KR100264785B1 - ATM random cell generation and test device - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for generating and testing ATM(Asynchronous Transfer Mode) random cells is provided to generate the test ATM cells and to feed back the ATM cells, in a line interface module, so as to perform the testing at low cost, regardless of an ATM cell speed. CONSTITUTION: A utopian interface unit(71) interfaces an ATM(Asynchronous Transfer Mode) cell switch with ATM cells through a utopian interface. A cell monitor(72) monitors a state of cell interfaced with a physical layer converter(73), and checks a state of a test cell and outputs a state result value to a monitor. A function selector(74) selects a normal operation state and a test function, according to a user function selection. If the test function is selected, a test cell generator(75) generates the test cell for checking a line interface module state. If the test function is selected, a cell output controller(76) interrupts a normal cell output of the cell monitor(72), and transmits the test cell to the physical layer converter(73). The physical layer converter(73) transmits cells outputted from the cell monitor(72) to a user, under control of the cell output controller(76). The physical layer converter(73) feeds back the test cell and transmits the test cell to the cell monitor(72).

Description

에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치ATM random cell generation and test device

본 발명은 에이티엠(ATM : Asynchronous Transfer Mode) 셀(Cell) 시험에 관한 것으로, 특히 라인 인터페이스 모듈(Line Interface Module) 자체에서 시험용 ATM 셀을 발생하고 이를 다시 라인 인터페이스 모듈에서 피이드백하여 ATM 셀의 시험이 가능토록 한 ATM 랜덤 셀 발생 및 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to an Asynchronous Transfer Mode (ATM) cell test, and in particular, generates a test ATM cell in the Line Interface Module itself and feeds it back to the Line Interface Module to The present invention relates to an ATM random cell generation and testing apparatus for testing.

일반적으로, ATM 기술을 적용한 개발 보드를 만들었을 경우 그 기능을 시험하기 위해서는 별도의 시험 장비를 이용한다.In general, when a development board using ATM technology is made, separate test equipment is used to test the function.

즉, 시험장비는 ATM 셀을 발생시킨 후 개발 보드로 전달해주게 되고, 개발보드는 입력된 ATM 셀을 처리한 후 다시 시험장비로 처리된 ATM 셀을 전달해준다. 시험장비는 피이드백 받은 ATM셀과 이전에 개발 보드로 전송해준 ATM 셀을 상호 비교하여 그 동일성 여부로 개발 보드의 정상 여부를 확인하게 되고, 그 결과치를 모니터링해주어 검사자가 해당 개발보드의 이상 유무를 인지하도록 한다.That is, the test equipment generates an ATM cell and delivers it to the development board. The development board processes the input ATM cell and then delivers the processed ATM cell to the test equipment. The test equipment compares the ATM cell received feedback with the ATM cell previously sent to the development board to check whether the development board is normal by its identity, and monitors the result so that the inspector can check whether the development board is abnormal. Be aware.

이하에서는 상기와 같은 ATM 셀 시험을 위한 종래 ATM 셀 검사장치의 동작을 설명한다.Hereinafter will be described the operation of the conventional ATM cell tester for the ATM cell test as described above.

첨부한 도면 도1은 일반적인 ATM 교환기의 개략 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of a general ATM switch.

이에 도시된 바와 같이, 외부 사용자(PC, W/S(워크스테이션))와 ATM 셀을 인터페이스하기 위한 제1 및 제2 라인 인터페이스 모듈부(10)(40)와, 상기 제1 및 제2 라인 인터페이스 모듈부(10)(40)내의 상호 데이터를 스위칭 해주기 위한 ATM 셀 스위칭부(20)와, 상기 ATM 셀 스위칭부(20)의 셀 스위칭을 제어하며, 시스템 전체 동작을 콘트롤하는 콘트롤러(30)로 구성되었다.As shown therein, first and second line interface module units 10 and 40 for interfacing ATM cells with external users (PCs, W / S (workstations)), and the first and second lines. An ATM cell switching unit 20 for switching mutual data in the interface module unit 10 and 40, and a controller 30 for controlling cell switching of the ATM cell switching unit 20 and controlling overall system operation. It consisted of

이와 같이 구성된 일반적인 ATM 교환기는, 먼저, 제1 라인 인터페이스 모듈부(10)내의 제1라인 인터페이스 모듈(11)에 사용자의 PC 또는 W/S가 접속되고, 사용자가 ATM 셀을 송출하면, ATM 셀 스위칭부(20)는 콘트롤러(30)의 제어에 따라 전송된 ATM 셀의 수신 위치를 확인하고 해당 수신자가 이를 수신할 수 있도록 수신자에 대응하는 제2라인 인터페이스 모듈부(40)로 ATM 셀을 스위칭 하여 전달해준다. 상기 제2라인 인터페이스 모듈부(40)내의 제1'라인 인터페이스 모듈(41)(수신자에 대응하는 라인 인터페이스 모듈이라고 가정한 경우)은 전달된 ATM 셀을 접속된 사용자(수신자)의 PC 또는 워크스테이션에 인터페이스 해준다.In the general ATM exchanger configured as described above, the user's PC or W / S is connected to the first line interface module 11 in the first line interface module unit 10, and the user sends an ATM cell. The switching unit 20 checks the reception position of the transmitted ATM cell under the control of the controller 30 and switches the ATM cell to the second line interface module unit 40 corresponding to the receiver so that the corresponding receiver can receive it. To deliver. The first line interface module 41 in the second line interface module unit 40 (assuming a line interface module corresponding to the receiver) transmits the transferred ATM cell to a PC or workstation of a connected user (receiver). Interface to.

