KR0166241B1

KR0166241B1 - 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치

Info

Publication number: KR0166241B1
Application number: KR1019950043820A
Authority: KR
Inventors: 최환문
Original assignee: 배순훈; 대우전자주식회사
Priority date: 1995-11-27
Filing date: 1995-11-27
Publication date: 1999-03-20
Also published as: KR970029434A

Abstract

본 발명은 광픽업 베이스의 미러부착면의 편평도 검사장치에 관한 것으로, 특히 풀미러(FULL MIRROR)가 부착되는 45도경사면에 검사용 마스터 풀 미러를 실린더로 이송시킨 후 진공으로 경사면에 흡착시킨 다음 오토콜리메이터(AUTO-COLLIMATOR)로 경사면 전체의 편평도를 검사하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치에 관한 것이다.

Description

광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치

제1도는 광픽업 베이스의 사시도.

제2도는 광픽업 베이스의 미러부착면과 홀로그램소자설치부를 보인 단면도.

제3도는 본 발명의 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치의 개략도.

제4도는 메인 베이스에 형성된 보스와 레이저를 직각프리즘을 이용하여 정렬시키는 것을 보여주는 정면도.

제5도는 메인 베이스에 놓여진 광픽업 베이스의 미러부착면에 마스터 풀 미러가 부착되는 것을 보여주는 단면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

31 : 보스 35 : 관통공

42 : 마스터 풀 미러 50 : 오토콜리메이터

본 발명은 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치에 관한 것으로 특히 풀미러(FULL MIRROR)가 부착되는 45도경사면에 검사용 마스터 풀 미러를 실린더로 이송시킨 후 진공으로 경사면에 흡착시킨 다음 오토콜리메이터(AUTO-COLLIMATOR)로 경사면 전체의 편평도를 검사하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치에 관한 것이다.

일반적으로, 광픽업 베이스는 알루미늄이나 아연을 주재료로 다이캐스팅하여 제작하였으나, 알루미늄재 광픽업 베이스는 가볍고, 비용이 적게 드는 대신에 열처리후 소정치수로 후가공을 하였기 때문에 금형검사시 3차원검사기 등으로 금형의 미러부착면을 검사하는 것이 가능하였다.

반면에, 아연재 광픽업 베이스는 제품특성상 알루미늄재 광픽업 베이스에 비하여 치수안정성이 우수(후가공이 필요없음을 의미함)하나 무거운 단점이 있고, 고열·고압으로 가공하여 큰 잔존응력이 존재하므로 수개월동안 방치한 후 다시 풀림을 한다음 사용하였다.

제1도 및 제2도에 도시된 바와같이, 광픽업 베이스(a)의 미러부착면(b)은 레이저다이오드부(c)로부터 입사된 빛을 직각으로 굴절시켜 광픽업 유니트의 대물렌즈로 반사시키는 것이다.

그러나, 미러부착면(a)에 미크론단위 이상돌출된 부분이 발생하면 미러의 경사각이 변화되기 때문에 레이저 다이오드부(c)로부터 입사된 빛은 입사된 각의 두 배로 반사된다. 즉, 미러가 규정각도인 45도로 설치되지 않았을 때 입사된 빛은 대물렌즈로 평행하게 입사되지 않게 되고, 이에따라 대물렌즈의 포커싱도 정확하게 이루어지지 않게 되어 코마(COMA)가 발생되는 문제점이 있었다.

또한, 이와같이 평탄하지 않은 미러부착면(b)은 광성능에 현저한 영향을 미치게 되므로 삼차원검사기 등으로 미러부착면(b)의 몇점을 선택하여 검사하는 것은 무의미하게 되고, 이에따라 넓은 미러부착면(b) 전체를 전부 검사하여야 하는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기의 이와같은 문제점을 해소시키기 위하여 안출한 것으로서, 평탄도가 정밀한 메인베이스에 보스를 형성하고, 45도 마스터프리즘을 이용하여 오토콜리메이터를 조정한 다음 보스에 광픽업 베이스를 올려놓고, 미러부착면에 마스터 풀 미러를 부착시킨 후, 오토콜리메이터로 미러부착면을 검사함으로써 미러부착면의 검사를 정확하게 할 수 있음은 물론 검사시간도 단축시켜 광픽업 베이스의 조립공정을 향상시키는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치를 제공하는 것이 목적이다.

