, 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상에서 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀에 상하 방향에서 가장 가까운 거리의 에지 픽셀을 검출하고, 두 에지 픽셀들 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 적을 때, 상기 두 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치를 결합하는 벡터를 종 방향 위치편차 벡터로 하고, 상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대해 상기 종 방향 위치편차 벡터들을 얻고, 또 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상에서 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀의 좌우 방향에서 가장 가까운 거리의 에지 픽셀을 검출하고, 두 에지 픽셀들 사이의 거리가 미리 지정된 임계값 보다 적을 때, 상기 두 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치를 결합하는 벡터를 횡 방향 위치편차 벡터로 하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대해 상기 횡 방향 위치편차 벡터를 얻는 편차 벡터 산출 수단과,
    상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀과 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀 사이의 대응 관계가 고려된 경우에, 상기 종 방향 위치편차 벡터와 상기 횡 방향 위치편차 벡터의 각각의 기준점들이 좌표의 원점에 위치되도록 플로트하고, 상기 각각의 벡터의 선단을 통과하는 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀과 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 에지 픽셀 사이의 대응 관계가 없다고 고려된 경우에, 상기 종 방향 위치편차 벡터의 기준점은 좌표의 원점에 위치되도록 플로트되며, 상기 종 방향 위치편차 벡터의 선단을 통과하며 횡 방향의 좌표축에 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 동시에 횡 방향 위치편차 벡터의 기준점이 좌표의 원점에 위치되도록 플로트 하고, 횡 방향 위치편차 벡터의 선단을 통과하며 종방향의 좌표축과 평행한 직선을 변위 추정 직선으로 하고, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상에서 모든 에지 픽셀들에 대해 변위 추정 직선들을 얻는 변위 추정 직선 발생 수단과,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 상기 모든 변위 추정 직선들이 교차하는 점 또는 상기 모든 변위 추정 직선들이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 위치편차 산출 수단을 포함하는 영상 위치맞춤 장치.
  6. 입력 제1 영상과 제2 영상 사이의 상대적인 위치편차를 검출하는 영상 위치맞춤 장치에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하고, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 영상 미분 수단과,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻고, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 피팅 범위 설정 수단과,
    다양한 함수 형태들을 결정하기 위해 다른 파라미터들을 갖는 합산된 미리 지정된 수의 모노-피크 함수들의 함수를 합성 모노-피크 함수로 하고, 상기 합성 모노-피크 함수를 기억하는 합성 모노-피크 함수 수단과,
    상기 종 미분 영상 상의 상기 종 피팅 범상의 각각에 대해, 종 방향으로 상기 합성 모노-피크 함수를 피팅하고, 한 픽셀 보다 작은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 상기 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각 모노-피크 함수들의 최대값의 좌표를 얻으며, 이를 각각 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로 하고, 이러한 에지 픽셀의 픽셀 값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 상기 횡 미분 영상 상의 상기 횡 피팅 범상의 각각에 대해, 횡 방향으로 상기 합성 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀 보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 상기 합성 모노-피크 함수를 구성하는 각각의 모노-피크 함수들의 최대 값의 좌표를 얻고, 이를 각각 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로 하고, 이러한 에지 픽셀의 픽셀 값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 합성 모노-피크 함수 피팅 수단과,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 영상 분할 수단과,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 픽셀 정밀 위치맞춤 수단과,
    상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 상기 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 상기 픽셀 정밀 위치맞춤 수단에 의한 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 에지 대응 부착 수단과,
    상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 대응 후보 곡선 발생 수단과,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 위치편차 산출 수단을 포함하는 영상 위치맞춤 방법.
