JPWO2019225014A1 - スペクトラム分析方法及びその装置 - Google Patents

スペクトラム分析方法及びその装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2019225014A1
JPWO2019225014A1 JP2019510371A JP2019510371A JPWO2019225014A1 JP WO2019225014 A1 JPWO2019225014 A1 JP WO2019225014A1 JP 2019510371 A JP2019510371 A JP 2019510371A JP 2019510371 A JP2019510371 A JP 2019510371A JP WO2019225014 A1 JPWO2019225014 A1 JP WO2019225014A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
data
level
spectrum
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019510371A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6533024B1 (ja
Inventor
中村 哲也
哲也 中村
直樹 坪井
直樹 坪井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Corp
Original Assignee
Toyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Corp filed Critical Toyo Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP6533024B1 publication Critical patent/JP6533024B1/ja
Publication of JPWO2019225014A1 publication Critical patent/JPWO2019225014A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2889Rapid scan spectrometers; Time resolved spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J2003/283Investigating the spectrum computer-interfaced

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

スペクトラム分析方法は、入力された信号に対して連続してn回、FFTを繰り返すことで得られたn個のスペクトラムを蓄積する蓄積ステップ(S10)と、閾値を受け付ける受け付けステップ(S11)と、蓄積されたn個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタステップ(S12)と、特定された高頻度データだけを対象とし、周波数ポイントごとに、最大のレベルを選択するマックスホールドステップ(S13)と、選択された、周波数ポイントごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力ステップ(S14)とを含む。

