KR100281480B1 - Lamp inspection system and its inspection method - Google Patents
Lamp inspection system and its inspection method Download PDFInfo
- Publication number
- KR100281480B1 KR100281480B1 KR1019980013941A KR19980013941A KR100281480B1 KR 100281480 B1 KR100281480 B1 KR 100281480B1 KR 1019980013941 A KR1019980013941 A KR 1019980013941A KR 19980013941 A KR19980013941 A KR 19980013941A KR 100281480 B1 KR100281480 B1 KR 100281480B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lamp
- inspection jig
- lamps
- predetermined
- lamp inspection
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은, 필라멘트 전구 또는 발광 다이오드 등 각종 램프의 제작 과정에서, 제작되는 램프의 발광 정도 및 저항 또는 전류 관계 등을 검사하여 불량인 램프를 분리하기 용이하도록 하는 램프의 검사시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a lamp inspection system and method for inspecting the degree of light emission and resistance or current relationship of the lamp to be easily removed in the manufacturing process of various lamps, such as a filament bulb or a light emitting diode, and to remove a defective lamp. will be.
본 발명에 따른 램프의 검사시스템은 상호 대향하는 패턴의 인접된 부위를 따라 삽입공을 갖는 컨넥터가 일정 간격으로 배치되는 램프검사용 지그와; 다수개의 램프를 계속적으로 일렬 배치하고 배치된 소정 위치 램프의 리드 간격을 조절하여 이 램프를 위치되는 상기 램프검사용 지그에 순차적으로 탑재하도록 하는 탑재부와; 램프가 탑재된 상기 램프검사용 지그를 이송함과 동시에 탑재된 램프에 전원인가를 제어하여 안정화시키도록 하는 이송부; 및 상기 이송부에 의해 이송된 상기 램프검사용 지그로부터 일정 개수의 램프를 분리함과 동시에 전류값을 측정하여 정상 유무를 확인하도록 하는 검사부;를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The inspection system of the lamp according to the present invention includes a lamp inspection jig in which connectors having insertion holes are arranged at regular intervals along adjacent portions of mutually opposite patterns; A mounting portion for continuously arranging a plurality of lamps and adjusting the lead spacing of the predetermined position lamps so as to sequentially mount the lamps on the lamp inspection jig to be positioned; A transfer unit for transferring the lamp inspection jig equipped with a lamp and controlling the application of power to the mounted lamp; And an inspection unit for separating a predetermined number of lamps from the lamp inspection jig transferred by the transfer unit and measuring a current value to check whether the lamp is normally present.
따라서, 본 발명에 의하면, 램프의 안정화 과정과 검사 과정 및 불량 램프의 분리작업까지 램프검사용 지그의 이송 과정이 전자동으로 이루어짐에 따라 노동력과 작업 시간이 감소되고, 작업 효율과 생산성 및 경제성이 높아지며, 작업 공간의 활용도가 높고, 검사에 따른 램프의 제품 신뢰도를 높이는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, as the lamp stabilization process and inspection process and the transfer process of the lamp inspection jig until the separation operation of the defective lamp is made fully automatic, labor and work time are reduced, and work efficiency, productivity and economic efficiency are increased. In addition, the utilization of the working space is high, and the effect of improving the product reliability of the lamp according to the inspection.
Description
본 발명은 램프 검사시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 필라멘트 전구 또는 발광 다이오드 등의 각종 램프의 제작 과정에서, 제작완료된 램프의 발광 정도 및 저항 또는 전류 관계 등을 검사하여 불량 램프를 색출 분리하기 용이하도록 한 램프의 검사시스템 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a lamp inspection system and a method thereof, and more particularly, in the manufacturing process of various lamps, such as a filament bulb or a light emitting diode, inspects the degree of emission and resistance or current relationship of the finished lamps to search for defective lamps. An inspection system and method thereof are provided for easy removal.
일반적으로 필라멘트 전구 또는 발광 다이오드 등의 각종 램프 어셈블리는, 소정의 투명체 재질로 내부가 구획되어 머리부를 이루고, 이 머리부의 내부는 소정의 진공도를 이루거나 별도의 기체가 충진된 상태로 형성된다.Generally, various lamp assemblies, such as a filament bulb or a light emitting diode, are partitioned inside of a predetermined transparent material to form a head, and the inside of the head is formed in a predetermined vacuum or filled with a separate gas.
또한, 머리부에는 소정 길이를 갖는 리드가 내측과 외측을 관통하여 연장 돌출된 형상으로 구비되고, 이 리드의 머리부 내측에 위치되는 단부에는 필라멘트가 설치되어 리드를 통해 인가되는 전원에 대응하여 발광하는 구성을 이룬다.In addition, the head is provided with a lead having a predetermined length extending through and protruded through the inside and the outside, the filament is installed at the end located inside the head of the lead to emit light in response to the power applied through the lead To achieve the configuration.
이러한 구성의 램프는, 통상 스위치류를 통해 발광하여 발광 정도의 기능 및 그 크기에 의해 자동차의 스위치류, 카 오디오 하이파이 오디오 등의 기기 표면에 설치되어 사용자로 하여금 기기의 동작 상태를 확인토록 하거나 대향하는 다른 사물을 인식하기 용이하도록 하는 기능 등을 수행하게 된다.The lamp of such a configuration is usually installed on the surface of an automobile switch, car audio, hi-fi audio, etc. according to the function and the size of light emission by emitting light through switches, so that the user can check or oppose the operation state of the equipment. A function for facilitating the recognition of other objects is performed.
따라서, 상술한 램프는 인가되는 전원에 대응하여 정상적인 밝기와 저항 또는 전류정도 및 그 수평이 장시간 계속될 것 등이 요구된다.Therefore, the above-described lamp is required to correspond to the power applied to the normal brightness and the resistance or current degree, and the horizontal will continue for a long time.
이러한 요구 조건을 충족하는 램프를 생산하기 위해서는, 제작된 램프를 에이징 테스트 작업과 정전압 인가 테스트 작업 등으로 안정화시키는 과정을 수행토록 하고, 또 이를 통해 램프의 밝기 또는 규정된 전류값 등의 정상 유무를 검사하도록 하여 불량 상태의 램프를 분리시키게 된다.In order to produce a lamp that satisfies these requirements, the fabricated lamp must be stabilized by an aging test operation, a constant voltage application test operation, or the like. The test will isolate the defective lamp.
여기서, 상술한 안정화시키는 과정 및 불량 상태의 램프를 분리시키기 위한 검사과정의 종래 기술에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Here, the prior art of the stabilization process and the inspection process for separating the lamp in a bad state will be described with reference to the accompanying drawings.
먼저, 다수개의 램프(10)를 각종 테스팅 작업을 포함한 안정화시키는 과정과 이를 통한 램프(10)의 밝기 및 전류값 검사 등을 용이하게 수행할 수 있도록 하는 램프검사용 지그(12)가 구비된다.First, a lamp inspection jig 12 for stabilizing a plurality of lamps 10 including various testing operations and inspecting brightness and current values of the lamps 10 may be provided.
이러한 램프검사용 지그(12)의 구성은, 제1도 또는 제2도에 도시된 바와 같이 절연 재질로 소정 길이를 갖는 장방형의 용기 형상을 이루는 하우징(14)이 있고, 이 하우징(14)의 내측 중심 부위에는 길이 방향을 가로지르는 형상으로 소정 두께를 갖는 절연 재질의 중간체(16)가 구비되며, 이 중간체(16)에 의해 하우징(14) 내측 부위는 길이 방향 양측으로 소정 폭과 깊이를 갖는 수용홈(18a, 18b)으로 분리 형성된다.The lamp inspection jig 12 has a housing 14 that forms a rectangular container shape having a predetermined length of an insulating material, as shown in FIG. 1 or FIG. 2. The inner central portion is provided with an intermediate body 16 of insulating material having a predetermined thickness in a shape transverse to the longitudinal direction, and by the intermediate body 16 the inner part of the housing 14 has a predetermined width and depth on both sides in the longitudinal direction. Separately formed into receiving grooves (18a, 18b).
또한, 이들 각 수용홈(18a, 18b) 상에는, 제1도 또는 제2도에 도시된 바와 같이 도전성 섬유(20)가 충진되고, 이렇게 충진된 도전성 섬유(20)는 상술한 하우징(14)의 일측에 설치된 플러그(22)의 각 단자(24a, 24b)로부터 분리 연결된 도전체(26a,26b)에 접촉되어 플러그(22)가 콘센트(도면의 단순화를 위하여 생략함)에 선택적으로 연결됨에 따라 각 수용홈(18a, 18b)에 충진된 각 부위의 도전성 섬유(20)는 각기 다른 전극의 전원이 인가되는 구성을 이룬다.Further, on each of these receiving grooves 18a and 18b, the conductive fibers 20 are filled as shown in FIG. 1 or 2, and the conductive fibers 20 thus filled are formed of the housing 14 described above. As the plug 22 is selectively connected to an outlet (omitted for simplification of the drawing) in contact with the conductors 26a and 26b separated from each terminal 24a and 24b of the plug 22 installed on one side, The conductive fibers 20 of the respective portions filled in the receiving grooves 18a and 18b form a configuration in which power of different electrodes is applied.
