JPWO2019163843A1 - 位相差フィルムの製造方法及び製造装置 - Google Patents
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Abstract
Description
位相差フィルムは、生産性向上のため、連続フィルム支持体を用い、ロールトゥロール(Roll to Roll)方式での連続プロセスによって製造される。
より具体的には、位相差フィルムは、配向層を備えた連続フィルム支持体の配向層上に、液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布及び乾燥して得られた塗膜(以降、「液晶層用塗膜」ともいう)に対し、紫外線をあてて液晶化合物の配向を固定化する、という方法にて製造される。
液晶化合物を含む液晶層形成用材料の塗布の際、連続フィルム支持体の幅方向に、ごく僅かではあるが塗布厚みのムラが生じてしまう。特に、カーテンコーティング法等の塗布手段を用いる場合には、塗布厚みのムラは、搬送方向に継続してしまうことが多い。
そして、この塗布厚みのムラが、主として、位相差フィルムのレターデーションのムラの要因となる。
なお、特開2007−52049号公報では、レターデーションの測定結果を元に、目標値にくるように、塗布工程及び加熱工程における条件での微調整をおこなっているが、この方法では、位相差フィルムの幅方向におけるレターデーションの調整は困難であり、レターデーションの面内分布を小さくするのには限界がある。
また、特開2014−199321号公報では、位相差フィルムのレターデーションの調整は行っていない。
また、本発明の別の一実施形態が解決しようとする課題は、ロールトゥロール方式での連続プロセスを用いつつも、レターデーションの面内分布が小さい位相差フィルムの製造装置を提供することにある。
<1> 連続搬送される連続フィルム支持体上に、液晶化合物に対する配向規制力を備えた配向層を形成する第1工程と、
配向層上に液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布及び乾燥して塗膜を形成する第2工程と、
塗膜に紫外線を照射する第3工程と、
紫外線が照射された塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求める第4工程と、
求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の塗膜に照射する紫外線の照度を調整する第5工程と、
を有する位相差フィルムの製造方法。
配向層上に液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布する塗布手段と、
塗布後の液晶層形成用材料を乾燥して塗膜を形成する乾燥手段と、
塗膜に紫外線を照射する紫外線照射手段と、
紫外線が照射された塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定するレターデーション測定手段と、
測定されたレターデーションの測定値から求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の塗膜に照射する紫外線の照度を調整する制御を行う制御手段と、
を有する位相差フィルムの製造装置。
本発明の別の一実施形態によれば、ロールトゥロール方式での連続プロセスを用いつつも、レターデーションの面内分布が小さい位相差フィルムの製造装置が提供される。
本開示に段階的に記載されている数値範囲において、ある数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本開示に記載されている数値範囲において、ある数値範囲で記載された上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
本開示にて示す各図面における各要素は必ずしも正確な縮尺ではなく、本開示の原理を明確に示すことに主眼が置かれており、強調がなされている箇所もある。
また、各図面において、同一機能を有する構成要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
本開示において、2以上の好ましい態様の組み合わせは、より好ましい態様である。
本発明者らは、ロールトゥロール方式での連続プロセスでの位相差フィルムの製造方法について検討を行ったところ、液晶層用塗膜に対して照射する紫外線の照度を調整することで、位相差フィルムのレターデーションの値が変化することに着目し、以下の方法にて、位相差フィルムのレターデーションのムラを抑制する方法を見出した。
即ち、まず、液晶層用塗膜に対して紫外線が照射された後、連続フィルム支持体の幅方向についてレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求める。そして、求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度を調整する(例えば、紫外線の照度を上げる又は下げる)。
ここで、「測定位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜」は、測定位置に相当する連続フィルム支持体の幅方向における位置を搬送されている紫外線未照射の液晶層用塗膜を意味する。そのため、上記の方法を採用する位相差フィルムの製造方法では、連続フィルム支持体の搬送方向に対し、下流側にレターデーションの測定位置があり、その測定位置よりも上流側に紫外線の照射位置がある。そして、この紫外線の照射位置では、上記のように、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度を調整することができる。
このように、レターデーションの測定結果を、液晶層用塗膜に対する紫外線の照度の調整に用いることで、レターデーションの面内分布が小さい位相差フィルムを得ることができる。
なお、製造された位相差フィルムにおいては、先端側にレターデーションの測定位置があり、その測定位置よりも末端側に紫外線の照度を調整された位置が存在するということになる。
この方法により、レターデーションの面内分布が小さい位相差フィルムが得られる。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、例えば、以下に示す、一実施形態の位相差フィルムの製造装置により行われる。
以下、一実施形態の位相差フィルムの製造方法の詳細について、一実施形態の位相差フィルムの製造装置と合わせて説明する。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、連続搬送される連続フィルム支持体上に、液晶化合物に対する配向規制力を備えた配向層を形成する第1工程を有する。