Description

本発明は、スペクトラム分析方法及びその装置に関し、特に、高速フーリエ変換によって得られた複数のスペクトラムから周波数ポイントごとの最大レベルを保持したスペクトラムを生成するスペクトラム分析方法に関する。
電子機器が放射する電磁波は、他の電子機器等の機能を妨害する電磁波干渉(EMI:Electro-Magnetic Interference)の原因となり得る。そのために、国際無線障害特別委員会(CISPR:The International Special Committee on Radio Interference)、米国規格協会(ANSI:American National Standards Institute)等の公的機関によりEMI関連工業規格(以下、単に「規格」ともいう)が策定され、米国、中国、日本等の政府機関によりそのレベルが規制されている。例えば、CISPR32規格等には、EMIの尖頭値、準尖頭値、平均値等の各検波方式でのレベルの許容値が規定されており、これを満足するか否かで適合判定が行われる。
従来、規格への適合判定のために、掃引式スペクトラムアナライザのマックスホールド(MaxHold)機能を用いて、放射妨害波(以下、単に「ノイズ」ともいう)の最大レベルとその周波数の特定等が行われる。ここで、マックスホールドとは、繰り返し得られるスペクトラムにおける周波数ポイントごとの最大レベルを保持して出力(例えば、表示)することである。なお、周波数ポイントとは、スペクトラムの横軸(つまり、周波数軸)における個々の周波数帯域(周波数分解能に対応する帯域)である。また、レベルとは、スペクトラムの縦軸における値であり、例えば、信号のパワーである。
ところが、掃引式スペクトラムアナライザでは、周波数を掃引(sweep/scan)してスペクトラムを得るので、掃引中の周波数にノイズが存在しない場合にはノイズのスペクトラムを得ることができない。そのために、特定の周波数成分だけが瞬時的に発生するような瞬時的ノイズを捕捉することが困難である。
そこで、従来、高速フーリエ変換(FFT;Fast Fourier Transform)方式のスペクトラムアナライザを用いて放射妨害波測定を行う方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1のFFT方式のスペクトラムアナライザによれば、周波数の掃引が不要になることから、瞬時的ノイズを見逃さない高品質な測定が可能になるというメリットがある。なお、FFT方式のスペクトラムアナライザとは、FFTが用いられる周波数分析器(汎用のスペクトラムアナライザだけでなく、EMI測定に特化したEMIシレーバも含まれる)である。
国際公開第2008/023640号
しかしながら、上記特許文献1に開示されたFFT方式のスペクトラムアナライザを用いてマックスホールドを行った場合には、広帯域にわたる周波数成分をもつインパルス性ノイズが測定中に1回でも入力されると、最終評価に必要なノイズ(つまり、高頻度で発生するノイズ)が、インパルス性ノイズのスペクトラムに覆われて隠れてしまい、規格の適合判定ができなくなるという問題がある。
CISPR32では、インパルス性ノイズに関して、以下のように、低頻度で発生するエミッション(つまり、ノイズ)については、許容値内か否かの判定から除外することになっている。具体的には、CISPR32 Edition2 AnnexCでは、もし2分以上の測定で次の2つの条件が満たされた場合は、孤立したエミッションが許容値を超えても無視することと規定されている。(1)エミッションが1秒以上許容値を超えない。(2)任意の15秒間においてエミッションが2回以上許容値を超えない。また、CISPR32 Edition2 AnnexAでは、表A.3及び表A.5(いずれも説明を省略)で示される尖頭値検波の許容値は、高電圧絶縁破壊現象であるアーク又はスパークによって発生するエミッションには適用しないと規定されている。上記特許文献1に開示されたFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドでは、これらのCISPR32の除外規定に合致する低い発生頻度のノイズも含まれた結果が得られてしまう。
図1は、従来のFFT方式のスペクトラムアナライザを用いてマックスホールドを行った場合に生じ得る問題を説明する図である。ここでは、10秒かけて(つまり、1回/秒の測定(FFT)の10回分で)取得された10個のスペクトラム(太い実線及び細い実線)が示されている。横軸は周波数を示し、横軸の目盛(マス)は各周波数ポイントに対応する。縦軸は、レベルを示し、縦軸の目盛(マス)は、マックスホールド用に任意に設定されるレベルの単位(例えば、スペクトラムアナライザが有するレベルの分解能の100倍の値など)である。図中の数値は、各周波数ポイントにおいて同一のレベルを示すデータの個数(つまり、発生頻度)である。各周波数ポイントでの発生頻度の合計は10(つまり、10個のスペクトラム分)となる。
この例では、インパルス性ノイズが1回入力されたために、全周波数ポイントに渡って高いレベルを示すスペクトラム(太い実線)が現れている。このような10個のスペクトラムに対してマックスホールドを行った場合には、インパルス性ノイズのスペクトラム(太い実線)だけが表示されることになる。
ところが、マックスホールドによって得られたインパルス性ノイズは、10秒において1回だけ発生した、最終評価には不要なノイズである。最終評価に必要な高頻度のノイズ(ここでは、10秒において2回以上発生したノイズのスペクトラム(細い実線))は、1回だけ発生した不要なインパルス性ノイズのスペクトラムに覆われて隠れてしまい、マックスホールドの結果には現れない。つまり、従来のFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドによれば、測定中に1回だけ発生するような最終評価には不要な低頻度のインパルス性ノイズの影響を受けてしまい、規格の適合判定に必要となる発生頻度の高いノイズのスペクトラムを得ることができない。
そこで、本発明は、測定中に低頻度で発生するインパルス性ノイズの影響を受けることなく、着目する高頻度のノイズを対象としてFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドを可能にするスペクトラム分析方法及びその装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一形態に係るスペクトラム分析方法は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する蓄積ステップと、閾値を受け付ける受け付けステップと、前記蓄積ステップで蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタステップと、前記フィルタステップで特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールドステップと、前記マックスホールドステップで選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力ステップとを含む。
上記目的を達成するために、本発明の一形態に係るスペクトラム分析装置は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する記憶部と、閾値を受け付ける入力部と、前記記憶部に蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記入力部が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタ部と、前記フィルタ部で特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールド部と、前記マックスホールド部で選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力部とを備える。
本発明により、測定中に低頻度で発生するインパルス性ノイズの影響を受けることなく、着目する高頻度のノイズを対象としてFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドを可能にするスペクトラム分析方法及びその装置が実現される。
