JPWO2019171920A1 - 放射線位相撮像装置 - Google Patents
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Abstract
Description
駆動部と、線源部と、検出部とを備えており、
前記駆動部は、第1アームと第2アームとを備えており、
前記第1アームと第2アームとは、両者の間に被写体を配置できる空間を形成した状態で配置されており、
前記線源部は、前記第1アームに取り付けられており、
かつ、前記線源部は、放射線を発生する線源と、前記放射線を透過させるG1格子とを備えており、
前記検出部は、前記第2アームに取り付けられており、
かつ、前記検出部は、前記G1格子と前記被写体とを通過した前記放射線の画像を取得する構成となっており、
さらに、前記第1アーム及び前記第2アームは、前記線源部と前記検出部とを、三次元空間内において移動させることができる構成となっている
ことを特徴とする放射線位相撮像装置。
前記線源としては、周期的に配置されたターゲット部材を有する構造化線源が用いられている
項目1に記載の放射線位相撮像装置。
前記構造化線源と前記G1格子とは、前記線源部内において一体化されている
項目2に記載の放射線位相撮像装置。
前記検出部は、画像検出器と、G2格子とを備えており、
前記画像検出器は、前記G1格子と前記被写体と前記G2格子とを通過した前記放射線の画像を取得する構成となっている
項目1から3のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
前記画像検出器と前記G2格子とは、前記検出部内において一体化されている
項目4に記載の放射線位相撮像装置。
前記検出部は、画像検出器と、構造化シンチレータとを備えており、
前記画像検出器は、前記G1格子と前記被写体とを通過し、かつ、前記構造化シンチレータに入射した前記放射線の画像を取得する構成となっている
項目1〜3のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
前記第1アーム及び前記第2アームは、前記線源部と前記検出部との相対的位置関係を保持したまま、前記線源部と前記検出部との両方又は一方を三次元空間内において所定の移動軌跡に沿って移動させることができる構成となっている
項目1〜6のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
前記線源部と前記検出部とは、前記線源部と前記検出部との両方又は一方が前記移動軌跡に沿って移動しながら撮影を実行することができる構成となっている
項目7に記載の放射線位相撮像装置。
前記第1アーム及び前記第2アームは、それぞれ、ロボットアームにより構成されている
項目1〜8のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
前記第1アーム及び前記第2アームは、一体化されており、全体として略C字状に形成されている
項目1〜8のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
本実施形態に係る撮像装置は、駆動部1と、線源部2と、検出部3とを備えている。さらにこの装置は、搬送部4を追加的な要素として備えている。
駆動部1は、第1ロボットアーム11と第2ロボットアーム12とを備えている。第1ロボットアーム11と第2ロボットアーム12とは、両者の間に被写体10を配置できる空間を形成した状態で配置されている。ここで、第1ロボットアーム11及び第2ロボットアーム12は、本発明における第1アーム及び第2アームの具体例に対応する。
線源部2は、第1ロボットアーム11に取り付けられている。線源部2は、放射線を発生する線源21と、放射線を透過させるG1格子22と、線源21を内部に収容する真空容器23を備えている(図2参照)。
検出部3は、第2ロボットアーム12に取り付けられている。本実施形態の検出部3は、画像検出器31を備えている。この画像検出器31は、G1格子22と被写体10とを通過した放射線の画像を取得する構成となっている。
搬送部4は、被写体10を所定の位置まで搬送できる構成となっており、例えば、被写体10の移動位置や移動速度を制御可能なコンベアにより構成される。
前記した本実施形態では、下記の条件を満たすものとする。ただしこの明細書において、「条件を満たす」とは、数学的に厳密な意味ではなく、実用上の支障がない程度に条件を満たしていればよい。
d0:ターゲット部材のピッチ(構造化線源のピッチ)
d1:G1格子22のピッチ
a:G1格子とターゲット部材との距離
b:G1格子と画像検出器との距離
λ:干渉計構成が最適となる放射線(X線)の波長
D:格子の周期方向における、画像検出器の画素サイズ
p:Talbot次数
である(図4参照)。pについては、ここではG1格子として?/2位相格子を用いることを前提とし、その場合半整数である。用いる放射線が例えば連続X線の場合、λはその中心波長で近似できる。
本実施形態では、第1ロボットアーム11と第2ロボットアーム12との間に被写体10を搬送部4により配置する。ついで、線源部2の電子源213からターゲット部材212(図3参照)に電子線214を照射し、放射線100をG1格子22に照射する(図2参照)。G1格子22を透過した放射線は、被写体10を通過して、検出部3の画像検出器31により検出される。これにより、本実施形態では、放射線の強度分布画像を取得することができる。
前記した第1実施形態では、フーリエ変換法を採用して特許文献2に準じた処理を行った。G1格子22をピエゾステージなどの微動機構を介して線源21に設置することにより、特許文献2の手順どおり、G1格子22を所定ステップずつ微動させる縞走査法を実施することも可能である。線源部2の構成要素が増えて、重量も増加するデメリットはあるが、フーリエ変換法よりも高い空間分解能が保証されるメリットが期待できる。
次に、本発明の第2実施形態に係る撮像装置を、図9を主に参照しながら説明する。この第2実施形態の説明においては、前記した第1実施形態と基本的に共通する要素については、同一符号を用いることにより、説明の重複を避ける。
次に、本発明の第3実施形態に係る撮像装置を、図10を主に参照しながら説明する。この第3実施形態の説明においては、前記した第2実施形態と基本的に共通する要素については、同一符号を用いることにより、説明の重複を避ける。
