JPWO2018193572A1 - 分光光度計 - Google Patents

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Abstract

分光光度計は、PDAを構成するPDのうち、少なくとも200nmから300nmまでの間の波長をもつ光を受光するPDの受光面で反射した光の反射位置と、その反射光が保護板で再び反射して当該PDAの受光面へ入射するときのその入射位置との間の距離が、当該PDAを構成する1つのPDの幅寸法以下となるように、分光器とPDAとの位置関係が設定されている。

Description

本発明は、分光器を用いてフローセルからの光を波長成分ごとに分光し、フォトダイオードアレイ(以下、PDA)を用いて分光された光を波長成分ごとに検出する分光光度計に関するものである。
液体クロマトグラフ用の検出器としてPDA分光光度計が知られている。PDA分光光度計は、試料を含む溶液を流通させるフローセルに光源から光を照射し、フローセルを透過した光又はフローセルで反射(若しくは屈折)した光を回折格子やプリズムなどの分光器によって波長成分ごとに分光してPDAに導く。PDAには、分光器によって分光された各波長成分の光を受光するための複数のフォトダイオード(以下、PD)が設けられており、波長成分ごとの光を各PDによって同時に検出してフローセルを経た光の波長スペクトルを検出することができる(特許文献1参照。)。
特開2014−048176号公報
上記のような分光光度計においては、分光器で分光されてPDAに入射した光の一部が反射し、その反射光の一部がPDAの受光面を保護する保護板や分光器等で再反射してPDAに迷光として再入射して検出されてしまうという問題があった。迷光とは、その光が本来検出されるべきPDとは異なるPDに入射した光を意味する。このような迷光は、検出感度の低下や直線性の悪化の原因となる。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、PDAの受光面で反射した光の再反射による検出への影響を低減することを目的とするものである。
本発明に係る第1の分光光度計は、光源と、前記光源からの光の光路上に配置され、試料を流通させるフローセルと、前記フローセルを経た光を波長成分ごとに分光する分光器と、入射光の光量を検出する複数のPDが一方向へ配列され、前記各PDの受光面のそれぞれに前記分光器により分光された波長成分ごとの光が入射するように配置されたPDAと、前記PDAの受光面を保護する光透過性の保護板と、を備えた液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計である。当該分光光度計は、前記PDAを構成するPDのうち、少なくとも200nmから300nmまでの間の波長をもつ光を受光するPDの受光面で反射した光の反射位置と、その反射光が前記保護板で再び反射して当該PDAの前記受光面へ入射するときのその入射位置との間の距離が、当該PDAを構成する1つのPDの幅寸法以下又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能以下となるように、前記分光器と前記PDAとの位置関係が設定されている。
すなわち、本発明の第1の分光光度計は、液体クロマトグラフで最もよく使用される200nmから300nmまでの間の波長範囲において迷光量が最も少なくなるように設計されたものである。PDAを用いる一般的な分光光度計では、幅広い波長範囲(例えば190nm〜800nm)で精度よく検出することができるように設計されている。しかし、そのように設計された分光光度計では、液体クロマトグラフで最もよく使用される200nmから300nmの波長範囲内において、保護板で再反射した光による迷光の影響を十分に排除しきれていなかった。迷光量が多いと、例えば試料成分の吸光度が大きくなったときにPDAに入射する迷光の割合が大きくなり、検出精度(直線性)が低下する。その結果、スペクトル形状が崩れ、場合によってはピーク波長も変化してしまうという問題があった。
本発明の第1の分光光度計では、液体クロマトグラフで最もよく使用される200nmから300nmまでの間の波長範囲において、PDAの受光面における反射位置(1回目の入射位置)とその反射光の再入射位置(2回目の入射位置)との間のずれ幅が1つのPDの幅寸法以下又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能以下となるように設計されているので、この波長範囲においてはPDAに対する1回目と2回目の光の入射位置が同じ波長域の光を検出するためのPDの範囲内に納まりやすくなり、この波長範囲での迷光量が少なくなる。