図1は、従来のFFT方式のスペクトラムアナライザを用いてマックスホールドを行った場合に生じ得る問題を説明する図である。 図2は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置の構成を示すブロック図である。 図3は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置の基本動作を示すフローチャートである。 図4は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置のマックスホールド部によって選択されるデータ(スペクトラム)の例を示す図である。 図5は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置の後処理部による処理を説明する図である。 図6は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置の問題点を説明するための図である。 図7は、実施の形態の変形例1に係るフィルタ部による高頻度データの特定の詳細な手順を示すフローチャートである。 図8は、実施の形態の変形例1に係るフィルタ部によって高頻度データを特定する例を示す図である。 図9は、実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置によるマックスホールドで得られるスペクトラムの例を示す図である。 図10は、実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置の問題点を説明するための図である。 図11は、実施の形態の変形例2に係るフィルタ部による高頻度データの特定の詳細な手順を示すフローチャートである。 図12は、実施の形態の変形例2に係るスペクトラム分析装置によるマックスホールドで得られるスペクトラムの例を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序等は、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。また、各図は、必ずしも厳密に図示したものではない。各図において、実質的に同一の構成については同一の符号を付し、重複する説明は省略又は簡略化する。
図2は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置20の構成を示すブロック図である。ここでは、スペクトラム分析装置20が取得するスペクトラムを生成するFFT部10も併せて図示されている。
FFT部10は、入力された信号(ここでは、ノイズ)に対して連続してn(2以上の整数)回、FFTを繰り返すことで、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを生成する演算器であり、例えば、FFT方式のスペクトラムアナライザである。なお、FFTの対象となる周波数範囲、スキャン回数(つまり、上記n)、周波数分解能(つまり、上記m)等は、FFT部10に対するユーザによる指示、又は、ユーザによる指示を取得したスペクトラム分析装置20からの制御によって、事前に決定される。
スペクトラム分析装置20は、FFT部10で生成されたn個のスペクトラムに対して高頻度のノイズだけを対象としてマックスホールドを含む分析を行う装置であり、記憶部21、入力部22、フィルタ部23、マックスホールド部24、出力部25、及び、後処理部26を備える。
記憶部21は、FFT部10で生成されたn個のスペクトラムを蓄積するメモリであり、例えば、不揮発性の半導体メモリである。
入力部22は、フィルタ部23で用いられる閾値を含む各種指示をユーザから受け付ける入力デバイスであり、例えば、キーボード、ボタン等である。
フィルタ部23は、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、入力部22が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定する信号処理部である。なお、上記発生頻度をカウントする際の単位となる周波数帯域幅(又は、周波数ポイント数)及びレベル幅(つまり、上記所定範囲)は、入力部22を介したユーザからの指示等によって予め設定される。
マックスホールド部24は、フィルタ部23で特定された高頻度データだけを対象とし、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択する信号処理部である。
出力部25は、マックスホールド部24で選択された、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラム(つまり、マックスホールドの結果)を出力するデバイスであり、例えば、ディスプレイ、記憶媒体、GPIB(IEEE488)等の信号出力インタフェース等である。
後処理部26は、マックスホールド部24で得られた、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを用いた後処理を行う信号処理部である。具体的には、後処理部26は、マックスホールド部24で得られたスペクトラムにおける最大レベルの周波数でのレベルの時間変化を示す時間変化データを取得し、取得した時間変化データにおいて、指定された上限値を超えている継続時間、及び、上限値を超える事象が発生した時間間隔を算出して出力する。
なお、フィルタ部23、マックスホールド部24及び後処理部26は、プログラムが格納されたROM、RAM、プログラムを実行するプロセッサ、タイマ・カレンダ、入出力回路等でソフトウェア的に実現されてもよいし、ASIC等の専用の電子回路でハードウェア的に実現されてもよい。また、スペクトラム分析装置20は、全体として、単数又は複数のPC(パーソナルコンピュータ)等の独立した処理装置で実現されてもよいし、その一部又は全部がFFT部10を構成するスペクトラムアナライザに内蔵して実現されてもよい。
次に、以上のように構成される本実施の形態に係るスペクトラム分析装置20の動作について説明する。
図3は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置20の基本動作(つまり、スペクトラム分析方法)を示すフローチャートである。
まず、スペクトラム分析装置20は、FFT部10で生成されたn個のスペクトラムを記憶部21に蓄積する(蓄積ステップS10)。例えば、スペクトラム分析装置20は、ターンテーブルに載置されたEUT(Equipment Under Test)を対象とし、10秒かけてターンテーブルを1回転させている間にEUTから放射されるノイズを、固定されたアンテナで受信して得られる信号に対して10回のFFTを繰り返すことで生成された10個のスペクトラムをFFT部10から読み出して記憶部21に蓄積する。
次に、入力部22は、後続するフィルタ部23で用いられる閾値をユーザから取得する(受け付けステップS11)。例えば、入力部22は、最終評価から除外したい低い発生頻度として、ユーザから、「1」(つまり、10秒かけて取得された10個のスペクトラムのうち1個以下の発生頻度のデータを除外する指示)を取得する。
なお、上記蓄積ステップS10及び受け付けステップS11は、この順序に限定されず、逆の順序、又は、同時並行であってもよい。また、受け付けステップS11は、閾値が予め設定(つまり、スペクトラム分析装置20に記憶)されている場合には、その設定値を閾値として用いることで、省略されてもよい。
次に、フィルタ部23は、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、入力部22が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定する(フィルタステップS12)。具体的には、フィルタ部23は、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、蓄積ステップS10で蓄積されたn個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを、高頻度データとして特定する。本実施の形態では、高頻度データは、n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、同一のレベルを示すデータの個数が受け付けステップで受け付けた閾値を超えるデータである。
例えば、10秒かけて取得された10個のスペクトラムが記憶部21に蓄積され、閾値として「1」が入力された場合には、フィルタ部23は、周波数ポイントごとに、同一レベルを示すデータの個数が「1」を超えるデータの集まりを高頻度データとして特定する。
そして、マックスホールド部24は、フィルタ部23で特定された高頻度データだけを対象とし、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択する(マックスホールドステップS13)。
例えば、10秒かけて取得された10個のスペクトラムから周波数ポイントごとに「1」を超える発生頻度のデータが高頻度データとしてフィルタ部23で特定された場合には、マックスホールド部24は、図4に示すように、周波数ポイントごとに、最大のレベルを選択する。図4は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置20のマックスホールド部24によって選択されるデータ(スペクトラム)の例を示す図である。周波数ポイントごとに、「1」を超える発生頻度のデータの中から最大のレベルを示すデータがされている(太い実線)。例えば、横軸における右端(最大周波数の周波数ポイント)から3つ目の周波数ポイントであれば、「1」を超える発生頻度のデータは、発生頻度が「2」と「5」のデータであり、これらのデータの中から最大のレベルを示すデータは発生頻度が「2」のデータであるので、発生頻度が「2」のデータを選択する。同様にして、全ての周波数ポイントについて、「1」を超える発生頻度のデータの中から最大のレベルを示すデータを選択する。なお、図4に示されるスペクトラムでは、図1と同様に、縦軸(レベル)は、マックスホールド用に任意に設定される目盛(マス)を単位とする値を示す。このことは、以降の図に示されるスペクトルについても同様である。