한편, 작업자는 상술한 램프검사용 지그(12) 양측의 수용홈(18a, 18b) 즉, 수용홈(18a, 18b)에 충진되어 다른 극성을 갖게 되는 각각의 도전성 섬유(18a, 18b)에 램프(10)의 양측 리드(28a, 28b)가 각각 대응하도록 충분히 벌려 램프(10)의 각 리드(28a, 28b)를 도전성 섬유(20)에 꽂는 형식으로 복수개 램프(10)를 일렬 배치하게 된다.On the other hand, the worker has a lamp in each of the conductive fibers (18a, 18b) filled in the receiving grooves (18a, 18b), that is, the receiving grooves (18a, 18b) on both sides of the lamp inspection jig 12 described above to have a different polarity. The plurality of lamps 10 are arranged in a line in such a manner that the two leads 28a and 28b of the 10 are fully opened so that the respective leads 28a and 28b of the lamp 10 are plugged into the conductive fiber 20.
이렇게 램프검사용 지그(12) 상에 복수개의 램프(10)가 배치되면, 작업자는 하우징(14)의 일측에 있는 플러그(22)를 저전압의 전원이 인가되는 콘센트에 꽂아 소정시간 에이징 테스트를 하게 되고, 동시에 육안을 통해 램프(10)의 점등을 확인하여 불량 상태의 램프(10)를 분리하게 된다.When the plurality of lamps 10 are disposed on the lamp inspection jig 12, the operator inserts the plug 22 on one side of the housing 14 into an outlet to which a low voltage power is applied to perform an aging test for a predetermined time. At the same time, the lighting of the lamp 10 is checked through the naked eye to separate the lamp 10 in a bad state.
이후 작업자는 복수개의 램프(10)가 수용된 램프검사용 지그(12)를 다시 정격 전압이 인가되는 콘센트에 연결하여 소정 시간 정전압 인가 테스트하고, 램프(10)의 점등에 따른 밝기 확인 등 불량 상태의 램프(10)를 분리하게 된다.After that, the operator connects the lamp inspection jig 12 in which the plurality of lamps 10 are accommodated again to an outlet to which the rated voltage is applied, and tests the constant voltage application for a predetermined time, and checks the brightness of the lamp 10 according to the lighting state. The lamp 10 is to be separated.
이러한 에이징 테스트와 정전압 인가 테스트를 통해 램프(10)는 안정화 상태를 마치게 되며, 작업자는 이들 램프(10)를 하나씩 빼내어 양측 리드(28a, 28b)를 통해 전원을 인가하여 인가되는 전원에 대응하는 램프(10)의 전류값과 밝기 등을 검사하게 되고, 이 검사에 따른 램프(10)의 정상 유무에 따른 등급으로 분리하고, 동시에 불량 등급의 램프(10)를 재검사하거나 색출하게 된다.Through the aging test and the constant voltage application test, the lamp 10 is finished with a stabilization state, and an operator removes these lamps one by one and applies power through both leads 28a and 28b to correspond to the applied power. The current value and brightness of (10) are examined, and the lamp is divided into grades according to the normal presence or absence of the lamp 10 according to the inspection, and at the same time, the lamp 10 of the defective grade is re-inspected or extracted.
그러나, 상술한 바와 같이 램프를 지그에 설치하는 과정과 안정화시키는 과정 및 램프의 정상 유무를 검사하는 과정이 작업자의 수작업에 의해 실시됨에 따라 작업의 번거로움과 많은 노동력이 요구되고, 작업 시간이 지연되며, 많은 수의 작업자가 일정 공간을 차지하게 되어 작업 공간이 확대되며, 작업자 개개인의 오차에 따른 검사 오차가 발생되는 등에 의해 제작되는 램프의 신뢰도가 저하되는 문제가 있었다.However, as described above, the process of installing the lamp to the jig, stabilizing the lamp, and checking the lamp for normal operation are performed by the manual labor of the worker, which requires a lot of work and labor, and delays the work time. As a result, a large number of workers occupy a predetermined space, and thus a work space is expanded, and there is a problem in that reliability of a lamp manufactured by an inspection error caused by an error of an individual worker is deteriorated.
또한, 지그에 설치되는 램프의 수량이 일정하지 않고, 정상적으로 제작된 램프의 수량을 파악하기가 어렵고, 램프의 리드가 작업자의 작업 과정에서 굴곡되는 등 그 형상이 일정하게 형성되지 않아 포장 및 다른 공정으로의 작업이 용이하게 실시되기 어려워 작업의 번거로움과 함께 램프의 파손이 우려되며, 램프의 품질에 따른 각종 데이터를 산출하기 어려운 문제가 있었다.In addition, the number of lamps installed in the jig is not constant, it is difficult to determine the number of lamps manufactured normally, and the shape of the lamps is not uniformly formed, such as bending of the worker's work process. It is difficult to easily carry out the work, and there is a concern that the lamp may be broken along with the trouble of the work, and it is difficult to calculate various data according to the quality of the lamp.
본 발명의 목적은, 램프를 지그에 설치하는 과정과 안정화시키는 과정 및 램프의 정상 유무를 검사하는 과정의 단순화 및 작업이 용이하게 이루어지도록 함으로써 작업자에 의한 노동력을 감소하는 등 그 작업 효율을 높이고, 작업 시간을 단축하여 생산성과 경제성을 높이도록 하며, 협소한 작업 공간에서도 작업이 이루어질 수 있도록 하여 작업 공간의 활용도를 높이고, 검사에 따른 신뢰도를 높이도록 하는 램프의 검사시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.An object of the present invention is to simplify the process of installing the lamp to the jig, stabilizing the process and to check the normal status of the lamp and to facilitate the work to increase the work efficiency, such as reducing the labor force by the operator, The present invention provides a lamp inspection system and method for shortening the working time to increase productivity and economic efficiency, and allowing work to be performed in a narrow work space to increase the utilization of the work space and to increase the reliability of the inspection. .
또한, 정상적으로 제작된 램프의 수량을 파악하기 용이하도록 하고, 램프의 리드 형상이 굴곡되는 등의 변형이나 파손방생을 방지하도록 하여 램프의 포장 및 다른 공정으로의 작업이 용이하게 실시될 수 있도록 하며, 램프의 품질에 대한 각종 데이터를 산출하기가 용이하도록 하는 램프의 검사시스템 및 그 방법을 제공함에 있다.In addition, it is easy to grasp the number of lamps manufactured normally, and to prevent deformation or breakage prevention such as bending of the lead shape of the lamp, so that the packaging and other processes can be easily performed. An object of the present invention is to provide a lamp inspection system and method for easily calculating various types of data on lamp quality.
제1도는 종래의 램프를 검사하기 위한 램프검사용 지그의 구성 및 램프의 설치 관계를 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view showing the configuration of a lamp inspection jig for inspecting a conventional lamp and the installation relationship of the lamp.
제2도는 제1도의 II-II선을 기준하여 램프와 램프검사용 지그의 구성 및 램프가 램프검사용 지그에 설치되는 관계를 확대하여 나타낸 단면도이다.2 is a cross-sectional view showing an enlarged configuration of the lamp and the lamp inspection jig and the relationship between the lamps installed on the lamp inspection jig based on the II-II line of FIG.
제3도는 본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템을 실행하기 위한 램프검사용지그의 평면 상태 및 램프의 설치 관계를 나타낸 사시도이다.3 is a perspective view showing a planar state of a lamp inspection jig and an installation relationship of a lamp for executing a lamp inspection system according to an embodiment of the present invention.
제4도는 제3도의 램프검사용 지그의 저면 상태를 나타낸 사시도이다.FIG. 4 is a perspective view showing the bottom surface of the lamp inspection jig of FIG.
제5도는 본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 전개도이다.5 is a development view schematically showing the configuration of a lamp inspection system according to an embodiment of the present invention.
제6도는 램프검사용 지그에 램프를 배치시키기 위한 제5도에 도시된 탑재부의 구성 및 동작 관계를 개략적으로 나타낸 사시도이다.6 is a perspective view schematically showing the configuration and operation relationship of the mounting portion shown in FIG. 5 for arranging a lamp in a lamp inspection jig.
제7도는 복수개의 램프가 배치된 램프검사용 지그를 이송시키기 위한 이송부의 구성 및 그 동작 관계를 나타낸 사시도이다.FIG. 7 is a perspective view showing the configuration and operation relationship of a transfer unit for transferring a lamp inspection jig in which a plurality of lamps are arranged. FIG.
제8도는 제5도에 도시된 램프 검사부의 구성과 설치 관계 및 램프 검사부의 동작 관계를 나타낸 사시도이다.8 is a perspective view showing the configuration and installation relationship of the lamp inspection unit and the operation relationship of the lamp inspection unit shown in FIG.
