KR0166243B1 - 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치 - Google Patents

광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치에 관한 것으로, 특히 홀로그램소자가 삽입되는 틸트각을 빔스플리터와 씨씨디(CCD)를 통하여 모니터에 디스플레이시킴으로써 틸트각을 자동으로 검사하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것이다.

Description

광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치
제1도(a), (b)는 광픽업 베이스의 평면도 및 정면도.
제2도는 본 발명의 개략도.
제3도는 메인 베이스의 보스와 레이저를 직각프리즘을 이용하여 정렬시키는 것을 보여주는 정면도.
제4도(a), (b)는 패럴렐 빔 스플리트의 정면도 및 측단면도.
제5도는 직각프리즘의 사시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11 : 홀로그램소자설치부 12 : 패럴렐 빔 스플리트
20 : 메인 베이스 21 : 보스
50 : 직각프리즘 60 : 씨씨디(CCD)
본 발명은 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것으로, 특히 홀로그램소자가 삽입되는 틸트각을 패럴렐 빔 스플리트와 씨씨디(CCD)를 통하여 모니터에 디스플레이시킴으로써 틸트각을 자동으로 검사하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 광픽업 베이스는 알루미늄이나 아연을 주재료로 다이캐스팅하여 제작하였으나, 알루미늄재 광픽업 베이스는 가볍고, 비용이 적게 드는 대신에 열처리후 소정치수로 후가공을 하였다.
반면에, 아연재 광픽업 베이스는 제품특성상 알루미늄재 광픽업 베이스에 비하여 치수안정성이 우수(후가공이 필요없음을 의미함)하나 무거운 단점이 있고, 고열·고압으로 가공되어 내부에 발생된 큰 잔존응력을 제거하기 위하여 수개월동안 방치한 후 다시 풀림 열처리를 하여 사용하였다.
제1도 (a), (b)에 도시된 바와같이, 광픽업 베이스(a)의 홀로그램소자설치부(b)는 홀로그램소자가 삽입되는 곳으로서, 이를 통해 입사된 레이저 빔은 미러부착면(c)에 부착된 풀 미러로 평행하게 입사된다.
그러나, 홀로그램소자설치부(b)가 틸트되어 있는 경우, 레이저 빔이 풀 미러에 반사된 후 대물렌즈가 디스크에 빔을 제대로 포커싱시키지 못하므로 레이저 빔이 코마(COMA)를 유발하여 큰 수차를 산출하게 되고, 결국에는 제품에 큰 악영향을 미치게 된다.
따라서, 본 발명은 홀로그램소자가 취부되는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부에 패럴렐 빔 스플리트를 설치하여 소정의 레이저 빔의 파장을 직각으로 전반사시키고, 반사된 레이저 빔이 씨씨디에 입사되면 이 신호를 모니터에 디스플레이시켜 합격 또는 불합격을 판단함으로써 제품의 홀로그램소자설치부의 틸트를 용이하게 검사할 수 있는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치를 제공하는 것이 목적이다.
상기의 이와 같은 목적은 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치를 광픽업 베이스를 지지하도록 상면에 한쌍의 보스를 형성한 메인 베이스와, 보스에 지지된 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부에 탄성적으로 삽입되도록 스프링으로 지지되어 있는 패럴렐 빔 스플리트와, 패럴렐 빔 스플리트를 홀로그램소자설치부로 이동시키는 에어실린더와, 패럴렐 빔 스플리트에 레이저 빔을 방출하도록 삼차원조정되게 스테이지에 설치된 레이저와, 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부에 직각으로 설치되어 패럴렐 빔 스플리트에 반사된 레이저 빔을 읽는 씨씨디와, 씨씨디에 연결되어 반사빔을 디스플레이시켜주는 모니터로 구성함으로써 달성된다.
이하, 본 발명의 구성을 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
제2도에 도시된 바와같이, 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치는 광픽업 베이스(10)가 끼워져서 회전되지 않도록 상기 광픽업 베이스(10)가 놓이는 메인 베이스(20)의 상면에 보스(21)가 형성되 있다.
상기 메인 베이스(20)는 패럴렐 빔 스플리트(12)를 이송하는 에어실린더(30)가 설치되 있고, 또한 광픽업 베이스(10)에 수평으로 레이저를 발광시키도록 상면 일측에 레이저(40)가 설치되 있으며, 패럴렐 빔 스플리트(12)에 입사된 레이저 빔이 직각으로 반사된 것을 읽도록 상기 에어실린더(30)의 후방에 씨씨디(60)가 설치되어 있고, 상기 씨씨디(60)에 입력된 것을 화면으로 디스플레이시켜 틸트각을 판정하는 모니터(61)가 연결되어 있다.