第1工程において、液晶化合物に対する配向規制力を備えた配向層を形成する方法は、特に制限はなく、ラビング方式を用いてもよいし、光配向方式を用いてもよい。
ここで、ラビング方式とは、配向層形成用材料を含む塗膜に対してラビング布を巻いたロールを一定圧力で押し込みながら回転移動させて、塗膜に液晶化合物に対する配向規制力を与える方式である。
また、光配向方式とは、配向層形成用材料の塗膜に対し偏光(例えば、偏光紫外線)を照射して、塗膜に液晶化合物に対する配向規制力を与える方式である。
近年は、塗膜の摩擦によって、微細な粉塵が生じたり、静電気が発生したりすることが問題視されることがあるため、第1工程では、塗膜の摩擦が必要ない光配向方式を採用することが好ましい。
以下、光配向方式を用いた第1工程について説明する。
図1に示すように、巻回された連続フィルム支持体Fは、その先端が送り出されると、まず、配向層形成用材料の塗布手段1により配向層形成用材料の塗布が行われ、その後、配向層形成用材料の乾燥手段2による乾燥領域にて乾燥される。こうして、連続フィルム支持体上には、配向層形成用材料を塗布及び乾燥して得られる塗膜(以降、「配向層用塗膜」ともいう)が形成される。
続いて、バックアップロールに連続フィルム支持体を巻き掛けた領域にて、配向層用塗膜に偏光紫外線を照射して、配向規制力を備えた配向層を形成する。
具体的には、図1に示すように、連続フィルム支持体F上に配向層用塗膜が形成された後は、連続フィルム支持体Fをバックアップロール3bに巻き掛けた領域にて、光配向装置3aにより配向層用塗膜に偏光紫外線が照射される。
連続フィルム支持体としては、ポリマーフィルムを用いることが好ましい。
連続フィルム支持体として用いられるポリマーフィルムの材料の例には、セルロースアシレート(例えば、セルローストリアセテート(トリアセチルセルロース、屈折率1.48)、セルロースジアセテート、セルロースアセテートブチレート、セルロースアセテートプロピオネート)、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリエーテルスルホン、ポリメチルメタクリレート等のアクリル樹脂、ポリウレタン、ポリカーボネート、ポリスルホン、ポリエーテル、ポリメチルペンテン、ポリエーテルケトン、ポリ(メタ)アクリルニトリル、脂環式構造を有するポリマー(例えば、ノルボルネン系樹脂(商品名「アートン(登録商標)」、JSR社)、非晶質ポリオレフィン(例えば、商品名「ゼオネックス(登録商標)」、日本ゼオン社))などが挙げられる。
このうち、光学異方性の低さ等の観点から、トリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート(即ち、PET)、及び脂環式構造を有するポリマーが好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。
光配向方式に適用される配向層の形成に用いられる配向層形成用材料としては、例えば、特開2006−285197号公報、特開2007−76839号公報、特開2007−138138号公報、特開2007−94071号公報、特開2007−121721号公報、特開2007−140465号公報、特開2007−156439号公報、特開2007−133184号公報、特開2009−109831号公報、特許第3883848号、特許第4151746号に記載のアゾ化合物、特開2002−229039号公報に記載の芳香族エステル化合物、特開2002−265541号公報に記載の光配向性を示す構成単位を有する多官能マレイミド誘導体とアルケニル置換ナジイミド化合物、特開2002−317013号公報に記載の光配向性基と重合性マレイミド基とを有する重合性単量体、特許第4205195号、特許第4205198号に記載の光架橋性シラン誘導体、特表2003−520878号公報、特表2004−529220号公報、特許第4162850号に記載の光架橋性ポリイミド、ポリアミド酸、又はこれらのエステル、特開平9−118717号公報、特表平10−506420号公報、特表2003−505561号公報、国際公開第2010/150748号、特開2013−177561号公報、特開2014−12823号公報に記載の光二量化可能な化合物(特に、シンナメート化合物、カルコン化合物、又はクマリン化合物)等が挙げられる。
これらの中でも特に好ましい例としては、上記公報に記載のアゾ化合物、上記公報に記載の光架橋性ポリイミド、ポリアミド、又はこれらエステル、上記公報に記載のシンナメート化合物、又はカルコン化合物等が挙げられる。
配向層形成用材料の塗布手段1には、公知の塗布装置が適用される。
塗布装置として、具体的には、カーテンコーティング法、ディップコーティング法、スピンコーティング法、印刷コーティング法、スプレーコーティング法、スロットコーティング法、ロールコーティング法、スライドコーティング法、ブレードコーティング法、グラビアコーティング法、ワイヤーバー法等を利用した装置が挙げられる。
配向層形成用材料の乾燥手段2には、公知の乾燥手段が適用される。
乾燥手段として、具体的には、オーブン、温風機、赤外線(IR)ヒーター等を用いる方法が挙げられる。
温風機による乾燥においては、連続フィルム支持体の配向層形成用材料が塗布された面とは反対の面から温風を当てる構成でもよく、塗布された配向層形成用材料の表面が温風にて流動しないよう、拡散板を設置した構成としてもよい。
乾燥条件は、用いた配向層形成用材料の種類、塗布量、搬送速度等に応じて決定されればよく、例えば、30℃〜140℃の範囲で、10秒〜10分間行うことが好ましい。
形成された配向層用塗膜の膜厚は、0.1μm〜5μmが好ましく、0.2μm〜1μmがより好ましい。
続いて、連続フィルム支持体Fに形成された配向層用塗膜に対し、偏光紫外線を照射する。
図1によれば、バックアップロール3bに、配向層用塗膜が形成された連続フィルム支持体Fを巻き掛けた領域にて、光配向装置3aにより配向層用塗膜に偏光紫外線が照射される。
バックアップロール3bにて連続フィルム支持体Fを支える形態での、偏光紫外線の照射は、バックアップロール3bの形状に沿って張架した状態の連続フィルム支持体に対して行うことができる観点、及び、バックアップロール3bによる連続フィルム支持体Fの温調がし易い観点から好ましい。
なお、第1工程における偏光紫外線の照射は、連続フィルム支持体Fの裏面(即ち、配向層用塗膜が形成される面とは反対の面)をバックアップロール3bにて支える形態のみならず、連続フィルム支持体Fの裏面を平面ベルト又は平面ガイドにて支える形態で行われてもよい。