마찬가지로, 상기 사용자(수신자)가 전송한 ATM 셀은 상기와는 역의 과정, 즉 제1'라인 인터페이스 모듈(41), ATM 셀 스위칭부(20), 제1 라인 인터페이스 모듈(11)을 순차 통해 상대방 사용자(PC 또는 W/S)에게 전달되어진다.Similarly, the ATM cell transmitted by the user (receiver) is reversed from the above process, that is, through the first line interface module 41, the ATM cell switching unit 20, and the first line interface module 11. It is delivered to the other user (PC or W / S).

이러한 동작을 하는 일반적인 ATM 교환기에 있어서, 새로운 라인 인터페이스 모듈이 개발되면 이를 시험해야하는데, 첨부한 도면 도2는 상기와 같이 새롭게 개발된 라인 인터페이스 모듈을 시험하기 위한 종래의 ATM 셀 시험장치 구성도이다.In a general ATM switch that performs this operation, a new line interface module should be tested when it is developed. FIG. 2 is a block diagram of a conventional ATM cell test apparatus for testing a newly developed line interface module. .

이에 도시된 바와 같이, ATM 셀을 인터페이스하기 위한 제1 및 제1' 라인 인터페이스 모듈(11)(41)과, 상기 제1 및 제1' 라인 인터페이스 모듈(11)(41)의 상호 ATM 셀을 스위칭 해주는 ATM 셀 스위칭부(20)와, 상기 ATM 셀 스위칭부(20)의 ATM 셀을 제어하고, 시스템 전체 동작을 콘트롤하는 콘트롤러(30)와, 상기 제1' 라인 인터페이스 모듈(41)과 연결되어 제1'라인 인터페이스 모듈(41)의 상태를 검사하기 위한 시험 장비(60)로 구성된다.As shown here, mutual ATM cells of the first and first 'line interface modules 11 and 41 and the first and first' line interface modules 11 and 41 for interfacing the ATM cells are shown. An ATM cell switching unit 20 for switching, a controller 30 for controlling the ATM cell of the ATM cell switching unit 20, and controlling the overall operation of the system, and connected to the first 'line interface module 41. And the test equipment 60 for checking the state of the first 'line interface module 41.

이와 같이 구성된 종래 ATM 교환기의 라인 인터페이스 모듈 시험장치의 동작은 다음과 같다.The operation of the line interface module test apparatus of the conventional ATM switch configured as described above is as follows.

먼저, 시험 장비(60)는 제1'라인 인터페이스 모듈(41)(새로 개발된 라인 인터페이스 모듈이라고 가정함)의 상태를 시험하기 위해서 자체적으로 생성한 ATM 셀을 발생한 후 광케이블(61)을 통해 제1'라인 인터페이스 모듈(41)에 ATM 셀을 전달해준다.First, the test equipment 60 generates an ATM cell generated by itself to test the state of the first 'line interface module 41 (assuming a newly developed line interface module), and then, The ATM cell is delivered to the 1 'line interface module 41.

상기 제1'라인 인터페이스 모듈(41)은 전달된 광 ATM 셀을 전기적인 신호로 변환을 한 후 내부 신호선을 통해 ATM 셀 스위칭부(20)에 전달해주게 되고, ATM 셀 스위칭부(20)는 콘트롤러(30)의 제어에 의해 입력된 ATM 셀을 스위칭 해준다.The first 'line interface module 41 converts the transmitted optical ATM cell into an electrical signal and then transmits the converted optical ATM cell to the ATM cell switching unit 20 through an internal signal line, and the ATM cell switching unit 20 is a controller. Switching the input ATM cell by the control of (30).

이렇게 스위칭된 ATM 셀은 다시 제1'라인 인터페이스 모듈(41)에 전달되고, 제1'라인 인터페이스 모듈(41)은 이를 광신호로 변환을 하여 광 케이블(62)을 통해 다시 시험 장치(60)에 전달해준다.The ATM cell thus switched is delivered to the first 'line interface module 41 again, and the first' line interface module 41 converts it into an optical signal, and then again the test apparatus 60 through the optical cable 62. Pass it on.

시험 장비(60)는 자신이 최초에 송신한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 그 결과치를 자체 모니터(도면에는 미도시)에 모니터링해주어 검사자가 새로 개발된 보드의 상태를 체크하도록 한다.The test equipment 60 compares the data transmitted first with the received data and monitors the result on its own monitor (not shown) to allow the inspector to check the state of the newly developed board.

첨부한 도면 도3은 도2의 제1'라인 인터페이스 모듈(41)의 내부 구성도이다.3 is a diagram illustrating an internal configuration of the first line interface module 41 of FIG. 2.

여기서, 참조번호 41a는 ATM 셀 스위칭부(20)와 연결되고 유토피아 인터페이스를 통해 ATM 셀을 상호 인터페이스 하는 유토피아 인터페이스부이며, 41b는 유토피아 인터페이스부(41a) 및 물리계층 변환부(41c)에서 상호 송, 수신되는 ATM 셀의 상태를 감시하여 그 결과치를 모니터(50)에 전달해주는 셀 감시부이며, 41c는 사용자(PC 또는 W/S)와 접속되어 ATM 셀의 인터페이스를 담당하는 물리계층 변환부이다.Here, reference numeral 41a is a utopia interface unit which is connected to the ATM cell switching unit 20 and mutually interfaces ATM cells through a utopia interface, and 41b is a mutual transmission in the utopia interface unit 41a and the physical layer conversion unit 41c. Is a cell monitoring unit that monitors the state of a received ATM cell and delivers the result to the monitor 50. 41c is a physical layer conversion unit that is connected to a user (PC or W / S) and is in charge of the interface of an ATM cell. .