제3도에 도시된 바와같이, 상기 보스(21)에 끼워진 광픽업 베이스(10)에 레이저 빔을 방출하도록 메인 베이스(20)의 일측 단턱부(23)에 스테이지(41)가 설치되 있고, 레이저(40)가 삼차원으로 조정되게 상기 스테이지(41)에 고정된다.
제4도 (a), (b)에 도시된 바와같이, 패럴렐 빔 스플리트(12)는 에어실린더(30)에 의해 이동될 때 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 탄성적으로 접촉되어 조립되도록 판스프링(16)에 의해 에어실린더(30)에 고정된 지지체(15)에 매달려 있다.
그리고, 패럴렐 빔 스플리트(12)의 웨지(WEDGE)는 5초 이하로 형성되 있고, 레이저 빔이 입사되는 하면부(13)는 레이저(40)의 파장에서 100% 직각반사가 일어나도록 두 개의 직각프리즘(18)이 접합되어 형성되고, 홀로그램소자설치부(11)에 끼워지는 패럴렐 빔 스플리트(12)의 상면이 조립면에 먼저 닿지 않게 높게 설계되 있다. 즉, 홀로그램소자설치부(11)의 기준면에 끼워지는 상면부(14)는 하면부(13)의 상면이 접촉되지 않도록 상면부(14)의 하부와 하면부(14)의 상부사이에 경사부(15)가 형성되 있다.
한편, 메인 베이스(20)의 상면에 형성된 한쌍의 보스(21)와 메인 베이스(20)가 수직을 이루고 있을 때 레이저 빔이 수평으로 방출되는 것을 조정하기 위하여 각 면이 초(SEC) 단위로 조정된 마스터프리즘을 필요로 한다.
제5도에 도시된 바와같이, 마스터프리즘은 직각프리즘(50)으로 형성되어 있고, 레이저 빔이 입사되는 직각면(51)의 반대측인 변부면의 모서리가 보스(21)에 접촉되어 지지되도록 직각면(51)과 평행하게 작은 직각면(52)이 형성되 있다.
이하, 본 발명의 작용·효과를 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
메인 베이스(20)의 상면(22)에 형성된 한 쌍의 보스(21)에 한쪽이 절단된 직각프리즘(각 면이 초(SEC)단위로 만들어진 마스터프리즘임)(50)을 보스(21)에 접촉시키고, 이의 직각면(51)이 레이저(40)를 향하게 한 다음 레이저(40)를 발광시키면, 레이저빔이 직각프리즘(50)의 직각면(51)에 입사된 후 다시 100% 반사되어 발광소스인 레이저(40)로 되돌아오도록 스테이지(41)에 설치된 레이저(40)를 삼차원 조정시켜 세팅시킨다.
즉, 레이저(40)를 한쌍의 보스(21)에 대해 직각으로 세팅시킨다.
이와같이 레이저(40)가 세팅되었을 때, 광픽업 베이스(10)를 베인 베이스(20)의 상면(22)에 올려놓아 세팅시키면, 광픽업 베이스(10)는 한 쌍의 보스(21)에 끼워지기 때문에 회동되지 않게 된다.
그리고, 에어 실린더(30)로 패럴렐 빔 스플리트(12)를 이동시켜 홀로그램소자설치부(11)에 상면부(14)를 끼울 때 판스프링(16)에 의해 지지체(17)에 매달려있게 지지되어 있는 패럴렐 빔 스플리트(12)는 탄성적으로 결합된다.
이와같이, 광픽업 베이스(10)를 메인 베이스(20)에 세팅시킨 후 클램핑장치(도시되지 않음)로 광픽업 베이스(10)를 눌러서 고정시킨다.
그리고, 레이저(40)를 발광시키면 발광된 레이저 빔이 두 개의 직각프리즘(18)이 접합된 패럴렐 빔 스플리트(12)에 직각으로 100% 반사되어 씨씨디(60)로 입력된다.
이와같이 입력된 신호는 씨씨디(60)에 연결된 모니터(61)의 화면에 디스플레이 되고, 이것을 보고 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)의 틸트각의 합격, 불합격을 판단한다.
만일 틸트각이 큰 경우 디스크를 읽는 빔이 코마(COMA)를 유발(대수차를 산출)하므로 제품에 큰 악영향을 미친다.
이와같이 구성되어 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11) 틸트각을 측정하는 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치는 광픽업 베이스(10)의 회전을 방지하는 보스(21)와, 광픽업 베이스(10)를 상부로부터 눌러서 고정시키는 클램핑장치와, 레이저 빔을 수평으로 발광시키도록 삼차원으로 조정되게 설치된 레이저(40)와, 패럴렐 빔 스플리트(12)에 직각으로 반사된 반사빔을 읽는 씨씨디(60)와, 씨씨디(60)에 입력된 것을 디스플레이시키는 모니터(61)와, 레이저(40)를 수평으로 조정하도록 보스(21)에 지지되는 부분이 직각면(51)과 평행하게 형성된 직각프리즘(50)으로 구성하여 틸트각의 측정은 물론 합격, 불합격의 판단시간을 단축시키는 효과를 갖는 유용한 검사장치이다.