また、第1工程における偏光紫外線の照射は、配向層用塗膜の平面性が確保できていれば、連続フィルム支持体Fの裏面を支える平面ベルト又は平面ガイドがなくともよい。
図2に示すように、光配向装置3aは、棒状光源10と、棒状光源10からの光を垂直方向に効率良くワイヤーグリッド偏光子30側へ反射させる凹面反射鏡11と、棒状光源10の長手方向に配列された複数の平行板21からなるルーバー20と、ルーバー20によって平行光化された光を直線偏光するワイヤーグリッド偏光子30と、から構成される。
そして、ワイヤーグリッド偏光子30を通して発せられる偏光紫外線が配向層用塗膜に照射される。
棒状光源10としては、例えば、タングステンランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ、キセノンフラッシュランプ、水銀ランプ、水銀キセノンランプ、カーボンアークランプ等のランプ、各種のレーザー(例、半導体レーザー、ヘリウムネオンレーザー、アルゴンイオンレーザー、ヘリウムカドミウムレーザー、YAG(Yttrium Aluminum Garnet)レーザー)、発光ダイオード、陰極線管等を挙げることができる。
棒状光源10から発せられる紫外線のピーク波長は、200nm〜400nmが好ましい。
ルーバー20は、図2に示すように、平行板21はバックアップロール3bの長手方向X(即ち、バックアップロール3bの周方向)に、等間隔で配列されており、棒状光源10とワイヤーグリッド偏光子30との間に配置される。ルーバー20を設置することによって、棒状光源10からの光を平行光化して、ワイヤーグリッド偏光子30に入射する光の広がりを抑え、バックアップロールに対して真正面からの光にすることができる。
また、平行板21は、図2では、バックアップロールの長手方向Xに直交する角度で配置されているが、直交に限らず斜め方向に平行して配置されていてもよい。平行板21は、不図示の連動機構によって、ピッチと角度とを調整することができる。
また、ルーバー20とワイヤーグリッド偏光子30との隙間についても同様である。
ルーバー20の表面は、照射光の照射効率を高めるために、平滑化して反射率を向上させたものであってもよい。また、ルーバー20は、照射光の直進性を高めるために、表面に凹凸を付与する、又は無反射膜で覆って反射率を低減させてもよい。ルーバー20の表面の反射率を低減させる場合は、ルーバー20の平行板21の表面には、光吸収部材が設けられていることが好ましい。
図2及び図3に示すように、ワイヤーグリッド偏光子30は、複数のワイヤーグリッド偏光素子32が枠31に保持されてなる。
そして、各ワイヤーグリッド偏光素子32は、基板33上に複数の直線状の電気導体からなるワイヤーグリッド34が配列されている。
ワイヤーグリッド偏光素子32は、ワイヤーグリッド34の長手方向と平行な偏波(偏光)成分は反射し、直交する偏波(偏光)成分は通過する。直交する偏波成分を通過する方向を透過軸という。
電気導体としては、クロム、アルミニウム等の金属線が挙げられる。
次に、バックアップロール3b上での偏光紫外線の照射角度について図4を用いて説明する。
図4に示すように、バックアップロール3bの軸中心Oに垂直な面内において、バックアップロール3bの軸中心Oを通りワイヤーグリッド偏光子30の基板面38に垂直な線を基準線L1とし、基準線L1と、バックアップロール3bの軸中心Oと連続フィルム支持体F上における偏光紫外線の照射領域Aの搬送方向上流端Mとを結ぶ線L2とがなす角度をθ1とし、基準線L1と、バックアップロール3bの軸中心Oと連続フィルム支持体F上における偏光紫外線の照射領域Aの搬送方向下流端Nとを結ぶ線L3とがなす角度をθ2としたときに、|θ1−θ2|<10°を満たすことが好ましい。
より好ましくは、|θ1−θ2|<7°であり、更に好ましくは、|θ1−θ2|=0°である。
|θ1−θ2|<10°とすることにより、バックアップロール3bの曲面に対し、真正面から偏光紫外線を照射することができ、液晶化合物の配向軸のバラツキを低減させることができる。
バックアップロール3bは、特に制限無く、公知のものを用いることができる。
バックアップロール3bとしては、例えば、表面が、ハードクロムメッキされたものを好ましく用いることができる。
メッキの厚みは、導電性と強度とを確保する観点から40μm〜60μmが好ましい。
また、バックアップロール3bの表面粗さは、連続フィルム支持体Fとバックアップロール3bとの摩擦力のバラツキを低減させる観点から、表面粗さRaにて0.1μm以下が好ましい。
バックアップロール3bを上記の温度に維持することで、巻き掛けられる連続フィルム支持体Fの温度制御を行うことができる。
バックアップロール3bの温度制御手段には、加熱手段及び冷却手段がある。加熱手段としては、誘導加熱、水加熱、油加熱等が用いられ、冷却手段としては、冷却水が用いられる。
テンションが掛かっているときの連続フィルム支持体Fの幅(Fw2とする)は、テンションが掛かっていないときの連続フィルム支持体Fの幅(Fw1とする)に比べて小さくなる。
バックアップロール3b上での連続フィルム支持体Fの幅の縮み率は、以下の式(1)から求められ、0.05%〜1.00%であることが好ましく、0.07%〜0.30%であることがより好ましい。
式(1) 縮み率(%)=(Fw1−Fw2)/Fw1×100
(Fw1は、テンションが掛かっていないときの連続フィルム支持体の幅を示し、Fw2は、バックアップロール上でテンションが掛かっているときの連続フィルム支持体の幅を示す。)
上記のような縮み率になるよう、バックアップロール3b上では連続フィルム支持体Fに対しテンションを掛ければよい。具体的には、上記の縮み率を達成するため、バックアップロール3b上で連続フィルム支持体Fに掛けるテンションとしては、100N/m〜600N/mが好ましい。
なお、ラップ角とは、連続フィルム支持体Fがバックアップロール3bに接触するときの連続フィルム支持体Fの搬送方向と、バックアップロール3bから連続フィルム支持体Fが離間するときの連続フィルム支持体Fの搬送方向と、からなる角度をいう。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、第1工程後、配向層上に液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布及び乾燥して塗膜(即ち、液晶層用塗膜)を形成する第2工程を有する。
第2工程の一例について、図1を参照して説明する。
図1に示すように、バックアップロール3b上での配向層用塗膜に対する偏光紫外線の照射が終了すると、続いて、液晶層形成用材料の塗布手段4にて液晶化合物を含む液晶層形成用材料の塗布が行われ、その後、液晶層形成用材料の乾燥手段5による乾燥領域にて乾燥される。
こうして、連続フィルム支持体の配向層上には液晶層用塗膜が形成される。