이러한 구성을 갖는 라인 인터페이스 모듈은 시험장비(60)에서 전송된 시험용 광 ATM 셀을 물리계층 변환부(41c)에서 전기적인 신호로 변환을 하여 셀 감시부(41b)에 전달해주게 되고, 셀 감시부(41b)는 셀 상태를 체크한 후 유토피아 인터페이스부(41a)에 시험 셀을 전달해준다. 유토피아 인터페이스부(41a)는 유토피아 인터페이스를 통해 시험 셀을 ATM 셀 스위칭부(20)에 전달해주게 되고, 상기 유토피아 인터페이스부(41a)는 ATM 셀 스위칭부(20)에서 스위칭된 시험 ATM 셀을 다시 셀 감시부(41b)에 전달해준다. 셀 감시부(41b)는 시험 셀의 상태를 체크한 후 물리계층 변환부(41c)에 시험 셀을 전달해주게 되고, 물리계층 변환부(41c)는 이를 광 데이터로 변환을 한 후 광 케이블을 통해 시험 장비에 전달해주게 된다.The line interface module having such a configuration converts the test optical ATM cell transmitted from the test equipment 60 into an electrical signal in the physical layer converter 41c and transmits the electrical signal to the cell monitor 41b. 41b transmits the test cell to the utopia interface unit 41a after checking the cell state. The utopia interface unit 41a transfers the test cell to the ATM cell switching unit 20 through the utopia interface, and the utopia interface unit 41a retransmits the test ATM cell switched by the ATM cell switching unit 20 again. It delivers to the monitoring part 41b. The cell monitoring unit 41b checks the state of the test cell and transfers the test cell to the physical layer converting unit 41c. The physical layer converting unit 41c converts the data into optical data and then, via the optical cable. To the test equipment.

그러나 이러한 종래의 ATM 셀 시험장치는, 라인 인터페이스 모듈 내에서 자체적으로 ATM 셀을 생성하는 기능이 구현되어 있지 않아 보드가 새로 개발된 경우 보드 시험을 위해서는 고가인 시험장비를 별도로 이용하여 개발된 보드를 테스트해야 하므로, 보드 테스트가 복잡할 뿐만 아니라 고가인 시험장비의 사용으로 비용도 많이 소요되는 문제점이 있었다.However, such a conventional ATM cell test apparatus does not have a function of generating an ATM cell in its own line interface module. Therefore, when a board is newly developed, a board developed by using an expensive test equipment is separately used for board testing. Since it is necessary to test, the board test is not only complicated, but also has a problem of being expensive due to the use of expensive test equipment.

또한, 시험장비와 라인 인터페이스 모듈간의 신호 송, 수신 방식이 광 신호 방식이 아닌 경우에는 시험장비와 라인 인터페이스 모듈간의 데이터 인터페이스를 위해서 별도의 장비가 필요한 단점도 있었다.In addition, when the signal transmission and reception method between the test equipment and the line interface module is not an optical signal method, a separate device is required for the data interface between the test equipment and the line interface module.

이에 본 발명은 상기와 같은 종래 ATM 교환기의 시험 장치에서 발생되는 제반 문제점을 해결하기 위해서 제안된 것으로서,Accordingly, the present invention has been proposed to solve various problems occurring in the test apparatus of the conventional ATM switch as described above.

본 발명은 라인 인터페이스 모듈(Line Interface Module) 자체에서 시험용 ATM 셀을 발생하고 이를 다시 라인 인터페이스 모듈에서 피이드백 하여 ATM 셀의 시험이 가능토록 한 ATM 랜덤 셀 발생 및 시험장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an ATM random cell generation and test apparatus capable of testing an ATM cell by generating a test ATM cell in a line interface module itself and feeding it back to a line interface module. have.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 장치는,Apparatus according to the present invention for achieving the above object,

유토피아 인터페이스를 통해 ATM 셀 스위칭부와 ATM 셀을 상호 인터페이스 하는 유토피아 인터페이스부와;A utopia interface unit for interfacing the ATM cell switching unit and the ATM cell through the utopia interface;

상기 유토피아 인터페이스부 및 사용자와 접속된 물리계층 변환부와의 상호 인터페이스 되는 셀의 상태를 감시하며 시험 셀의 상태를 체크하여 그 결과치를 모니터에 출력해주는 셀 감시부와;A cell monitoring unit for monitoring a state of a cell interfaced with the utopian interface unit and a physical layer conversion unit connected to a user, and checking a state of a test cell and outputting a result value to a monitor;

사용자의 기능 선택에 따라 정상 동작 상태와 시험 기능을 선택해주는 기능 선택부와;A function selection unit for selecting a normal operation state and a test function according to a user's function selection;

상기 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되면 라인 인터페이스 모듈의 상태를 체크하기 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생부와;A test cell generator for generating a test cell for checking a state of a line interface module when a test function is selected in the function selector;

상기 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되면 상기 셀 감시부의 정상적인 셀 출력을 차단하고 상기 시험 셀 발생부에서 생성된 시험셀을 상기 물리계층 변환부에 전달해주는 셀 출력 제어부와;A cell output control unit for blocking a normal cell output of the cell monitoring unit and transferring a test cell generated by the test cell generator to the physical layer converting unit when a test function is selected by the function selecting unit;

상기 셀 출력 제어부의 제어에 따라 상기 셀 감시부에서 출력되는 셀은 사용자 측에 전달해주고, 상기 셀 출력 제어부에서 발생되는 시험 셀은 피이드백 하여 상기 셀 감시부에 전달해주는 물리계층 변환부로 이루어짐을 특징으로 한다.Under the control of the cell output control unit, the cell output from the cell monitoring unit is delivered to the user side, and the test cell generated from the cell output control unit is made up of a physical layer conversion unit for feeding back to the cell monitoring unit. It is done.