次に、出力部25は、マックスホールド部24で選択された、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラム(つまり、マックスホールドの結果)を出力する(出力ステップS14)。例えば、出力部25は、マックスホールド部24で得られたスペクトラム(図4の太い実線)をディスプレイに表示する。
続いて、入力部22を介して後処理部26の実行が指示された場合には、後処理部26は、マックスホールド部24で得られたスペクトラムにおける最大レベルの周波数でのレベルの時間変化を示す時間変化データを取得し(S15)、取得した時間変化データにおいて、入力部22で指定された上限値を超えている継続時間、及び、上限値を超える事象が発生した時間間隔を算出して出力(例えば、ディスプレイに表示)する(S16)。なお、時間変化データの取得では、例えば、フィルタ部23及びマックスホールド部24の機能をオフにした状態で、FFT部10による上記周波数でのレベルの結果を連続的に取得する。
図5は、実施の形態に係るスペクトラム分析装置20の後処理部26による処理を説明する図である。図5の(a)は、後処理部26で取得される時間変化データの一例を示す図である。マックスホールド部24で得られたスペクトラムにおける最大レベルの周波数でのレベルの時間変化が示されている。2箇所においてピーク30a及び30bが現れている。2箇所のピーク30a及び30bを横切る線31は、入力部22で指定された上限値の例である。
図5の(b)は、図5の(a)に示される時間変化データが後処理部26によってノーマライズ(つまり、ピーク30a及び30bについては矩形パルスに、ピーク30a及び30b以外のデータについては横一直線に平滑化)された後のデータを示す。後処理部26は、図5の(a)に示される時間変化データに対してノーマライズした後に、ノーマライズ後の時間変化データと上限値とを比較することで、ノーマライズ後の時間変化データにおいて、入力部22で指定された上限値を超えている継続時間32a及び32b、並びに、上限値を超える事象が発生した時間間隔33を特定して出力(例えば、ディスプレイに表示)する。
このような後処理部26による処理結果(継続時間及び時間間隔)を見ることで、測定したノイズが上述したCISPR32 Edition2 AnnexA及びCの除外規定に合致するノイズか否かを判断することが容易になる。
以上のように、本実施の形態に係るスペクトラム分析方法は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する蓄積ステップS10と、閾値を受け付ける受け付けステップS11と、蓄積ステップS10で蓄積されたn個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、受け付けステップS11で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタステップS12と、フィルタステップS12で特定された高頻度データだけを対象とし、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールドステップS13と、マックスホールドステップS13で選択された、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力ステップS14とを含む。
これにより、フィルタステップS12において低頻度のデータを除外したうえで、マックスホールドステップS13においてマックスホールドが行われるので、測定中に低頻度で発生するインパルス性ノイズの影響を受けることなく、着目する高頻度のノイズを対象としてFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドが可能になる。
また、フィルタステップS12では、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、蓄積ステップS10で蓄積されたn個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、受け付けステップS11で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを、高頻度データとして特定する。
これにより、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、マックスホールドの対象から除外するデータが選択される。よって、いずれの周波数ポイントにおいても、低頻度で発生するデータが確実に除外される。
また、高頻度データは、n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、同一のレベルを示すデータの個数が、受け付けステップS11で受け付けた閾値を超えるデータである。
これにより、同一のレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、閾値を超える高い発生頻度のデータだけがマックスホールドの対象となる。
また、スペクトラム分析方法は、さらに、マックスホールドステップS13で選択された、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムにおける最大レベルの周波数でのレベルの時間変化を示す時間変化データを取得し、取得した時間変化データにおいて、指定された上限値を超えている継続時間、及び、上限値を超える事象が発生した時間間隔を算出して出力する後処理ステップ(S15、S16)が含まれる。
これにより、測定したノイズが上述したCISPR32 Edition2 AnnexA及びCの除外規定に合致するノイズか否かを判断することが容易になる。
また、本実施の形態に係るスペクトラム分析装置は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する記憶部21と、閾値を受け付ける入力部22と、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、入力部22が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタ部23と、フィルタ部23で特定された高頻度データだけを対象とし、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールド部24と、マックスホールド部24で選択された、m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力部25とを備える。
これにより、フィルタ部23によって低頻度のデータを除外したうえで、マックスホールド部24によるマックスホールドが行われるので、測定中に低頻度で発生するインパルス性ノイズの影響を受けることなく、着目する高頻度のノイズを対象としてFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドが可能になる。
(変形例1)
次に、上記実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置及び方法について説明する。
上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置20は、低頻度で発生するインパルス性ノイズを除外したうえでマックスホールドを行う点で従来技術よりも優れているが、インパルス性ノイズではない低頻度のデータも除外してしまう性質を有する。これは、インパルス性ノイズだけを除外したい場合には、問題点となる。
図6は、上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置20の問題点を説明するための図である。ここでは、上記実施の形態において、マックスホールドの対象となった10個のスペクトラム(細い実線)と、マックスホールドの結果として得られるスペクトラム(太い実線)とが示されている。
本図から分かるように、マックスホールドの結果として得られるスペクトラム(太い実線)では、インパルス性ノイズを除くスペクトラム41において、発生頻度が「1」であるが、周波数ポイントにおいて最大レベルを示すデータ42等がマックスホールドの対象から除外されている。つまり、インパルス性ノイズではないが、発生頻度が低い(ここでは、「1」)ために、マックスホールドの対象から除外されている。
そこで、本変形例に係るスペクトラム分析装置は、このような上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置20が有する問題点を改善した機能を有する。
具体的には、本変形例に係るスペクトラム分析装置は、基本的には、上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置20と同様の構成を備えるが、フィルタ部23の機能の詳細が上記実施の形態と異なる。つまり、本変形例に係るスペクトラム分析方法については、図3に示されるスペクトラム分析方法のフィルタステップS12の詳細が実施の形態と異なる。以下、上記実施の形態と異なる点を中心に説明する。