液晶層形成用材料は、棒状液晶化合物又は円盤状液晶化合物を含有し、更に、重合性化合物、架橋性化合物、キラル剤、配向制御剤、重合開始剤、配向助剤等の公知のその他の成分を含有していてもよい。
棒状液晶化合物としては、アゾメチン類、アゾキシ類、シアノビフェニル類、シアノフェニルエステル類、安息香酸エステル類、シクロヘキサンカルボン酸フェニルエステル類、シアノフェニルシクロヘキサン類、シアノ置換フェニルピリミジン類、アルコキシ置換フェニルピリミジン類、フェニルジオキサン類、トラン類、及びアルケニルシクロヘキシルベンゾニトリル類が好ましく用いられる。
以上のような低分子液晶性分子だけではなく、高分子液晶性分子も用いることができる。
重合性を有する棒状液晶化合物としては、Makromol. Chem., 190巻、2255頁(1989年)、Advanced Materials 5巻、107頁(1993年)、米国特許4683327号公報、同5622648号公報、同5770107号公報、国際公開第95/22586号、同第95/24455号、同第97/00600号、同第98/23580号、同第98/52905号、特開平1−272551号公報、同6−16616号公報、同7−110469号公報、同11−80081号公報、及び特開2001−328973号公報などに記載の化合物が挙げられる。
更に、棒状液晶化合物としては、例えば、特表平11−513019号公報、特開2007−279688号公報等に記載のものも好ましく用いることができる。
円盤状液晶化合物としては、例えば、特開2007−108732号公報、特開2010−244038号公報等に記載のものを好ましく用いることができる。
液晶層形成用材料の塗布及び乾燥には、第1工程における塗布及び乾燥と同様の方法を用いることができるため、ここでは、詳細な説明は省略する。
但し、第2工程における液晶層形成用材料の塗布は、カーテンコーティング法又はダイコーティング法により行われることが好ましい。
このような塗布の方法を採用した場合であっても、後述の第4工程及び第5工程があることで、レターデーションの面内分布の小さな位相差フィルムが得られる。
また、液晶化合物を含む液晶層形成用材料(即ち、上述の塗布に適用する塗布液)の25℃における粘度としては、0.5mPa・s〜10mPa・sであることが好ましい。
後述する第3工程において、液晶化合物の配向を固定する前には、液晶層用塗膜中の液晶化合物の配向処理を行うことが好ましい。
配向処理は、室温等により乾燥させる、又は加熱することにより行うことができる。
配向処理で形成される液晶は、サーモトロピック性をもつ液晶化合物の場合、一般に温度又は圧力の変化により転移させることができる。また、リオトロピック性をもつ液晶化合物の場合には、溶媒量等の組成比によっても転移させることができる。
棒状液晶化合物がスメクチック相を発現する温度領域では、棒状液晶化合物がスメクチック相を発現するまで一定時間加熱する必要がある。加熱時間は、10秒間〜5分間が好ましく、10秒間〜3分間が更に好ましく、10秒間〜2分間が最も好ましい。
勿論、液晶化合物の配向を、第2工程における乾燥とは別に行ってもよい。その場合、図1に示す乾燥手段5の連続フィルム支持体Fの搬送方向下流側に、液晶化合物の配向のための乾燥手段又は加熱手段を備えていればよい。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、第2工程の後、液晶層用塗膜に紫外線を照射する第3工程を有する。
第3工程により、液晶層用塗膜中の液晶化合物を配向させ、配向を固定して液晶層を形成する。
第3工程の一例について、図1を参照して説明する。
図1に示すように、連続フィルム支持体Fの配向層上に液晶層用塗膜が形成された後、この液晶層用塗膜に対し、紫外線照射手段6にて紫外線の照射を行う。この紫外線の照射により、液晶層用塗膜中の液晶化合物の配向を固定して液晶層を形成する。
第3工程では、液晶層用塗膜中の液晶化合物の配向を固定する。
液晶化合物の配向の固定は、熱重合又は活性エネルギー線による重合で行うことができ、その重合に適した、液晶化合物が有する重合性基又は重合開始剤を適宜選択することで行うことができる。
製造適性等を考慮すると、図1に示すような、紫外線照射手段6から照射された紫外線による重合反応を好ましく用いることができる。
重合性を有する液晶化合物を用いる場合、紫外線の照射量が少ないと、未重合の液晶化合物が残存し、光学特性の温度変化、経時劣化等の起きる原因となる。そのため、残存する未重合の液晶化合物の割合が5%以下になるように照射条件を決めることが好ましい。
照射条件としては、液晶層形成用材料の処方、及び液晶層用塗膜の厚みにもよるが、紫外線照射量は、50mJ/cm2〜1000mJ/cm2が好ましく、100mJ/cm2〜500mJ/cm2がより好ましい。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、第3工程にて紫外線が照射された液晶層用塗膜(即ち、形成された液晶層)に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求める第4工程を有する。
第4工程の一例について、図1を参照して説明する。
図1に示すように、紫外線照射手段6にて紫外線の照射された液晶層用塗膜(液晶層)に対し、レターデーション測定装置7にて、連続フィルム支持体Fの幅方向に沿ってレターデーションを測定する。そして、レターデーション測定装置7にて測定された測定値に基づいて、制御部(即ち、制御手段)8にて、レターデーションの測定値の幅方向分布を求める。
ここで、レターデーションの測定値の幅方向分布とは、連続フィルム支持体の幅方向に沿って測定したレターデーションの測定値の集合を指す。
レターデーション測定装置7として具体的には、王子計測機器社の自動複屈折率計(KOBRA−21ADH)、Axometrics社のAxoScan等を用いることができる。
レターデーション測定装置7aの場合、複数あるレターデーションの測定点(図5A中のP)は、連続フィルム支持体Fの幅方向Zにそって並列することとなる。
また、レターデーション測定装置7bの場合、複数あるレターデーションの測定点(図5B中のP)は、連続フィルム支持体Fを上面視した場合、連続フィルム支持体Fの搬送方向Yに対し角度をもって、一定の間隔を空けて連続フィルム支持体Fの幅方向Zに並ぶことになる。
ここで、図5A及び図5B中、Pは、レターデーション測定装置にて測定された測定点を指し、Qは、レターデーション測定装置にて測定されるであろう測定目標点を指す。
