JPWO2021038767A5 - 処理装置、処理方法及びプログラム - Google Patents

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  1. 光照射された検査対象構造物からの反射光に基づいて取得された三次元点群データを、前記データの各点における位置情報に基づいて、前記構造物に対応する形状単位であるクラスタに分類する分類手段と、
    前記分類されたクラスタに含まれる第1のクラスタと第2のクラスタとが、同一の前記構造物に対応するか否かを、前記分類されたクラスタ間の位置関係に基づいて判定するクラスタ対応付け手段と、を備える、処理装置。
  2. 前記クラスタ対応付け手段は、所定の第1平面に前記第1のクラスタを射影した第1の射影クラスタと前記第1平面に前記第2のクラスタを射影した第2の射影クラスタとを生成する射影クラスタ生成手段をさらに有し、
    前記第1平面は、前記第1のクラスタの重心と前記第2のクラスタの重心とを結ぶ直線に垂直であり、
    前記クラスタ対応付け手段は、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの対応付けにおいて、前記第1の射影クラスタと前記第2の射影クラスタとが一致するか否かについての判定結果を考慮する、請求項1に記載の処理装置。
  3. 前記クラスタ対応付け手段は、
    所定の第1平面に前記第1のクラスタを射影した第1の射影クラスタと前記第1平面に前記第2のクラスタを射影した第2の射影クラスタとを生成する射影クラスタ生成手段と、
    前記分類手段によって分類された全てのクラスタについて、それぞれ、点の数が最も多く並んでいる最長方向を検出する最長方向検出手段と、をさらに有し、
    前記第1平面は前記最長方向に垂直であり、
    前記クラスタ対応付け手段は、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの対応付けにおいて、前記第1の射影クラスタと前記第2の射影クラスタとが一致するか否かについての判定結果を考慮する、請求項1に記載の処理装置。
  4. 前記クラスタ対応付け手段は、
    前記分類手段によって分類された全てのクラスタについて、それぞれ、存在する複数の輪郭線を抽出する輪郭線抽出手段と、
    前記全てのクラスタに含まれる第1のクラスタと第2のクラスタとについて、前記第1のクラスタから抽出された複数の輪郭線である第1輪郭線群と前記第2のクラスタから抽出された複数の輪郭線である第2輪郭線群との照合を行ない、前記第1輪郭線群と前記第2輪郭線群とで一致する輪郭線の数を算出する輪郭線一致数算出手段と、をさらに有し、
    前記クラスタ対応付け手段は、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの対応付けにおいて、前記一致する輪郭線の数を考慮する、請求項2または3に記載の処理装置。
  5. 前記クラスタ対応付け手段は、
    前記分類手段によって分類された全てのクラスタについて、それぞれ、点の数が最も少なく並んでいる最短方向を検出する最短方向検出手段と、
    前記第1のクラスタより検出された最短方向と前記第2のクラスタより検出された最短方向とのなす角のうち小さい方の角度を算出する角度算出手段と、
    前記第1のクラスタに含まれる各点の第2平面からの距離を平均した第1平均距離と、前記第2のクラスタに含まれる各点の前記第2平面からの距離を平均した第2平均距離と、の差分を算出する差分算出手段と、をさらに有し、
    前記第2平面は前記第1のクラスタより検出された最短方向に垂直な平面であり、
    前記クラスタ対応付け手段は、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの対応付けにおいて、前記角度と前記差分を考慮する、請求項2から4のいずれか一項に記載の処理装置。
  6. 前記クラスタ対応付け手段は、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの間の前記検査対象構造物に対して光照射する三次元センサに対して手前側の位置に、所定数以上の点が含まれる第3のクラスタが存在しているか否かを判定し、前記第3のクラスタが存在していない場合には、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとを対応付けしない、請求項1から5のいずれか一項に記載の処理装置。
  7. 前記クラスタ対応付け手段は、点群データから距離画像を生成し、生成した前記距離画像における、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの間の領域に含まれる画素の画素値の平均を算出する画素値平均算出手段をさらに有し、
    前記クラスタ対応付け手段は、前記平均が所定の閾値より大きい場合に前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとを対応付けしない、請求項1から5のいずれか一項に記載の処理装置。
  8. 前記クラスタ対応付け手段において前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとを対応付けすると判定された場合に、前記第1のクラスタと前記第2のクラスタとの間に点群を補完する点群補完手段をさらに備える、請求項1から4のいずれか一項に記載の処理装置。
  9. 光照射された検査対象構造物からの反射光に基づいて取得された三次元点群データを、前記データの各点における位置情報に基づいて、前記構造物に対応する形状単位であるクラスタに分類するステップと、
    前記分類されたクラスタに含まれる第1のクラスタと第2のクラスタとが、同一の前記構造物に対応するか否かを、前記分類されたクラスタ間の位置関係に基づいて判定するステップと、を備える、処理方法。
  10. 光照射された検査対象構造物からの反射光に基づいて取得された三次元点群データを、前記データの各点における位置情報に基づいて、前記構造物に対応する形状単位であるクラスタに分類するステップと、
    前記分類されたクラスタに含まれる第1のクラスタと第2のクラスタとが、同一の前記構造物に対応するか否かを、前記分類されたクラスタ間の位置関係に基づいて判定するステップと、をコンピュータに実行させるプログラム
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