本変形例に係るフィルタ部23は、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、入力部22で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを高頻度データとして特定する点で上記実施の形態と同様であるが、スペクトラムの縦軸における所定幅(例えば、縦軸における3マス分)であるウィンドウと呼ばれる概念を用いて高頻度データを特定する点で上記実施の形態と異なる。
図7は、実施の形態の変形例1に係るフィルタ部23による高頻度データの特定の詳細な手順を示すフローチャートである。
本変形例では、フィルタ部23は、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムについて、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、以下の処理を繰り返す(S20〜S23)。つまり、フィルタ部23は、n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータをレベルの大きいものから並べ、レベルの並びにおいて、レベルにおける所定幅であるウィンドウをレベルの並びにおける最大値を含む位置から最小値を含む位置までずらしながら、ウィンドウ内にレベルが含まれるデータの個数の変化を特定する(S21)。
そして、フィルタ部23は、特定したデータの個数の変化において、入力部22で受け付けた閾値を超える個数のデータを、高頻度データとして特定する(S22)。
図8は、実施の形態の変形例1に係るフィルタ部23によって高頻度データを特定する例を示す図である。ここでは、図6の横軸の右端(最大周波数)の周波数ポイントにおけるインパルス性ノイズを除くスペクトラム41のデータを対象として、高頻度データを特定する方法が示されている。
図8の(a)に示されるように、この周波数ポイントにおけるスペクトラム41では、レベルの高い方から、発生頻度「1」、「1」、「7」のデータが並べられている。そして、縦長(ここでは、縦軸における3マス分)の矩形をウィンドウ44として、レベルの並びにおける最大値を含む位置から最小値を含む位置までずらしていき、そのときにウィンドウ44内にレベルが含まれるデータの個数(ウィンドウ44の右上角に記載の数値)の変化が示されている(図8の(b))。この例では、「1」、「1」、「2」、「8」、「8」、「7」とデータの個数が変化している。
このように、本変形例に係るフィルタ部23によれば、この周波数ポイントでは、レベルの高い方から並ぶデータの個数(つまり、発生頻度)は、元の「1」、「1」、「7」から、「1」、「1」、「2」、「8」、「8」、「7」に変換される。そして、変換後のデータの並びにおいて、閾値(例えば、「1」)を超えるデータ(この周波数ポイントでは、「2」、「8」、「8」、「7」)が高頻度データとして特定されることになる。
マックスホールド部24は、このようにフィルタ部23で特定された高頻度データを対象とし、周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択する(マックスホールドステップS13)。上記周波数ポイントの例であれば、フィルタ部23によって高頻度データとして特定されたデータ(「2」、「8」、「8」、「7」)のうち、最大のレベル(発生頻度「2」のデータが示すレベル)を選択する。
図9は、実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置によるマックスホールドで得られるスペクトラムの例を示す図である。ここでは、記憶部21に蓄積されたスペクトラムが細い実線で示され、フィルタ部23での変換後のデータ(つまり、各周波数ポイントにおいてウィンドウを用いて得られるデータの個数の変化)が数値で示され、マックスホールド部24によって選択されるデータが太い実線で示されている。
本図と上記実施の形態での結果(図4、図6)とを比べて分かるように、本変形例に係るスペクトラム分析装置及び方法によれば、インパルス性ノイズを除くスペクトラム41において、発生頻度が「1」であるが周波数ポイントにおいて最大レベルを示すデータ42等の多くが、マックスホールドの対象として反映される(つまり、除外されない)こととなった。
以上のように、本変形例に係るスペクトラム分析装置及び方法では、高頻度データは、n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータをレベルの大きいものから並べ、レベルの並びにおいて、レベルにおける所定幅であるウィンドウをレベルの並びにおける最大値を含む位置から最小値を含む位置までずらした場合に、ウィンドウ内にレベルが含まれるデータの個数の変化を特定し、特定したデータの個数の変化において、受け付けステップで受け付けた閾値を超える個数のデータである。
これにより、インパルス性ノイズを除くスペクトラムでは、低い発生頻度であってもマックスホールドの対象から除外されてしまうことが抑制される。言い換えると、低い発生頻度のインパルス性ノイズだけを除外したマックスホールドに近い結果が得られる。
なお、本変形例に係る後処理部26は、本変形例に係るフィルタ部23及びマックスホールド部24によって得られたスペクトラムにおける最大レベルの周波数について、後処理を実行する。これにより、本変形例に係るスペクトラム分析装置のメリットを生かしたうえで、測定したノイズがCISPR32 Edition2 AnnexA及びCの除外規定に合致するノイズか否かを判断することが容易になる。
(変形例2)
次に、上記実施の形態の変形例2に係るスペクトラム分析装置及び方法について説明する。
実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置によれば、低い発生頻度のインパルス性ノイズだけを除外したマックスホールドに近い結果が得られたが、完全ではない。つまり、インパルス性ノイズ以外のデータの一部がマックスホールドの対象から除外されるという問題点が残っている。
図10は、実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置の問題点を説明するための図である。ここでは、上記実施の形態の変形例1に係るスペクトラム分析装置によるマックスホールドの結果(つまり、図9)に対して、不完全な箇所43を追記した図が示されている。本図に示される箇所43では、レベルの高い方から並ぶデータの個数(つまり、発生頻度)は、「1」、「1」、「1」、「1」、「8」、「8」となっており、その結果、レベルとしては大きいが発生頻度としては閾値「1」を超えないために、最大レベルから続く発生頻度が「1」、「1」、「1」、「1」のデータは、マックスホールドの対象から除外されている。つまり、レベルとしては大きいが、発生頻度が「1」のデータは、インパルス性ノイズではないにも拘わらず、マックスホールドの対象から除外されてしまっている。
そこで、本変形例に係るスペクトラム分析装置は、このような上記変形例1に係るスペクトラム分析装置が有する問題点を改善した機能を有する。
具体的には、本変形例に係るスペクトラム分析装置は、基本的には、上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置20と同様の構成を備えるが、フィルタ部23の機能が細部において上記実施の形態と異なる。以下、上記実施の形態と異なる点を中心に説明する。
本変形例に係るフィルタ部23は、m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、入力部22で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを高頻度データとして特定する点で上記実施の形態と同様であるが、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムのうち、入力部22で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含むスペクトラムを高頻度データとして特定する点で、上記実施の形態と異なる。
図11は、実施の形態の変形例2に係るフィルタ部23による高頻度データの特定の詳細な手順を示すフローチャートである。
本変形例では、フィルタ部23は、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムのそれぞれごとに、以下の処理を繰り返す(S30〜S34)。つまり、フィルタ部23は、当該スペクトラムが、入力部22で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含か否かを判断する(S31)。なお、所定個数は、例えば、入力部22を介してユーザによって指定される値である。また、フィルタ部23は、上記変形例1に係るウィンドウを用いたデータ変換を施した後に、この判断をしてもよいし、上記変形例1に係るウィンドウを用いたデータ変換を施すことなく、この判断をしてもよい。
