JPWO2021048975A1 - 非接触型電圧計測装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明を実施するための形態(以下実施形態と記す)を、添付図面を参照して説明する。添付図面において略同じ構成には同じ符号を付し、同じ符号が付された構成は略同じ動作および作用を為し、略同じ効果を奏する。同じ符号の構成に関して繰り返しの説明を省略する。
2.1 本発明の一実施形態に係る非接触型電圧計測装置の適用範囲の説明
本発明の一実施形態である電圧計測装置100は、低電圧から高電圧までの広範囲の電圧を非接触状態で、しかも高い精度で計測することができる。特に高電圧の計測においては危険が伴うため、非接触状態で計測することが好ましい。しかし非接触状態で計測する場合には、計測精度に対して色々な問題が生じてくる。電圧計測装置100は、以下で説明する導体の変位に伴う問題を解決し、高い精度での計測を可能とした。
図1に、色々な電力の送配電方式に適応可能な電圧計測装置100の基本構成を示す。交流電力を送電する電線16は、導体である心線12と心線12を覆う絶縁被覆14を備えている。計測対象の交流電圧は、例えば交流電源4から電線16の心線12に電力が供給されたことにより、心線12に生じた電圧である。交流電源4の一方側端子6は心線12に接続され、他方側端子8は、基準電位点20に接続されている。
多くの場合、電圧の測定対象となる導体は絶縁材で覆われており、導体の位置関係や導体の形状を簡単に把握することが困難である。このような状況において、導体の電圧を高い精度で計測したいとのニーズにどのように対応するか、発明者らは色々検討を重ねた。その結果発明者らは、最も導体に近い電極である第1対電極の内側に導体が存在する場合に、一定の手順に従って演算処理を行うことにより、高い精度で導体の電圧を計測できる技術を確立した。すなわち上記手順に従って演算処理を行うことで、第1対電極の内側の自由空間に導体が存在する場合には、その導体の存在位置を明確に把握しなくても、高い精度で電圧の計測が可能となる技術を開発した。
図2の記載では、心線12と各電極との位置関係では、心線12の中心がZ軸10と一致しており、心線12の表面と電極32の対向面や電極34の対向面との距離がそれぞれ同じである。同様に心線12の表面と電極36の対向面や電極38の対向面との距離もまたそれぞれ同じである。この場合には高い精度で電圧の計測が可能となる。
図4は直交座標系において、心線12の中心13が、Z軸10に対して、X軸方向に距離X1、Y軸方向に距離Y1、変位している状態を示す。実際にはこのようにX軸方向にもY方向にも心線12が変位している場合が多いが、先ずX軸方向の変位と計測誤差との関係を説明する。
心線12のX方向への変位に伴う補正を図5に基づいて行うには、心線12のX方向への変位量X1を知ることが必要となる。しかし現実には変位量X1を直接測ることが難しい。そこで発明者らは電極32の計測電圧である電圧V32と電極34の計測電圧である電圧V34の比に着目した。電圧V34に対する電圧V32の比は、心線12のX方向への変位量X1の変数となり、変位量X1に対して一義的に定まる。
図7は、図4における心線12の変位で、心線12がY軸方向に変位した場合の、電極32の電圧V32および電極34の電圧V34に与える電圧変化を示すグラフである。心線12のY軸方向への変位に伴う電極32の電圧V32の変化をグラフG5で示し、同じく電極34の電圧V34の変化をグラフG6で示す。また電極32と電圧V34の和の電圧の変化をグラフG7で示す。心線12のY軸方向への変位に伴う電圧V32と電圧V34への影響は、図5に記載のX方向への変位の影響に比べれば小さい。また図5に記載のX軸方向への変位では、変位が大きくなるに従って実際の電圧より大きくなる方向の計測結果が得られたが、図7に示すY軸方向への変位では、実際の値より計測結果が小さくなる傾向となる。
図1に記載した演算装置50の演算処理内容を示すフローチャートの一例を、図9に示す。各電極の電圧を計測して、計測対象とする導体の電圧Voutを算出する演算処理のためのプログラムが、記憶部62に記憶されている。記憶部62にはさらに演算により求められた心線12の電圧をどのような形式で出力するか、およびそのための処理プログラムも記憶されている。このプログラムは計測対象の電圧の変化に対して極めて短い周期で繰り返し実行されるので、本実施形態では、上記導体の電圧変化を、高い精度の、しかも連続した電圧波形として出力することが可能となる。本実施形態では、上述したように演算装置50の出力部64から、上記波形を、表示によりあるいは印刷により、あるいはまたデジタルデータの形式で、出力することができる。
上述した処理方法では、非常に高い精度で電圧VAを算出することができる。以下で説明する如く非常に高い精度で計測された電圧VAを使用することで、心線12の電圧を非常に高い精度で計測することができる。
導体の電圧Vout=VA × 1/(R−a) ・・・(3)
ここで、RはVA/VBで表される。またaは定数である。
5.1 心線12である導体の変位にかかわらず高い精度での電圧の計測の実現
本実施形態によれば、上述したように第1対電極の内側であれば心線12の位置がどの位置にあっても変位に基づく補正を正確に行うことができ、高い精度で心線12の電圧を計測できる。
本実施例では第1対電極や第2対電極など対の電極を使用し、さらに第1対電極に対して第2対電極を構成する電極の間隔を大きくしている。さらに心線12の変位に関係するパラメータとしてそれぞれの対電極の電圧比を使用している。この結果心線12の太さが変化したとしてもその変化が計測結果に与える影響が非常に小さくなっている。言い換えると心線12の太さの変化が算出された計測値に現れにくい状態となっている。このため高い計測精度が得られる。また絶縁被覆14の厚さ等が変化すると静電容量の変化等の関係から計測された電圧値に影響を与えることになる。しかし本実施形態では、第1対電極に対して、第2対電極の電極間の距離を大きくしており、また補正パラメータとして第1対電極や第2対電極を構成する各電極の電圧比、および第1対電極の電圧と第2対電極の電圧比に基づいて心線12の電圧を算出しているので、絶縁被覆14の形状等の変化による静電容量の変化に伴う計測結果への影響が非常に少なくなる。
