KR100295638B1 - 디디알에스디램용 부지연회로 - Google Patents

디디알에스디램용 부지연회로 Download PDF

Info

Publication number
KR100295638B1
KR100295638B1 KR1019970076823A KR19970076823A KR100295638B1 KR 100295638 B1 KR100295638 B1 KR 100295638B1 KR 1019970076823 A KR1019970076823 A KR 1019970076823A KR 19970076823 A KR19970076823 A KR 19970076823A KR 100295638 B1 KR100295638 B1 KR 100295638B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
delay
clock signal
flip
unit
output
Prior art date
Application number
KR1019970076823A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990056805A (ko
Inventor
김창선
Original Assignee
김영환
현대반도체 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대반도체 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019970076823A priority Critical patent/KR100295638B1/ko
Publication of KR19990056805A publication Critical patent/KR19990056805A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100295638B1 publication Critical patent/KR100295638B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

본 발명에 따라 디디알 에스디램용 부지연 회로가 제공되며, 이 디디알 에스디램용 부지연 회로는 입력 클럭 신호를 지연시키는 지연기와, 이 지연기에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 각각 지연시키는 복수의 유닛 지연기와, 상기 지연기와 상기 복수의 유닛 지연기에서 출력되는 각각의 지연된 클럭 신호를 각각 전달하는 복수의 플립플롭과, 상기 복수의 플립플롭중 대응하는 두 인접 플립플롭의 출력을 각각 낸드 연산하는 복수의 낸드 게이트와, 이들 복수의 낸드 게이트의 출력측에 각각 접속되어 있는 복수의 인버터와, 상기 복수의 플립플롭중 임의의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 신호로서 출력하는 3상태 버퍼를 구비하고 있다.