ここで、PDAの受光面に入射する光の入射角が大きいほどPDAの受光面での光の反射角も大きくなり、1回目の入射位置と2回目の入射位置とのずれ幅も大きくなる。そこで、本発明に係る第1の分光光度計の好ましい実施形態では、前記分光器により分光された光のうち200nmから300nmまでの間の所定の波長をもつ光が前記一方向(PDの配列方向)に対して直交する(入射角が0°となる)ように、前記分光器と前記PDAとの位置関係が設定されている。これにより、200nmから300nmの間の光を検出するためのPDに入射する光の入射角が小さくなる。
上記の所定の波長とは、例えば約250nmである。約250nmとは、250nm付近という意味であり、200nm〜300nmの波長範囲の中央付近の波長であることを意味する。
また、PDAの受光面で反射して分光器へ到達し、分光器で再反射してPDAに再入射した光も迷光となるため、分光器での再反射を抑制することによっても、迷光の低減を図ることができる。そこで、本発明に係る第1の分光光度計では、上述の構成に加えて、PDAの受光面で反射した光が分光器から逸れるように、前記分光器で分光された光の光軸がPDAの受光面の平面内における前記一方向(PDの配列方向)と直交する方向に対して傾斜する(入射角が0°とならない)ように、前記分光器と前記PDAとの位置関係が設定されていることが好ましい。そうすれば、PDAの受光面で反射した光が分光器で再反射してPDAに再入射することが抑制され、迷光を低減することができる。
本発明に係る第1の分光光度計のさらに好ましい実施形態では、PDAの受光面、保護板のPDA側表面、及び保護板のPDAとは反対側表面のうち少なくとも1つの面に、反射率を低減する反射防止膜が設けられている。PDAの受光面に反射防止膜を設ければ、PDAの受光面で反射する光の量が低減されるので、PDAに再入射する光も低減され、迷光が低減される。保護板のPDA側表面やPDAとは反対側表面に反射防止膜を設ければ、PDAで反射した光のうち保護板で再反射する光の割合が低減されるので、PDAに再入射する光も低減され、迷光が低減される。
本発明に係る第2の分光光度計は、上述した本発明に係る第1の分光光度計と同様の基本的構成を有する液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計であって、PDAの受光面で反射した光が分光器から逸れるように、分光器で分光された光の光軸がPDAの受光面の平面内における前記一方向(PDの配列方向)と直交する方向に対して傾斜する(入射角が0°とならない)ように、分光器とPDAとの位置関係が設定されている。
また、分光器へ入射する光の光路上に入口スリットが設けられている場合、例えば分光器で発生した−1次光のような光が入口スリットで反射して分光器へ戻ると、その光が迷光としてPDAに入射してしまうという問題がある。そこで、本発明の分光光度計では、入口スリットで反射された分光器からの光が当該分光器を逸れるように、入口スリットと分光器との位置関係が設定されていることが好ましい。
本発明に係る第1の分光光度計では、液体クロマトグラフで最もよく使用される200nmから300nmまでの間の波長範囲において、PDAの受光面に対する1回目の入射位置とその再反射光による2回目の入射位置との間のずれ幅が1つのPDの幅寸法以下又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能以下となるように設計されているので、この波長範囲において、PDAに対する1回目と2回目の光の入射位置が同じ波長域の光を検出するためのPDの範囲内に納まりやすくなり、迷光量が低減される。これにより、従来の分光光度計に比べて、液体クロマトグラフで最もよく使用される200nmから300nmの間の波長範囲における検出精度を向上させることができる。
本発明に係る第2の分光光度計では、PDAの受光面で反射した光が分光器から逸れるように、分光器で分光された光の光軸がPDAの受光面の平面内におけるPDの配列方向と直交する方向に対して角度をもつように、分光器とPDAとの位置関係が設定されているので、PDAの受光面で反射した光が分光器で再反射してPDAに再入射することが抑制され、迷光が低減される。これにより、検出精度が向上する。
同様に、分光器へ入射する光の光路上に入口スリットが設けられている場合、スリットで反射した分光器からの光が、分光器を逸れるように入口スリットと分光器との位置関係が設定されているため、入口スリットでの反射光が分光器で再反射してPDAに再入射することが抑制され、迷光が低減される。これにより、検出精度が向上する。
