KR100215837B1 - 핀 일렉트로닉스 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반도체소자의 테스트장비에 관한 것으로서 전원제어회로를 추가하여 소자에 공급되는 전원을 효율적으로 제어하므로서 작업상의 편리성을 향상시키고 코스트를 절감시키는데 적당하도록 한 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스를 제공하기 위한 것이다.

이를위한 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스는 소자의 테스터장비에 있어서, 소자의 입력핀에 신호를 인가하는 드라이버부와, 상기 드라이버부를 통해 인가되는 입력신호에 의해 동작하는 소자의 출력신호와 상기 드라이버부의 출력 신호를 비교하여 소자의 불량여부를 체크하는 비교부와, 상기 드라이버부의 출력단에 실제 회로상에서 받을 수 있는 부하를 공급하는 부하공급부와, 상기 소자에 해당전원만이 인가되도록 전원단을 제어하는 전원제어부를 포함하여 구성된다.

Description

핀 일렉트로닉스

본 발명은 초고집적 소자의 검사용장비에 관한 것으로 특히, 코스트 절감 및 검사시 용이성을 향상시키는데 적당하도록 한 전원제어 기능을 갖는 핀 일렉트로닉스에 관한 것이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 종래의 핀 일렉트로닉스를 설명하면 다음과 같다.

도 1은 종래 핀 일렉트로닉스의 구성블록도이다.

종래 핀 일렉트로닉스는 도 1에 도시한 바와같이 드라이버부(1), PMU부(2), 비교부(3), 프로그램어블부(4)를 포함하여 구성된다.

여기서 상기 드라이버부(1)는 검사하고자 하는 소자의 입력 핀(Pin)에 입력 신호를 인가하고, 상기 비교부(3)는 상기 소자의 출력 핀을 통해 나오는 신호를 입력하여 출력신호의 레벨을 기준레벨과 비교한다.

그리고 상기 프로그램어블부(4)는 소자의 출력단에서 부하역할을 수행하며 상기 PMU부(2)는 전류계 및 전압계와 같은 기능을 수행하는 것으로서 전류를 인가하여 전압을 측정하거나 전압을 인가하여 전류를 측정한다.

상기와 같이 구성된 종래의 핀 일렉트로닉스의 동작설명은 다음과 같다.

먼저, 도 1에 도시한 바와같이 상기 드라이버부(1)의 입력단에 입력신호를 인가한다.

상기 드라이버부(1)는 드라이버부(1)의 입력단을 통해 인가되는 입력신호와 상기 입력신호의 최소값과 최대값을 입, 출력 제어신호에 따라 해당신호를 출력한다.

상기 드라이버부(1)에서 출력하는 신호는 검사하고자 하는 소자의 입력 핀에 인가된다.

이때 상기 소자의 입력 핀에 인가되는 드라이버부(1)의 출력신호는 상기 비교부(3)로 입력되고, 상기 비교부(3) 상기 드라이버부(1)의 출력신호와 상기 소자의 입력 핀에 인가되는 신호를 비교하여 소자의 불량여부를 판정한다.

즉 상기 비교부(3)에는 소자의 출력 핀을 통해 나오는 신호의 최소값 및 최대값과 드라이버부(10의 출력신호를 비교한다.

그리고 상기 프로그램어블부(4)는 상기 드라이버부(1)의 출력신호에 부하를 인가하는 곳으로서 이는 상기 드라이버부(1)의 출력단에 실제의 회로상에서 동작하는 것과 동일한 부하를 인가할 목적으로 이용된다.

결과적으로 드라이버부(1)를 통해 소자의 입력 핀에 인가되는 입력신호와 상기 입력신호의 인가에 따라 동작하는 소자의 출력신호를 비교하여 소자의 불량여부를 테스트한다.

그러나 상기와 같은 종래 핀 일렉트로닉스는 다음과 같은 문제점이 있었다.

첫째, 종래의 핀 일렉트로닉스는 전원을 제어할 수가 없다.

둘째, 핀의 수가 최소 2개에서 100개 이상되는 전원을 인가하는 핀이 요구되는 경우에 있어서는 고가의 부하 보드(Board)에 일일이 전원 핀을 연결해야 한다.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서 전원제어를 위한 간단한 회로를 추가하여 테스트에 따른 불편함을 최소화하고 코스트를 절감시키는데 적당한 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스를 제공하는데 그 목적이 있다.

도 1은 종래의 핀 일렉트로닉스의 구성블록도

도 2는 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스의 구성블록도

도 3은 도 2의 부분적 상세도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

21 : 드라이버부 22 : 비교부

23 : 프로그램어블부 24 : 전원제어부

31 : 제 1 스위칭부 32 : 제 2 스위칭부

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스는 소자의 테스터장비에 있어서, 소자의 입력핀에 신호를 인가하는 드라이버부와, 상기 드라이버부를 통해 인가되는 입력신호에 의해 동작하는 소자의 출력신호와 상기 드라이버부의 출력신호를 비교하여 소자의 불량여부를 체크하는 비교부와, 상기 드라이버부의 출력단에 실제 회로상에서 받을 수 있는 부하를 공급하는 부하공급부와, 상기 소자에 해당전원만이 인가되도록 전원단을 제어하는 전원제어부를 포함하여 구성된다.

이하 본 발명은 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 2는 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스의 구성블록도이고 도 3은 도 2의 부분적 상세도이다.