  7. 컴퓨터에 의해 판독될 수 있는 기록 매체에 있어서,
    각 영상의 종 방향과 횡 방향으로 상기 영상들의 각각에 대해 미분을 수행하고, 픽셀 값으로서 종 미분 값의 절대값을 갖는 종 미분 영상과, 픽셀값으로서 횡 미분 값의 절대값을 갖는 횡 미분 영상을 발생하고, 상기 종 미분 영상과 상기 횡 미분 영상으로부터 전체 미분 영상을 발생하는 기능과,
    종 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 종 미분 영상에 대한 종 방향 피팅 범위를 얻고, 횡 방향으로 픽셀 값을 주사함으로써 상기 횡 미분 영상에 대한 횡 방향 피팅 범위를 얻는 기능과,
    상기 종 미분 영상의 상기 종 피팅 범위 각각에 대해, 종 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 종 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치를 갖는 종 방향 에지 위치 영상을 발생하고, 상기 횡 미분 영상의 상기 횡 피팅 범위 각각에 대해, 횡 방향으로 모노-피크 함수를 피팅하고, 하나의 픽셀보다 적은 정밀도인 서브픽셀 정밀도 및 픽셀 정밀도로 분리된 최대값 지점의 좌표를 얻으며, 이를 각각의 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 및 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치로 하고, 상기 픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치에 대응하는 픽셀을 에지 픽셀로서, 이러한 에지 픽셀의 픽셀값으로서 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치를 갖는 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 기능과,
    미리 지정된 크기들로 된, 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상의 영상들에 각각 대응하는 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 전체 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상과 횡 방향 에지 위치 영상을 발생하는 기능과,
    상기 전체 미분 영상들 각각에 대해, 템플리트 매칭에 의해, 상기 제2 영상의 전체 미분 영상에 대해 상기 제1 영상의 전체 미분 영상의 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하고, 이러한 위치맞춤 결과에 따라, 제2 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상에 대하여, 상기 제1 영상의 종 미분 영상, 횡 미분 영상, 종 방향 에지 위치 영상 및 횡 방향 에지 위치 영상을 한 픽셀의 정밀도로 위치맞춤을 수행하는 기능과,
    상기 제1 영상의 종 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 종 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 상기 제1 종 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 종 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 종 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하고, 상기 제1 영상의 횡 방향 에지 위치 영상이 하나의 픽셀의 정밀도로 상기 위치맞춤 결과에 따라 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상에 겹칠 때, 레지스터에 인입하는 상기 제2 영상의 횡 방향 에지 위치 영상의 픽셀들을 제1 횡 방향 에지 위치 영상 상의 각 에지 픽셀들의 기준 에지 픽셀들로 하고, 에지 픽셀들 사이의 거리를 얻도록 상기 서브픽셀 정밀 횡 방향 에지 위치 영상을 사용하고, 상기 거리에 기초하여, 상기 기준 에지 픽셀에 대응하는 대응 후보 에지 픽셀 그룹을 얻으며, 상기 횡 방향 에지 위치 영상 상의 모든 에지 픽셀들에 대하여 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹을 얻도록 상기 대응하는 후보 에지 픽셀 그룹에서 반복적으로 산출하는 기능과,
    상기 대응 후보 에지 픽셀 그룹의 각 에지 픽셀들의 서브픽셀 정밀 에지 위치들을 미리 지정된 함수형태로 기술된 곡선으로 피팅하고, 이를 대응하는 후보 곡선으로 하며, 상기 기준 에지 픽셀의 서브픽셀 정밀 에지 위치가 원점으로 되도록 좌표 변환을 실행하며, 이러한 좌표 시스템의 상기 대응하는 후보 곡선을 상대적 대응 후보 곡선으로 하고, 모든 상기 종 방향 에지 위치 영상 및 상기 횡 방향 에지 위치 영상에 대해 상대적 대응 후보 곡선을 얻는 기능과,
    상기 제1 영상의 모든 에지 픽셀에 대해, 상기 제2 영상의 각각의 대응하는 상대적 대응 후보 곡선을 한 평면에서 플로트하고, 모든 상대적 대응 후보 곡선이 교차하는 점 또는 모든 상대적 대응 후보 곡선이 대부분 집중하는 점을 서브픽셀 정밀도로 얻고, 이를 대응하는 후보 교차점으로 하고, 프로트된 평면의 좌표 시스템의 원점에서 상기 대응하는 후보 교차점으로 접속되는 벡터인 변위 벡터를 산출하는 기능을 실현하는 프로그램이 기억되어 있는 기록 매체.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10368809B2 (en) 2012-08-08 2019-08-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for tracking a position of a tumor

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6714679B1 (en) * 1998-02-05 2004-03-30 Cognex Corporation Boundary analyzer
WO2004034404A2 (en) * 2002-10-08 2004-04-22 Impinj, Inc. Use of analog-valued floating-gate transistors to match the electrical characteristics of interleaved and pipelined
JP2005197792A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Canon Inc 画像処理方法、画像処理装置、プログラム、記憶媒体及び画像処理システム
