KR0123258B1 - Testing jig-board for basic speed matching circuit - Google Patents
Testing jig-board for basic speed matching circuitInfo
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Abstract
Description
제1도는 본 발명이 적용되는 테스트 지그 구성도.1 is a test jig configuration to which the present invention is applied.
제2도는 본 발명에 따른 테스트 지그 보드의 블록 구성도.2 is a block diagram of a test jig board according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
21 : 마이크로 프로세서 22 : 크로스 포인트 스위치21 microprocessor 22 crosspoint switch
23 : 클럭 발생 회로부 24 : 공통 메모리23: clock generation circuit section 24: common memory
25 : 외부 시험 경로 읽기 버퍼 26 : ROM25: External test path read buffer 26: ROM
27 : 주변 회로부27: peripheral circuit
본 발명은 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드에 관한 것이다.The present invention relates to a basic speed matching circuit board test jig board.
종합 정보 통신망(ISDN) 전전자 교환기의 가입자 정합 장치 중 기본 속도 정합 회로 보드인 IBQA(ISDN Basic access 2BIQ Board Assembly)가 상용화 단계에 접어들면서 기본 속도 가입자 정합 회로 보드에 대한 이상 유무를 파악하기 위한 테스트 장치가 요구되었고 운영시 고장의 경우 보드를 진단하기 위한 장치가 요구되었다.ISB Basic IBSQA (ISDN Basic access 2BIQ Board Assembly), which is a basic speed matching circuit board among subscriber matching devices of an electronic information exchange (ISDN) electronic switch, enters the commercialization stage, and is tested to check whether there is an abnormality in the basic speed subscriber matching circuit board. A device was required and a device for diagnosing the board in the event of a malfunction was required.
상기 요구에 부응하기 위하여 안출된 본 발명은 IBQA와 PCM 하이웨이로 'B'채널을 송수신하며 상위 보드의 제어에 따라 LT(Line Control) 혹은 NT(망종단 장치) 루프백된 데이터의 오류 여부 판별 등 IBQA의 기능을 용이하게 시험하기 위한 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드를 제공하는 데 그 목적이 있다.In order to meet the above requirements, the present invention transmits the 'B' channel to the IBQA and the PCM highway, and determines whether an error of the LT (Line Control) or NT (Network Termination Device) loopback data is determined according to the control of the upper board. The purpose is to provide a basic speed matching circuit board test jig board to easily test the function of.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 수행되는 프로그램을 탑재하는 ROM(Read Only Memory) : 상기 ROM에 내장된 프로그램에 따라 각 기능 블록을 제어하는 마이크로 프로세서 : 오실레이터를 이용하여 클릭을 발생시켜 상기 마이크로 프로세서에서 필요한 클릭을 제공하며, 외부의 IBQA 및 후술할 크로스 포인트 스위치에서 필요한 PCM 하이웨이 클릭 및 동기 신호를 생성하여 공급하는클릭 발생 수단 : 상기 마이크로 프로세서 및 ROM에 연결되며 외부 회로와 동작할 수 있도록 지원하는 주변 회로부 : 회부의 IDPA(ISDN D channel Control Processor Board Assembly)와 상기 마이크로 프로세서가 공동으로 이 메모리를 억세스하여 데이터를 주고 받도록 하는 공통 메모리 : 상기 IBQA에서 PCM 하이웨이의 해당 채널에 다중화하여 전송한 데이터를 수신하여 이를 역다중화하여 상기 마이크로 프로세서가 읽을 수 있도록 하며 상기 마이크로 프로세서가 쓴 데이터를 PCM 하이웨이에 다중화하여 상기 IBQA로 송신하는 크로스 포인트 스위치 : 및 상기 IBQA의 시험 릴레이 구동 상태를 확인하기 위한 외부 시험 경로 읽기 버퍼를 구비한다.In order to achieve the above object, the present invention, a ROM (Read Only Memory) for mounting a program to be performed: a microprocessor for controlling each function block in accordance with the program embedded in the ROM: by generating a click using an oscillator Click generation means that provides the necessary clicks on the processor and generates and supplies the PCM highway click and synchronization signals required by external IBQAs and cross-point switches to be described later: Connected to the microprocessor and ROM and supporting operation with external circuits. Peripheral circuit unit: A common memory that allows the IDPA (ISDN D channel Control Processor Board Assembly) and the microprocessor to access and exchange data by jointly accessing the data: Data transmitted by multiplexing to the corresponding channel of the PCM highway in the IBQA. Receive and demultiplex it to remind And a cross point switch for reading a microprocessor and multiplexing the data written by the microprocessor on a PCM highway to the IBQA; and an external test path read buffer for checking a test relay driving state of the IBQA.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described an embodiment of the present invention;
제1도는 본 발명이 적용되는 테스트 지그 구성도로서 NT는 IBQA와 연결하여 NT 루프백 등의 기능을 수행하기 위한 것이며, CRT는 시험을 수행하고 그 결과를 관측하기 위하여 IDPA에 연결한다.1 is a test jig configuration to which the present invention is applied, and NT is connected to IBQA to perform a function such as NT loopback, and CRT is connected to IDPA to perform a test and observe the result.