測定目標点Qは、測定の間隔(即ち、図5A中のDa又は図5B中のDb)によって決定されればよい。例えば、図5Aであれば、測定目標点Qは、レターデーションの測定点Pに対し、連続フィルム支持体Fの搬送方向Yの上流側に間隔Daを空けた箇所に該当する。そのため、図5Aにおける測定目標点Qは、連続フィルム支持体Fの幅方向Zにそって並列することとなる。また、図5Bであれば、測定目標点Qは、レターデーションの測定点Pに対し、連続フィルム支持体Fの搬送方向Yの上流側に間隔Dbを空けた箇所に該当する。そのため、図5Bにおける測定目標点Qも、連続フィルム支持体Fを上面視した場合、連続フィルム支持体Fの搬送方向Yに対し角度をもって、一定の間隔を空けて連続フィルム支持体Fの幅方向Zに並ぶことになる。
また、連続フィルム支持体Fの長手方向におけるレターデーションの測定点の数は、図5A及び図5Bに示すように1個であってもよいし、複数個であってもよい。連続フィルム支持体Fの長手方向におけるレターデーションの測定点の数が複数個、例えば、5個である場合、その5個の値の平均値を用いて、レターデーションの測定値の幅方向分布を求めればよい。
間隔が短いほど、位相差フィルムのレターデーションの面内分布をより少なくし易い。
例えば、連続フィルム支持体Fの搬送距離(即ち、図5A中のDa又は図5B中のDb)であれば、生産性等の点から、10m〜100mの範囲内毎に行うことが好ましく、0.1m〜1mの範囲内毎に行うことがより好ましい。
なお、レターデーションの測定は、制御部8により制御された自動計測であってもよいし、製造者、作業者等による手動計測であってもよい。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法は、第4工程にて求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度を調整する第5工程を有する。
つまり、第5工程では、第4工程にて求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値がなければ、紫外線の照度の調整は行われない。
なお、照度(単位:mW/cm2)は、液晶層用塗膜に対する紫外線照射量(単位:mJ/cm2)を制御することで調整されることが好ましい。
図1に示すように、制御部8にて、レターデーションの測定値の幅方向分布が求められると、同じく、制御部8にて、幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があるかどうかが判断される。そして、制御部8が、レターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったと判断したとき、紫外線照射手段6において、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度を調整する。
このように、第5工程により、第3工程での紫外線の照射における照度が調整される。そして、第3工程の調整された照度は、次に、第5工程にて照度の調整が行われるまで維持される。
具体的には、所定範囲とは、レターデーションの測定値の幅方向分布において、好ましくは、目標値から±1.5%以下をいい、より好ましくは、目標値から±0.5%以下をいい、更に好ましくは、目標値から±0.25%以下をいう。
つまり、第5工程では、例えば、レターデーションの測定値の幅方向分布において、目標値から±1.5%を超えた測定値があるかどうかが判断される。
ここで、目標値とは、製造される位相差フィルムに求められるレターデーションの値に相当する。
より細かな照度の調整を可能とするため、紫外線照射手段6に用いる光源としては、複数個の発光ダイオード素子を備えるユニットを連続フィルム支持体の幅方向に沿って複数個並列したモジュール光源(以降、「LEDモジュール」ともいう)であることが好ましい。
この複数個のLED素子を備えるユニットを複数個(例えば、5個〜15個)並列したモジュール光源は、ユニット毎に照度の調整が可能である。
位相差フィルムのレターデーション(Re)は、Re=Δn×液晶層用塗膜の膜厚の関係を満たす(Δnは複屈折)。
そのため、液晶層用塗膜の膜厚が大きい箇所はレターデーションの値が大きくなる傾向があるため、紫外線の照度を上げて(即ち、液晶層用塗膜の温度を上げて)Δnを小さくすればよい。
また、液晶層用塗膜の膜厚が小さい箇所は、レターデーションの値が小さくなる傾向があるため、紫外線の照度を下げて(温度を下げて)Δnを大きくすればよい。
前述したように、液晶層用塗膜は、液晶化合物の配向がなされた後に、第3工程での紫外線照射にて、液晶化合物の配向が固定化される。この際、液晶化合物の配向性が高い状態で紫外線照射にて配向が固定化されてしまうと、液晶層用塗膜の膜厚のバラツキに起因するレターデーションのムラが生じる。
そこで、本工程では、紫外線の照度の調整により、僅かに液晶化合物をゆらがせて、Δnを変化させて液晶化合物の配向を固定化し、レターデーションの値の制御を行う。
一方、レターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲からマイナスの方向に外れた測定値があったときには、その測定値の測定位置に対応する幅方向位置の液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度を下げる。
前者の場合、予め決めておいた調整量としては、製造者、作業者等の経験に基づく調整量、紫外線照射手段6の最少調整量等が挙げられる。
つまり、第5工程は、事前に取得した、塗膜に照射する紫外線の照度と紫外線が照射された塗膜のレターデーションの値との関係から得られた調整量にて、塗膜に照射する紫外線の照度を調整する工程である、ことが好ましい。
具体的には、事前に、液晶層用塗膜に照射する紫外線の照度と紫外線が照射された塗膜のレターデーションの値との関係を取得しておく。そして、この関係に基づいて、レターデーションの測定値の所定範囲から外れた値に応じて決定された照度の調整量を採用する。
より具体的な照度の調整量の決定方法については、実施例にて説明する。
制御部8は、第4工程及び第5工程を行うに際し必要な各種プログラムなどを記憶したROM(Read Only Memory、読み出し専用メモリ)、データを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory、書き換え可能メモリ)、及び、第4工程及び第5工程を行うに際し必要な各種プログラムを実行するCPU(Central Processing Unit、中央演算素子)等を有している。
なお、制御部8としては、位相差フィルムの製造装置の一部の動作を制御するものであっても良いし、位相差フィルムの製造装置全体の動作を制御するものであってもよい。
但し、照度の調整は、必ずしも制御部8にて行われる必要はなく、製造者、作業者等が手動で行ってもよい。
