JPWO2017199652A1 - 診断システム及び電子制御装置 - Google Patents
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Abstract
外部からの入力に基づいて予測される複数の初期パラメータを生成する初期パラメータ生成部と,制御目的を記述した評価関数を用いて前記初期パラメータに対する最適解を演算する演算器を複数有する演算部と,前記演算部の出力に基づいて該演算部の診断を行う診断部とを備え,前記診断部は,前記各初期パラメータに対する各最適解に対応する評価値のうち,評価値が取り得る値から一定の閾値以上逸脱する評価値を与える最適解候補が発見された場合に,前記演算部のエラーと診断することを特徴とする。
Description
近似曲線生成部42にて多項式近似を行い,距離判定部43にて,近似曲線生成部42にて作成される多項式と最適化器3内の各個体31から出力される評価値32との距離が,閾値44以下であるかを判定することで,最適化器3内の各個体31に発生したエラー有無を診断する(C5)。この診断によりエラーを含む評価値32が存在した場合には,出力選択部5へ診断結果41を出力することでエラーを含む個体31より出力された出力候補値33を除外する(C6)。出力選択部5は,C6にて除外されるエラーを含んだ出力候補値以外の中から,評価値32を基に制御目的に対して最適な出力を,電子制御装置1の出力として選択し出力する(C7)。
Claims (7)
- 外部からの入力に基づいて予測される複数の初期パラメータを生成する初期パラメータ生成部と,制御目的を記述した評価関数を用いて前記初期パラメータに対する最適解を演算する演算器を複数有する演算部と,前記演算部の出力に基づいて該演算部の診断を行う診断部とを備え,前記診断部は,前記各初期パラメータに対する各最適解に対応する評価値のうち,評価値が取り得る値から一定の閾値以上逸脱する評価値を与える最適解候補が発見された場合に,前記演算部のエラーと診断することを特徴とする診断システム。
- 請求項1に記載の診断システムであって,
前記診断部においてエラーの診断を行う際に,入力される複数の評価値を基に近似曲線を生成し,評価値と近似曲線との距離と閾値との比較によりエラーの有無を診断することを特徴とする診断システム。 - 請求項1に記載の診断システムであって,
前記診断部においてエラーを診断する際に用いられる閾値が,演算の反復回数増加に伴い減少することを特徴とする診断システム。 - 請求項1に記載の診断システムが実装されることを特徴とする電子制御装置。
- 請求項1に記載の診断システムであって,
前記初期パラメータ生成部と,制御目的を記述した評価関数を用いて前記初期パラメータに対する最適解を演算する演算器を複数有する演算部とが電子制御装置に備えられ,
前記診断部が前記電子制御装置に接続される診断装置に備えられることを特徴とする診断システム。 - 請求項5に記載の診断システムであって,
前記診断装置が前記演算部を定期的に診断し異常検知時に前記電子制御装置の動作を停止させることを特徴とする診断システム。 - 外部からの入力に基づいて演算結果を出力し制御対象を制御する電子制御装置であって,
前記電子制御装置に与える入力を一定とした際に,中性子線等が存在するエラー頻度の高い環境下にて出力値の出現頻度に不連続点が存在することを特徴とする診断システム。
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