分光光度計の一実施例を示す構成図である。 同実施例のPD配列方向(X軸方向)における分光器とPDAとの位置関係を示す図である。 同実施例のPDAに入射し受光面で反射した光の挙動の一例を示す概念図である。 同実施例のPDAの受光面に反射防止膜を設けた図である。 同実施例のPDAを保護する保護板の両面に反射防止膜を設けた図である。 PD配列方向に直交する方向(Y軸方向)における分光器とPDAとの好ましい位置関係の一例を示す図である。 PDAを基準としたX軸方向とY軸方向の定義を説明するための図である。 分光器に対するスリットの好ましい配置方向の一例を示す図である。 迷光を低減した実施例による直線性の改善効果の検証結果を示すグラフである。 従来例の装置構成を用いて吸光度測定を行なったときの各吸光度でのピーク波形の一例である。 実施例の装置構成を用いて吸光度測定を行なったときの各吸光度でのピーク波形の一例である。
以下に、本発明に係る液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計の一実施例について、図面を用いて説明する。
まず、分光光度計の一実施例の構成について図1の概略構成図を用いて説明する。
この実施例の分光光度計は、光源2、集光レンズ4、フローセル6、ミラー8、入口スリット10、分光器12及びフォトダイオードアレイ(以下、PDA)14を備えている。
光源2により発せられる光の光路上に、集光レンズ4及びフローセル6が配置されており、光源2からの光が集光レンズ4を介してフローセル6へ照射されるようになっている。フローセル6内を液体クロマトグラフの分離カラムを経た溶液が流れる。
ミラー8はフローセル6を透過した光を反射させて入口スリット10側へ導くように配置されており、入口スリット10を経た光が回折格子などの分光器12に導かれるようになっている。分光器12に導かれた光は各波長成分の光に分光され、複数のフォトダイオード(以下、PD)が配列されてなるPDA14の各PDに入射するようになっている。
ここで、本明細書中においては、図6に示されているように、PDA14の受光面と同一の平面内におけるPD配列方向と平行な方向をX軸方向、同平面内におけるX軸方向と直交する方向をY軸方向と定義する。図6はPDA14の受光面の平面図である。
図2に示されているように、PDA14は開口面をもつPDAケース18内において受光面がPDAケース18の開口面側を向くように固定されている。PDAケース18の開口面は透明な保護板16によって閉じられており、PDA14の受光面が保護板16によって保護されている。このようにPDA14と保護板16は1つのパッケージとして構成されている。このようなPDAパッケージ構成は一般的なものである。
PDA14の受光面側に保護板16が配置されているため、PDA14の受光面で反射した光の一部が保護板16で再反射してPDA14側へ戻り、その光の波長とは別の波長を検出するためのPDに再入射してしまうことで迷光になるという問題がある。
この実施例の分光光度計は、液体クロマトグラフにおいて最も頻繁に使用される200nmから300nmの間の波長範囲において保護板16での再反射による迷光の影響が最も小さくなるように設計されている。具体的には、分光器12で分光された各波長成分の光のうち250nm付近の波長成分の光の光軸がX軸方向(PD配列方向)に対して直交するように、分光器12とPDA14の位置関係が設定されている。すなわち、図2に示されているように、紙面の左右方向をX軸方向(PD配列方向)としたときに、250nm付近の波長成分の光が鉛直向きになってPDA14に対して垂直に入射するように、分光器12とPDA14の位置関係が設定されている。
250nm付近の波長成分の光がPDA14の受光面に対して垂直に入射するように設計することで、図3に示されているように、200nm〜300nmの波長範囲の光を検出するためのPDに入射する光のX軸方向に対する入射角が小さくなる。その結果、200nm〜300nmの波長範囲では、PDA14の受光面での光の反射角が非常に小さなものとなり、PDA14に対する1回目(反射前)の光の入射位置と保護板16での再反射した後の2回目の入射位置の距離を、PDA14の分解能、すなわち1つのPDのX軸方向における幅寸法以下又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能以下とすることができる。これにより、この図の矢印で示されているように、200nm〜300nmの波長範囲において、PDA14の受光面で反射し保護板16で再反射した光が、その光が本来入射すべきPDへ戻る確率が上がり、迷光が低減する。
従来構成では、この実施例のように200nm〜300nmの波長範囲において迷光が最も小さくなるようには設計されておらず、より長波長側の光を受光するPDに対して光が垂直に入射するようになっていた。このため、200nm〜300nmの波長の光を受光するPDに対する光の入射角が大きくなり、反射角も大きくなり、保護板16で再反射した光が本来入射すべきPDとは別のPDに入射して迷光となっていた。
