JPWO2020250373A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JPWO2020250373A5
JPWO2020250373A5 JP2021525501A JP2021525501A JPWO2020250373A5 JP WO2020250373 A5 JPWO2020250373 A5 JP WO2020250373A5 JP 2021525501 A JP2021525501 A JP 2021525501A JP 2021525501 A JP2021525501 A JP 2021525501A JP WO2020250373 A5 JPWO2020250373 A5 JP WO2020250373A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image processing
sample
statistic
calculating
input data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2021525501A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7162134B2 (ja
JPWO2020250373A1 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/JP2019/023447 external-priority patent/WO2020250373A1/ja
Publication of JPWO2020250373A1 publication Critical patent/JPWO2020250373A1/ja
Publication of JPWO2020250373A5 publication Critical patent/JPWO2020250373A5/ja
Priority to JP2022165935A priority Critical patent/JP7427744B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7162134B2 publication Critical patent/JP7162134B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (18)

  1. 記憶媒体に記憶されている試料の基準データと前記試料に関する入力データを用いて当該試料に対する検査を行うための画像処理プログラムにおいて、
    前記基準データを受け付けるステップと、
    前記基準データに基づき前記試料に関する特徴量を、畳み込みニューラルネットワークによって算出するステップと、
    前記特徴量に基づいて、当該入力データがとり得る値の確率分布を示す統計量を算出するステップを実行させることを特徴とする画像処理プログラム。
  2. 請求項1に記載の画像処理プログラムにおいて、
    さらに、
    前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータに対する学習の必要性を判断するステップを実行させ、
    前記学習が必要と判断した場合、前記入力データを受け付けるステップと、前記統計量と前記入力データを比較するステップと、前記比較の結果に応じて、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するパラメータを変更するステップとを実行させ、
    前記学習が不要と判断した場合、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータをモデルデータとして保存するステップを実行させることを特徴とする画像処理プログラム。
  3. 請求項1に記載の画像処理プログラムにおいて、
    さらに、
    前記入力データを受け付けるステップと、
    前記統計量と前記入力データを比較するステップと、
    前記比較の結果を用いて、前記試料の評価を行うステップを実行させることを特徴とする画像処理プログラム。
  4. 請求項3に記載の画像処理プログラムにおいて、
    前記試料の評価は前記試料に対する欠陥検査、またはプロセス変動に伴う前記試料の形状ばらつき評価であることを特徴とする画像処理プログラム。
  5. 請求項1乃至4のいずれかに記載の画像処理プログラムにおいて、
    前記入力データを示す値は、前記試料の形状または物性を示す値であることを特徴とする画像処理プログラム。
  6. 請求項3または4に記載の画像処理プログラムにおいて、
    さらに、前記統計量、または前記評価の結果を表示するステップを実行させることを特徴とする画像処理プログラム。
  7. 記憶媒体に記憶されている試料の基準データと前記試料に関する入力データを用いて当該試料に対する検査を行うための画像処理装置において、
    前記基準データを受け付ける手段と、
    前記基準データに基づき前記試料に関する特徴量を、畳み込みニューラルネットワークによって算出する手段と、
    前記特徴量に基づいて、当該入力データがとり得る値の確率分布を示す統計量を算出する手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
  8. 請求項7に記載の画像処理装置において、
    さらに、
    前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータに対する学習の必要性を判断する手段と、前記入力データを受け付ける手段と、前記統計量と前記入力データを比較する手段と、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するパラメータを変更及び保存する手段を有し、
    前記学習が必要と判断した場合、前記比較する手段が、前記統計量と前記入力データを比較し、前記パラメータを変更する手段が、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するパラメータを変更し、
    前記学習が不要と判断した場合、前記パラメータを保存する手段が、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータをモデルデータとして保存することを特徴とする画像処理装置。
  9. 請求項8に記載の画像処理装置において、
    さらに、
    前記入力データを受け付ける手段と、
    前記統計量と前記入力データを比較する手段と、
    前記比較の結果を用いて、前記試料の評価を行う手段を有することを特徴とする画像処理装置。
  10. 請求項9に記載の画像処理装置において、
    前記試料の評価は前記試料に対する欠陥検査、またはプロセス変動に伴う前記試料の形状ばらつき評価であることを特徴とする画像処理装置。
  11. 請求項7乃至10のいずれかに記載の画像処理装置において、
    前記入力データを示す値は、前記試料の形状または物性を示す値であることを特徴とする画像処理装置。
  12. 請求項9または10に記載の画像処理装置において、
    さらに、前記統計量、または前記評価の結果を表示する手段を有することを特徴とする画像処理装置。
  13. 記憶媒体に記憶されている試料の基準データと前記試料に関する入力データを用いて当該試料に対する検査を行うための画像処理方法において、
    前記基準データを受け付けるステップと、
    前記基準データに基づき前記試料に関する特徴量を、畳み込みニューラルネットワークによって算出するステップと、
    前記特徴量に基づいて、当該入力データがとり得る値の確率分布を示す統計量を算出するステップとを有することを特徴とする画像処理方法。
  14. 請求項13に記載の画像処理方法において、
    さらに、
    前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータに対する学習の必要性を判断するステップと、
    前記学習が必要と判断した場合、前記入力データを受け付けるステップと、前記統計量と前記入力データを比較するステップと、前記比較の結果に応じて、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するパラメータを変更するステップと、
    前記学習が不要と判断した場合、前記特徴量を算出するためのパラメータ及び前記統計量を算出するためのパラメータをモデルデータとして保存するステップを有することを特徴とする画像処理方法。
  15. 請求項13に記載の画像処理方法において、
    さらに、
    前記入力データを受け付けるステップと、
    前記統計量と前記入力データを比較するステップと、
    前記比較の結果を用いて、前記試料の評価を行うステップを有することを特徴とする画像処理方法。
  16. 請求項15に記載の画像処理方法において、
    前記試料の評価は前記試料に対する欠陥検査、またはプロセス変動に伴う前記試料の形状ばらつき評価であることを特徴とする画像処理方法。
  17. 請求項13乃至16のいずれかに記載の画像処理方法において、
    前記入力データを示す値は、前記試料の形状または物性を示す値であることを特徴とする画像処理方法。
  18. 請求項15または16に記載の画像処理方法において、
    さらに、前記統計量、または前記評価の結果を表示するステップを有することを特徴とする画像処理方法。
JP2021525501A 2019-06-13 2019-06-13 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法 Active JP7162134B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022165935A JP7427744B2 (ja) 2019-06-13 2022-10-17 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理方法および欠陥検出システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/023447 WO2020250373A1 (ja) 2019-06-13 2019-06-13 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022165935A Division JP7427744B2 (ja) 2019-06-13 2022-10-17 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理方法および欠陥検出システム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPWO2020250373A1 JPWO2020250373A1 (ja) 2020-12-17
JPWO2020250373A5 true JPWO2020250373A5 (ja) 2022-03-30
JP7162134B2 JP7162134B2 (ja) 2022-10-27