Claims (4)

  1. 디스크를 포커싱시키기 위해 광픽업 베이스의 레이저 다이오드부로부터 미러부착면에 평행광을 방출시키기 위해 홀로그램소자가 설치되는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 있어서, 상기 장치는 광픽업 베이스(10)가 놓이는 메인베이스(20)의 상면에 상기 광픽업 베이스(10)가 끼워져서 회전되지 않도록 형성된 보스(21)와, 상기 보스(21)에 끼워진 광픽업 베이스(10)에 레이저 빔을 방출하도록 메인 베이스(20)의 일측 단턱부(23)에 설치된 스테이지(41)에 삼차원으로 조정되도록 고정된 레이저(40)와, 상기 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 삽입되는 패럴렐 미러(12)를 지지하고, 이송시키도록 상기 메인 베이스(20)의 상면에 설치된 레이저(40)와 보스(21) 사이의 소정 위치에 설치된 에어실린더(30)와 웨지(WEDGE)가 몇초 이하로 형성되고, 레이저빔이 입사되는 하면부(13)는 레이저(40)의 파장에서 직각반사가 일어나도록 두 개의 직각프리즘(18)으로 구성된 패럴렐 빔 스플리트(12)에 입사된후 직각으로 반사된 반사빔을 읽도록 상기 메인 베이스(20)의 에어실린더(30)에 설치된 직각프리즘(18) 후방에 설치된 씨씨디(60)와, 상기 씨씨디(60)에 입력된 것을 화면에 디스플레이시켜 틸트각을 판정하도록 상기 씨씨디(60)에 연결된 모니터(61)로 구성된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 패럴렐 빔 스플리트(12)는 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 탄성적으로 접촉되어 조립되도록 판스프링(16)에 의해 지지체(17)에 매달려 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 레이저 빔이 입사되는 직각면(51)의 반대측인 변부면의 모서리가 보스(21)에 접촉되어 지지되도록 직각면(51)과 평행한 작은 직각면(52)이 형성되 있는 직각프리즘(50)을 메인 베이스(20)에 올려놓은 후 상기 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 수평으로 레이저 빔을 발광시켜 상기 레이저(40)를 조정하는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 홀로그램소자설치부(11)의 기준면에 끼워지는 상면부(14)의 하부와 하면부(13)의 상면이 먼저 접촉되지 않도록 상면부(14)의 하부와 하면부(13)의 상부사이에 경사부(15)가 형성되 있는 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트자동검사장치.
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