例えば、800nmの波長に対応するPDに対して光が垂直に入射するようになっていた場合、250nmの波長に対応するPDには約16度の入射角で光が入射する。その結果、250nmの波長に対応するPDの受光面で反射した光が保護板16で再反射すると、1回目の入射位置から約0.56mmもの距離だけずれた位置にある短波長側のPDに再入射することになる。
これに対し、250nmの波長に対応するPDに対して光が垂直に入射するように設計すると、200nmと300nmのそれぞれの波長に対応するPDに対する光の入射角は約1度となり、それらのPDの受光面で反射した光が保護板16で再反射しPDA14へ再入射しても、1回目の入射位置と2回目の再入射位置との距離は約1nmとなる。これは、PDA14の1つのPD素子の幅寸法又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能(例えば、約1.4nm)よりも小さい値となり、1回目の入射位置と2回目の入射位置が同一のバンド幅に納まることを意味する。
この実施例によって迷光を低減したことによる検出精度への影響の検証結果を図8、図9A及び図9Bに示す。図8の縦軸は吸光度の実測値(AU)、横軸は吸光度の理論値(AU)である。図8のグラフでは、吸光度の実測値が理論値に近いほどグラフ形状が直線に近くなって測定精度が高いといえる。
図8に示されているように、保護板16での再反射による迷光の影響を考慮しない従来例では、吸光度が高くなるほど迷光の影響が大きくなるため、実測値が理論値から離れていき、直線性が悪化している。これに対し、保護板16での再反射による迷光の影響を低減した実施例では、吸光度が高くなっても実測値が理論値に近い値を示しており、従来例に比べて直線性が維持されている。
また、図9Aに示されているように、保護板16での再反射による迷光の影響を考慮しない従来例では、吸光度が高くなるほどピーク波形が乱れていくが、図9Bに示されているように、実施例の構成によって迷光の低減を図ることで、吸光度が高くなってもピーク波形の乱れが見られない。
このことから、上記実施例の構成によって200nm〜300nmの波長範囲における迷光成分の低減を図ることで、この波長範囲での検出精度の向上を図ることができ、分光光度計を液体クロマトグラフ用検出器により適したものとすることができる。
また、さらなる迷光の低減を図るために、図4に示されているように、PDA14の受光面に反射率を低減する、例えばARコーティング等の反射防止膜20を設けることができる。これにより、PDA14の受光面で反射する光量が低減されるので、保護板16で再反射してPDA14へ再入射する光量が低減され、迷光が低減される。また、図4Bに示されているように、保護板16のPDA14側の表面とPDA14とは反対側の面に、例えばARコーティング等の反射防止膜22、24を設けてもよい。これにより、保護板16で再反射する光量が低減されるので、迷光が低減される。
なお、図4Bでは保護板16の両面に反射防止膜22、24が設けられているが、いずれか一方の表面のみに設けられていてもよい。また、PDA14の受光面に反射防止膜20が設けられていると同時に、保護板16の両面又はいずれか一方の表面に反射防止膜22及び/又は24が設けられていてもよい。
以上において説明した構成は、PDA14を保護する保護板16での再反射による迷光の低減を図るための構成であるが、PDA14に入射する迷光の原因となるのは保護板16だけではない。本発明者は、PDA14の受光面や保護板16の表面で分光器12側へ反射し、分光器12で分光されてPDA14に再入射して迷光となるという知見を得ている。
従来の分光光度計では、PDA14の受光面のY軸方向(PD配列方向)と分光器12からの光の光軸が直交するように配置されていることが一般的であるが、そのような構造では、PDA14や保護板16の表面で反射した光が分光器12側へ戻ってしまい、迷光の原因となる。
そこで、図5に示されているように、PDA14のY軸方向を分光器12からの光の光軸に対して傾斜させ、PDA14の受光面や保護板16で反射した光が分光器12を逸れるようにする。この構成により、PDA14に入射する迷光の光量を低減することができる。
さらに、本発明者は、分光器12で発生する−1次光のような光が分光器10側へ戻って反射され、再び分光12に入射すると、分光されてPDA14に入射し迷光となるという知見も得ている。そこで、図7に示されているように、分光器12から入口スリット10へ戻って入口スリット10で反射した光が再び分光器12へ戻らないように、入口スリット10と分光器12との位置関係を調整する。これにより、PDA14に入射する迷光の光量を低減することができる。
上記図5や図7のような構成は、保護板16での再反射による迷光の低減を狙った図2から図4Bまでの構成を実施した上で付加的に実施することもできるが、図2から図4までの構成を実施することなく単独で実施することもできる。本発明者は、図5及び図7の構成を単独で実施することによって、PDA14に入射する迷光が0.23%から0.04%に低減され、それによって測定結果の直線性が向上することを確認している。