前記した第2及び第3実施形態において、G2格子32あるいは構造化シンチレータ33を、微動機構(図示せず)により、画像検出器31に対して(つまり放射線に対して)、所定ステップずつ微動させる構成とすることも可能である。この場合も、特許文献2の手順の前提となる縞走査法を実施することができる。一般に、G2格子32あるいは構造化シンチレータ33の周期は、G1格子22の周期よりもかなり大きく設定できる。したがって、このように構成すれば、微動機構の精度や安定性において、線源部2側に微動機構を設けるよりも格段に有利となる。
前記した各実施形態においては、第1アーム及び第2アームを、それぞれ、ロボットアームにより構成した。しかしながら、第1アーム及び第2アームを一体化し、全体として略C字状に形成することもできる。すなわち、いわゆるCアームの一方の端部を第1アームとし、他方の端部を第2アームとして用いることができる。
11 第1ロボットアーム(第1アーム)
12 第2ロボットアーム(第2アーム)
2 線源部
21 線源
211 基板
212 ターゲット部材
213 電子源
214 電子線
22 G1格子
23 真空容器
3 検出部
31 画像検出器
32 G2格子
33 構造化シンチレータ
4 搬送部
10 被写体
100 放射線(X線)
λ:干渉計構成が最適となる放射線(X線)の波長
D:格子の周期方向における、画像検出器の画素サイズ
p:Talbot次数
である(図4参照)。pについては、ここではG1格子としてπ/2位相格子を用いることを前提とし、その場合半整数である。用いる放射線が例えば連続X線の場合、λはその中心波長で近似できる。
[0051]
前記条件を満たすとき、Lau干渉計構成が可能となり、したがって、G2格子を省略することができる。
[0052]
(本実施形態の動作)
本実施形態では、第1ロボットアーム11と第2ロボットアーム12との間に被写体10を搬送部4により配置する。ついで、線源部2の電子源213からターゲット部材212(図3参照)に電子線214を照射し、放射線100をG1格子22に照射する(図2参照)。G1格子22を透過した放射線は、被写体10を通過して、検出部3の画像検出器31により検出される。これにより、本実施形態では、放射線の強度分布画像を取得することができる。
[0053]
また、本実施形態では、被写体10に対して放射線100が相対的に走査するように、ロボットアーム11及び12を動かす。被写体10を動かすことによりこのような走査を行うことも可能である。
[0054]
より具体的には、本実施形態では、駆動部1の第1ロボットアーム11と第2ロボットアーム12とを用いて、図5〜図8に示されるように、線源部2と検出部3と被写体10との位置関係を変化させる。ただしこれらの例は例示に過ぎず、これらには制約されない。
[0055]
図5の例では、線源部2と検出部3とを同じ方向に平行に移動させている。図6の例では、線源部2を自転させ、その回転角度に応じて、線源部2を中心として検出部3を公転させている。図7の例では、被写体10を中心として、線源部2と検出部3とを同じ方向に回転させている。図8の例では、被写体10の湾曲形状に合わせて、線源部2と検出部3とを蛇行するように
Claims (10)
- 駆動部と、線源部と、検出部とを備えており、
前記駆動部は、第1アームと第2アームとを備えており、
前記第1アームと第2アームとは、両者の間に被写体を配置できる空間を形成した状態で配置されており、
前記線源部は、前記第1アームに取り付けられており、
かつ、前記線源部は、放射線を発生する線源と、前記放射線を透過させるG1格子とを備えており、
前記検出部は、前記第2アームに取り付けられており、
かつ、前記検出部は、前記G1格子と前記被写体とを通過した前記放射線の画像を取得する構成となっており、
さらに、前記第1アーム及び前記第2アームは、前記線源部と前記検出部とを、三次元空間内において移動させることができる構成となっている
ことを特徴とする放射線位相撮像装置。 - 前記線源としては、周期的に配置されたターゲット部材を有する構造化線源が用いられている
請求項1に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記構造化線源と前記G1格子とは、前記線源部内において一体化されている
請求項2に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記検出部は、画像検出器と、G2格子とを備えており、
前記画像検出器は、前記G1格子と前記被写体と前記G2格子とを通過した前記放射線の画像を取得する構成となっている
請求項1から3のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記画像検出器と前記G2格子とは、前記検出部内において一体化されている
請求項4に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記検出部は、画像検出器と、構造化シンチレータとを備えており、
前記画像検出器は、前記G1格子と前記被写体とを通過し、かつ、前記構造化シンチレータに入射した前記放射線の画像を取得する構成となっている
請求項1〜3のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記第1アーム及び前記第2アームは、前記線源部と前記検出部との相対的位置関係を保持したまま、前記線源部と前記検出部との両方又は一方を三次元空間内において所定の移動軌跡に沿って移動させることができる構成となっている
請求項1〜6のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記線源部と前記検出部とは、前記線源部と前記検出部との両方又は一方が前記移動軌跡に沿って移動しながら撮影を実行することができる構成となっている
請求項7に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記第1アーム及び前記第2アームは、それぞれ、ロボットアームにより構成されている
請求項1〜8のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。 - 前記第1アーム及び前記第2アームは、一体化されており、全体として略C字状に形成されている
請求項1〜8のいずれか1項に記載の放射線位相撮像装置。