상기에서 시험 셀 발생부는, 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되었다는 신호를 전달받으면 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호를 발생하는 유토피아 처리부와;The test cell generation unit may include: a utopia processing unit generating an enable signal for generating a test cell when a function selection unit receives a signal that a test function is selected;

상기 유토피아 처리부에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 시험을 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생기와;A test cell generator for generating a test cell for a test when an enable signal for generating a test cell is driven in the utopia processor;

상기 유토피아 처리부에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 입력되는 클록을 카운팅 하여 상기 시험 셀 발생기에서 발생되는 데이터의 개수를 인지하고 그 결과 ATM 셀을 이루는 데이터의 개수가 되면 상기 유토피아 처리부에 이를 알림과 동시에 셀 데이터의 처음과 헤더 데이터를 알려주는 신호를 발생하는 카운터와;When the enable signal for generating a test cell is driven in the utopia processor, the input clock is counted to recognize the number of data generated by the test cell generator. A counter for generating a signal for notifying the beginning of the cell data and the header data simultaneously with the notification;

상기 카운터에서 발생되는 헤더 데이터를 알려주는 신호와 상기 셀 발생부에서 발생되는 시험 셀을 멀티플렉싱하여 시험 셀로 상기 출력 제어부에 전달해주는 멀티플렉서로 이루어짐을 특징으로 한다.And a multiplexer which multiplexes a signal indicating the header data generated by the counter and a test cell generated by the cell generator and transmits the test cell to the output control unit as a test cell.

도1은 일반적인 ATM 교환기의 개략 구성도,1 is a schematic configuration diagram of a general ATM switch;

도2는 종래 ATM 셀 시험장치 블록 구성도,2 is a block diagram of a conventional ATM cell test apparatus;

도3은 도2중 하나의 라인 인터페이스 모듈의 상세 구성도,3 is a detailed configuration diagram of one line interface module of FIG. 2;

도4는 본 발명에 의한 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치의 개략 구성도,4 is a schematic configuration diagram of an ATM random cell generation and test apparatus according to the present invention;

도5는 본 발명에 의한 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치 블록 구성도,5 is a block diagram of the AT random number generation and test apparatus according to the present invention;

도6은 도5의 시험 셀 발생부 상세 구성도.6 is a detailed configuration diagram of the test cell generator of FIG. 5;

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

71:유토피아 인터페이스부 72:셀 감시부71: Utopia interface unit 72: Cell monitoring unit

73:물리계층 변환부 74:기능 선택부73: physical layer conversion unit 74: function selection unit

75:시험 셀 발생부 76:셀 출력 제어부75: test cell generating unit 76: cell output control unit

75a:유토피아 처리부 75b:카운터75a: Utopia processing unit 75b: counter

75c:시험 셀 발생기 75d:멀티플렉서75c: test cell generator 75d: multiplexer

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention will be described in detail.

첨부한 도면 도4는 본 발명에 의한 ATM 교환기의 ATM 랜덤 셀 발생 및 시험장치 개략 구성도이다.4 is a schematic configuration diagram of an ATM random cell generation and test apparatus of an ATM switch system according to the present invention.

이에 도시된 바와 같이, 사용자와 접속되고 유토피아 인터페이스를 통해 ATM 셀을 인터페이스 하는 제1라인 인터페이스 모듈(11)과, 상기 제1라인 인터페이스 모듈(11)과 제1'라인 인터페이스 모듈(70)간의 상호 데이터를 스위칭 해주는 ATM 셀 스위칭부(20)와, 상기 ATM 셀 스위칭부(20)의 ATM 셀 스위칭을 제어하는 콘트롤러(30)와, 상기 ATM 셀 스위칭부(20)에서 전송된 ATM 셀은 유토피아 인터페이스를 통해 사용자 측에 전달해주고, 자체적으로 발생한 시험 셀은 피이드백 케이블(80)을 통해 피이드백 하여 처리한 후 그 결과치를 모니터(50)로 전달해주는 제1'라인 인터페이스 모듈(70)로 구성된다.As shown therein, a first line interface module 11 connected to a user and interfacing an ATM cell through a utopia interface, and a mutual connection between the first line interface module 11 and the first 'line interface module 70. The ATM cell switching unit 20 for switching data, the controller 30 for controlling the ATM cell switching of the ATM cell switching unit 20, and the ATM cell transmitted from the ATM cell switching unit 20 are Utopian interfaces. It is delivered to the user side through, and the test cell generated by itself is composed of the first 'line interface module 70 to feed back through the feedback cable 80, process and deliver the result to the monitor 50 .

이와 같이 구성된 본 발명에 의한 ATM 교환기의 ATM 랜덤 셀 발생 및 시험장치는, 먼저 제1라인 인터페이스 모듈(11)을 통해 사용자의 ATM 셀이 입력된 경우 ATM 셀 스위칭부(20)는 콘트롤러(30)의 제어에 따라 상대방 가입자 측으로 스위칭 해준다. 이렇게 스위칭된 셀은 제1'라인 인터페이스 모듈(70)을 통해 가입자 측으로 전달된다.In the ATM random cell generation and test apparatus of the ATM switch system according to the present invention configured as described above, when the user's ATM cell is input through the first line interface module 11, the ATM cell switching unit 20 is the controller 30. Switch to the other subscriber's side according to the control. This switched cell is delivered to the subscriber side through the first 'line interface module 70.