2 光源
4 集光レンズ
6 フローセル
8 ミラー
10 入口スリット
12 分光器
14 フォトダイオードアレイ(PDA)
16 保護板
18 PDAケース
20,22,24 反射保護膜

Claims (8)

  1. 光源と、
    前記光源からの光の光路上に配置され、試料を流通させるフローセルと、
    前記フローセルを経た光を波長成分ごとに分光する分光器と、
    入射光の光量を検出する複数のフォトダイオードが一方向へ配列され、前記各フォトダイオードの受光面のそれぞれに前記分光器により分光された波長成分ごとの光が入射するように配置されたフォトダイオードアレイと、
    前記フォトダイオードアレイの受光面を保護する光透過性の保護板と、を備えた液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計であって、
    前記フォトダイオードアレイを構成する前記フォトダイオードのうち、少なくとも200nmから300nmまでの間の波長をもつ光を受光する前記フォトダイオードの受光面で反射した光の反射位置と、その反射光が前記保護板で再び反射して当該フォトダイオードアレイの前記受光面へ入射するときのその入射位置との間の距離が、当該フォトダイオードアレイを構成する1つのフォトダイオードの幅寸法以下又は当該分光光度計の最小スペクトル分解能以下となるように、前記分光器と前記フォトダイオードアレイとの位置関係が設定されている分光光度計。
  2. 前記分光器により分光された光のうち200nmから300nmまでの間の所定の波長をもつ光の光軸が前記一方向に対して直交するように、前記分光器と前記フォトダイオードアレイとの位置関係が設定されている請求項1に記載の分光光度計。
  3. 前記所定の波長は約250nmである請求項2に記載の分光光度計。
  4. 前記フォトダイオードアレイの前記受光面で反射した光が前記分光器から逸れるように、前記分光器で分光された光の光軸が前記フォトダイオードアレイの受光面の平面内における前記一方向と直交する方向に対して傾斜するように、前記分光器と前記フォトダイオードアレイとの位置関係が設定されている請求項1から3のいずれか一項に記載の分光光度計。
  5. 前記フォトダイオードの前記受光面、前記保護板の前記フォトダイオード側表面、及び前記保護板の前記フォトダイオードとは反対側表面のうち少なくとも1つの面に、反射率を低減する反射防止膜が設けられている請求項1から4のいずれか一項に記載の分光光度計。
  6. 光源と、
    前記光源からの光の光路上に配置され、試料を流通させるフローセルと、
    前記フローセルを経た光を波長成分ごとに分光する分光器と、
    入射光の光量を検出する複数のフォトダイオードが一方向へ配列され、前記各フォトダイオードの受光面のそれぞれに前記分光器により分光された波長成分ごとの光が入射するように配置されたフォトダイオードアレイと、
    前記フォトダイオードアレイの受光面を保護する光透過性の保護板と、を備えた液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計であって、
    前記分光器により分光された光のうち200nmから300nmまでの間の所定の波長をもつ光の光軸が前記一方向に対して直交するように、前記分光器と前記フォトダイオードアレイとの位置関係が設定されている分光光度計。
  7. 光源と、
    前記光源からの光の光路上に配置され、試料を流通させるフローセルと、
    前記フローセルを経た光を波長成分ごとに分光する分光器と、
    入射光の光量を検出する複数のフォトダイオードが一方向へ配列され、前記各フォトダイオードの受光面のそれぞれに前記分光器により分光された波長成分ごとの光が入射するように配置されたフォトダイオードアレイと、を備えた液体クロマトグラフ用検出器としての分光光度計であって、
    前記フォトダイオードアレイの前記受光面で反射した光が前記分光器から逸れるように、前記分光器で分光された光の光軸が前記フォトダイオードアレイの受光面の平面内における前記一方向と直交する方向に対して角度をもつように、前記分光器と前記フォトダイオードアレイとの位置関係が設定されている分光光度計。
  8. 前記分光器へ入射する光の光路上に設けられた入口スリットをさらに備え、
    前記入口スリットで反射された前記分光器からの光が前記分光器を逸れるように、前記入口スリットと前記分光器との位置関係が設定されている請求項1から7のいずれか一項に記載の分光光度計。
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