즉 도 2에 도시한 바와같이 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스는 검사하고자 하는 소자에 입력신호를 인가하는 드라이버부(21)와, 상기 소자의 출력 신호와 상기 드라이버부(21)의 출력신호를 비교하는 비교부(22)와, 상기 드라이버부(21)의 출력단에 실제의 회로상에서 인가되는 부하와 동일한 부하가 인가되도록 하는 프로그램어블부(23)와, 상기 드라이버부(21)와 소자의 입력단 사이에 분기접속되어 소자에 인가되는 전원을 제어하는 전원제어부(24)를 포함하여 구성된다.

여기서 상기 전원제어부(24)는 도 3에 도시한 바와같이 복수개의 전원공급단자들과, 접지전압을 인가하는 접지단자, 상기 각각의 단자에 연결된 스위치들로 구성되어 있는 제 1 스위칭부(31), 그리고 상기 제 1 스위칭부(31)를 통해 인가되는 전원을 통신적으로 출력하는 제 2 스위칭부(32)로 구성된다.

여기서 상기 제 2 스위칭부(32)는 릴레이로 구성가능하다.

상기와 같은 구성을 갖는 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스의 동작설명은 다음과 같다.

도 2 및 도 3에 도시한 바와같이 상기 드라이버부(21)를 통해 입력신호를 소자의 입력 핀에 인가한다.

여기서 상기 소자가 불량인지 아닌지를 체크하기 위해 상기 입력 핀에 인가되는 입력신호와 상기 입력신호의 인가에 따라 동작하는 소자의 출력닌호를 비교부(22)에서 비교한다.

이때 비교부(22)는 상기 소자의 입력 핀에 인가되는 입력신호와 상기 소자의 최소출력신호 및 최대출력신호를 비교하여 소자의 불량여부를 결정한다.

그리고 상기 프로그램어블부(23)는 상기 드라이버부(21)의 출력단이 실제의 회로상에서 받을 수 있는 부하와 동일하도록 부하를 인가한다.

이와같은 동작은 종래의 핀 일렉트로닉스의 동작과 동일하다.

하지만 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스는 상기 드라이버부(21)와 소자의 입력단에 전원공급을 제어하는 전원제어부(24)를 추가하여 복수개의 핀에 따른 전원공급을 효과적으로 제어하고자 하였다.

즉, 도 3에 도시한 바와같이 소자에 전원을 공급하는 복수개의 전원단자 및 접지전압을 공급하는 접지단자에 각각 스위치들을 연결하여 제 1 스위칭부(31)를 구성한다.

그리고 상기 각각의 스위치들과 병렬로 접속되는 하나의 제 2 스위칭부(32)를 연결하여 필요한 전원을 소자로 인가하고자 할 때 적절히 상기 제 1 스위칭부(31)와 제 2 스위칭부(32)를 제어한다.

즉, 도 3에 도시한 바와같이 소자에 전원전압을 인가하고자 할 경우에는 복수개의 전원단자중 해당되는 전원단과 연결된 스위치를 턴-온 시킨다.

이후, 상기 제 2 스위칭부(32)를 턴-온 시키면 상기 소자이 전원 핀에는 원하는 전원전압만이 인가된다.

이와 마찬가지로 접지전압을 소자에 인가하고자 하는 경우에는 상기 접지전압 단자와 연결된 스위치를 턴-온 시킨 다음 제 2 스위칭부(32)를 턴-온 시키면 상기 접지전압만이 소자의 전원 핀에 인가된다.

그리고 상기 제 2 스위칭부(32)를 턴-오프 시키면 소자에는 전원이 공급되지 않는다.

이상 상술한 바와같이 본 발명의 전원제어 기능의 핀 일렉트로닉스는 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 동일 패키지형인 경우, 전원단과 연결된 공용 보드(Board) 하나로 모든 소자를 테스트 할 수 있다.

둘째, 일일이 전원단과 소자를 와이어 및 납땜을 이용하여 연결하지 않아도 되므로 작업의 편리성이 향상된다.

셋째, 소자마다 각각의 부하 보드가 필요치 않아 코스트를 감소시킨다.

Claims (2)

1. 소자의 양부를 테스트하는 테스트장비에 있어서,

   테스트하고자 하는 소자의 입력핀에 테스트 신호를 인가하는 드라이버부와,

   상기 드라이버의 출력신호와 상기 드라이버부의 출력신호에 의해 동작하는 소자의 최대 출력신호 및 최소 출력신호를 각각 비교하여 상기 소자의 불량여부를 체크하는 비교부와,

   상기 드라이버의 출력이 상기 실제회로상에서 받을 수 있는 부하와 동일해지도록 제어하는 프로그래머블부와,

   상기 드라이버부의 출력단과 상기 소자의 입력단 사이에 분기접속되고 상기 소자의 각각의 핀에 대하여 상기 각 핀들이 요구하는 각각의 전압을 복수레벨의 전압중에서 선택적으로 출력하는 전원제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 핀 일렉트로닉스.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 전원제어부는 소자에 전원을 인가하는 복수개의 전원단자 및 접지단자와 각각 연결된 스위치들로 이루어진 제 1 스위칭부와,

   상기 제 1 스위칭부를 통해 인가되는 전압중 해당 전압만을 선택적으로 출력하는 제 2 스위칭부로 구성됨을 특징으로 하는 핀 일렉트로닉스.