KR0168210B1

KR0168210B1 - 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로

Info

Publication number: KR0168210B1
Application number: KR1019950066843A
Authority: KR
Inventors: 문경모
Original assignee: 김광호; 삼성전자주식회사
Priority date: 1995-12-29
Filing date: 1995-12-29
Publication date: 1999-03-20
Also published as: KR970048481A

Abstract

본 발명은 주위 온도에 이상이 생길 경우 이를 사용자에게 알려주는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로에 관한 것으로, 본 발명 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로는 제1입력단과 제2입력단을 구비한 비교수단과, 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제1입력단에 접속되는 제1저항과, 일단이 상기 비교수단의 제1입력단에 접속되고 다른 단은 접지되는 부온도 특성 서미스터와, 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되는 제2저항과, 일단이 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되고 다른 단은 접지되는 제3저항 및 일단에 상기 비교수단의 출력이 인가되는 경보수단을 구비하여 적정 가동 온도를 설정하여 주위 온도에 이상이 생길 경우 자동으로 사용자가 알 수 있도록 경고함으로써 반도체 소자 테스터를 보호할 수 있는 이점이 있다.

Description

반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로

제1도는 본 발명의 실시예에 의한 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보회로를 도시한 도면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

COM : 비교기 TH : 부온도 특성 서미스터

R1 : 제1저항 R2 : 제2저항

R3 : 제3저항 R4 : 제4저항

C1 : 커패시터 LED : 발광 다이오드

Vc : 전원

본 발명은 반도체 소자 테스터의 보호회로에 관한 것으로, 특히 주의 온도에 이상이 생길 경우 이를 사용자에게 알려주는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로에 관한 것이다.

현재 반도체 소자 테스터의 적정 가동 온도는 18℃ ~25℃이다. 그러나, 제한된 공간에서 점차 테스터를 비롯한 여러 가지 요건으로 적정가동 온도를 유지하기가 점점 더 어렵고 테스터에 많은 부하가 걸리고 있다. 따라서, 상기한 테스터으 적절치 못한 환경 때문에 테스터 자체의 신뢰성을 의심하게 되고, 테스터의 수명에도 적지않은 영향을 미치고 있다.

더욱 중요한 문제점으로는 테스터의 잦은 고장과 정비로 인해 적절하게 테스터를 운용하는 것이 어려워져 생산성 향상에도 지장이 생긴다는 것이다.

이에 따라, 종래에는 테스터 자체에 주위 환경에 따라 전원이 자동 오프되는 테스트 보호 회로가 있었지만, 상기 종래의 테스트 보호 회르는 전원을 직접 오프하기 때문에 테스터에 무리가 가는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명의 목적은 주위 온도에 이상이 생길 경우 이를 사용자에게 알려주어 반도체 소자 테스터를 보호하는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로를 제공하는 데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 제1입력단과 제2입력단을 구비한 비교수단 : 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제1입력단에 접속되는 제1저항; 일단이 상기 비교수단의 제1입력단어 접속되고 다른 단은 접지되는 부온도 특성 서미스터 : 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되는 제2저항 : 일단이 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되고 다른 단은 접지되는 제3저항 :및 일단에 상기 비교수단의 출력이 인가되는 경보수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로를 제공한다.

상기 경보수단은 광을 발생하는 광 발생수단인 것이 바람직하다.

상기 경보수단은 음을 발생하는 음 발생수단인 것이 바람직하다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 의한 반도체소자 테스터의 이상 온도 경보 회로에 대해 설명하기로 한다. 제1도에 본 발명의 실시에에 의한 반도체 소자 테스터의 이상 온도경보 회로를 도시하였다. 제1도를 참조하면, 본발명 반도체 소자테스터의 이상 온도 경보 회로는 전원(Vc)이 비교기(COM)와 제1저항(R1)과 제2저항(R2)의 일단에 인가되고, 제1저항(R1)의 다른 단은 비교기(COM)의 반전단자에 접속되어 있다. 또한, 부온도 특성 서미스터(TH)와 커패시터(C1)는 병렬로 접속되어 일단이 비교기(COM)의 반전단자에 접속되어 있으며, 다른 단은 접지되어 있다.

또한, 제2저항(R2)의 다른 단이 비교기(COM)의 비반전단자에 접속되고 제3저항(R3)의 일단은 비교기(COM)의 비반전단자에 접속되며, 다른 단은 접지되어 있다. 상기 비교기(COM)의 출력은 제4저항(R4)을 통하여 발광 다이오드(LED)에 인가된다.

상기와 같이 구성된 본 발명 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보회로의 동작을 설명하면, 제2저항(R2)과 제3저항(R3)을 이용하여 비교기(COM)의 비반전단자에 소정의 기준저압(Vref)을 인가하고, 비교기(COM)의 반전단자에 인가되는 부온도 특성 서미스터(TH)의 전압(Vth)은 제1저항(R1)과 부온도 특성 서미스터(TH)를 이용하여 적정가동 온도에서 상기 기준전압(Vref)과 같거나 높게 설정한다. 따라서, 적정 가동온도 범위에서는 비교기(COM)의 반전단자에 걸리는 전압(Vth)이 비반전단자에 걸리는 전압(Vref)보다 높게 되므로 비교기(COM)의 출력은 Low상태가 되어 발광 다이오드(LED)는 작동되지 않는다.

하지만, 즉시 온도가 적정 가동 온도 이상이 되면 부온도 특성 서미스터(TH)의 저항값이 감소하게 되므로, 이에 따라 비교기(COM)의 반전단자에 걸리느 전압(Vth)이 비반전단자에 걸리는 전압(Vref)보다 낮게되어 비교기(COM)의 출력으 High상태가 된다. 이에 따라, 발광 다이오드(LED)는 작동되어 빛을 발생함으로써 사용자에게 이상 온도가 감지되었음을 경고하게 된다.

상기한 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로는 반도체 소자 테스터에 있어서 가장 열에 민감하고 중요한 핀 카드에 설치되어 드라이브 소자와 비교기등을 보호하는 것이 바람직하다.

상술한 바와 같이, 본 발명 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로는 적정 가동 온도를 설정하여 주위 온도에 이상이 생길 경우 자동으로 사용자가 알 수 있도록 경고함으로써 반도체 소자 테스터를 보호할 수 있는 이점이 있다.

Claims

제1입력단과 제2입력단을 구비한 비교수단 : 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제1입력단에 접속되는 제1저항 : 일단이 상기 비교수단의 제1입력단에 접속되고 다른 단은 접지되는 부온도 특성 서미스터 : 일단에 전원이 인가되고 다른 단은 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되는 제2저항 : 일단이 상기 비교수단의 제2입력단에 접속되고 다른 단은 접지되는 제3저항 : 및 일단에 상기 비교수단의 출력의 인가되는 경보수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로.
제1항에 있어서, 상기 경보수단은 광을 발생하는 광 발생수단인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로.
제1항에 있어서, 상기 경보수단은 음을 발생하는 음 발생수단인 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스터의 이상 온도 경보 회로.