제9도는 제8도에 도시된 단자핑거의 형상을 확대하여 나타낸 사시도이다.FIG. 9 is an enlarged perspective view of the shape of the terminal finger shown in FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 램프 12,32 : 램프검사용 지그10: lamp 12,32: jig for lamp inspection
14 : 하우징 16 : 중간체14 housing 16 intermediate
18a,18b : 수용홈 20 : 도전성 섬유18a, 18b: receiving groove 20: conductive fiber
22 : 플러그 24a,24b : 단자22: plug 24a, 24b: terminal
25a,26b : 도전체 28a,28b : 리드25a, 26b: conductor 28a, 28b: lead
30 : 램프 검사시스템 34 : PCB30: lamp inspection system 34: PCB
35a,36b : 패턴 38 : 컨넥터35a, 36b: Pattern 38: Connector
40 : 납로 42 : 도전판40: lead 42: conductive plate
44 : 체결구 50 : 탑재부44: fastener 50: mounting portion
52a,52b : 피더 54 : 제 1 로봇52a, 52b: feeder 54: first robot
56a,56b,64a,64b : 핑거 58 : 돌기56a, 56b, 64a, 64b: finger 58: protrusion
60 : 홀더 62a,62b : 압착편60 holder 62a, 62b crimping piece
76a,66b : 지지부재 68 : 제 2 로봇76a, 66b: support member 68: second robot
70 : 이송부 72a,72b,72c,72d,72e : 레일70: transfer unit 72a, 72b, 72c, 72d, 72e: rail
74 : 컨베이어 벨트 76 : 걸림부재74: conveyor belt 76: locking member
78 : 스토퍼 80 : 검사부78: stopper 80: inspection unit
82 : 제 3 로봇 84 : 단자핑거82: third robot 84: terminal finger
86 : 용기 88 : 칸막이86 container 88 partition
90 : 공급부 92 : 수거부90 supply part 92 collection part
94 : 전원선94: power line
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 램프의 검사시스템은, 다수개의 램프를 계속적으로 일렬 배치하고, 배치된 소정 위치 램프의 리드 간격을 조절하여 이 램프가 위치되는 램프검사용 지그에 순차적으로 탑재하도록 하는 탑재부와; 소정 두께를 갖는 판 형상으로 상호 대향 형성된 패턴의 인접된 부위를 따라 삽입공을 갖는 컨넥터가 일정 간격으로 배치되는 램프검사용 지그가 구비되어 상기 컨넥터에 램프가 탑재된 상태로 상기 램프검사용 지그를 이송함과 동시에 전원인가를 제어하여 탑재된 램프를 안정화시키도록 하는 이송부와; 상기 이송부에 의해 이송된 상기 램프검사용 지그로부터 일정 개수의 램프를 분리함과 동시에 전류값을 측정하여 정상 유무를 확인하도록 하는 검사부; 및 상기 각 부의 구성을 제어하는 컨트롤러;를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The lamp inspection system according to the present invention for achieving the above object, the plurality of lamps are continuously arranged in a row, and the lead inspection of the predetermined position lamps are arranged in succession and mounted on the lamp inspection jig in which the lamps are positioned. A mounting portion to allow; A lamp inspection jig is provided in which connectors having insertion holes are arranged at regular intervals along adjacent portions of a pattern formed to face each other in a plate shape having a predetermined thickness, and the lamp inspection jig is mounted with a lamp mounted on the connector. A transfer unit configured to stabilize the mounted lamp by controlling power application while being transferred; An inspection unit which separates a predetermined number of lamps from the lamp inspection jig transferred by the transfer unit and simultaneously checks whether the lamp is normal by measuring a current value; And a controller for controlling the configuration of each unit.
또한, 상기 램프검사용 지그는, 소정 두께와 면적을 갖는 판 형상으로 양측 부위로 부터 내측으로 상호 대향하여 서로 다른 전극이 인가되는 패턴이 형성된 PCB와; 상기 양측 패턴의 상호 근접된 부위를 따라 상기 각각의 패턴과 연결되도록 관통 설치되는 단관 형상으로 상측 내경이 함몰된 형상의 삽입공을 갖는 컨넥터; 및 상기 PCB의 양측 부위에 상기 각각의 패턴에 체결구로 연결되도록 설치되는 도전판;을 포함하여 구성함이 바람직하다.The lamp inspection jig may include: a PCB having a pattern in which different electrodes are applied to each other in a plate shape having a predetermined thickness and an area facing inward from each other; A connector having an insertion hole having an upper inner diameter recessed in a short pipe shape installed to be connected to each of the patterns along adjacent portions of the both patterns; And conductive plates installed at both sides of the PCB so as to be connected to the respective patterns by fasteners.
그리고, 상기 탑재부는, 다수개의 램프를 소정 위치에 계속적으로 일렬 배치시키는 피더와; 배치된 소정 위치의 램프를 홀딩하여 소정 위치로 이송하는 제 1 로봇과; 램프 이송 경로의 하측에 설치되어 이송되는 램프의 양측 리드를 일정 간격 이상으로 벌리도록 하는 돌기와; 양측이 상호 선택적으로 맞물리는 형상으로 상기 제 1 로봇으로부터 램프를 일시적으로 인계 받도록 형성된 홀더; 및 상기 홀더로부터 램프를 인계 받음과 동시에 리드의 벌어진 정도를 조절하며 위치되는 상기 컨넥터 상에 각각의 리드가 삽입되도록 탑재시키는 제 2 로봇;을 포함하여 구성함이 바람직하다.The mounting unit includes: a feeder for continuously arranging a plurality of lamps at a predetermined position; A first robot for holding the lamp at the predetermined position and transferring the lamp to the predetermined position; A protrusion installed at a lower side of the lamp transfer path to spread both leads of the lamp to be transferred at a predetermined interval or more; A holder configured to temporarily take over a lamp from the first robot in a shape in which both sides selectively engage with each other; And a second robot that mounts each lead so as to be inserted into the connector positioned while receiving the lamp from the holder and controlling the degree of opening of the lead.
또한, 상기 이송부는, 상기 제 2 로봇의 근접된 위치에 상기 램프검사용 지그의 양측 부위를 지지하도록 구비되고, 선택적으로 인가되는 전원을 상기 램프검사용 지그의 상기 도전판으로 유도하는 레일과; 상기 레일 사이의 길이 방향으로 설치되어 상기 램프검사용 지그를 상기 레일 상의 소정 위치로 이송하도록 하는 컨베이어 벨트;를 포함하여 구성함이 바람직하다.The transfer unit may include a rail configured to support both sides of the lamp inspection jig at a position adjacent to the second robot, and to guide power selectively applied to the conductive plate of the lamp inspection jig; And a conveyor belt installed in the longitudinal direction between the rails so as to transfer the lamp inspection jig to a predetermined position on the rails.
그리고, 상기 검사부는, 상기 이송부에 의해 위치된 상기 램프검사용 지그 상의 적어도 하나 이상의 램프를 선택적으로 홀딩함에 있어서 각 램프의 양측 리드에 전원인가가 가능하도록 각각 분리하여 홀딩하는 단자핑거가 복수개 구비되어 홀딩된 램프를 이송하도록 하는 제 3 로봇과; 상기 단자핑거의 홀딩 또는 홀딩해제를 제어하고, 램프에 인가되는 전원의 제어와 그에 따른 전류값을 측정하며, 램프의 수를 카운팅하는 제어장치 및 상기 단자핑거에 의해 선택적으로 홀딩해제된 램프를 수용하게 되는 용기;를 포함하여 구성함이 바람직하다.In addition, the inspection unit may be provided with a plurality of terminal fingers to separate and hold each power so as to be able to apply power to both leads of each lamp in selectively holding at least one lamp on the lamp inspection jig located by the transfer unit A third robot for transporting the held lamp; A control device for controlling the holding or releasing of the terminal finger, measuring the control of the power applied to the lamp and the corresponding current value, and counting the number of lamps, and accommodating the lamp selectively held by the terminal finger It is preferable that the configuration including a container.
한편, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 램프 검사방법은, 소정의 두께를 갖는 판 형상으로 상호 대향 형성된 패턴의 인접된 부위를 따라 삽입공을 갖는 컨넥터가 일정 간격으로 배치되는 램프검사용 지그를 구비하고, 램프를 일정 형식으로 배치시키고, 계속적으로 소정 위치의 램프를 홀딩하여 이송함과 동시에 리드 사이의 간격을 조절하여 위치되는 상기 램프검사용 지그에 탑재시키는 단계와; 이송부를 통해 소정 개수의 램프가 탑재된 상기 램프검사용 지그를 이송하여 상기 램프검사용 지그를 통해 각각의 램프에 전원을 인가하여 램프를 안정화시키는 단계; 및 상기 이송부에 의해 이송된 상기 램프검사용 지그로부터 램프의 양측 리드를 분리하여 홀딩함과 동시에 전원을 인가하여 램프의 전류값을 측정하고, 측정된 전류값에 대응하는 각 램프를 각각 분리하여 수용하도록 하며, 측정 분리되는 램프의 수량을 카운팅하는 단계;를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.On the other hand, the lamp inspection method according to the present invention for achieving the above object is a lamp inspection jig in which connectors having insertion holes are arranged at regular intervals along adjacent portions of a pattern formed to face each other in a plate shape having a predetermined thickness. And arranging the lamps in a predetermined format, continuously holding and transferring the lamps at a predetermined position, and mounting the lamps on the lamp inspection jig which is positioned by adjusting a gap between the leads; Transferring a lamp inspection jig in which a predetermined number of lamps are mounted through a transfer unit, and stabilizing lamps by applying power to each lamp through the lamp inspection jig; And separating and holding both leads of the lamp from the lamp inspection jig transferred by the transfer unit, and simultaneously applying power to measure a lamp current value, and separately separating and accommodating each lamp corresponding to the measured current value. And counting the quantity of lamps to be measured and separated.