説明を簡単にするために第1対電極や第2対電極を構成する電極を円弧形状としたが、心線12の変位と発生電圧との関係において、電極形状が特定される必要がなく、予め計測して補正量を求めるための電極形状と実際に使用する計測装置の電極形状との関係を定めておけば、電極は他の形状であっても全く問題ない。
本実施形態では、計測対象の交流電圧の変動周期に対して極めて短時間に計測が終了するので、計測動作を繰り返すことにより、対象電圧を連続的に計測することができる。使用の要求に対応して高精度の計測結果を連軸的に、例えば連続した波形として出力することが可能となる。
図10は、本発明の他の実施形態を示す。演算装置50の演算処理は先の実施形態と同様であり、演算装置50に関する開示や説明を省略する。電線16はその内部に心線12を備えている。電圧計測装置100は計測部102に電線16を固定することにより、第1対電極や第2対電極と電線16との位置関係を固定するための電線保持具222および電線保持具224を有している。また第1対電極は一個の電極32と一個の電極34とで構成されているのではなく、電極32が、電線16の長手方向の沿って設けられた複数の電極321や電極322で構成されている。また電極34電線16の長手方向の沿って設けられた複数の電極341や電極342で構成されている。電極321と電極322および電極341と電極342は、それぞれ電極36を挟むように配置されている。もちろん電極36についても複数の電極で構成するようにしても良い。
Claims (8)
- 導体を配置するための空間の外側に、該空間を挟むように設けられた第1電極と第2電極とを有する第1対電極と、
上記空間を挟むように設けられた第3電極と第4電極とを有する第2対電極と、
上記導体の電圧に基づいて上記第1電極と上記第2電極および上記第3電極と上記第4電極とにそれぞれ発生した第1電極電圧と第2電極電圧および第3電極電圧と第4電極電圧を計測する電圧計測部と、
上記第1電極電圧と上記第2電極電圧とに基づき、上記導体の上記第1対電極方向の変位を補正するための第1補正量を演算する第1補正量演算手段と、
上記第1電極電圧と上記第2電極電圧および上記第1補正量とに基づいて上記第1対電極の補正された電圧を算出する第1対電極電圧演算手段と、
上記第3電極電圧と上記第4電極電圧とに基づき、上記導体の上記第2対電極方向の変位を補正するための第3補正量を演算する第3補正量演算手段と、
上記第3電極電圧と上記第4電極電圧および上記第3補正量とに基づいて上記第2対電極の補正された電圧を算出する第2対電極電圧演算手段と、
上記第1対電極の補正された電圧と上記第2対電極の補正された電圧とに基づいて、上記導体の電圧を算出する導体電圧演算手段と、を有する、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。 - 請求項1に記載の非接触型電圧計測装置において、
上記第1補正量を演算するためのパラメータとして、上記第1電極電圧と上記第2電極電圧の比を使用し、
上記第3補正量を演算するためのパラメータとして、上記第3電極電圧と上記第4電極電圧の比を使用する、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。 - 請求項1に記載の非接触型電圧計測装置において、
さらに上記第1電極電圧と上記第2電極電圧とに基づき、上記導体の上記第2対電極方向の変位を補正するための第2補正量を演算する第2補正量演算手段を更に設け、
上記第1対電極電圧演算手段は、上記第1電極電圧と上記第2電極電圧および上記第1補正量と、上記第2補正量とに基づいて上記第1対電極の補正された電圧を算出する、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。 - 請求項1に記載の非接触型電圧計測装置において、
さらに上記第3電極電圧と上記第4電極電圧とに基づき、上記導体の上記第1対電極方向の変位を補正するための第4補正量を演算する第4補正量演算手段を更に設け、
上記第2対電極電圧演算手段は、上記第3電極電圧と上記第4電極電圧および上記第3補正量と、上記第4補正量とに基づいて上記第2対電極の補正された電圧を算出する、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。 - 請求項1に記載の非接触型電圧計測装置において、上記第1対電極の配置されている軸を直交座標系のX軸とすると、上記第2対電極が直交座標系のY軸上に配置されている、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。
- 請求項5に記載の非接触型電圧計測装置において、上記X軸と上記Y軸との交点を中心とし、上記X軸を起点とする角度において、上記第1対電極が設けられている角度と上記第2対電極が設けられている角度が異なる角度であって、上記角度において互いに重ならないように配置されている、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。
- 請求項5に記載の非接触型電圧計測装置において、上記X軸と上記Y軸との上記交点から上記第1対電極までの距離よりさらに上記交点から離れた位置に上記第2対電極が設けられている、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。
- 請求項6に記載の非接触型電圧計測装置において、 上記第1対電極および上記第2対電極のさらに外側に、上記第1対電極および上記第2対電極を覆う接地電極を設けた、ことを特徴とする非接触型電圧計測装置。
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