IDPA는 내장된 프로그램에 따라 IBQA 및 BSIJ(Basic Access Subscriber Interface Test Jig Board Assembly)를 제어하여 시험 절차를 수행하고 그 결과를 CRT로 출력 한다. PBU-C는 직류/직류 변환기로서 -48V를 공급받아 본 장치에 필요한 전원을 공급한다.IDPA controls the IBQA and BSIJ (Basic Access Subscriber Interface Test Jig Board Assembly) according to the embedded program to perform test procedures and output the results to the CRT. The PBU-C is a DC / DC converter, supplied with -48V to supply the power required for this unit.
제2도는 본 발명인 BSIJ의 내부 구성도로서, 도면에서 21은 마이크로 프로세서, 22는 크로스 포인트 스위치, 23은 클럭 발생 회로부, 24는 공통 메모리, 25는 외부 시험 경로 읽기 버퍼, 26은 ROM, 27은 주변 회로부를 각각 나타낸다.2 is an internal configuration diagram of the BSIJ according to the present invention, in which 21 is a microprocessor, 22 is a cross point switch, 23 is a clock generation circuit part, 24 is a common memory, 25 is an external test path read buffer, 26 is ROM, and 27 is Each peripheral circuit part is shown.
도면에 도시한 구성을 참조하여 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.Referring to the configuration shown in the drawings for each function as follows.
먼저, 클럭 발생 회로부(23)는 오실레이터를 이용하여 클럭을 발생시켜 마이크로 프로세서(21)에서 필요한 CPU 클럭을 제공하며, IBQA 및 크로스 포인트 스위치(22)에서 필요한 PCM 하이웨이 클럭 및 동기 신호를 생성하여 공급한다.First, the clock generation circuit unit 23 generates a clock using an oscillator to provide a CPU clock required by the microprocessor 21, and generates and supplies a PCM highway clock and a synchronization signal required by the IBQA and the cross point switch 22. do.
ROM(Read Only Memory)(26)은 본 발명의 동작에 필요한 주요 소자의 초기화, IDPA와 통신을 위한 공통 메모리(24) 읽고 쓰기, 크로스 포인트 스위치(22)에 'B'채널 데이터를 쓰고 읽기 및 외부 시험 경로 읽기 등을 수행하는 프로그램을 탑재한다.ROM (Read Only Memory) 26 reads and writes the main elements required for operation of the present invention, reads and writes common memory 24 for communication with IDPA, and writes and reads 'B' channel data to and from crosspoint switch 22. Load a program that performs external test path reading.
주변 회로부(27)는 프로세서 리셋 회로, 외부 CRT와 직렬 통신을 위한 인터페이스 회로, 어드레스 디코더, LC 버스 인터페이스 등으로 구성하여 프로세서가 외부 회로와 용이하게 동작할 수 있도록 지원한다.The peripheral circuit unit 27 is composed of a processor reset circuit, an interface circuit for serial communication with an external CRT, an address decoder, an LC bus interface, and the like so that the processor can easily operate with an external circuit.