その結果、フィルタ部23は、当該スペクトラムが閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含む場合には(S31でYes)、当該スペクトラムを高頻度データとして特定し(S32)、一方、当該スペクトラムが閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含まない場合には(S31でNo)、当該スペクトラムを高頻度データとして特定しない(S33)。
これにより、上記実施の形態及び変形例1のように、周波数ポイントごとにマックスホールドの対象となるか除外されるかが判断されるのではなく、スペクトラム単位で、マックスホールドの対象となるか除外されるかが判断される。
マックスホールド部24は、このようにフィルタ部23で特定された高頻度データ(つまり、閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含む1以上のスペクトラム)を対象とし、周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択する(マックスホールドステップS13)。
図12は、実施の形態の変形例2に係るスペクトラム分析装置によるマックスホールドで得られるスペクトラムの例を示す図である。ここでは、フィルタ部23は、上記変形例1に係るウィンドウを用いたデータ変換を施した後のデータに対して、スペクトラム単位で、マックスホールドの対象とするか否かを判断して得られる例が示されている。記憶部21に蓄積されたスペクトラムが、細い実線で示され、フィルタ部23での変換後のデータ(つまり、各周波数ポイントにおいてウィンドウを用いて得られるデータの個数の変化)が、数値で示され、マックスホールド部24によって選択されるデータが、太い実線で示されている。また、マックスホールドの対象とするか否かの判断に用いられる所定個数は、全周波数ポイント21個のうちの10個に設定されている。
本図から分かるように、インパルス性ノイズによるスペクトラム40は、閾値「1」を超える発生頻度のデータがゼロであり、所定個数「10」を超えないので、高頻度データとして扱われず、マックスホールドの対象から除外されている。
一方、インパルス性ノイズを除くスペクトラム41では、いずれのスペクトラムも、閾値「1」を超える発生頻度のデータが所定個数「10」を超えているので、高頻度データとして扱われ、マックスホールドの対象になっている。その結果、上記変形例1では不完全であった箇所43についても、マックスホールドの対象となり、インパルス性ノイズ以外のデータがマックスホールドの対象から除外されるという問題点が解消される。つまり、低い発生頻度のインパルス性ノイズだけを除外したマックスホールドの結果が得られている。
以上のように、本変形例に係るスペクトラム分析装置及び方法では、フィルタ部23(あるいは、フィルタステップS12で)は、記憶部21に蓄積されたn個のスペクトラムのうち、入力部22で受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含むスペクトラムを高頻度データとして特定する。
これにより、インパルス性ノイズを除くスペクトラムでは、低い発生頻度であってもマックスホールドの対象から除外されてしまうことが防止される。言い換えると、低い発生頻度のインパルス性ノイズだけを除外したマックスホールドの結果が得られる。
なお、本変形例に係る後処理部26は、本変形例に係るフィルタ部23及びマックスホールド部24によって得られたスペクトラムにおける最大レベルの周波数について、後処理を実行する。これにより、本変形例に係るスペクトラム分析装置のメリットを生かしたうえで、測定したノイズがCISPR32 Edition2 AnnexA及びCの除外規定に合致するノイズか否かを判断することが容易になる。
以上、本発明に係るスペクトラム分析装置及び方法について、実施の形態及び変形例に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態及び変形例に限定されるものではない。本発明の主旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態及び変形例に施したものや、実施の形態及び変形例における一部の構成要素を組み合わせて構築される別の形態も、本発明の範囲内に含まれる。
例えば、上記実施の形態では、スペクトラム分析装置20は、後処理部26を備えたが、必ずしも後処理部26を備える必要はない。マックスホールド部24によって、測定中に低頻度で発生するインパルス性ノイズの影響を受けることなく、着目する高頻度のノイズを対象としてFFT方式のスペクトラムアナライザを用いたマックスホールドを可能するという発明の目的は達成されるからである。後処理部26は、マックスホールド部24による結果を用いて、測定したノイズがCISPR32 Edition2 AnnexA及びCの除外規定に合致するノイズか否かの判断を容易にするオプショナルな構成要素である。
また、上記実施の形態では、マックスホールド用に任意に設定される縦軸(レベル)の目盛(マス)は、スペクトラムアナライザが有するレベルの分解能の100倍の値が例示されたが、これに限られない。マックスホールド用に任意に設定される縦軸(レベル)の目盛(マス)は、スペクトラムアナライザが有するレベルの分解能(例えば、0.01dB)に対して1以上の任意の倍率を乗じた値であってもよいし、スペクトラムアナライザとは独立した固定の値(例えば、5dB)であってもよい。
また、上記変形例1では、ウィンドウは、スペクトラム図の縦軸方向に3マス分の長さを有したが、この長さに限定されない。他の長さに設定されてもよいし、入力部22を介してユーザによって任意の長さに指定されてもよい。
また、上記実施の形態等では、10秒かけてターンテーブルを1回転させている間にEUTから放射されるノイズに対して10回のFFTを繰り返すことで生成された10個のスペクトラムを対象として、マックスホールドの処理が説明されたが、このような対象に限定されない。ターンテーブルを固定した状態でアンテナの高さを変化させながら取得した複数のスペクトラムを対象としてもよいし、ターンテーブルの回転及びアンテナの高さを固定した状態で取得した複数のスペクトラムを対象としてもよいし、ターンテーブルとは無関係に設置されたEUTから放射されるノイズに対して取得した複数のスペクトラムを対象としてもよい。
また、上記実施の形態に係るスペクトラム分析装置は、放射妨害波の測定に用いられたが、この用途に限定されるものではなく、各種物理現象を示す信号の周波数分析等に用いられてもよい。
また、本発明は、上記実施の形態等に係るスペクトラム分析装置及び方法として実現できるだけでなく、上記実施の形態等に係るスペクトラム分析方法における一部又は全部のステップをコンピュータに実行させるプログラム、又は、そのプログラムを記録したCD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体として実現してもよい。
本発明は、FFTによって得られた複数のスペクトラムから周波数ポイントごとの最大レベルを保持したスペクトラムを生成するスペクトラム分析装置として、例えば、マックスホールド機能を有するFFT方式のスペクトラムアナライザとして、利用できる。
10 FFT部
20 スペクトラム分析装置
21 記憶部
22 入力部
23 フィルタ部
24 マックスホールド部
25 出力部
26 後処理部
上記目的を達成するために、本発明の一形態に係るスペクトラム分析方法は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する蓄積ステップと、閾値を受け付ける受け付けステップと、前記蓄積ステップで蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタステップと、前記フィルタステップで特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールドステップと、前記マックスホールドステップで選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力ステップとを含み、前記所定範囲内で近いレベルとは、スペクトラムの縦軸に設定された目盛を単位とする同一のレベルである
上記目的を達成するために、本発明の一形態に係るスペクトラム分析装置は、入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する記憶部と、閾値を受け付ける入力部と、前記記憶部に蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記入力部が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタ部と、前記フィルタ部で特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールド部と、前記マックスホールド部で選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力部とを備え、前記所定範囲内で近いレベルとは、スペクトラムの縦軸に設定された目盛を単位とする同一のレベルである