또한, 램프를 안정화시키는 단계는, 상기 이송부를 통해 램프가 탑재된 램프검사용 지그를 이송하는 과정에서, 램프의 설정된 전압 이하의 전원을 소정 시간 인가하여 안정화시키는 에이징 테스트 단계와; 램프의 설정된 전압의 전원을 소정 시간 인가하여 안정화시키는 정전압 인가 테스트 단계;로 분리함이 바람직하다.The stabilizing of the lamp may include: an aging test step of stabilizing by applying a power below a predetermined voltage of the lamp for a predetermined time in the process of transferring the lamp inspection jig in which the lamp is mounted through the transfer unit; It is preferable to separate into; a constant voltage application test step of stabilizing by applying the power of the set voltage of the lamp for a predetermined time.
그리고, 램프를 안정화시키는 단계에서 인가되는 전원에 대응하여 램프의 발광 유무 및 그 정도를 측정하여 불량 램프를 분리 색출하는 단계;를 더 구비함이 바람직하다.The method may further include separating and detecting a defective lamp by measuring whether the lamp is emitted and the degree of light corresponding to the power applied in the stabilizing the lamp.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템 및 그 방법에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a lamp inspection system and a method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
제3도는 본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템을 실행하기 위한 램프검사용 지그의 평면 상태 및 램프의 설치 관계를 나타낸 사시도이고, 제4도는 제3도의 램프검사용 지그의 저면 상태를 나타낸 사시도이며, 제5도는 본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 전개도이다.FIG. 3 is a perspective view showing the planar state of the lamp inspection jig and the installation relationship of the lamp for executing the lamp inspection system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a bottom view of the lamp inspection jig of FIG. 5 is a perspective view schematically illustrating a configuration of a lamp inspection system according to an exemplary embodiment of the present invention.
또한, 제6도는 램프검사용 지그에 램프를 배치시키기 위한 제5도에 도시된 탑재부의 구성 및 동작 관계를 개략적으로 나타낸 사시도이며, 제7도는 복수개의 램프가 탑재된 램프검사용 지그를 이송시키기 위한 이송부의 구성 및 그 동작 관계를 나타낸 사시도이며, 제8도와 제9도는 제5도에 도시된 램프 검사부의 구성과 설치 관계 및 램프 검사부의 동작 관계를 나타낸 사시도로서, 종래와 동일한 부분에 대하여 동일한 부호를 부여하고, 그에 따른 상세한 설명은 생략하기로 한다.6 is a perspective view schematically showing the configuration and operation relationship of the mounting portion shown in FIG. 5 for arranging lamps in a lamp inspection jig, and FIG. 7 is a view for transferring a lamp inspection jig equipped with a plurality of lamps. 8 and 9 are perspective views showing the configuration and installation relationship of the lamp inspection unit and the operation relationship of the lamp inspection unit shown in FIG. Reference numerals will be given, and detailed description thereof will be omitted.
본 발명의 일 실시예에 따른 램프 검사시스템(30)을 설명함에 있어서, 먼저 제3도와 제4도를 참조하여 램프 검사시스템(30)에 사용되는 램프검사용 지그(32)의 구성을 설명하기로 한다.In describing the lamp inspection system 30 according to an embodiment of the present invention, the configuration of the lamp inspection jig 32 used in the lamp inspection system 30 will first be described with reference to FIGS. 3 and 4. Shall be.
본 발명의 램프 검사시스템(30)에 사용되는 램프검사용 지그(32)는, 제3도에 도시된 바와 같이, 소정 두께와 크기를 갖는 판 형상의 PCB(printed circuit board : 인쇄회로기판)(34)가 있고, 이 PCB(34) 상에 형성된 패턴(36a, 36b)은 PCB(34) 양측에서 내측 방향으로 연장되어 일정 간격으로 상호 대향하는 형상을 이룬다.The lamp inspection jig 32 used in the lamp inspection system 30 of the present invention has a plate-shaped printed circuit board (PCB) having a predetermined thickness and size, as shown in FIG. 34), and the patterns 36a and 36b formed on the PCB 34 extend inwardly from both sides of the PCB 34 to form mutually opposed shapes at regular intervals.
또한, 패턴(36a, 36b)외 상호 근접 부위에는, 제3도의 확대하여 도시된 바와 같이, 램프(10)의 리드(28a, 28b)가 삽입되기 용이하도록 상단 내측 부위가 호퍼 형상 또는 중심 부위가 함몰되어 테이퍼진 관 형상의 복수개 컨넥터(38)가, 각각의 패턴(36a, 36b)에 대응하여 접속 연결되는 구성으로 PCB(34)에 관통 설치된다.In addition, as shown in the enlarged view of FIG. 3, the upper inner portion of the upper portion of the upper portion of the lamp 36 or the hopper shape or the center portion of the lamp 10 is easily inserted into the adjacent portions other than the patterns 36a and 36b. A plurality of recessed and tapered tubular connectors 38 are installed through the PCB 34 in a configuration in which the plurality of connectors 38 are connected to each other corresponding to the patterns 36a and 36b.
그리고, PCB(34)의 저면에는, 제4도에 도시된 바와 같이, 관통 설치된 컨넥터(38)와 접속 연결을 강화하도록 판 형상의 도전체 재질로 상술한 패턴(36a, 36b)과 동일하게 형성하여 배치된 컨넥터(38)를 구분하여 연결 집속시키는 납로()(40)가 형성된다.As shown in FIG. 4, the bottom surface of the PCB 34 is formed in the same manner as the above-described patterns 36a and 36b made of a plate-shaped conductor material so as to strengthen the connection connection with the connector 38 installed therethrough. Lead to separate and focus on the connectors 38 40 is formed.
한편, PCB(34)의 양측 부위에는 분리된 패턴(36a, 36b)에 대응하여 연결되는 도전판(42)이 체결구(44)를 통해 연결된다.On the other hand, the conductive plate 42 connected to both sides of the PCB 34 corresponding to the separated patterns 36a and 36b is connected through the fastener 44.
여기서, 상술한 도전판(42)과 패턴(36a, 36b)의 분리된 형상은 각각의 패턴(36a, 36b)에 연결 접속되는 컨넥터(38)에 서로 다른 전극의 전압을 인하기 위한 구성으로서, 양측 도전판(42)을 통해 전원을 인가하게 되면, 제3도에 도시된 바와 같이, 이웃하는 컨넥터(38)에 삽입 설치되는 램프(10)는 인가되는 전원에 대응하여 발광하게 된다.Here, the separated shapes of the conductive plate 42 and the patterns 36a and 36b described above are configured to draw voltages of different electrodes to the connectors 38 connected to the respective patterns 36a and 36b. When power is applied through both conductive plates 42, as shown in FIG. 3, the lamp 10 inserted into the neighboring connector 38 emits light corresponding to the applied power.
이러한 구성의 램프검사용 지그(32)를 사용하여 생산되는 램프(10)의 안정화 및 정상 유무를 검사하기 위한 램프 검사시스템(30)은, 검사가 요구되는 램프(10)를 계속적으로 일렬 배치하고, 이렇게 배치된 램프(10)를 램프검사용 지그(32)로 이송함과 동시에 이송되는 램프(10)의 리드(28a, 28b) 간격을 조절하여 램프검사용 지그(32) 상의 형성된 각 컨넥터(38)에 탑재시키는 탑재부(50)가 구성된다.The lamp inspection system 30 for inspecting the stabilization and normality of the lamp 10 produced using the lamp inspection jig 32 having such a configuration continuously arranges the lamps 10 requiring inspection in a row. Each of the connectors formed on the lamp inspection jig 32 by adjusting the spacing of the leads 28a and 28b of the lamp 10 which is simultaneously transferred to the lamp inspection jig 32 arranged in this way ( The mounting part 50 mounted on 38 is comprised.
또한 탑재부(50)를 통해 복수개의 램프(10)가 탑재된 램프검사용 지그(32)를 이송토록 하고, 램프검사용 지그(32)를 이송하는 과정에서 상술한 도전판(42)에 소정의 전원을 인가하여 램프(10)의 안정화 과정을 수행하도록 하는 이송부(70)가 구성된다.In addition, the lamp inspection jig 32 in which the plurality of lamps 10 are mounted is transported through the mounting unit 50, and the predetermined number is applied to the conductive plate 42 described above in the process of transporting the lamp inspection jig 32. The transfer unit 70 is configured to apply power to perform the stabilization process of the lamp 10.