LC 버스 인터페이스(도시하지 않음)는 백보드에서 자신의 슬롯에 할당된 어드레스와 일치하며 응답 신호(/DTACK)를 보내며 자신의 공통 메모리를 억세스할 수 있도록 한다.The LC bus interface (not shown) matches the address assigned to its slot on the backboard and sends a response signal (/ DTACK) to allow access to its common memory.
공통 메모리(24)는 두 개의 포트쌍(Dual Port)을 갖는 DPRAM 2개를 하나는 홀수 어드레스용으로 다른 하나는 짝수 어드레스용으로 구성하여 LC 버스를 통하여 IDPA와 본 발명의 마이크로 프로세서(21)가 공동으로 이 메모리를 억세스하여 데이터를 주고 받는다. 만약 상위 보드와 자신의 마이크로 프로세서(21)가 동일한 어드레스를 동시에 억세스하면 조금이라도 늦게 억세스한 것으로 사용중(/BUSY)신호를 보내고 주변 회로에서 LC 버스측인 경우 응답 신호를 전송하지 않고 본 발명의 마이크로 프로세서(21)인 경우 대기신호(/WAIT)를 생성하여 상호 충돌로 인한 오류를 방지한다.The common memory 24 comprises two DPRAMs having two port pairs (Dual Port), one for odd addresses and the other for even addresses, so that IDPA and the microprocessor 21 of the present invention This memory is commonly accessed to exchange data. If the upper board and its own microprocessor 21 simultaneously access the same address, it accesses a little bit too late and transmits the busy signal and transmits the response signal when the peripheral circuit is on the LC bus side. In the case of the processor 21, a wait signal / WAIT is generated to prevent an error due to mutual collision.
크로스 포인트 스위치(22)는 IBQA에서 PCM 하이웨이의 해당 채널에 다중화하여 전송한 데이터를 수신 하여 이를 역다중화하여 마이크로 프로세서가 읽을 수 있도록 하며 마이크로 프로세서(21)가 쓴 데이터를 PCM 하이웨이에 다중화하여 IBQA로 송신한다.The cross-point switch 22 receives data transmitted by multiplexing to the corresponding channel of the PCM highway in IBQA, demultiplexes it to be read by the microprocessor, and multiplexes the data written by the microprocessor 21 to the PCM highway to IBQA. Send.
외부 시험 경로 읽기 버퍼(25)는 IBQA의 시험 릴레이 구동 상태를 확인하기 위한 것으로 외부 시험 경로와 연결되며, 외부 시험 경로가 설정되면 '0'으로 외부 시험 경로가 개방되어 '1'로 지정된다.The external test path read buffer 25 is for checking the test relay driving state of the IBQA and is connected to the external test path. When the external test path is set, the external test path is opened as '0' and is designated as '1'.
마이크로 프로세서(21)는 ROM에 내장된 프로그램에 따라 모든 회로를 제어한다.The microprocessor 21 controls all the circuits in accordance with the program embedded in the ROM.
상기와 같은 본 발명은 기본 속도 정합 회로 보드 지그에서 필요한 PCM 하이웨이를 구성할 수 있도록 하며, IDPA의 제어에 따라 'B'채널 데이터를 IBQA로 송수신하여 LT 혹은 NT 루프백시 데이터 오류 유무를 판정하고, 외부 시험 경로 설정을 확인하는 등의 자동 시험을 수행하는 데활용할 수 있는 효과가 있다.The present invention as described above allows to configure the PCM highway required in the basic speed matching circuit board jig, and under the control of IDPA transmits 'B' channel data to the IBQA to determine the data error at the time of LT or NT loopback, It can be used to carry out automated tests, such as checking external test path settings.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940033549A KR0123258B1 (en) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | Testing jig-board for basic speed matching circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019940033549A KR0123258B1 (en) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | Testing jig-board for basic speed matching circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR960027693A KR960027693A (en) | 1996-07-22 |
KR0123258B1 true KR0123258B1 (en) | 1997-11-19 |
Family
ID=19400918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019940033549A KR0123258B1 (en) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | Testing jig-board for basic speed matching circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR0123258B1 (en) |
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1994
- 1994-12-09 KR KR1019940033549A patent/KR0123258B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960027693A (en) | 1996-07-22 |
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