상기의 목적은, 평탄도가 정밀한 메인 베이스에 한쌍의 보스를 형성하고, 광픽업 베이스에 평행광을 입사시키기 위해 오토콜리메이터를 설치하며, 보스에 45도 마스터프리즘을 설치한 후 오토콜리메이터로부터 평행광을 발광시켜 다시 되돌아 오는 빛에 의해 직각프리즘과 오토콜리메이터를 조정하여 수직정렬시키고, 보스에 광픽업 베이스를 올려놓고 미러부착면에 마스터 풀 미러를 부착시킨 후 정렬된 오토콜리메이터로 평행광을 마스터 풀 미러에 입사시킨 후 오토콜리메이터로 반사되는 반사광을 검사함으로써 달성된다.

이하, 본 발명의 구성을 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

제3도에 도시된 바와같이, 본 발명의 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치(10)는 광픽업 베이스(20)를 올려놓도록 상면의 편평도가 정밀하게 메인 베이스(30)가 형성되어 있고, 상기 메인 베이스(30)에 놓여진 광픽업 베이스(20)에 마스터 풀 미러(42)를 이송하도록 상기 메인 베이스(30)의 상면 일측에 에어실린더(40)를 설치되어 있으며, 상기 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)에 부착되는 상기 마스터 풀 미러(42)에 평행광을 입사시키도록 상기 에어실린더(40)에 대향되게 메인 베이스(30)의 상면 일측에 오토콜리메이터(50)가 설치되어 있고, 상기 메인 베이스(30)에 놓여진 광픽업 베이스(20)를 고정하기 위해 상기 메인 베이스(30)의 상부에 클램핑장치(60)가 설치되어 있으며, 상기 마스터 풀 미러(42)로 입사된 평행광이 반사되어 오토콜리메이터(50)로 되돌아 온 것을 읽도록 상기 오토콜리메이터(50)의 배면에 씨씨디(CCD)(51)가 부착되어 있고, 상기 미러부착면(21)의 편평도를 화면으로 출력하도록 모니터(52)를 상기 씨씨디(51)에 모니터(52)가 연결되어 있다. 미설명부호 53은 상기 장치들을 조정하기 위한 컨트롤박스이다.

제4도에 도시된 바와같이, 한쌍의 보스(31)와 메인 베이스(30)의 상면(32)에 직각프리즘(33)을 접촉시켜 45도 경사면(34)이 오토콜리메이터(50)를 향하게 설치한 후 평행광을 발생시켜서 상기 직각프리즘(33)으로 반사되는 평행광에 의해 오토콜리메이터(50)가 보스(31)에 정렬되어 있다.

제5도에 도시된 바와같이, 메인 베이스(30)에는 에어에 의해 진공력이 작용되는 관통공(35)이 형성되어 있고, 관통공(35) 상부에는 흡착장치(36)가 형성되어 있다. 상기 메인 베이스(30)에 위치되는 광픽업 베이스(30)에도 에어의 진공력이 작용되도록 관통공(22)이 형성되어 있다.

또한 메인 베이스(30)에 설치된 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)으로 탄성스프링(41)에 부착된 마스터 풀 미러(42)를 인접이송시키는 에어실린더(40)가 메인 베이스(30)의 상면 일측에 설치되어 있다.

이하, 본 발명의 작용·효과를 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치는 한쌍의 보스(31)와 메인 베이스(30)의 상면(32)에 직각프리즘(33)을 접촉시켜 45도 경사면(34)이 오토콜리메이터(50)를 향하게 설치한 후 오토콜리메이터(50)로부터 발생된 평행광이 직각프리즘(33)에 반사되어 다시 오토콜리메이터(50)로 되돌아 오는 반사광에 의해 메인 베이스(30)에 설치된 오토콜리메이터(50)를 보스(31)에 수직정렬시킨다.