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Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070253529A1 (en) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Seppi Edward J | Systems and methods for digital volumetric laminar tomography |
JP2009195349A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Univ Of Tokyo | X線撮像装置、及び、これに用いるx線源 |
JP2010249533A (ja) * | 2009-04-10 | 2010-11-04 | Canon Inc | タルボ・ロー干渉計用の線源格子 |
WO2012056724A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線位相画像撮影装置 |
JP2013138834A (ja) * | 2011-12-05 | 2013-07-18 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP2014121607A (ja) * | 2012-12-21 | 2014-07-03 | Siemens Aktiengesellschaft | 位相ステッピングによる検査対象の微分位相コントラストイメージングのためのx線撮影システムならびにアンギオグラフィ検査方法 |
JP2014178130A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Canon Inc | X線撮像装置及びx線撮像システム |
US20150265237A1 (en) * | 2012-10-22 | 2015-09-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Method and device for generating a three-dimensional image of an object |
WO2017032512A1 (en) * | 2015-08-25 | 2017-03-02 | Paul Scherrer Institut | Omnidirectional scattering- and bidirectional phase-sensitivity with single shot grating interferometry |
JP2017198600A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | キヤノン株式会社 | 放射線の位相変化検出方法 |
US20180035961A1 (en) * | 2016-08-08 | 2018-02-08 | Siemens Healthcare Gmbh | Mobile grating-detector arrangement |
-
2019
- 2019-02-18 JP JP2020504896A patent/JP6789591B2/ja active Active
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070253529A1 (en) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Seppi Edward J | Systems and methods for digital volumetric laminar tomography |
JP2009195349A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Univ Of Tokyo | X線撮像装置、及び、これに用いるx線源 |
JP2010249533A (ja) * | 2009-04-10 | 2010-11-04 | Canon Inc | タルボ・ロー干渉計用の線源格子 |
WO2012056724A1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-03 | 富士フイルム株式会社 | 放射線位相画像撮影装置 |
JP2013138834A (ja) * | 2011-12-05 | 2013-07-18 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
US20150265237A1 (en) * | 2012-10-22 | 2015-09-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Method and device for generating a three-dimensional image of an object |
JP2014121607A (ja) * | 2012-12-21 | 2014-07-03 | Siemens Aktiengesellschaft | 位相ステッピングによる検査対象の微分位相コントラストイメージングのためのx線撮影システムならびにアンギオグラフィ検査方法 |
JP2014178130A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Canon Inc | X線撮像装置及びx線撮像システム |
WO2017032512A1 (en) * | 2015-08-25 | 2017-03-02 | Paul Scherrer Institut | Omnidirectional scattering- and bidirectional phase-sensitivity with single shot grating interferometry |
JP2017198600A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | キヤノン株式会社 | 放射線の位相変化検出方法 |
US20180035961A1 (en) * | 2016-08-08 | 2018-02-08 | Siemens Healthcare Gmbh | Mobile grating-detector arrangement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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