Description

디디알 에스디램용 부지연 회로{NEGATIVE DELAY FOR DDR SDRAM}
본 발명은 2배 데이터 속도(Double Data Rate, 이하 '디디알'이라고함) 에스디램(SDRAM)용 부지연(Negative Delay) 회로에 관한 것으로, 특히 디디알 에스디램에 적용하기에 적합하고 외부 환경의 변화에 영향을 받지 않는 디디알 에스디램용 부지연 회로에 관한 것이다.
도 1에는 종래의 디디알 에스디램용 부지연 회로가 도시되어 있다. 도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 종래의 디디알 에스디램용 부지연 회로는 지연기(10)와 복수의 유닛 지연기(20,21,...)를 구비하고 있다. 각각의 유닛 지연기(20,21,...)는 직렬 접속된 두 인버터(I1,I2)로 구성되어 있다. 상기 지연기(10)와 복수의 유닛 지연기(20,21,...)는 입력 클럭 신호(CLK)를 지연시키는 역할을 한다. 따라서, 상기 지연기(10) 및 복수의 유닛 지연기(10,20,21,...)의 출력측에서는 지연된 클럭 신호(CLKi-1,CLKi,CLKi+1...)가 출력된다.
종래의 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 복수의 플립플롭(30,31,...)을 구비하고 있다. 이들 플립플롭(30,31,...)의 입력 단자(D)는 상기 지연기(10)와 유닛 지연기(20,21,...)의 해당 출력 단자에 접속되어 있다. 예컨대, 제1플립플롭(30)의 입력 단자(D)는 상기 지연기(10)의 출력 단자에 접속되어 있고, 제2플립플롭(31)의 입력 단자(D)는 제1유닛 지연기(20)의 출력 단자에 접속되어 있다. 따라서, 상기각각의 지연기(10,20,21,...)에서 출력된, 지연된 클럭 신호(CLKi-1,CLKi,CLKi+1...)는 해당하는 각각의 플립플롭(30,31,...)에 제공될 수 있다. 이때, 각각의 플립플롭(30,31,...)의 클럭 단자에 클럭 신호(CLK)가 입력되면, 상기 각각의 플립플롭(30,31,...)의 출력은 H,H,H,H....H,L,L...이 된다. 이와 같은 플립플롭의 출력에 있어서 출력 레벨이 'H'에서 'L'로 전환되는 시점이 입력 클럭 신호(CLK)와 지연된 클럭 신호의 위상이 대략 동일해지는 시점이다.
종래의 디디알 에스디램용 엔디씨 회로는 또한 3상태 버퍼(50)와 앤드 게이트(40,41,...)를 구비하고 있다. 앤드 게이트(40,41,...)는 상기 복수의 플립플롭(30,31,...)중 두 플립플롭으로부터 입력되는 이전의 반전 출력과 현재의 출력을 앤드 연산하여 상기 3상태 버퍼(50)의 인에이블을 결정하는 역할을 한다.
위에서 설명한 바와 같이, 상기 플립플롭의 출력 레벨이 'H'에서 'L'로 전환되는 시점이 입력 클럭 신호(CLK)와 지연된 클럭 신호의 위상이 대략 동일해지는 시점이므로, 종래의 디디알 에스디램용 부지연 회로는 상기 지연된 클럭 신호가 보다 위상이 앞선 임의의 클럭 신호(CLKi-N)를 입력 클럭 신호(CLK)보다 위상이 앞선 신호로서, 즉, 부지연 클럭 신호(CLKNDC)로서 출력한다.
이러한 종래 디디알 에스디램용 부지연 회로는 상승(rising) 특성과 하강(falling) 특성이 다르기 때문에 부적절하고, 또한 전압, 온도, 공정 등의 변화에 민감하다는 단점을 가지고 있다.
본 발명은 종래의 문제점을 극복하기 위한 것으로, 디디알 에스디램에 적용하기에적합한 디디알 에스디램용 부지연 회로를 제공하는데 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 전압, 온도, 공정 등의 변화에 영향을 받지 않는 디디알 에스디램용 부지연 회로를 제공하는데 있다.
도 1은 종래의 디디알 에스디램용 부지연 회로도.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로도.
도 3은 도 2에 도시된 디디알 에스디램용 부지연 회로의 각부 파형도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 지연기 200,210,220 : 유닛 지연기
300,310 : 플립플롭 400,410 : 낸드 게이트
500 : 3상태 버퍼
본 발명에 따라 디디알 에스디램에 적용하기에 적합하고, 전압, 온도, 공정 등의 변화에 영향을 받지 않는 디디알 에스디램용 부지연 회로가 제공된다.
본 발명에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 입력 클럭 신호를 지연시키는 지연기와, 이 지연기에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 각각 지연시키는 복수의 유닛 지연기와, 상기 지연기와 상기 복수의 유닛 지연기에서 출력되는 각각의 지연된 클럭 신호를 각각 전달하는 복수의 플립플롭을 구비하고 있다.
본 발명에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 상기 복수의 플립플롭중 대응하는 두 인접 플립플롭의 출력을 각각 낸드 연산하는 복수의 낸드 게이트와, 이들 복수의 낸드 게이트의 출력측에 각각 접속되어 있는 복수의 인버터와, 상기 복수의 플립플롭중 임의의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 신호로서 출력하는 3상태 버퍼를 구비하고 있다.
본 발명에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 상기 입력 클럭 신호를 반전시키는 인버터와, 이 인버터에서 출력되는 반전된 입력 클럭 신호를 지연시키는 지연기와, 이 지연기에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 각각 지연시키는 복수의 유닛 지연기와, 상기 지연기와 상기 복수의 유닛 지연기에서 출력되는 각각의 지연된 클럭신호를 각각 전달하는 복수의 플립플롭과, 상기 복수의 플립플롭중 대응하는 두 인접 플립플롭의 출력을 각각 낸드 연산하는 복수의 낸드 게이트와, 이들 복수의 낸드 게이트의 출력측에 각각 접속되어 있는 복수의 인버터와, 상기 복수의 플립플롭중 임의의 플립플롭의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 반전된 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 신호로서 출력하는 3상태 버퍼를 더 구비하고 있다.