Claims (8)

  1. 入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する蓄積ステップと、
    閾値を受け付ける受け付けステップと、
    前記蓄積ステップで蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタステップと、
    前記フィルタステップで特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールドステップと、
    前記マックスホールドステップで選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力ステップと
    を含むスペクトラム分析方法。
  2. 前記フィルタステップでは、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、前記蓄積ステップで蓄積された前記n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを、前記高頻度データとして特定する
    請求項1記載のスペクトラム分析方法。
  3. 前記高頻度データは、前記n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータのうち、同一のレベルを示すデータの個数が前記受け付けステップで受け付けた閾値を超えるデータである
    請求項2記載のスペクトラム分析方法。
  4. 前記高頻度データは、前記n個のスペクトラムの当該周波数ポイントでのレベルを示すデータをレベルの大きいものから並べ、前記レベルの並びにおいて、レベルにおける所定幅であるウィンドウを前記レベルの並びにおける最大値を含む位置から最小値を含む位置までずらした場合に、前記ウィンドウ内にレベルが含まれるデータの個数の変化を特定し、特定した前記データの個数の変化において、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える個数のデータである
    請求項2記載のスペクトラム分析方法。
  5. 前記フィルタステップでは、前記蓄積ステップで蓄積された前記n個のスペクトラムのうち、前記受け付けステップで受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを所定個数よりも多く含むスペクトラムを前記高頻度データとして特定する
    請求項1記載のスペクトラム分析方法。
  6. さらに、前記マックスホールドステップで選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムにおける最大レベルの周波数でのレベルの時間変化を示す時間変化データを取得し、取得した前記時間変化データにおいて、指定された上限値を超えている継続時間、及び、前記上限値を超える事象が発生した時間間隔を算出して出力する後処理ステップを含む
    請求項1〜5のいずれか1項に記載のスペクトラム分析方法。
  7. 請求項1〜6のいずれか1項に記載のスペクトラム分析方法に含まれるステップをコンピュータに実行させるプログラム。
  8. 入力された信号に対して連続してn(2以上の整数)回、高速フーリエ変換を繰り返すことで得られた、m(2以上の整数)個の周波数ポイントのそれぞれでのレベルを示す、n個のスペクトラムを蓄積する記憶部と、
    閾値を受け付ける入力部と、
    前記記憶部に蓄積された前記n個のスペクトラムにおいて、同一の周波数ポイントにおいて所定範囲内で近いレベルを示すデータの個数を発生頻度とした場合に、前記入力部が受け付けた閾値を超える発生頻度のデータを含む高頻度データを特定するフィルタ部と、
    前記フィルタ部で特定された前記高頻度データだけを対象とし、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとに、最大のレベルを選択するマックスホールド部と、
    前記マックスホールド部で選択された、前記m個の周波数ポイントのそれぞれごとのレベルを示すスペクトラムを出力する出力部と
    を備えるスペクトラム分析装置。
JP2019510371A 2018-05-25 2018-05-25 スペクトラム分析方法及びその装置 Active JP6533024B1 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2018/020198 WO2019225014A1 (ja) 2018-05-25 2018-05-25 スペクトラム分析方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6533024B1 JP6533024B1 (ja) 2019-06-19
JPWO2019225014A1 true JPWO2019225014A1 (ja) 2020-05-28