아울러 가입자 측으로부터 전송된 ATM 셀은 제1'라인 인터페이스 모듈(70)을 통해 ATM 셀 스위칭부(20)에 전달되고, 상기 ATM 셀 스위칭부(20)는 상기 콘트롤러(30)의 제어에 의해 ATM 셀을 스위칭 한다.In addition, the ATM cell transmitted from the subscriber side is transferred to the ATM cell switching unit 20 through the first 'line interface module 70, and the ATM cell switching unit 20 is controlled by the controller 30. Switch the cell.

이렇게 스위칭된 ATM 셀은 제1라인 인터페이스 모듈(11)을 통해 사용자에게 인터페이스 된다.The switched ATM cells are interfaced to the user through the first line interface module 11.

한편, 제1'라인 인터페이스 모듈(80)은 보드 시험시 자체적으로 시험용 ATM 셀을 발생하고, 이를 출력한 후 피이드백 케이블(80)을 통해 다시 보드로 피이드백 받는다.On the other hand, the first 'line interface module 80 generates a test ATM cell itself during the board test, and after outputting it, is fed back to the board through the feedback cable 80.

이렇게 피이드백된 시험용 ATM 셀은 제1'라인 인터페이스 모듈(70)에서 처리된 후 그 결과치가 모니터(50)에 모니터링되어 개발된 보드(여기서는 제1'라인 인터페이스 모듈을 칭함)의 기능 상태를 체크하도록 한다.The fed back test ATM cell is processed in the first'line interface module 70 and the result is monitored by the monitor 50 to check the functional state of the developed board (herein referred to as the first'line interface module). Do it.

이하에서는 실제 ATM 셀의 발생과정과 그 발생된 ATM 셀의 시험장치를 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, a process of generating an actual ATM cell and a test apparatus of the generated ATM cell will be described in more detail.

첨부한 도면 도5는 본 발명에 의한 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치 블록 구성도이다.5 is a block diagram of an ATM random cell generation and test apparatus according to the present invention.

이에 도시된 바와 같이, 유토피아 인터페이스를 통해 ATM 셀 스위칭부와 ATM 셀을 상호 인터페이스 하는 유토피아 인터페이스부(71)와; 상기 유토피아 인터페이스부(71) 및 사용자와 접속된 물리계층 변환부(73)와의 상호 인터페이스 되는 셀의 상태를 감시하며 시험 셀의 상태를 체크하여 그 결과치를 모니터(50)에 출력해주는 셀 감시부(72)와; 사용자의 기능 선택에 따라 정상 동작 상태와 시험 기능을 선택해주는 기능 선택부(74)와; 상기 기능 선택부(74)에서 시험 기능이 선택되면 라인 인터페이스 모듈의 상태를 체크하기 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생부(75)와; 상기 기능 선택부(74)에서 시험 기능이 선택되면 상기 셀 감시부(72)의 정상적인 셀 출력을 차단하고 상기 시험 셀 발생부(75)에서 생성된 시험셀을 상기 물리계층 변환부(73)에 전달해주는 셀 출력 제어부(76)와; 상기 셀 출력 제어부(76)의 제어에 따라 상기 셀 감시부(72)에서 출력되는 셀은 사용자 측에 전달해주고, 상기 셀 출력 제어부(76)에서 발생되는 시험 셀은 피이드백 하여 상기 셀 감시부(72)에 전달해주는 물리계층 변환부(73)로 구성된다.As shown therein, a utopian interface unit 71 for interfacing an ATM cell switching unit and an ATM cell through a utopia interface; The cell monitoring unit monitors the state of the cell interfaced with the utopia interface unit 71 and the physical layer conversion unit 73 connected to the user, and checks the state of the test cell and outputs the result to the monitor 50. 72); A function selection unit 74 for selecting a normal operation state and a test function according to a user's function selection; A test cell generator 75 for generating a test cell for checking a state of a line interface module when a test function is selected by the function selector 74; When the test function is selected by the function selector 74, the cell output of the cell monitoring unit 72 is blocked and the test cell generated by the test cell generator 75 is transferred to the physical layer converter 73. A cell output controller 76 for transmitting; The cell output from the cell monitoring unit 72 is transferred to the user side under the control of the cell output control unit 76, and the test cell generated from the cell output control unit 76 is fed back to the cell monitoring unit ( 72 is composed of a physical layer transform unit 73 to be delivered to.