このようにして、液晶層用塗膜の塗布厚みムラに起因するレターデーションのムラを小さくしうることから、一実施形態の位相差フィルムの製造方法によれば、レターデーションの面内分布が少ない位相差フィルムが得られる。
一実施形態の位相差フィルムの製造方法では、第4工程において紫外線が照射された液晶層用塗膜に対し、高圧水銀光源又はメタルハライド光源により更に紫外線を照射する第6工程を有することが好ましい。
第6工程の一例について、図1を参照して説明する。
図1に示すように、紫外線照射手段6により、紫外線が照射された液晶層用塗膜に対し、紫外線照射手段9にて更に紫外線を照射する。
第6工程を行うことで、位相差フィルムとして十分な膜強度が得られる。
形成された液晶層の膜厚は、例えば、1μm〜4μmが好ましく、2μm〜3μmがより好ましい。
以上のようにして、一実施形態の位相差フィルムの製造方法及び製造装置により、位相差フィルムが製造される。
製造された位相差フィルムとしては、レターデーションの面内分布が3%未満であることが好ましく、0.5%未満がより好ましい。
ここで、レターデーションの面内分布は、以下のようにして求める。
位相差フィルムの長手方向の任意の箇所を、幅方向の中心を含むように1000mm×1000mmで切り出す。
切り出したサンプルを、長手方向に等間隔で11分割し、幅方向にも等間隔で11分割する。分割箇所の交差点100点について、レターデーションを測定する。レターデーションの測定には、自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器社)を用いる。
測定した100点について、最大値Remax、最小値Remin、及び平均値Reaveを求め、以下の式を用いてレターデーションの面内分布を算出する。
レターデーションの面内分布(%)=(Remax−Remin)/Reave×100
上記のようなレターデーションの値を有する位相差フィルムを製造する方法として、前述の一実施形態の位相差フィルムの製造方法及び製造装置が好適である。
(第1工程:配向層用塗膜の形成)
長さ1000m、幅1000mmのセルローストリアセテートフィルムTD80UL(富士フイルム社)からなる連続フィルム支持体の片面に、下記の組成の配向層形成材料をワイヤーバーで塗布した。その後、塗布された配向層形成材料を60℃の温風で60秒、更に100℃の温風で120秒乾燥し、膜厚0.5μmの配向層用塗膜を形成した。
光配向用素材P−1 1.0質量部
ブトキシエタノール 33質量部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 33質量部
水 33質量部
次に、配向層用塗膜が形成された連続フィルム支持体を、バックアップロール(直径600mm、材質ステンレス)に巻き掛け(図2参照)、大気下にて空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス社)を用いた光配向装置(図2と同様の構成)により偏光紫外線を照射した。このとき、ワイヤーグリッド偏光子(Moxtek社、ProFlux UVT300A)におけるワイヤーグリッドの配列角度θを45°にし、また、|θ1−θ2|=0°として、偏光紫外線の照射を行い、配向層を形成した。
この際、紫外線の照度は、UV(ultra-violet)−A領域(波長380nm〜320nmの積算)において100mW/cm2、照射量はUV−A領域において1000mJ/cm2とした。
また、バックアップロール上の連続フィルム支持体の幅の縮み率は0.10%であった。
続いて、下記の組成の液晶層形成用材料を調製した。
液晶層形成用材料の固形分濃度は15質量%であり、液晶層形成用材料の25℃における粘度は2.0mPa・sであった。
逆波長分散液晶性化合物 R−3 100質量部
光重合開始剤 3.0質量部
(イルガキュア819、BASF社)
含フッ素化合物A 0.8質量部
架橋性ポリマー O−2 0.3質量部
クロロホルム 588質量部
塗布された液晶層形成用材料を膜面温度100℃にて60秒間加熱して、液晶層用塗膜を形成し、70℃まで冷却した。
続いて、空気下にて、アクロエッジ社のLEDモジュールを用いて、100mJ/cm2の紫外線を照射して、その配向状態を固定化し、液晶層を形成した。
使用したLEDモジュールは、日亜化学工業社のピーク波長365nmの素子を連続フィルム支持体の幅方向に10個並べたものを一つのユニットとし、このユニットを連続フィルム支持体の幅方向に10個並列したもの、であった。
続いて、上記LEDモジュールを含む光源による紫外線の照射後、液晶層用塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求めた(第4工程)。そして、求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、紫外線の照度を調整した(第5工程)。
レターデーションの測定には、自動複屈折計KOBRA−21ADH(王子計測機器社)を用いた(以降、測定器という)。
連続フィルム支持体の幅をLEDモジュールのユニット数で分割し(つまり、10分割)、分割領域の中心部について、測定器を連続フィルム支持体の幅方向に順次動かし、レターデーションの測定を行った。つまり、連続フィルム支持体の幅方向に対し、100mm間隔で測定器を動かし、レターデーションの測定を行った。
1点目のレターデーションの測定は、連続フィルム支持体の幅方向の一方の端部にある分割領域の中心部について行った。1点のレターデーションの測定時間は2秒間で、この間の測定値(測定器は静止したまま、連続フィルム支持体の搬送方向に5回繰り返し測定)を平均し、レターデーションの測定値を算出した。次の測定位置(即ち、隣接する分割領域の中心部)に移動するのにかかる時間は1秒で、移動後に同様の測定時間をかけ、レターデーションの測定値を得た。この測定操作を繰り返すことで、連続フィルム支持体の幅方向の一端から他端まで計10点の測定を実施した(これを1サイクルとする)。計10点のレターデーションの測定を実施した後、測定器を1点目のレターデーションの測定位置まで移動させ、2サイクル目の待機状態とした。
1サイクル目の測定の結果、目標値(目標のレターデーション値)から±0.5%を超えるズレがある測定値があったため、この測定値に相当する幅方向位置について、対応する第3工程のLEDモジュールにより、液晶層用塗膜に対する紫外線の照度を調整した。例えば、レターデーションに2%のズレが生じた位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜については、紫外線照射量が90mJ/cm2になるよう、LEDモジュール内のユニットの出力を10%小さくした。