그리고, 이송부(70)에 근접된 위치에는 위치된 램프검사용 지그(32)로부터 일정 개수의 램프(10)를 분리함과 동시에 램프(10)의 전류값을 측정하여 정상 유무를 확인하도록 하는 검사부(80)가 구성되며, 상술한 탑재부(50)와 이송부(70) 및 검사부(80)의 각 구성의 동작 관계를 제어토록 하는 컨트롤러(도면의 단순화를 위하여 생략함)를 포함한 구성으로 이루어진다.In addition, the inspection unit for separating the predetermined number of lamps 10 from the lamp inspection jig 32 located at the position close to the transfer unit 70 and at the same time by measuring the current value of the lamp 10 to confirm the normal presence. 80 is configured, and a configuration including a controller (omitted for simplicity of the drawing) to control the operation relationship of each configuration of the mounting unit 50, the transfer unit 70 and the inspection unit 80 described above.
여기서, 상술한 각 구성에 대하여 보다 상세히 설명하기로 한다.Here, each configuration described above will be described in more detail.
먼저, 탑재부(50)의 구성은, 제5도 또는 제6도에 도시된 바와 같이, 수용되는 다수개의 램프(10)를 일측 방향으로 점차적으로 이송하는 피더(feeder)(52a, 52b)가 설치되어 있으며, 이 피더(52a, 52b)에 의해 이송되는 램프(10)는 피더(52a, 52b)의 일측단부에서 리드(28a, 28b)의 방향이 가지런하게 놓이는 형상으로 정렬 배치된다.First, as shown in FIG. 5 or 6, the configuration of the mounting unit 50 is provided with feeders 52a and 52b for gradually feeding the plurality of lamps 10 accommodated in one direction. The lamps 10 conveyed by the feeders 52a and 52b are arranged in a shape such that the directions of the leads 28a and 28b are arranged neatly at one end of the feeders 52a and 52b.
또한, 상술한 바와 같이 피더(52a, 52b)의 일측 부위에는 정렬 배치된 램프(10)중 특정 위치의 각 램프(10)를 단위 개수로 홀딩하여 이송하도록 형성된 제 1 로봇(54)이 설치되고, 이러한 제 1 로봇(54)의 램프(10) 홀딩수단은, 제6도에 도시된 바와 같이, 일정 간격으로 배치된 램프(10) 머리부의 양측에 대향하여 선택적으로 홀딩하는 핑거(56a, 56b)로 구성된다.In addition, as described above, one side of the feeders 52a and 52b is provided with a first robot 54 formed to hold and transport each lamp 10 at a specific position among the lamps 10 arranged in alignment. As shown in FIG. 6, the lamp 10 holding means of the first robot 54 selectively holds the fingers 56a and 56b facing opposite sides of the head of the lamp 10 arranged at regular intervals. It is composed of
이러한 핑거(56a, 56b)의 동작 관계는, 요구되는 위치의 각 램프(10)에 대향하여 각각 분리된 핑거(56a, 56b)를 구비하여 각각의 핑거(56a, 56b)에 선택적으로 소정의 공압을 제공하여 홀딩토록 하거나 상술한 각 핑거(56a, 56b)가 돌출된 일체형으로 제작될 수도 있다.The operation relationship of these fingers 56a and 56b is provided with fingers 56a and 56b respectively separated from each other against the lamp 10 at the required position, and selectively predetermined pneumatic pressure is applied to each of the fingers 56a and 56b. Providing a holding to hold or the above-described finger (56a, 56b) may be produced as a protruding one-piece.
이렇게 제 1 로봇(54)의 핑거(56a, 56b)에 홀딩된 단위 개수의 램프(10)는 다시 제 1 로봇(54)의 구동에 따라 이송되고, 이때 램프(10)의 이송 경로 즉 피더(52a, 52b)의 측부 소정 위치에는, 제6도에 도시된 바와 같이, 이송되는 각 램프(10)의 하측 부위에 대향하여 돌출된 형상의 돌기(58)가 각각 설치되어 있으며, 이 돌기(58)에 의해 이송되는 램프(10)의 양측 리드(28a, 28b)는 가상선으로 도시한 바와 같이 상호 이격되는 방향으로 벌려지고, 계속적인 제 1 로봇(54)의 구동에 의해 소정 위치의 설치된 홀더(60)로 이송된다.In this way, the number of lamps 10 held by the fingers 56a and 56b of the first robot 54 is transferred again according to the driving of the first robot 54, and at this time, the transfer path of the lamp 10, that is, the feeder ( At the side predetermined positions of 52a and 52b, as shown in FIG. 6, protrusions 58 having protruding shapes facing the lower portions of the respective lamps 10 to be transferred are provided, respectively. Both leads 28a and 28b of the lamp 10, which are conveyed by the i), are opened in a direction spaced apart from each other, as shown by an imaginary line, and the holders are installed at predetermined positions by continuous driving of the first robot 54. Are transferred to 60.
한편, 상술한 홀더(60)는, 제6도에 도시된 바와 같이, 제 1 로봇(54)에 의해 이송된 램프(10)의 리드(28a, 28b) 부위를 선택적으로 압착하여 고정하는 양측 압착편(62a, 62b)으로 구성되며, 이 압착편(62a, 62b)의 구성은 위치되는 램프(10)의 각각에 대하여 또는 위치되는 단위 개수의 램프(10)에 대하여 선택적으로 제공되는 공압을 통해 압착 고정하거나 홀딩해제되는 구성으로 이루어진다.On the other hand, the holder 60 described above, as shown in Figure 6, both sides of the crimp that selectively compresses and secures the portions of the leads (28a, 28b) of the lamp 10 transferred by the first robot 54 Consisting of pieces 62a and 62b, the configuration of the crimping pieces 62a and 62b being via pneumatic pressure selectively provided for each of the lamps 10 to be positioned or for the number of lamps 10 to be positioned. It consists of a configuration that is crimped or held.
그리고, 상술한 홀더(60)의 구성은 각각의 램프(10)에 대응하여 각 리드(28a, 28b)에 전류를 인가하는 형식으로 제작하여 램프(10)의 불량 즉, 필라멘트가 없는 램프(10)를 선별하도록 하고, 또 선택적으로 홀딩해제하여 홀더(60) 외측에서 공기압을 제공하여 홀더(60)로부터 이탈시키도록 하는 별도의 제거수단을 구비하여 형성할 수도 있다.In addition, the above-described configuration of the holder 60 is manufactured in the form of applying a current to each of the leads 28a and 28b corresponding to the respective lamps 10, so that the lamps 10, i.e., the lamps 10 without filaments are not included. ), And may be provided with a separate removal means to selectively release the holding to provide a pneumatic pressure outside the holder 60 to be separated from the holder (60).
한편, 상술한 홀더(60)의 홀딩해제는, 제5도 또는 제6도에 도시된 바와 같이, 홀더(60)에 고정된 램프(10)에 대향하여 램프(10)의 머리부를 홀딩하는 핑거(64a, 64b)와 이 핑거(64a, 64b)의 하측으로 위치되는 리드(28a, 28b)의 벌려진 정도를 설정된 간격으로 조절하여 고정하도록 하는 지지부재(66a, 66b)가 구비된 제 2 로봇(68)이 위치됨에 따라 이루어진다.On the other hand, the holding release of the above-described holder 60, as shown in FIG. 5 or 6, the finger holding the head of the lamp 10 against the lamp 10 fixed to the holder 60 A second robot (64a, 64b) and a support member (66a, 66b) provided with support members (66a, 66b) for adjusting and fixing the spreading degree of the leads (28a, 28b) positioned below the fingers (64a, 64b) at predetermined intervals ( 68) is made as is located.
그리고, 제 2 로봇(68)은 홀더(60)로부터 램프(10)를 인계받아 위치되는 램프검사용 지그(32)의 요구되는 위치의 컨넥터(38) 상에 램프(10)의 리드(28a, 28b)가 삽입되는 형상으로 탑재시키고, 이러한 과정을 반복 수행하여 램프검사용 지그(32)에 요구되는 수량의 램프(10)가 탑재되면, 램프검사용 지그(32)는 이송부(70)에 의해 이송되고, 또 이송부(70)에 의해 다른 램프검사용 지그(32)가 위치됨에 따라 상술한 동작을 계속적으로 수행하게 된다.Then, the second robot 68 takes over the lamp 10 from the holder 60, and the lead 28a of the lamp 10 on the connector 38 at the required position of the lamp inspection jig 32 positioned. 28b) is mounted in the inserted shape, and if the lamp 10 of the required quantity is mounted in the lamp inspection jig 32 by repeating this process, the lamp inspection jig 32 is moved by the transfer unit 70. As the other lamp inspection jig 32 is positioned by the transfer unit 70, the above-described operation is continuously performed.