상기에서 시험 셀 발생부(75)는, 상기 기능 선택부(74)에서 시험 기능이 선택되었다는 신호를 전달받으면 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호를 발생하는 유토피아 처리부(75a)와; 상기 유토피아 처리부(75a)에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 시험을 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생기(75c)와; 상기 유토피아 처리부(75a)에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 입력되는 클록을 카운팅 하여 상기 시험 셀 발생기(75c)에서 발생되는 데이터의 개수를 인지하고 그 결과 ATM 셀을 이루는 데이터의 개수가 되면 상기 유토피아 처리부(75a)에 이를 알림과 동시에 셀 데이터의 처음과 헤더 데이터를 알려주는 신호를 발생하는 카운터(75b)와; 상기 카운터(75b)에서 발생되는 헤더 데이터를 알려주는 신호와 상기 시험 셀 발생기(75c)에서 발생되는 시험 셀을 멀티플렉싱하여 시험 셀로 상기 출력 제어부(76)에 전달해주는 멀티플렉서(75d)로 구성된다.The test cell generator 75 may include: a utopia processor 75a for generating an enable signal for test cell generation when the function selector 74 receives a signal indicating that a test function is selected; A test cell generator 75c for generating a test cell for a test when an enable signal for generating a test cell is driven in the utopia processor 75a; When the enable signal for generating a test cell is driven by the utopia processing unit 75a, the input clock is counted to recognize the number of data generated by the test cell generator 75c, and as a result, the number of data forming the ATM cell is increased. A counter 75b for notifying the utopian processing unit 75a and generating a signal for notifying the beginning of the cell data and the header data; A multiplexer 75d multiplexes a signal indicating the header data generated by the counter 75b and a test cell generated by the test cell generator 75c and transmits the test cell to the output control unit 76 as a test cell.

이와 같이 구성된 본 발명에 의한 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험 장치는, 정상적으로 ATM 셀을 인터페이스 하는 경우, ATM 셀 스위칭부에서 스위칭된 ATM 셀은 유토피아 인터페이스부(71)에서 인터페이스된 후 셀 감시부(72)에 전달되고, 셀 감시부(72)는 셀의 상태를 체크한 후 그 감시 결과는 모니터(50)에 전달해주고, 입력된 ATM 셀은 물리계층 변환부(73)에 전달해준다.When the ATM cell generation and test apparatus according to the present invention configured as described above normally interfaces ATM cells, the ATM cells switched by the ATM cell switching unit are interfaced by the utopia interface unit 71 and then the cell monitoring unit 72. The cell monitoring unit 72 checks the state of the cell and transmits the monitoring result to the monitor 50, and the input ATM cell is transferred to the physical layer conversion unit 73.

상기 물리계층 변환부(73)는 이를 접속된 가입자에게 전달해준다.The physical layer converter 73 transfers the same to the connected subscriber.

아울러 상기 가입자로부터 전송된 ATM 셀은 물리계층 변환부(73)에서 처리된 후 셀 감시부(72)에 전달되고, 셀 감시부(72)는 셀 상태를 감시한 후 그 결과치를 상기 모니터(50)로 전송해주고 인가된 셀은 유토피아 인터페이스부(71)에 전달해주어 ATM 셀 스위칭부로 전달되도록 한다.In addition, the ATM cell transmitted from the subscriber is processed by the physical layer conversion unit 73 and then transmitted to the cell monitoring unit 72, the cell monitoring unit 72 monitors the cell state and the result value is monitored (50). And transmits the approved cell to the Utopia interface unit 71 to be transferred to the ATM cell switching unit.

한편, 개발된 보드(본 발명에서 설명하는 제1'라인 인터페이스 모듈을 칭함)가 장착되고, 그 보드의 상태를 체크하기 위해 검사자가 시험 기능을 선택한 경우, 기능 선택부(74)는 이를 인지하고 시험 셀 발생부(75)와 셀 출력 제어부(76)에 시험 기능이 선택되었음을 알려준다.On the other hand, if the developed board (referred to as the first 'line interface module described in the present invention) is mounted, and the examiner selects a test function to check the state of the board, the function selection unit 74 recognizes this and The test cell generator 75 and the cell output controller 76 inform the user that the test function has been selected.

이에 따라 시험 셀 발생부(75)는 시험을 위한 ATM 랜덤 셀을 발생하게 된다.Accordingly, the test cell generator 75 generates an ATM random cell for a test.

즉, 시험 셀 발생부(75)내의 유토피아 처리부(75a)는, 기능 선택부(74)로부터 전송된 기능 선택신호(CNT)가 하이신호인 경우, 유토피아 인터페이스부(71)로부터 전송된 신호(TxFul)를 검색하여 이 신호가 하이신호이면 ATM 셀 스위칭부의 셀 수신이 가능한 상태이므로 시험용 셀 발생 조건이라고 판단을 하고, 시험 셀 발생기(75c) 및 카운터(75b)의 구동신호(ce)를 발생한다.That is, when the function selection signal CNT transmitted from the function selection unit 74 is a high signal, the utopia processing unit 75a in the test cell generator 75 transmits the signal TxFul transmitted from the utopia interface unit 71. If the signal is a high signal, it is determined that the cell reception condition of the ATM cell switching unit is possible, and thus it is determined that it is a test cell generation condition, and a drive signal ce of the test cell generator 75c and the counter 75b is generated.

여기서 상기 유토피아 처리부(75a)에 전달되는 신호중 CLK는 데이터 전송 속도를 나타내는 클록이며, CLR은 클리어를 나타내는 신호로서 보드 전체의 리세트시 또는 유토피아 처리부를 재 동작시킬 때 사용되는 신호이다. 그리고 상기 유토피아 처리부(75a)는 시험 셀 발생기(75c) 및 카운터(75b)의 구동신호(ce)를 발생함과 동시에 셀 출력 제어부(76)에 현재 출력하고 있는 데이터가 유효 데이터임을 알리는 신호(d_en)를 전달해주게 된다.Here, CLK is a clock indicating a data transmission rate among the signals transmitted to the utopia processing unit 75a, and CLR is a signal indicating clear, and is used when resetting the entire board or reactivating the utopia processing unit. The utopia processor 75a generates a drive signal ce of the test cell generator 75c and the counter 75b, and at the same time, signals d_en indicating that the data currently output to the cell output controller 76 is valid data. Will be delivered.