紫外線の照度を変更した後、第3工程を通過した連続フィルム支持体が、第4工程のレターデーションの測定位置に到達するまでにかかる時間以上(ここでは、1分間とした、搬送距離では20mに相当)が経過した後、第4工程にて、再度レターデーションを測定した(2サイクル目)。
2サイクル目の結果、測定された10個の測定値すべてが、目標値から±0.5%以下の範囲に入っていたため、第5工程における紫外線の照度の調整は実施しなかった。
続いて、測定器を再び1点目のレターデーションの測定位置へ移動し、1分間おいた後、3サイクル目の測定を行った。
以降、レターデーションの測定値はいずれも目標値から±0.5%以下の範囲に入っていたため、第5工程における紫外線の照度の調整は実施しなかった。
なお、第4工程のレターデーション測定は一定時間ごとに続け、レターデーションの測定値が所定範囲に入っているかどうかの判断は繰り返し行った。
以上の作業を、連続フィルム支持体の長さ分だけ繰り返した。
なお、LEDモジュールによる露光後には、高圧水銀光源(アイグラフィクス社)にて、300mJ/cm2の紫外線を照射した。
得られた位相差フィルムにおいて、液晶層は、偏光照射方向に対し遅相軸方向が直交(すなわち、偏光板の吸収軸とも直交)であった(逆波長分散液晶性化合物が偏光照射方向に対して直交に配向していた)。
液晶層用塗膜に対する紫外線の照射を、「アクロエッジ社のLEDモジュール」から「高圧水銀灯(ショートアークランプ、ウシオ電機株式会社)を連続フィルム支持体の幅方向に沿って10個並列した光源(以降、高圧水銀モジュールともいう)」に代えた以外は、実施例1と同様にして、位相差フィルムを作製した。
なお、実施例2では、上記光源による紫外線の照射後、液晶層用塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求めた(第4工程)。そして、求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、紫外線の照度を調整した(第5工程)。
レターデーションの測定には、自動複屈折計KOBRA−21ADH(王子計測機器社)を用いた(以降、測定器という)。
連続フィルム支持体の幅を高圧水銀灯を並列させた数で分割し(つまり、10分割)、分割領域の中心部について、測定器を連続フィルム支持体の幅方向に順次動かし、レターデーションの測定を行った。つまり、連続フィルム支持体の幅方向に対し、100mm間隔で測定器を動かし、レターデーションの測定を行った。
1点目のレターデーションの測定は、連続フィルム支持体の幅方向の一方の端部にある分割領域の中心部について行った。1点のレターデーションの測定時間は2秒間で、この間の測定値(測定器は静止したまま、連続フィルム支持体の搬送方向に5回繰り返し測定)を平均し、レターデーションの測定値を算出した。次の測定位置(即ち、隣接する分割領域の中心部)に移動するのにかかる時間は1秒で、移動後に同様の測定時間をかけ、レターデーションの測定値を得た。この測定操作を繰り返すことで、連続フィルム支持体の幅方向の一端から他端まで計10点の測定を実施した(これを1サイクルとする)。計10点のレターデーションの測定を実施した後、測定器を1点目のレターデーションの測定位置まで移動させ、2サイクル目の待機状態とした。
1サイクル目の測定の結果、目標値(目標のレターデーション値)から±0.5%を超えるズレがある測定値があったため、この測定値に相当する幅方向位置について、対応する第3工程の高圧水銀モジュールにより、液晶層用塗膜に対する紫外線の照度を調整した。例えば、レターデーションに2%のズレが生じた位置に相当する幅方向位置の液晶層用塗膜については、紫外線照射量が90mJ/cm2になるよう、高圧水銀モジュール内の高圧水銀灯の出力を10%小さくした。
紫外線の照度を変更した後、第3工程を通過した連続フィルム支持体が、第4工程のレターデーションの測定位置に到達するまでにかかる時間以上(ここでは、1分間とした、搬送距離では20mに相当)が経過した後、第4工程にて、再度レターデーションを測定した(2サイクル目)。
2サイクル目の結果、目標値から±0.5%を超えるズレがある測定値があったため、第5工程にて、ズレ量に応じた紫外線の照度の調整を再度行った。
続いて、測定器を再び1点目のレターデーションの測定位置へ移動し、1分間おいた後、3サイクル目の測定を行った。
以降、レターデーションの測定値はいずれも目標値から±0.5%以下の範囲に入っていたため、第5工程における紫外線の照度の調整は実施しなかった。
なお、第4工程のレターデーション測定は一定時間ごとに続け、レターデーションの測定値が所定範囲に入っているかどうかの判断は繰り返し行った。
以上の作業を、連続フィルム支持体の長さ分だけ繰り返した。
液晶層用塗膜に対する紫外線の照射を、「アクロエッジ社のLEDモジュール」から「長さ1500mm空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス社)」に代えた以外は、実施例1と同様にして、位相差フィルムを作製した。
なお、比較例1では、空冷メタルハライドランプによる紫外線の照射後、液晶層用塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求めた(第4工程)。そして、求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、ランプ全体の出力を変更することで照度を連続フィルム支持体の幅方向で一括して変更し、レターデーションの調整を行った(A工程ともいう)。
レターデーションの測定には、自動複屈折計KOBRA−21ADH(王子計測機器社)を用いた(以降、測定器という)。
連続フィルム支持体の幅を10等分に分割し、分割領域の中心部について、測定器を連続フィルム支持体の幅方向に順次動かし、レターデーションの測定を行った。つまり、連続フィルム支持体の幅方向に対し、100mm間隔で測定器を動かし、レターデーションの測定を行った。
1点目のレターデーションの測定は、連続フィルム支持体の幅方向の一方の端部にある分割領域の中心部について行った。1点のレターデーションの測定時間は2秒間で、この間の測定値(測定器は静止したまま、連続フィルム支持体の搬送方向に5回繰り返し測定)を平均し、レターデーションの測定値を算出した。次の測定位置(即ち、隣接する分割領域の中心部)に移動するのにかかる時間は1秒で、移動後に同様の測定時間をかけ、レターデーションの測定値を得た。この測定操作を繰り返すことで、連続フィルム支持体の幅方向の一端から他端まで計10点の測定を実施した(これを1サイクルとする)。計10点のレターデーションの測定を実施した後、測定器を1点目のレターデーションの測定位置まで移動させ、2サイクル目の待機状態とした。