한편, 상술한 이송부(70)의 구성은, 제5도 또는 제7도에 도시된 바와 같이, 램프검사용 지그(32)의 양측 폭 길이에 대응하여 일정 간격으로 배치되고, 램프검사용 지그(32)의 이송 방향을 안내하도록 복수개가 연이어 설치된 형상의 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)이 구비되고, 이 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e) 사이의 길이 방향으로 위치되는 램프검사용 지그(32)를 요구되는 위치로 이송시키는 컨베이어 벨트(74)가 설치된다.On the other hand, as shown in FIG. 5 or FIG. 7, the structure of the transfer part 70 mentioned above is arrange | positioned at regular intervals corresponding to both width lengths of the lamp inspection jig 32, and the lamp inspection jig ( A plurality of rails 72a, 72b, 72c, 72d, 72e are provided in series to guide the conveying direction of 32, and are located in the longitudinal direction between the rails 72a, 72b, 72c, 72d, 72e. A conveyor belt 74 is installed for transferring the lamp inspection jig 32 to the required position.
또한, 상술한 바와 같이, 연이어 설치되는 복수개 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)은, 제5도에 도시된 바와 같이, 상호 마주보는 특정 부위에서 도체 또는 부도체 재질의 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)이 교번 설치되고, 도체의 재질로 설치된 양측레일(72a, 72b, 72c 72d, 72e)은 다시 소정 부위에 전원이 인가되는 전원선(94)과 연결되어 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)을 따라 안내되는 램프검사용 지그(32)의 도전판(42)과 접촉시 램프(10)에 설정된 전원을 인가하는 구성을 이룬다.In addition, as described above, the plurality of rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e that are successively installed, as shown in FIG. , 72c, 72d, 72e are alternately installed, and both rails 72a, 72b, 72c 72d, 72e, which are made of a material of a conductor, are connected to a power line 94 to which power is applied to a predetermined portion, and the rails 72a, When a contact with the conductive plate 42 of the lamp inspection jig 32 guided along 72b, 72c, 72d, 72e is applied, a configuration is applied to the lamp 10.
그리고, 이렇게 설치된 컨베이어 벨트(74)의 소정 위치에는, 제7도에 도시된 바와 같이, 컨베이어 벨트(74)의 구동에 따라 램프검사용 지그(32)의 이송 방향 뒤측 부위를 지지하여 밀어내도록 하는 걸림부재(76)가 구비되고, 상술한 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e) 사이의 소정 위치에는, 제5도에 도시된 바와 같이, 이송되는 램프검사용 지그(32)를 정위치시키도록 선택적으로 돌출되는 스토퍼(78)가 설치된다.Then, at a predetermined position of the conveyor belt 74 thus installed, as shown in FIG. 7, the rear side of the conveying direction of the lamp inspection jig 32 is driven and pushed out as the conveyor belt 74 is driven. A locking member 76 is provided, and at a predetermined position between the above-described rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e, as shown in FIG. A stopper 78 that protrudes selectively is installed.
한편, 검사부(80)의 구성은, 이송부(70)에 의해 위치된 램프검사용 지그(32) 상의 탑재된 단위 개수의 램프(10)를 선택적으로 홀딩하여 이송하는 제 3 로봇(82)이 설치되며, 이 제 3 로봇(82)의 홀딩수단은, 제8도 또는 제9도에 도시된 바와 같이, 위치된 각 램프(10)의 양측 리드(28a, 28b)에 전원 인가가 가능하도록 각각 분리하여 홀딩하는 단자핑거(84)로 구성된다.On the other hand, the configuration of the inspection unit 80 is provided with a third robot 82 for selectively holding and transporting the number of units of lamps 10 mounted on the lamp inspection jig 32 positioned by the transfer unit 70. The holding means of the third robot 82 is separated from each other so that power can be applied to both leads 28a and 28b of each lamp 10 located as shown in FIG. 8 or FIG. It is composed of a terminal finger 84 to hold.
그리고, 이러한 단자핑거(84)는 선택적으로 제공되는 공압에 의해 홀딩 또는 홀딩해제가 이루어지며, 램프(10)의 리드(28a, 28b) 부위를 홀딩함에 있어서, 리드(28a, 28b)를 통해 램프(10)에 전원을 인가하게 되고 동시에 인가된 전원에 대한 램프(10)의 전류값을 측정하게 된다.In addition, the terminal finger 84 is held or released by pneumatic pressure, which is selectively provided, and in holding the portions of the lids 28a and 28b of the lamp 10, the lamps through the leads 28a and 28b. The power is applied to the 10 and at the same time the current value of the lamp 10 with respect to the applied power is measured.
또한, 제 3 로봇(82)은 램프(10)의 측정된 정항값을 기준하여 전류값 등급에 대응하여 램프(10)를 수용하도록 복수개의 칸막이가 구비된 용기(86) 상측으로 램프(10)를 이송하게 되고, 이때 전류값 등급의 용기(86)에 대응하는 전류값을 갖는 램프(10)를 그 용기(86) 위치에서 떨어뜨려 투입함으로써 램프(10)는 그 전류값 등급으로 분리된다.Further, the third robot 82 is positioned above the container 86 provided with a plurality of partitions so as to receive the lamp 10 in response to the current value class based on the measured constant value of the lamp 10. In this case, the lamp 10 having a current value corresponding to the container 86 of the current value class is dropped from the position of the container 86, and the lamp 10 is separated into the current value class.
상술한 구성에 있어서, 탑재부(50)와 이송부(70) 및 검사부(80)의 각 구성은, 컨트롤러에 의해 제어되고, 또 각 구성 부위에는 램프검사용 지그(32) 및 램프(10)의 위치 및 상태 등을 감지하는 센서(도면의 단순화를 위하여 생략함)가 구비된다.In the above-described configuration, each configuration of the mounting section 50, the transfer section 70, and the inspection section 80 is controlled by a controller, and the positions of the lamp inspection jig 32 and the lamp 10 are located at each configuration site. And a sensor for detecting a state or the like (omitted for the sake of simplicity of the drawing).
한편, 이송부(70)의 일측 부위에는, 제5도에 도시된 바와 같이, 램프검사용 지그(32)를 순차적으로 공급하도록 하는 공급부(90)가 있고, 이송부의 다른 상대측 부위에는 이송된 램프검사용 지그(32)를 수거하는 수거부(92)가 설치되며, 이들 공급부(90)와 수거부(92)는 상술한 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)의 상측 또는 하측에 별도의 이송수단을 구비하여 리턴시키는 구성으로 형성될 수 있다.On the other hand, at one side of the transfer unit 70, as shown in FIG. 5, there is a supply unit 90 for sequentially supplying the lamp inspection jig 32, and the other side of the transfer unit is the lamp inspection A collecting part 92 for collecting the jig 32 is provided, and the supply part 90 and the collecting part 92 are separately provided above or below the rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e. It may be formed in a configuration having a conveying means to return.
그리고, 이러한 공급부(90)와 수거부(92)의 구성은, 램프검사용 지그(32)를 안내지지하는 레일(72a, 72e)과 컨베이어 벨트(74)에 대향하여 램프검사용 지그(32)를 인계받아 승·하강하는 구성 또는 램프검사용 지그(32)의 양측 측부에 대향하여 복수개의 슬롯을 갖는 회전체를 구비하는 형상으로 위치되는 램프검사용 지그(32)를 승·하강시키는 구성으로 제작할 수도 있다.The configuration of the supply unit 90 and the collection unit 92 is such that the lamp inspection jig 32 faces the rails 72a and 72e for supporting the lamp inspection jig 32 and the conveyor belt 74. And the ramp inspection jig 32, which is positioned in a shape having a rotating body having a plurality of slots opposite to both sides of the ramp inspection jig 32, by lifting or lowering the configuration. You can also make.
이러한 구성의 램프 검사시스템(30) 및 그 검사방법에 따른 동작 관계를 설명하면, 제5도에 도시된 환형 형상의 피더(52a)에 다수개의 램프(10)가 수용되고, 이렇게 수용된 램프(10)는 피더(52a) 내부에 설치된 진동자(도면의 단순화를 위하여 생략함)의 구동에 의해 피더(52a) 상에 형성된 나선 형상의 홈을 따라 리드(28a, 28b)의 방향이 일정하도록 점차적으로 안내 유도되어 연이어 설치된 직선 레일 형상의 다른 피더(52b)로 이송된다.Referring to the lamp inspection system 30 and the operation method according to the inspection method of this configuration, a plurality of lamps 10 are accommodated in the annular feeder 52a shown in FIG. ) Is gradually guided so that the directions of the leads 28a and 28b are constant along the spiral groove formed on the feeder 52a by the driving of an oscillator (omitted to simplify the drawing) installed inside the feeder 52a. It is guided and conveyed to another feeder 52b of the linear rail shape provided in succession.
이렇게 직선 형상의 피더(52b)로 이송된 램프(10)는 다시 직선 형상의 피더(52b)의 진동자의 구동에 의해 일측 부위에 램프(10)의 머리부 직경을 기준하여 점차적으로 일렬로 배치 된다.The lamps 10 transferred to the linear feeder 52b are gradually arranged in a line with respect to the head diameter of the lamp 10 at one side by driving the vibrator of the linear feeder 52b. .