이때, 상기 임의의 플립플롭의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때, 상기 임의의 플립 플롭에 후속되는 플립플롭의 입력 단자에 로우 레벨의 신호가 입력되며, 이에 따라 상기 후속되는 플립플롭에서 상태 변화가 없게 되어 전력 소비가 줄어든다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 설명한다.
도 2에는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로가 도시되어 있다. 이에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 지연기(100)와, 이 지연기에 접속되어 있는 복수의 유닛 지연기(200,210,220,...)를 구비하고 있다. 각각의 상기 유닛 지연기(200,210,220,...)는 직렬 접속된 하나의 낸드 게이트(NAND)와 하나의 인버터(I)를 구비하고 있다. 상기 지연기(100)는 입력 클럭 신호(CLK)를 지연시킨다. 상기 유닛 지연기(200)는 상기 지연기(100)에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 지연시키고, 상기 유닛 지연기(210)는 상기 지연기(200)에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 지연시키며, 상기 유닛 지연기(220)는 상기 지연기(210)에서 출력되는 지연된클럭 신호를 지연시킨다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 상기 지연기(100)와 상기 복수의 유닛 지연기(200,210,220,...)에서 각각 출력되는 지연된 클럭 신호를 각각 전달하는 복수의 플립플롭(300,310,...)을 구비하고 있다. 클럭 신호(CLKI)가 입력되면, 제1플립플롭(300)은 상기 지연기(100)에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 전달하고, 제2플립플롭(310)은 제1유닛 지연기(200)에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 전달한다. 즉, 각각의 플립플롭(300,310,...)의 클럭 단자에 클럭 신호(CLKI)가 입력되면, 상기 각각의 플립플롭(300,310...)의 출력은 H,H,H,H....H,L,L...이 된다. 이와 같은 플립플롭의 출력에 있어서 출력 레벨이 'H'에서 'L'로 전환되는 시점이 입력 클럭 신호(CLK)와 지연된 클럭 신호의 위상이 대략 동일해지는 시점이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 상기 복수의 플립플롭(300,310,...)중 대응하는 두 인접 플립플롭의 출력을 각각 낸드 연산하는 복수의 낸드 게이트(400,410,...)를 구비하고 있다. 예컨대, 낸드 게이트(410)는 제1플립플롭(300)의 반전출력과 제2플립플롭(310)의 출력을 낸드 연산한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 상기 복수의 낸드 게이트(400,410,...)의 출력측에 각각 접속되어 있는 복수의 인버터(I1,...)와, 상기 복수의 플립플롭(300,310,...)중 임의의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 홀수 부지연 클럭 신호(ODDNDC_CLK)로서 출력하는 3상태 버퍼(500)를 구비하고 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 또한 도 2의 하반부에 도시되어 있는 바와 같이, 상기 입력 클럭 신호(CLK)를 반전시키는 인버터(I0)를 구비하고 있다. 이 인버터(I0)에서 출력되는 반전된 입력 클럭 신호가 지연기(150)에 의해 지연되고, 이 지연기(150)에서 출력되는 지연된 클럭 신호가 복수의 유닛 지연기(250,260,270,...)에 의해 지연된다.
상기 지연기(150)와 상기 복수의 유닛 지연기(250,260,270,...)에서 출력되는 각각의 지연된 클럭 신호는 복수의 플립플롭(350,360,...)에 의해 복수의 낸드 게이트(450,460,...)에 제공되고, 이들 복수의 낸드 게이트(450,460,...)중 임의하나의 출력은 인버터(I2)를 통해 3상태 버퍼(550)에 제공된다. 이 3상태 버퍼(550)는 상기 복수의 플립플롭(350,360,...)중 임의의 플립플롭의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 반전된 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 짝수 부지연 클럭 신호(EVENNDC_CLK)로서 출력한다.
이때, 두 클럭신호(ODDNDC_CLK,EVENNDC_CLK)는 동일한 내부 구성의 회로에 의해 발생됨을 알 수 있다. 또한, 상기 임의의 플립플롭의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때, 상기 임의의 플립플롭에 후속되는 플립플롭의 입력 단자에 로우 레벨의 신호가 입력되며, 이에 따라 상기 후속되는 플립플롭에서 상태 변화가 없게 되어 전력 소비가 줄어든다.
도 3에는 도 2에 도시된 디디알 에스디램용 부지연 회로의 각각의 부분에 대한 파형이 도시되어 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 설명하였지만, 본 발명은 이러한 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 요지를 이탈하지 않는 범위내에서 다양한 형태로 실시될 수 있음은 물론이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 디디알 에스디램용 부지연 회로는 디디알 에스디램에 적용하기에 적합하고, 특히 디디알 에스디램용 부지연 회로의 두 클럭신호(ODDNDC_CLK,EVENNDC_CLK)가 동일 구성의 회로에서 발생되므로 전압, 온도, 공정 등의 변화에 영향을 받지 않는다. 또한, 플립플롭의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때, 이 플립 플롭에 후속되는 플립플롭의 입력 단자에 로우 레벨의 신호가 입력되며, 이에 따라 상기 후속되는 플립플롭에서 상태 변화가 없게 되어 전력 소비가 줄어든다.