Family

ID=73781712

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021525501A Active JP7162134B2 (ja) 2019-06-13 2019-06-13 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法
JP2022165935A Active JP7427744B2 (ja) 2019-06-13 2022-10-17 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理方法および欠陥検出システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022165935A Active JP7427744B2 (ja) 2019-06-13 2022-10-17 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理方法および欠陥検出システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20220318975A1 (ja)
JP (2) JP7162134B2 (ja)
KR (1) KR20220002572A (ja)
CN (1) CN113994368A (ja)
TW (2) TWI813871B (ja)
WO (1) WO2020250373A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11854184B2 (en) * 2021-01-14 2023-12-26 Applied Materials Israel Ltd. Determination of defects and/or edge roughness in a specimen based on a reference image
WO2023127081A1 (ja) * 2021-12-28 2023-07-06 株式会社日立ハイテク 画像検査装置、画像処理方法
JP2023181587A (ja) 2022-06-13 2023-12-25 株式会社日立ハイテク 欠陥検査装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5275017B2 (ja) * 2008-12-25 2013-08-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置
US9390490B2 (en) * 2010-01-05 2016-07-12 Hitachi High-Technologies Corporation Method and device for testing defect using SEM
JP5622398B2 (ja) * 2010-01-05 2014-11-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ Semを用いた欠陥検査方法及び装置
US9965901B2 (en) 2015-11-19 2018-05-08 KLA—Tencor Corp. Generating simulated images from design information
US10181185B2 (en) * 2016-01-11 2019-01-15 Kla-Tencor Corp. Image based specimen process control
KR102376200B1 (ko) * 2016-05-12 2022-03-18 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 기계 학습에 의한 결함 또는 핫스폿의 식별
KR20190029670A (ko) * 2016-09-01 2019-03-20 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 패턴 계측 장치, 및 컴퓨터 프로그램
JP6759034B2 (ja) * 2016-09-29 2020-09-23 株式会社日立ハイテク パターン評価装置及びコンピュータープログラム
US10809635B2 (en) * 2017-11-20 2020-10-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Defect inspection method and defect inspection system
US10713769B2 (en) * 2018-06-05 2020-07-14 Kla-Tencor Corp. Active learning for defect classifier training

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPWO2020250373A5 (ja)
JP2019148583A5 (ja)
JP7102941B2 (ja) 情報処理方法、情報処理装置、及びプログラム
CN110991495B (zh) 生产制造过程中产品质量预测方法、系统、介质及设备
KR20230135177A (ko) 제조 조건 출력 장치, 품질 관리 시스템 및 프로그램
JP2015128129A5 (ja)
JP2015125009A5 (ja)
CN109584225B (zh) 一种基于自编码器的无监督缺陷检测方法
JP2016530585A (ja) 技術的な系の出力量のモデルを算出する方法
EP3296823A3 (en) Model-plant mismatch detection with support vector machine for cross-directional process behavior monitoring
JP6283112B2 (ja) データに基づく関数モデルを定めるための方法及び装置
JP2015100080A5 (ja)
CN112418590B (zh) 一种印制电路板元器件检测方法及系统
CN115661160B (zh) 一种面板缺陷检测方法及系统及装置及介质
CN114140463A (zh) 一种焊接缺陷识别方法、装置、设备及存储介质
JP2017181497A5 (ja)
JP2019007944A (ja) 偏析検出方法及び偏析検出装置
JP2020519017A5 (ja)
CN117372424A (zh) 一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
CN117173160A (zh) 基于图像处理的房车部件质量检测方法
US20180137615A1 (en) High speed, flexible pretreatment process measurement scanner
JP2008051558A (ja) 外観検査方法及び外観検査装置
JPWO2021255819A5 (ja)
CN117216844A (zh) 一种桥梁结构损伤检测方法、系统和存储介质
CN107843552A (zh) 推进剂吸湿后填料粒子与基体界面脱湿的定量检测方法