이때 상술한 환형 또는 직선형의 피더(52a, 52b) 상의 소정 위치에는 램프(10)의 이동 및 배치 상태를 감지하는 복수개의 센서(도면의 단순화를 위하여 생략함)가 구비되고, 이 센서에 의한 신호는 컨트롤러로 전달되고, 컨트롤러는 인가된 신호를 통해 환형 또는 직선형의 피더(52a, 52b)의 구동을 제어하게 된다.At this time, the predetermined position on the annular or linear feeders 52a and 52b is provided with a plurality of sensors (omitted for the sake of simplicity of the drawing) for detecting the movement and arrangement of the lamp 10, and the signal by the sensor Is transmitted to the controller, and the controller controls the driving of the annular or linear feeders 52a and 52b through the applied signal.
한편, 직선형 피더(52b)의 일측 부위에 일렬 배치된 램프(10)는 리드(28a, 28b)가 일 방향으로 위치되고, 이들 램프(10)의 간격은 일정한 크기로 제작되는 램프(10)의 머리부가 이웃하여 밀착 위치됨에 따라 일정한 간격으로 배치된다.On the other hand, in the lamp 10 arranged in a line on one side of the linear feeder 52b, the leads 28a and 28b are positioned in one direction, and the intervals between these lamps 10 are of the lamp 10 manufactured to a constant size. The heads are arranged at regular intervals as they are in close contact with one another.
여기서, 램프(10)를 일정 간격으로 일렬 배치시키기 위한 수단으로 통상의 매거진을 설치하는 구성으로 제작될 수도 있다.Here, the lamp 10 may be manufactured in a configuration in which a normal magazine is installed as a means for arranging the lamps 10 at a predetermined interval.
한편, 직선형 피더(52b)의 일측 부위에는 램프(10)의 머리 부위를 홀딩하는 일정단위 개수의 핑거(56a, 56b)가 구비된 제 1 로봇(54)이 설치되며, 제 1 로봇(54)은 각각의 핑거(56a, 56b)가 대응 위치의 램프(10) 머리부를 홀딩한 상태에서 수직·수평 운동으로 이송하게 되고, 이때 수평 이동 과정에서 램프(10)의 이동 경로상에 설치된 돌기(58)의 상측 부위를 통과하게 된다.On the other hand, one side of the linear feeder 52b is provided with a first robot 54 provided with a predetermined number of fingers 56a and 56b for holding the head portion of the lamp 10, and the first robot 54. Each finger 56a, 56b is transferred in the vertical and horizontal motion while holding the head of the lamp 10 at the corresponding position. In this case, the projection 58 is installed on the movement path of the lamp 10 during the horizontal movement. It passes through the upper part of).
이때 돌기(58)는, 제6도에 도시된 바와 같이, 램프(10)의 리드(28a, 28b)를 일정 간격으로 벌리게 되고, 제 1 로봇(54)은 계속적으로 이동하여 리드(28a, 28b)가 벌려진 상태의 램프(10)를 위치된 홀더(60)에 인계하는 과정을 반복 수행하게 된다.At this time, the projection 58, as shown in Figure 6, open the leads 28a, 28b of the lamp 10 at regular intervals, the first robot 54 is continuously moved to lead 28a, 28b ) Is repeated to take over the lamp 10 in the open state to the holder 60 located.
한편, 상술한 홀더(60)는 제 1 로봇(54)으로부터 램프(10)의 벌려진 리드(28a, 28b) 부위를 압착하여 홀딩하는 형상으로 일시적으로 고정하게 되고, 이어 제 2 로봇(68)으로 램프(10)를 인계하게 된다.On the other hand, the above-described holder 60 is temporarily fixed in the shape of pressing and holding the open lead 28a, 28b portion of the lamp 10 from the first robot 54, and then to the second robot 68 The lamp 10 is taken over.
이러한 제 2 로봇(68)은 설치된 핑거(64a, 64b)를 통해 홀더(60)에 압착 고정된 각 램프(10)의 머리부를 홀딩함과 동시에 복수개의 걸림턱을 갖는 지지부재(66a, 66b)를 램프(10)의 리드 부위에 위치시켜 양측에서 소정 간격 압착하도록 함으로써 리드(28a, 28b) 사이의 간격을 일정하게 이루게 형성하도록 한 상태에서 수직·수평운동으로 위치되는 램프검사용 지그(32) 상으로 이송하게 된다.The second robot 68 holds the heads of the lamps 10 which are press-fixed to the holder 60 through the installed fingers 64a and 64b and at the same time support members 66a and 66b having a plurality of locking jaws. Is placed on the lead portion of the lamp 10 to be crimped at predetermined intervals on both sides, so that the gap between the leads 28a and 28b is formed uniformly, and thus the lamp inspection jig 32 positioned in the vertical and horizontal motions. To the bed.
또한, 제 2 로봇(68)에 의해 램프검사용 지그(32)의 상측에 위치된 램프(10) 리드(28a, 28b)의 각각의 단부는 각각 컨넥터(38)에 대향 위치된 상태를 이루게 되고, 이어 제 2 로봇(68)의 하강 운동으로 각각의 리드(28a, 28b)는 대향 위치되는 컨넥터(38)에 삽입되는 형상으로 탑재되며, 제 2 로봇(68)의 반복적인 동작 수행으로 램프검사용 지그(32) 상에 요구되는 수의 램프(10)가 탑재 완료되고, 이송부(70)는 이러한 램프검사용 지그(32)를 소정 위치로 이송하게 된다.In addition, each end of the lamp 10 lead 28a, 28b positioned above the lamp inspection jig 32 by the second robot 68 is in a state of being opposed to the connector 38, respectively. Subsequently, the leads 28a and 28b are mounted in the shape of being inserted into the connector 38 positioned opposite to each other by the downward motion of the second robot 68, and the lamp inspection is performed by repeatedly performing the second robot 68. FIG. The required number of lamps 10 are completed on the jig 32, and the transfer unit 70 transfers the lamp inspection jig 32 to a predetermined position.
여기서, 상술한 제 1 로봇(54)과 홀더(60)와 제 2 로봇(68) 및 이들 각 구성의 동작은 컨트롤러에 의해 제어되며, 그 제어수단으로는 타이머 또는 각 구성의 위치상태를 감지하는 센서 등을 이용할 수 있다.Here, the above-described operation of the first robot 54, the holder 60, the second robot 68 and each of these components is controlled by a controller, the control means for detecting the position state of the timer or each component Sensors and the like can be used.
한편, 상술한 바와 같이, 복수개의 램프(10)가 탑재된 램프검사용 지그(32)는 이송부(70)의 컨베이어 벨트(74)에 의해 각 부위의 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)을 따라 슬라이딩 이송된다.On the other hand, as described above, the lamp inspection jig 32 on which the plurality of lamps 10 are mounted is rail 72a, 72b, 72c, 72d, 72e of each part by the conveyor belt 74 of the transfer part 70. Sliding along the).
여기서, 상술한 램프검사용 지그(32)의 이송은 컨베이어 벨트(74)외에 램프검사용 지그(32)의 양측 부위를 지지하도록 하는 메시벨트가 설치된 롤러 구조 또는 다수개의 롤러(도면의 단순화를 위하여 생략함)라 연속 배치된 구조로 형성하여 이송토록 할 수도 있다.Here, the above-described transfer of the lamp inspection jig 32 is a roller structure or a plurality of rollers provided with a mesh belt for supporting both sides of the lamp inspection jig 32 in addition to the conveyor belt 74 (for simplicity of the drawing). It may be formed to have a structure arranged in series to be transported.
한편, 램프검사용 지그(32)가 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)을 따라 이송됨에 있어서, 제5도에 도시된 바와 같이, 전원선(94)과 연결된 도체의 레일(72b, 72d)을 통과하게 될 경우 램프검사용 지그(32)의 양측 부위에 구비된 도전판(42)이 레일(72b, 72d)과 접촉되어 발광하게 된다.On the other hand, as the lamp inspection jig 32 is transported along the rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e, as shown in FIG. 5, the rails 72b of the conductor connected to the power supply line 94, When passing through 72d), the conductive plates 42 provided on both sides of the lamp inspection jig 32 come into contact with the rails 72b and 72d to emit light.
이때 램프검사용 지그(32)가 상술한 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e) 중 탑재부 상의 레일(72a)에 연이어 근접 설치된 레일(72b)에는 전원선을 통해 정전압에 못미치는 저전압이 인가되어 이 부위를 통과하는 램프검사용 지그(32) 상의 램프(10)는 안정화시키기 위한 에이징 테스트를 거치게 된다.At this time, a low voltage that is less than a constant voltage is applied to the rail 72b which is installed adjacent to the rail 72a on the mounting portion among the rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e described above by the lamp inspection jig 32. Then, the lamp 10 on the lamp inspection jig 32 passing through this portion is subjected to an aging test for stabilization.