1サイクル目の測定の結果、測定値の平均値が目標値(目標のレターデーション値)から±0.25%を超えるズレがあったため、対応する第3工程の空冷メタルハライドランプの液晶層用塗膜に対する紫外線の照度を調整した。例えば、レターデーションの平均値が目標値から1%のズレが生じた場合には、液晶層用塗膜への紫外線照射量が95mJ/cm2になるよう、空冷メタルハライドランプの出力を5%小さくした。
紫外線の照度を変更した後、第3工程を通過した連続フィルム支持体が、第4工程のレターデーションの測定位置に到達するまでにかかる時間以上(ここでは、1分間とした、搬送距離では20mに相当)が経過した後、第4工程にて、再度レターデーションを測定した(2サイクル目)。
2サイクル目の結果、レターデーションの平均値が目標値から±0.25%を超えるズレがあったため、A工程にて、ズレ量に応じた紫外線の照度の調整を再度行った。
続いて、測定器を再び1点目のレターデーションの測定位置へ移動し、1分間おいた後、3サイクル目の測定を行った。
3サイクル目の測定以降も、レターデーションの平均値が目標値から±0.25%を超えるズレがあったため、A工程にて、ズレ量に応じた紫外線の照度の調整を再度行った。
以上の作業を、連続フィルム支持体の長さ分だけ繰り返した。
「レターデーションの測定と照度の調整」を行わなかった以外は、実施例1と同様にして、位相差フィルムを作製した。
上記実施例及び比較例で作製した位相差フィルムについて、レターデーションの面内分布を、下記方法及び評価基準に基づいて評価した。結果を表1に示す。
切り出したサンプルを、長手方向に等間隔で11分割し、幅方向にも等間隔で11分割する。分割箇所の交差点100点について、レターデーションを測定した。レターデーションの測定には、自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器社)を用いた。
測定した100点について、最大値Remax、最小値Remin、及び平均値Reaveを求め、以下の式を用いてレターデーションの面内分布を算出した。
レターデーションの面内分布(%)=(Remax−Remin)/Reave×100
A:レターデーションの面内分布が0.5%未満である
B:レターデーションの面内分布が0.5%以上3%未満である
C:レターデーションの面内分布が3%以上5%未満である
D:レターデーションの面内分布が5%以上である
比較例1によれば、レターデーションの調整方法がメタルハライドランプによる幅方向一括である場合は、レターデーションの面内分布の低減が不十分であることが分かる。
比較例2によれば、レターデーションの測定及び調整が行われないと、レターデーションの面内分布が大きいことが分かる。
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、及び技術規格は、個々の文献、特許出願、及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
Claims (10)
- 連続搬送される連続フィルム支持体上に、液晶化合物に対する配向規制力を備えた配向層を形成する第1工程と、
配向層上に液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布及び乾燥して塗膜を形成する第2工程と、
塗膜に紫外線を照射する第3工程と、
紫外線が照射された塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定し、レターデーションの測定値の幅方向分布を求める第4工程と、
求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の塗膜に照射する紫外線の照度を調整する第5工程と、
を有する位相差フィルムの製造方法。 - 第5工程が、事前に取得した、塗膜に照射する紫外線の照度と紫外線が照射された塗膜のレターデーションの値との関係から得られた調整量にて、塗膜に照射する紫外線の照度を調整する工程である、請求項1に記載の位相差フィルムの製造方法。
- 第3工程が、複数個の発光ダイオード素子を備えるユニットを連続フィルム支持体の幅方向に沿って複数個並列したモジュール光源により行われる、請求項1又は請求項2に記載の位相差フィルムの製造方法。
- 第2工程における液晶層形成用材料の塗布が、カーテンコーティング法又はダイコーティング法により行われる、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の位相差フィルムの製造方法。
- 第4工程後に、紫外線が照射された塗膜に対し、高圧水銀光源又はメタルハライド光源により更に紫外線を照射する第6工程を有する、請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の位相差フィルムの製造方法。
- 連続搬送される連続フィルム支持体上に、液晶化合物に対する配向規制力を備えた配向層を形成する配向層形成手段と、
配向層上に液晶化合物を含む液晶層形成用材料を塗布する塗布手段と、
塗布後の液晶層形成用材料を乾燥して塗膜を形成する乾燥手段と、
塗膜に紫外線を照射する紫外線照射手段と、
紫外線が照射された塗膜に対し、連続フィルム支持体の幅方向に沿ってレターデーションを測定するレターデーション測定手段と、
測定されたレターデーションの測定値から求められたレターデーションの測定値の幅方向分布の中に所定範囲から外れた測定値があったとき、所定範囲から外れた測定値の測定位置に相当する幅方向位置の塗膜に照射する紫外線の照度を調整する制御を行う制御手段と、
を有する位相差フィルムの製造装置。 - 制御手段が、事前に取得した、塗膜に照射する紫外線の照度と紫外線が照射された塗膜のレターデーションの値との関係から得られた調整量にて、塗膜に照射する紫外線の照度を調整する制御を行う、請求項6に記載の位相差フィルムの製造装置。
- 紫外線照射手段が、複数個の発光ダイオード素子を備えるユニットを連続フィルム支持体の幅方向に沿って複数個並列したモジュール光源である、請求項6又は請求項7に記載の位相差フィルムの製造装置。
- 塗布手段が、カーテンコーティング法又はダイコーティング法を用いた手段である、請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載の位相差フィルムの製造装置。
- 紫外線照射手段に対し、連続フィルム支持体の搬送方向下流側に、高圧水銀光源又はメタルハライド光源により塗膜に紫外線を照射する別の紫外線照射手段を有する、請求項6〜請求項9のいずれか1項に記載の位相差フィルムの製造装置。
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