한편, 시험 셀 발생기(75c)는 상기와 같이 유토피아 처리부(75a)로부터 인에이블 신호가 하이신호로 전달되면, 입력 클록(CLK)에 따라 임의의 데이터를 발생시켜 멀티플렉서(75d)에 전달해준다.On the other hand, when the enable signal is transmitted as a high signal from the utopia processing unit 75a as described above, the test cell generator 75c generates arbitrary data according to the input clock CLK and delivers it to the multiplexer 75d.

그리고 카운터(75b)는 상기와 같이 유토피아 처리부(75a)로부터 인에이블 신호(ce)가 하이신호로 발생되면, 입력 클록(CLK)을 카운팅 하여 시험 셀 데이터의 발생 개수를 카운팅 한다. 이 카운팅 도중에 카운팅 값이 53개이면(실제로 ATM 셀은 헤더 5바이트와 사용자 정보 48바이트해서 53바이트로 구성되어 있음) 이를 유토피아 처리부(75a)에 알려준다(CM52). 아울러 상기 카운터(75b)는 시험 셀이 발생됨과 동시에 셀 데이터의 처음 이라는 것을 알려주는 신호(SOC)를 발생하여 상기 셀 출력 제어부(76)에 전달해주게 되고, 카운트 도중에 시험 셀 데이터중 5바이트에 해당하는 카운팅이 이루어지면 헤더 5바이트임을 알려주는 신호(CM4)를 발생하여 상기 멀티플렉서(75d)에 전달해준다.When the enable signal ce is generated as a high signal from the utopia processor 75a as described above, the counter 75b counts the number of generations of the test cell data by counting the input clock CLK. During this counting, if the counting value is 53 (actually, the ATM cell is composed of 53 bytes including 5 bytes of headers and 48 bytes of user information), the Utopia processor 75a is informed (CM52). In addition, the counter 75b generates a signal SOC indicating that the test cell is the first of the cell data at the same time as the test cell is generated and transmits the signal to the cell output controller 76, which corresponds to 5 bytes of the test cell data during counting. When counting is performed, a signal CM4 indicating that the header is 5 bytes is generated and transmitted to the multiplexer 75d.

상기에서 유토피아 처리부(75a)는 카운터(75b)로부터 CM52라는 신호가 얻어지면 1개의 ATM 셀이 출력(발생)되었음을 인지하고 다시 새로운 셀을 발생시키는 동작을 수행한다.When the Utopia processing unit 75a obtains the signal CM52 from the counter 75b, the utopia processing unit 75a recognizes that one ATM cell is output (generated) and performs a new cell generation.

그리고 멀티플렉서(75d)는 상기 시험 셀 발생기(75c)에서 발생되는 시험셀과 상기 카운터(75b)에서 얻어지는 헤더 데이터임을 알려주는 데이터를 다중화하여 시험 셀로 상기 셀 출력 제어부(76)에 전달해준다.The multiplexer 75d multiplexes the data indicating that the test cell generated by the test cell generator 75c and the header data obtained by the counter 75b is multiplexed and delivers the test cell to the cell output controller 76 as a test cell.

여기서, 카운터(75b)는 CM4신호로 헤더 데이터임을 알려주는 데이터를 멀티플렉서(75d)에 전달해주게 되는데, 이는 CRC8계산시 이것의 계산이 용이하게 이루어지도록 하기 위해 데이터상의 HEC값을 모두 제로로 만들기 위해서 사용되어진다.Here, the counter 75b transmits data indicating the header data to the multiplexer 75d to inform the multiplexer 75d as a CM4 signal, in order to make all of the HEC values in the data zero in order to facilitate calculation of the CRC8. It is used.

즉, 상기 CM4신호가 "로우신호"로 발생되는 위치의 셀 데이터는 모두 "0"상태가 된다.In other words, all of the cell data at the position where the CM4 signal is generated as a "low signal" is in a "0" state.

아울러 상기 셀 출력 제어부(76)는 상기와 같이 기능 선택부(74)로부터 시험 기능이 선택되면, 동시에 셀 감시부(72)에서 출력되는 데이터가 물리계층 변환부(73)에 전달되는 것을 억제시키고, 동시에 시험 셀 발생부(75)로부터 발생된 시험용 셀을 물리계층 변환부(73)에 전달해준다.In addition, when the test function is selected from the function selection unit 74 as described above, the cell output control unit 76 suppresses the data output from the cell monitoring unit 72 from being transmitted to the physical layer conversion unit 73. At the same time, the test cell generated from the test cell generator 75 is transferred to the physical layer converter 73.

그러면 물리계층 변환부(73)는 이것을 출력시키고 동시에 피이드백 케이블(80)을 통해 피이드백 시켜 처리한 후 셀 감시부(72)에 전달해준다.Then, the physical layer converter 73 outputs the same, feeds it back through the feedback cable 80, processes it, and delivers it to the cell monitoring unit 72.

셀 감시부(72)는 이렇게 피이드백 되는 보드 자체적으로 발생한 ATM 셀 데이터와 상기 시험 셀 발생부(75)에서 자체적으로 발생한 시험용 셀을 비교하여 셀의 오류 여부, 즉 개발 보드의 이상 여부를 확인하게 되고, 그 결과치를 모니터(50)에 전달해주어 개발 보드의 상태가 모니터링되도록 한다.The cell monitoring unit 72 compares the ATM cell data generated by the board itself fed back with the test cell generated by the test cell generator 75 to check whether the cell is an error, that is, whether the development board is abnormal. The result is transmitted to the monitor 50 so that the state of the development board is monitored.