JP4708740B2 (ja) * 2004-06-08 2011-06-22 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
EP1768563A4 (en) * 2004-06-08 2009-09-16 Canon Kk IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD USING TWO IMAGES
JP4687518B2 (ja) * 2005-03-15 2011-05-25 オムロン株式会社 画像処理方法およびその方法を用いた３次元計測方法ならびに画像処理装置
DE102005044502B8 (de) * 2005-09-16 2010-01-28 Suss Microtec Test Systems Gmbh Verfahren zur Inspektion einer Vielzahl sich wiederholender Strukturen
US8270049B2 (en) 2006-08-01 2012-09-18 Xerox Corporation System and method for high resolution characterization of spatial variance of color separation misregistration
US8274717B2 (en) 2006-08-01 2012-09-25 Xerox Corporation System and method for characterizing color separation misregistration
US7894109B2 (en) * 2006-08-01 2011-02-22 Xerox Corporation System and method for characterizing spatial variance of color separation misregistration
US7826095B2 (en) * 2007-01-16 2010-11-02 Xerox Corporation System and method for estimating color separation misregistration utilizing frequency-shifted halftone patterns that form a moiré pattern
US8228559B2 (en) 2007-05-21 2012-07-24 Xerox Corporation System and method for characterizing color separation misregistration utilizing a broadband multi-channel scanning module
US7630672B2 (en) * 2007-05-21 2009-12-08 Xerox Corporation System and method for determining and correcting color separation registration errors in a multi-color printing system
JP5142836B2 (ja) * 2007-07-02 2013-02-13 オセ−テクノロジーズ ビーブイ 走査画像要素位置合わせ方法
JP4627782B2 (ja) * 2008-03-05 2011-02-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ エッジ検出方法、及び荷電粒子線装置
DE102008045278A1 (de) * 2008-09-01 2010-03-25 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Kombinieren von Bildern und Magnetresonanzgerät
JP5691547B2 (ja) * 2010-08-20 2015-04-01 富士ゼロックス株式会社 画像の変更箇所抽出装置、画像の変更箇所表示装置及びプログラム
JP5653184B2 (ja) 2010-11-11 2015-01-14 三菱電機株式会社 画像処理装置及び方法
US8861890B2 (en) 2010-11-24 2014-10-14 Douglas Alan Lefler System and method for assembling and displaying individual images as a continuous image
JP5803124B2 (ja) 2011-02-10 2015-11-04 セイコーエプソン株式会社 ロボット、位置検出装置、位置検出プログラム、および位置検出方法
CN103460248B (zh) * 2011-04-07 2015-04-22 富士胶片株式会社 图像处理方法和装置
KR20140067972A (ko) * 2011-09-28 2014-06-05 텔레시스템즈 가부시키가이샤 화상처리장치 및 화상처리방법
JP5907755B2 (ja) * 2012-02-24 2016-04-26 三菱電機株式会社 画像位置合わせ装置及び画像位置合わせ方法
JP6355487B2 (ja) * 2014-08-29 2018-07-11 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス エッジ位置検出装置およびエッジ位置検出方法
CN107784623B (zh) * 2016-08-31 2023-04-14 通用电气公司 X射线成像设备的图像处理方法及装置
CN106651828B (zh) * 2016-09-21 2020-05-26 哈尔滨工业大学 一种工业小尺度运动模糊成像条件下的产品尺寸亚像素测量方法
JP7213695B2 (ja) * 2019-01-16 2023-01-27 株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング 応力発光計測装置及び応力発光計測方法
CN117495859B (zh) * 2024-01-02 2024-03-26 常州星宇车灯股份有限公司 接插件到位检测方法、装置、设备及其介质

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10368809B2 (en) 2012-08-08 2019-08-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for tracking a position of a tumor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11345315A (ja) 1999-12-14
US6434279B1 (en) 2002-08-13
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JP2897772B1 (ja) 1999-05-31

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