그리고, 이 레일(72b)에 연이어 설치되는 다른 레일(72c)은 부도체 재질로 제작되고, 이후 계속적으로 연결 설치되는 또 다른 레일(72d)은 소정 시간 정전압이 인가되는 전원선(94)과 연결되고, 이 레일(72d)를 통과하는 램프검사용 지그(32)는 정전압을 인가받아 램프(10)를 발광시킴으로써 안정화시키고, 동시에 작업자는 발광하지 않는 램프(10)를 색출하게 된다.Then, the other rail 72c which is installed in succession to the rail 72b is made of a non-conductive material, and then another rail 72d which is continuously connected and installed is connected to a power line 94 to which a constant voltage is applied for a predetermined time. Then, the lamp inspection jig 32 passing through the rail 72d is stabilized by applying a constant voltage to emit the lamp 10, and at the same time, the operator extracts the lamp 10 that does not emit light.
이러한 과정에서 램프검사용 지그(32)는 이송부(70) 상에 설치된 스토퍼(78)에 의해 레일(72a, 72b, 72c, 72d, 72e)의 소정 위치에서 선택적으로 멈춰진 상태로 있게 된다.In this process, the lamp inspection jig 32 is selectively stopped at predetermined positions of the rails 72a, 72b, 72c, 72d, and 72e by the stopper 78 installed on the transfer part 70.
한편, 상술한 과정을 통과한 램프검사용 지그(32)는 다시 이송부(70)에 의해 검사부(80)로 이송되고, 이때 검사부(80)로 이어지는 레일(72e) 사이의 스토퍼(78)에 의해 램프검사용 지그(32)를 정위치된다.On the other hand, the lamp inspection jig 32 that has passed through the above-described process is again transferred to the inspection unit 80 by the transfer unit 70, at this time by the stopper 78 between the rail 72e leading to the inspection unit 80 The lamp inspection jig 32 is fixed.
이때 검사부(80)의 제 3 로봇(82)은 램프(17)를 홀딩함에 있어서, 설치된 단자핑거(84)로 램프(10)의 양측 리드(28a, 28b)를 각각 분리하여 홀딩함과 동시에, 제9도에 도시된 바와 같이, 각각의 단자핑거(84)에 접속되는 리드(28a, 28b)로 전원을 인가하고, 이 전원이 인가되는 과정에서 램프(10)의 전류값을 확인하게 된다.At this time, the third robot 82 of the inspection unit 80 separates and holds both leads 28a and 28b of the lamp 10 with the terminal finger 84 installed in the holding of the lamp 17, and at the same time, As shown in FIG. 9, power is applied to the leads 28a and 28b connected to the respective terminal fingers 84, and the current value of the lamp 10 is checked in the process of applying the power.
그리고, 이렇게 단위 개수 램프(10)의 전류값을 측정하는 과정은 제 3 로봇(82)에 의한 각 램프(10)를 홀딩함과 동시에 설치된 용기(86)로 이송되는 과정에서 이루어진다.In addition, the process of measuring the current value of the unit number lamp 10 is performed in the process of being transferred to the container 86 installed at the same time holding each lamp 10 by the third robot (82).
이후, 제 3 로봇(82)은 홀딩된 단위 개수의 램프(10)를 복수개 칸막이(88)로 분리된 용기(86)로 이송하게 되며, 이때 각 전류값에 대응하는 각 용기(86) 부위에서 각각의 단자핑거(84)는 컨트롤러에 제어되어 램프(10)를 선택적으로 홀딩해제함으로써 램프(10)를 그 전류값에 대응하는 용기(86) 부위에 투입하게 된다.Thereafter, the third robot 82 transfers the held unit number of lamps 10 to the containers 86 separated by the plurality of partitions 88, and at each container 86 corresponding to each current value. Each terminal finger 84 is controlled by a controller to selectively release the lamp 10 to inject the lamp 10 into a portion of the container 86 corresponding to the current value.
따라서, 본 발명에 의하면, 램프를 지그에 설치하는 과정과 안정화시키는 과정 및 램프의 정상 유무를 검사하는 과정을 램프 검사시스템을 통해 단순화 및 자동화에 따라 순차적으로 수행하도록 하여 작업자의 노동력이 감소되고, 작업 효율이 높아지는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, the process of installing the lamp in the jig, stabilizing the process and the inspection of the normal lamp is carried out sequentially through the lamp inspection system according to the simplified and automated to reduce the labor of the worker, The work efficiency is increased.
또한, 작업 시간을 단축되어 생산성과 경제성이 높고, 협소한 작업 공간에서도 작업이 가능하여 작업 공간의 활용도가 높으며, 정확한 검사에 의해 제작되는 램프의 신뢰도가 높아지는 이점이 있다.In addition, there is an advantage that the work time is shortened, productivity and economy are high, the work can be performed in a narrow work space, and thus the utilization of the work space is high, and the reliability of the lamp manufactured by accurate inspection is increased.
또한, 정상적으로 제작된 램프의 수량 파악 및 램프의 품질에 대한 각종 데이터를 산출하기가 용이하고, 램프의 리드 형상이 굽어지거나 굴곡되는 등의 손상 또는 파손이 방지되어 램프의 포장 또는 후속 공정으로의 전환이 용이하게 실시될 수 있는 효과가 있다.In addition, it is easy to grasp the quantity of lamps normally manufactured and to calculate various data on the quality of the lamps, and to prevent damage or breakage such as bending or bending of the lead shape of the lamps, thereby switching to the packaging or the subsequent process of the lamps. There is an effect that can be easily implemented.
이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to the described embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the technical scope of the present invention, and such modifications and modifications are within the scope of the appended claims.
Claims (8)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980013941A KR100281480B1 (en) | 1998-04-18 | 1998-04-18 | Lamp inspection system and its inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980013941A KR100281480B1 (en) | 1998-04-18 | 1998-04-18 | Lamp inspection system and its inspection method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990080582A KR19990080582A (en) | 1999-11-15 |
| KR100281480B1 true KR100281480B1 (en) | 2001-02-01 |
Family
ID=65891035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019980013941A KR100281480B1 (en) | 1998-04-18 | 1998-04-18 | Lamp inspection system and its inspection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100281480B1 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101020489B1 (en) | 2010-03-22 | 2011-03-09 | 엘지이노텍 주식회사 | Apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
| US8670112B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-03-11 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus for testing light emitting diode lamp and method for operating the same |
| US8705023B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-04-22 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100664902B1 (en) * | 2004-08-20 | 2007-01-04 | 주식회사 디에스엘시디 | Test Jig for Lamp |
| KR100799502B1 (en) * | 2007-02-06 | 2008-01-31 | 이현석 | In cellular phone case painting machine, jig automatic removal chapter |
| KR101106711B1 (en) * | 2010-01-29 | 2012-01-18 | (주)에이피텍 | LED testing and taping apparatus |
| KR101527896B1 (en) * | 2014-06-17 | 2015-06-10 | (주) 대하전선 | width adjusting apparatus of harness inspecting apparatus |
| KR102007782B1 (en) * | 2019-06-12 | 2019-08-06 | 장영환 | Inspection device of LED bulb |
-
1998
- 1998-04-18 KR KR1019980013941A patent/KR100281480B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101020489B1 (en) | 2010-03-22 | 2011-03-09 | 엘지이노텍 주식회사 | Apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
| US8670112B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-03-11 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus for testing light emitting diode lamp and method for operating the same |
| US8705023B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-04-22 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19990080582A (en) | 1999-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100673138B1 (en) | Testing system for solar cells | |
| KR100281480B1 (en) | Lamp inspection system and its inspection method | |
| KR100232260B1 (en) | Test socket and apparatus for testing module using the same | |
| JPH0498167A (en) | Ic test device | |
| CN216646712U (en) | Automatic testing device for transformer | |
| US5800205A (en) | Contact mechanism for IC testing | |
| US5590576A (en) | Feed assembly for connector termination apparatus | |
| KR100305683B1 (en) | Burn-in board for bwrn-in test | |
| US5333376A (en) | Cable harness connector termination and testing apparatus | |
| KR0161834B1 (en) | Absorption nozzle exchange apparatus for surface mounting device head | |
| EP1637892B1 (en) | Electronic component handling device, and method for temperature application in electronic component handling device | |
| CN211740566U (en) | Pixel detection system | |
| CN114636915B (en) | Chip-level burn-in test system and method for edge-emitting laser | |
| JPH11160376A (en) | Electronic-component conveyance jig and automatic-electronic-component measuring and sorting apparatus using the jig | |
| KR0177341B1 (en) | Module ic holding apparatus for module ic tester | |
| KR0144597B1 (en) | Trasporting device for dry cell | |
| JPH06281698A (en) | Ic automatic handling method | |
| KR100225898B1 (en) | Voltage tester of battery automatic packing apparatus | |
| JPH0345914B2 (en) | ||
| JPS6240434Y2 (en) | ||
| KR100553991B1 (en) | Device loading unit for test handler | |
| JPH01131469A (en) | Heating system for ic | |
| KR100251510B1 (en) | Floor device of solder ball bumping system of bga semiconductor package | |
| JPH04206923A (en) | Electric characteristic test of electronic component and forming and taping thereof | |
| KR19980083855A (en) | Transfer rail of handler for semiconductor chip package test |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121120 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131119 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141030 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150907 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161010 Year of fee payment: 17 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171103 Year of fee payment: 18 |
|
| EXPY | Expiration of term |