그러면 검사자는 모니터(50)에 모니터링되는 개발 보드의 상태를 확인함으로써 새로이 개발된 보드의 정상 여부를 용이하게 인지할 수 있게 된다.Then, the examiner can easily recognize whether the newly developed board is normal by checking the state of the development board monitored on the monitor 50.

이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은, 개발된 보드(라인 인터페이스 모듈) 자체적으로 시험용 ATM 셀의 발생 및 검사가 가능하므로 기존과 같이 별도의 고가인 시험장비를 사용하지 않고도 용이하게 보드의 시험이 가능하다는 효과가 있다.As described above, the present invention enables the generation and inspection of a test ATM cell on its own board (line interface module) itself, so that the board can be easily tested without using a separate expensive test equipment. It is effective.

또한, 개발 보드 자체적으로 ATM 셀의 발생 및 시험이 가능하므로 일정 속도로 정해진 ATM 셀 속도에 구속됨이 없이 보드의 상태 체크가 가능한 이점도 있다.In addition, since the development board itself can generate and test ATM cells, there is an advantage in that the board status can be checked without being bound to the predetermined ATM cell speed.

또한, 개발 보드 차제적으로 셀을 발생하고 이를 다시 피이드백 받을 수 있어 기존과 같이 시험 장비와 개발 보드간의 상호 다른 인터페이스시 시험이 불가능한 단점도 해소시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, the development board can generate cells and receive feedback again, thus eliminating the disadvantage that the test cannot be performed at different interfaces between the test equipment and the development board.

Claims (2)

ATM 교환기의 라인 인터페이스 모듈 시험장치에 있어서,In the line interface module test apparatus of the ATM switch, 유토피아 인터페이스를 통해 ATM 셀 스위칭부와 ATM 셀을 상호 인터페이스 하는 유토피아 인터페이스부와;A utopia interface unit for interfacing the ATM cell switching unit and the ATM cell through the utopia interface; 상기 유토피아 인터페이스부 및 사용자와 접속된 물리계층 변환부와의 상호 인터페이스 되는 셀의 상태를 감시하며 시험 셀의 상태를 체크하여 그 결과치를 모니터에 출력해주는 셀 감시부와;A cell monitoring unit for monitoring a state of a cell interfaced with the utopian interface unit and a physical layer conversion unit connected to a user, and checking a state of a test cell and outputting a result value to a monitor; 사용자의 기능 선택에 따라 정상 동작 상태와 시험 기능을 선택해주는 기능 선택부와;A function selection unit for selecting a normal operation state and a test function according to a user's function selection; 상기 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되면 라인 인터페이스 모듈의 상태를 체크하기 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생부와;A test cell generator for generating a test cell for checking a state of a line interface module when a test function is selected in the function selector; 상기 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되면 상기 셀 감시부의 정상적인 셀 출력을 차단하고 상기 시험 셀 발생부에서 생성된 시험셀을 상기 물리계층 변환부에 전달해주는 셀 출력 제어부와;A cell output control unit for blocking a normal cell output of the cell monitoring unit and transferring a test cell generated by the test cell generator to the physical layer converting unit when a test function is selected by the function selecting unit; 상기 셀 출력 제어부의 제어에 따라 상기 셀 감시부에서 출력되는 셀은 사용자 측에 전달해주고, 상기 셀 출력 제어부에서 발생되는 시험 셀은 피이드백 하여 상기 셀 감시부에 전달해주는 물리계층 변환부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치.Under the control of the cell output control unit, the cell output from the cell monitoring unit is delivered to the user side, and the test cell generated from the cell output control unit comprises a physical layer conversion unit for feeding back to the cell monitoring unit ATM random cell generation and testing apparatus, characterized in that. 제1항에 있어서, 상기 시험 셀 발생부는,The method of claim 1, wherein the test cell generation unit, 상기 기능 선택부에서 시험 기능이 선택되었다는 신호를 전달받으면 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호를 발생하는 유토피아 처리부와; 상기 유토피아 처리부에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 시험을 위한 시험 셀을 발생하는 시험 셀 발생기와; 상기 유토피아 처리부에서 시험 셀 발생을 위한 인에이블 신호가 구동되면 입력되는 클록을 카운팅 하여 상기 시험 셀 발생기에서 발생되는 데이터의 개수를 인지하고 그 결과 ATM 셀을 이루는 데이터의 개수가 되면 상기 유토피아 처리부에 이를 알림과 동시에 셀 데이터의 처음과 헤더 데이터를 알려주는 신호를 발생하는 카운터와; 상기 카운터에서 발생되는 헤더 데이터를 알려주는 신호와 상기 셀 발생부에서 발생되는 시험 셀을 멀티플렉싱하여 시험 셀로 상기 출력 제어부에 전달해주는 멀티플렉서로 구성된 것을 특징으로 하는 에이티엠 랜덤 셀 발생 및 시험장치.A utopian processor configured to generate an enable signal for generating a test cell when the function selector receives a signal indicating that a test function is selected; A test cell generator for generating a test cell for a test when an enable signal for generating a test cell is driven in the utopia processor; When the enable signal for generating a test cell is driven in the utopia processor, the input clock is counted to recognize the number of data generated by the test cell generator. A counter for generating a signal for notifying the beginning of the cell data and the header data simultaneously with the notification; And a multiplexer for multiplexing a signal indicative of the header data generated from the counter and a test cell generated from the cell generator and transmitting the test cell to the output control unit as a test cell.
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