Family

ID=66934343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019510371A Active JP6533024B1 (ja) 2018-05-25 2018-05-25 スペクトラム分析方法及びその装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11268857B2 (ja)
JP (1) JP6533024B1 (ja)
CN (1) CN112136054B (ja)
WO (1) WO2019225014A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112687068B (zh) * 2021-03-19 2021-05-28 四川通信科研规划设计有限责任公司 一种基于微波和振动传感器数据的侵入检测方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3876946A (en) * 1973-10-31 1975-04-08 Singer Co Radio frequency digital fourier analyzer
JPS5846102B2 (ja) * 1979-04-24 1983-10-14 ケイディディ株式会社 周波数検出方式
JPS6071966A (ja) * 1983-09-28 1985-04-23 Advantest Corp デジタルスペクトルアナライザ
GB2262992B (en) * 1990-06-21 1995-07-05 Reynolds Software Inc Method and apparatus for wave analysis and event recognition
US9063191B2 (en) * 2012-02-24 2015-06-23 Power Probe, Inc. Electrical test device and method
JPH10155232A (ja) * 1996-11-20 1998-06-09 Chubu Electric Power Co Inc 配電線の異常原因判定装置
JP3850950B2 (ja) * 1997-05-14 2006-11-29 古野電気株式会社 ドップラソナー
US6859275B2 (en) * 1999-04-09 2005-02-22 Plain Sight Systems, Inc. System and method for encoded spatio-spectral information processing
JP3505441B2 (ja) 1999-07-30 2004-03-08 富士通テン株式会社 Fft信号処理でのピーク周波数算出方法
DE10296446T5 (de) 2001-03-14 2004-04-22 Ministry Of Public Management, Home Affairs, Posts And Telecommunications Frequenzanalyseverfahren, Frequenzanalyseapparat und Spektrumanalysator
US6714605B2 (en) * 2002-04-22 2004-03-30 Cognio, Inc. System and method for real-time spectrum analysis in a communication device
JP2003315391A (ja) * 2002-04-18 2003-11-06 Advantest Corp 周波数誤差取得装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体
JP3875657B2 (ja) 2003-07-15 2007-01-31 株式会社東芝 信号処理装置および信号処理方法
JP2005181177A (ja) * 2003-12-22 2005-07-07 Kokusai Denki Engineering:Kk 周波数検出方法
JP2006064549A (ja) * 2004-08-27 2006-03-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> スペクトル解析方法、スペクトル解析装置、およびスペクトル解析プログラム
US20070027675A1 (en) 2005-07-26 2007-02-01 Lecroy Corporation Spectrum analyzer control in an oscilloscope
JP2008039762A (ja) 2006-07-13 2008-02-21 National Institute Of Information & Communication Technology 電磁妨害波測定システムと、それを用いた選別システム
JP5705395B2 (ja) 2006-07-21 2015-04-22 テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー 信号分析装置
WO2008023640A1 (fr) 2006-08-24 2008-02-28 Advantest Corporation Système analyseur de spectre et procédé d'analyse de spectre
US9194744B2 (en) * 2008-05-16 2015-11-24 University Of Washington Transmission quantification of open path FTIR spectra with temperature compensation
CN102037478A (zh) * 2008-05-22 2011-04-27 特克特朗尼克公司 三维位图中的信号搜索
US8880369B2 (en) * 2009-03-13 2014-11-04 Tektronix, Inc. Occupancy measurement and triggering in frequency domain bitmaps
US8489350B2 (en) * 2009-03-13 2013-07-16 Tektronix, Inc. Frequency domain bitmap triggering using color, density and correlation based triggers
US8706435B2 (en) * 2010-05-06 2014-04-22 Tektronix, Inc. Signal detection and triggering using a difference bitmap
US8452559B2 (en) * 2010-05-12 2013-05-28 Tektronix, Inc. Density trace measurement
WO2015148702A1 (en) * 2014-03-26 2015-10-01 Sigma Labs, Inc. Optical manufacturing process sensing and status indication system
CA3025821A1 (en) * 2016-05-30 2017-12-07 Southern Innovation International Pty Ltd Material characterisation system and method
CN106405235B (zh) * 2016-10-17 2019-09-10 深圳市鼎阳科技有限公司 一种频谱分析仪及其数据处理方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN112136054B (zh) 2023-06-13
US11268857B2 (en) 2022-03-08
CN112136054A (zh) 2020-12-25
JP6533024B1 (ja) 2019-06-19
US20210325247A1 (en) 2021-10-21
WO2019225014A1 (ja) 2019-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9702907B2 (en) Frequency mask trigger with non-uniform bandwidth segments
US20130238264A1 (en) Measurement device for identifying electromagnetic interference source, method for estimating the same, and computer readable information recording medium enabling operations thereof
CN110637234B (zh) 辐射干扰波测量方法、辐射干扰波测量系统以及记录介质
CN102419396B (zh) 用于实时频谱分析的测试、测量仪器及方法
Azpúrua et al. Improving time-domain EMI measurements through digital signal processing
JP2009515197A (ja) 実時間スペクトラム・アナライザを用いた過渡信号の広帯域幅スペクトル分析
US20120130665A1 (en) Time domain electromagnetic interference monitoring method and system
JP2012233895A (ja) 周波数スパン設定方法及び試験測定装置
CN109459614B (zh) 一种频谱分析仪及其搜索信号的方法
JP2008039762A (ja) 電磁妨害波測定システムと、それを用いた選別システム
US9851383B1 (en) Method and system for performing vector spectral measurements of a radio frequency (RF) signal having a repetitive waveform
JP6533024B1 (ja) スペクトラム分析方法及びその装置
JP2010276365A (ja) 電力機器の絶縁診断装置
JP6784208B2 (ja) 放射妨害波測定装置、及びその判定方法
US11121784B2 (en) Method and device for detecting power of a periodic signal in a band of interest
Abed et al. Compact support kernels based time-frequency distributions: performance evaluation
Keller A new concept for a wideband FFT-Based EMI receiver
JP7073826B2 (ja) 長周期ノイズ捕捉性能評価システム及び長周期ノイズ捕捉性能評価方法
RU2006132681A (ru) Корреляционный способ распознавания побочного электромагнитного излучения и наводок средства вычислительной техники
JP4365241B2 (ja) 妨害電波自動測定装置
JP6776976B2 (ja) 放射妨害波測定装置、及びその判定方法
Cakir et al. A New Approach to Background Noise Cancellation in Time Domain for Low-Frequency Emission Testing
Monti et al. The importance of overload revealing in EMI receivers
Luo et al. Edge Computing in Smart Hydropower Station: Sinusoidal Noise Rejection for PD Monitoring
Terrien Diagnosing EMI problems using real-time spectrum analysis

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190219

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190219

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20190219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190320

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190514

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190522

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6533024

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250