Claims (2)

  1. 입력 클럭 신호를 지연시키는 지연기와, 이 지연기에서 출력되는 지연된 클럭 신호를 각각 지연시키는 복수의 유닛 지연기와, 상기 지연기와 상기 복수의 유닛 지연기에서 출력되는 각각의 지연된 클럭 신호를 각각 전달하는 복수의 플립플롭과, 상기 복수의 플립플롭중 대응하는 두 인접 플립플롭의 출력을 각각 낸드 연산하는 복수의 낸드 게이트와, 이들 복수의 낸드 게이트의 출력중 임의의 하나의 출력에 따라 인버터를 통해 인에이블 제어를 받고 상기 복수의 플립플롭중 임의의 출력이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이될 때의 지연된 클럭 신호를 상기 입력 클럭 신호보다 위상이 앞선 홀수 부지연 클럭 신호로서 출력하는 3상태 버퍼로 구성된 홀수 부지연 클럭신호 발생회로와; 상기 입력 클럭신호를 반전시키는 인버터와, 이 인버터의 출력신호를 입력받아 상기 홀수 부지연 클럭신호 발생회로와 동일하게 짝수 부지연 클럭신호를 출력하는 짝수 부지연 클럭신호 발생회로를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 디디알 에스디램용 부지연 회로.
  2. 제1항에 있어서, 각각의 상기 유닛 지연기는 직렬 접속된 하나의 낸드 게이트와 하나의 인버터를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 디디알 에스디램용 부지연 회로.
KR1019970076823A 1997-12-29 1997-12-29 디디알에스디램용 부지연회로 KR100295638B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970076823A KR100295638B1 (ko) 1997-12-29 1997-12-29 디디알에스디램용 부지연회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970076823A KR100295638B1 (ko) 1997-12-29 1997-12-29 디디알에스디램용 부지연회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990056805A KR19990056805A (ko) 1999-07-15
KR100295638B1 true KR100295638B1 (ko) 2001-11-22

Family

ID=37527864

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970076823A KR100295638B1 (ko) 1997-12-29 1997-12-29 디디알에스디램용 부지연회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100295638B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990056805A (ko) 1999-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100249415B1 (ko) 동기화 반도체 메모리에 사용하기 위한 제어된 지연 회로
US7457191B2 (en) Apparatus and method of generating output enable signal for semiconductor memory apparatus
KR100540487B1 (ko) 데이터 출력제어회로
KR20030011697A (ko) 탑재되는 메모리 장치들의 수에 제한없는 레지스터 및이를 갖는 메모리 모듈
EP0769783B1 (en) Synchronous semiconductor memory capable of saving a latency with a reduced circuit scale
JP2576366B2 (ja) 可変遅延バッファ回路
US6469557B2 (en) Semiconductor integrated circuit and delayed clock signal generation method
KR100789195B1 (ko) 입출력 인터페이스 및 반도체 집적 회로
KR20050041584A (ko) 데이터 출력제어회로
US6049236A (en) Divide-by-one or divide-by-two qualified clock driver with glitch-free transitions between operating frequencies
KR100358121B1 (ko) 반도체장치의 신호 입력회로
JP3114215B2 (ja) クロック周波2逓倍器
KR100295638B1 (ko) 디디알에스디램용 부지연회로
US6194938B1 (en) Synchronous integrated clock circuit
KR970076821A (ko) 래치회로
US5175752A (en) Frequency divider with reduced clock skew
KR100486199B1 (ko) 반도체메모리장치의하이임피던스제어신호발생회로
KR100305027B1 (ko) 지연장치
KR100249019B1 (ko) 주파수 분주회로
KR100474991B1 (ko) 반도체 메모리장치의 입력버퍼 및 입력 버퍼링 방법
KR100282420B1 (ko) 입력버퍼회로
KR100294343B1 (ko) 디디알싱크로너스디램의데이터입력버퍼
JPH01208791A (ja) 半導体記憶回路
KR100278982B1 (ko) 데이타 입출력 제어회로
KR100242388B1 (ko) 내부 클럭신호 발생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090427

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee