KR100249155B1 - 이에스디(esd)보호회로 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 이에스디(ESD : Electro Static Discharge) 보호회로에 관한 것으로 특히, 과전압 차단 기능을 갖도록 한 ESD 보호회로에 관한 것이다.
이와 같은 본 발명의 ESD 보호회로는 입력단자에 인가되는 이상전압으로부터 내부회로를 보호하는 ESD 보호회로에 있어서, 상기 입력단자와 전원전압 사이에 위치하는 저항(R1) 및 제 1 다이오드와, 상기 입력단자와 접지전압 사이에 위치하는 저항(R2) 및 제 2 다이오드와, 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 이에스디(ESD : Electro Static Discharge) 보호회로에 관한 것으로 특히, 과전압 차단 기능을 갖도록 한 ESD 보호회로에 관한 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 ESD 보호회로를 설명하면 다음과 같다.
도 1은 종래의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도이다.
도 1에서와 같이 입력단자(PIN)에 캐소드가 연결되며 전원전압(Vdd)에 애노드가 연결되는 제 1 다이오드(11)와, 상기 입력단자(PIN)에 애노드가 연결되고 접지전압(Vss)에 캐소드가 연결되는 제 2 다이오드(12)와, 그리고 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 저항(R)으로 구성된다.
상기와 같이 이루어진 종래의 ESD 보호회로의 동작을 설명하면 다음과 같다.
즉, 전원전압 보다 0.7V 이상되는 전압이 입력단자(PIN)에 인가되면 제 1 다이오드(11)는 턴온(Turn ON)되고, 제 2 다이오드(12)는 턴오프(Turn OFF)되어 핀에 인가된 전류가 전부 전원전압(Vdd)으로 배출된다.
그리고 0.7V 이하되는 전압이 입력단자에 인가되면 제 1 다이오드(11)가 'Turn OFF'되고, 제 2 다이오드(12)가 'Turn ON'되어 핀에 인가된 전류가 전부 접지전압(Vss)으로 배출된다.
또한, 저항 R은 입력단자에 이상 전압이 인가될 때 내부 회로가 받는 충격을 완화하기 위한 것으로써 사용된다.
그러나 이와 같은 종래의 ESD 보호회로에 있어서 다음과 같은 문제점이 있었다.
즉, 입력단자에 갑작스러운 인펄스(Impulse)가 인가되면 제 1, 제 2 다이오드가 턴온되기 전에 내부 회로에 영향을 미쳐서 내부회로를 파괴한다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 입력단자에 인가된 이상전압의 전류가 내부회로에 영향을 미치는 것을 방지하여 내부회로를 보호하는데 적당한 ESD 보호회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도
도 2는 본 발명의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
21 : 제 1 다이오드 22 : 제 2 다이오드
23 : 제 1 트랜지스터 24 : 제 2 트랜지스터
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 ESD 보호회로는 입력단자에 인가되는 이상전압으로부터 내부회로를 보호하는 ESD 보호회로에 있어서, 상기 입력단자와 전원전압 사이에 위치하는 저항(R1) 및 제 1 다이오드와, 상기 입력단자와 접지전압 사이에 위치하는 저항(R2) 및 제 2 다이오드와, 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 ESD 보호회로를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 의한 ESD 보호회로를 나타낸 회로도이다.
도 2에서와 같이 입력단자와 전원전압(Vdd) 사이에서 입력단자에 캐소드가 연결되고 전원전압에 애노드가 연결되는 제 1 다이오드(21)와, 입력단자와 접지전압(Vss) 사이에서 입력단자에 애노드가 연결되고 접지전압에 캐소드가 연결되는 제 2 다이오드(22)와, 그리고 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터(23,24)로 구성된다.
이때 상기 제 1 트랜지스터(23)은 상기 제 2 다이오드(22)의 애노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터(24)는 상기 제 1 다이오드(21)의 캐소드에 연결된다.
그리고 상기 입력단자와 제 1 다이오드(21) 및 제 2 다이오드(22) 사이에 각각 저항 R1, R2이 연결된다.
여기서 상기 제 1 트랜지스터(23)는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 2 트랜지스터(24)는 디플레션 모드(Depletion-Mode) 트랜지스터이다.
그리고 전원전압은 3.3V 또는 5V이고, 접지전압은 0V 또는 -5V로써 제 1 다이오드(21)와 저항 R1에 의해 ESD 상한 전압이 결정되고, 제 2 다이오드(22)와 저항 R2에 의해 하한 전압이 결정된다.
상기 저항 R1,R2는 상기 제 1, 제 2 트랜지스터(23,24)의 턴온, 턴오프를 조절하여 핀에 인가된 이상전압의 전류가 내부회로에 영향을 미치지 못하도록 제어하는 기능을 한다.
상기와 같이 이루어진 본 발명의 ESD 보호회로의 동작을 설명하면 다음과 같다.
만일, 전원전압이 5V라 하면 하나의 다이오드가 도통될 때 드로프(Drop)되는 문턱전압은 0.7V이다.
그러므로 입력단자(PIN)에 펄스의 이상전압이 인가된다면 5.7V되는 순간부터 제 1 다이오드(21)가 'Turn ON'되면서 0.7V를 초과하는 전압이 저항 R1양단에 걸리게 된다.
이 상태에서 제 2 다이오드(22)는 역방향으로 'Turn OFF'된다.
여기서 상기 저항 R1양단에 걸리는 전압이 0.7V를 넘어서게 되면 상기 입력단자와 내부회로 사이에 연결된 제 2 트랜지스터(24)가 'Turn OFF' 되면서 신속히 PIN에 인가된 펄스의 이상전압과 내부회로를 끊어버리는 역할을 한다.
이와 동시에 입력단자에 인가된 이상전압의 전류(Current)는 제 1 다이오드(21)를 통해서 입력단자에서 전원전압으로 배출된다.
또한, 상기 입력단자에 마이너스(Minus)의 이상전압이 인가되면, -0.7V되는 순간부터 제 2 다이오드(22)가 'Turn ON'되면서 -0.7V를 초과하는 전압부터는 저항 R2양단에 걸리게 된다.
이 상태에서 제 1 다이오드(21)는 역방향으로 'Turn OFF'되고, 상기 저항 R2양단에 걸리는 전압이 -0.7V를 넘어서게 되면 입력단자와 내부회로 사이에 연결된 제 1 트랜지스터(23)가 'Turn OFF'되면서 신속히 입력단자에 인가된 이상전압의 전류는 제 2 다이오드(22)를 통해서 접지전압에서 입력단자로 배출된다.
이상에서 설명한 바와같이 본 발명에 의한 ESD 보호회로에 있어서 인펄스 형태의 이상전압이 입력단자에 인가될 때 입력단자와 내부회로를 끊어 버림으로써 어떠한 이상전압으로부터도 내부회로를 보호하는 효과가 있다.
Claims (6)
- 입력단자에 인가되는 이상전압으로부터 내부회로를 보호하는 ESD 보호회로에 있어서,상기 입력단자와 전원전압 사이에 위치하는 저항(R1) 및 제 1 다이오드와,상기 입력단자와 접지전압 사이에 위치하는 저항(R2) 및 제 2 다이오드와,상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 2 트랜지스터는 디플레션 모드 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 저항 R1양단에 걸리는 전압이 0.7V를 넘어서게 되면 상기 PIN과 내부회로 사이에 연결된 제 2 트랜지스터가 'Turn OFF' 되면서 신속히 PIN에 인가된 펄스의 이상전압과 내부회로를 끊어버리는 역할을 하는 것을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 저항 R1,R2는 상기 제 1, 제 2 트랜지스터의 턴온, 턴오프를 조절하여 입력단자에 인가된 이상전압의 전류가 내부회로에 영향을 미치지 못하도록 제어하는 기능을 하는 것을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 다이오드는 입력단자에 캐소드가 연결되고 전원전압에 애노드가 연결되며, 제 2 다이오드는 입력단자에 애노드가 연결되고 접지전압에 캐소드가 연결되는 것을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 트랜지스터는 상기 제 2 다이오드의 애노드에 연결되고 제 2 트랜지스터는 제 1 다이오드의 캐소드에 연결되는 것을 특징으로 하는 ESD 보호회로.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (ko) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 이에스디(esd)보호회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (ko) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 이에스디(esd)보호회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980066467A KR19980066467A (ko) | 1998-10-15 |
KR100249155B1 true KR100249155B1 (ko) | 2000-03-15 |
Family
ID=19495456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (ko) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | 이에스디(esd)보호회로 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100249155B1 (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100487413B1 (ko) * | 1998-04-22 | 2006-04-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이에스디(esd)보호회로 |
KR100632567B1 (ko) * | 1999-12-31 | 2006-10-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 이에스디(esd) 보호회로 |
KR100680957B1 (ko) * | 2005-01-13 | 2007-02-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치용 정전기 보호장치 |
KR100764369B1 (ko) * | 2006-08-17 | 2007-10-08 | 삼성전기주식회사 | Esd 보호회로 및 이를 구비하는 튜너 |
KR101016951B1 (ko) | 2007-02-15 | 2011-02-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정전기 보호 회로 |
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- 1997-01-24 KR KR1019970002045A patent/KR100249155B1/ko not_active IP Right Cessation
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KR19980066467A (ko) | 1998-10-15 |
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