그리고, 광픽업 베이스(20)를 메인 베이스(30)의 상면(32)에 형성된 보스(31)에 끼워서 광픽업 베이스(20)가 회전되지 않도록 한다음 클램핑장치(60)를 하강시켜 광픽업 베이스(20)를 눌러서 고정시킨다.

이후, 에어실린더(40)를 작동시켜 마스터 풀 미러(42)를 미러부착면(21)에 위치시킨 다음 관통공(35, 22)에 진공력이 작용되게하여 미러부착면(21)에 인접위치된 마스터 풀 미러(42)를 미러부착면(21)에 흡착시킨다.

이와같이 메인 베이스(30)에 광픽업 베이스(20)를 세팅시킨 후 오토콜리메이터(50)로부터 평행광을 발광시키면 평행광이 마스터 풀 미러(42)에 반사되고, 반사된 평행광은 다시 오토콜리메이터(50)로 입사된다.

상기 오토콜리메이터(50)로 입사된 반사광은 씨씨디(CCD)(51)에 입력된 후 상기 씨씨디(51)에 연결된 모니터(52)로 전송되어 미러부착면(21)의 편평도가 화면에 디스플레이된다.

상기와 같이 구성되어 조립된 본 발명의 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치는 메인 베이스(30)에 형성된 보스(31)와 오토콜리메이터(50)를 직각프리즘(34)을 사용하여 정렬시킨다음 광픽업 베이스(20)를 올려놓고, 마스터 풀 미러(32)를 에어실린더(40)로 이송시킨 후 광픽업 베이스(20)의 관통공(22)으로 진공력을 작용시켜 미러부착면(21)의 전체 편평도를 간편하고 신속하게 검사할 수 효과를 갖는 매우 유용한 발명이다.

Claims

디스크를 포커싱시키기 위해 레이저 다이오드부로부터 입사된 빛를 대물렌즈로 평행하게 반사시키도록 미러가 부착되는 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)의 편평도를 검사하는 장치에 있어서, 상기 장치가 광픽업 베이스(20)를 올려놓도록 상면의 편평도가 정밀하고, 광픽업 베이스(20)가 직각으로 끼워지도록 상면(32)에 한쌍의 보스(31)가 형성되고, 상기 보스(31)에 인접하여 에어 통로를 형성하는 관통공(35)이 형성된 메인 베이스(30)와, 탄성스프링(41)에 부착된 마스터 풀 미러(42)를 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)에 인접 이송하기 위해 상기 메인 베이스(30)의 상면 일측에 설치된 에어실린더(40)와, 상기 광픽업 베이스(20)에 평행광을 입사시키도록 상기 에어실린더(40)에 대향되게 상기 메인 베이스(30)의 일측 상면에 설치된 오토콜리메이터(50)와, 상기 메인 베이스(30)에 놓여진 광픽업 베이스(20)를 고정하기 위해 상기 메인 베이스(30)의 상부에 클램핑장치(60)와, 상기 미러부착면(21)으로 이송된 마스터 풀 미러(42)로 입사된 평행광이 반사되어 오토콜리메이터(50)로 되돌아 온 것을 읽도록 상기 오토콜리메이터(50)의 배면에 부착된 씨씨디(51)와 상기 미러부착면(21)의 편평도를 화면으로 출력하도록 상기 씨씨디(CCD)(51)에 연결된 모니터(52)로 구성된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치.
제1항에 있어서, 관통공(35)의 상부에 고무재의 흡착판(36)이 설치된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치.
제1항에 있어서, 메인 베이스(30)에 고정되는 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)에 관통공(22)이 형성된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치.
제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 보스(31)에 끼워지는 광픽업 베이스(20)의 미러부착면(21)에 마스터 풀 미러(42)를 밀착시키도록 에어가 통하는 관통공(22)이 형성된 것을 특징으로 하는 광픽업 베이스의 미러부착면 검사장치.