JPWO2017158736A1 - かご位置検出装置 - Google Patents

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Abstract

スリットパターンが形成された識別板と複数のコイルを用いて、交流磁気応答により発生する電圧を閾値処理することで、かご位置検出を行う装置において、複数のコイルを用いたオン/オフ検出動作に基づいてかご位置を検出する通常動作と、コイルに強制的に磁界を印加することで、かごが停止した状態で、識別板の有無に関わらず、オン/オフ検出動作を検証することのできる自己診断動作と、を切り換え可能な回路構成を備えるものである。

Description

本発明は、エレベータ昇降路内にある構造物の誤検出による信頼性の低下を防ぐことのできるかご位置検出装置に関し、特に、自己診断機能を備えたかご位置検出装置に関する。
かご側に複数の距離センサを並列配置し、各階床位置に被検出板を距離センサと同様に並列配置する構成を備えた従来のエレベータ装置がある(例えば、特許文献1参照)。この特許文献1は、各階床で異なる組合せで被検出板を配置し、その組合せを距離センサより検出することで、階床を識別している。
各階における被検出板の組合せは、データベースとして記憶されている。そして、前回検出した組合せに対して、今回検出した組合せがデータベース上の組合せと矛盾がある場合には、故障状態と判断される。
また、絶対ケージ位置を決定するための測定システムを備えた従来のエベレータ設備がある(例えば、特許文献2参照)。この特許文献2は、ガイドレールに、昇降方向に配列された疑似ランダムコーディングの絶対コードマークパターン(単一トラックマグネットパターン)を有している。そして、コード読取装置は、連続n+1個のコードマークを走査するための読取ステーションを持ち、かごの絶対位置を判別している。
特許第5380407号公報 特許第4397689号公報
しかしながら、従来技術には、以下のような課題がある。
特許文献1は、被検出板がない場合には、故障診断ができない。また、かごが階床に移動しない限りは、距離センサの自己診断ができないこととなる。
また、特許文献2は、スケールがマグネットであるため、装置全体が高価となってしまう。さらに、自己診断機能が備わっておらず、特許文献1と同様に、かごを実際に移動させない限りは、コード読取装置の自己診断ができないこととなる。
本発明は、前記のような課題を解決するためになされたものであり、かごを走行させることなく位置検出の自己診断を実施できる機能を備えたかご位置検出装置を得ることを目的とする。
本発明に係るかご位置検出装置は、昇降路内の階床ごとに設けられ、かごの昇降方向に複数のスリットからなるスリットパターンを有した金属板として構成された識別板と、かご側に設けられ、スリットパターンの一部と対向することで、交流磁気応答による電圧値を出力し、識別板のスリットパターンの一部に対応する出力値を生成するN個からなる複数のコイルを有し、複数のコイルのそれぞれが、励磁コイルと差動型検出コイルで構成され、差動型検出コイルにより検出された電圧値を出力するセンサと、差動型検出コイルのそれぞれからの出力値に対して閾値処理を施し、検出コイル出力を生成する信号処理部とを備え、エレベータのかごを各階床に停止させる際の停止位置検出を行うかご位置検出装置であって、励磁コイルを流れる励磁電流が供給されることで、励磁電流の大きさに応じた磁界を、差動型検出コイルに印加させるテストコイルをさらに備え、信号処理部は、テストコイルに対して励磁電流を供給する状態と励磁電流を供給しない状態とを切り換えるスイッチと、励磁電流の位相シフト量を可変設定する位相シフタとを有し、スイッチを開状態とし、テストコイルに励磁電流が供給されない状態で検出コイル出力を生成することで、スリットパターンを抽出する通常動作を実行し、スイッチを閉状態とした上で、位相シフタによる位相シフト量を切り換え、テストコイルに対して位相シフタを通過した励磁電流を供給した状態で検出コイル出力を生成することで、自己診断動作を実行し、差動型検出コイルからの出力値に対して、励磁電流を用いて直交検波を行うことで励磁電流と同位相の成分の振幅値、および励磁電流と異相の成分の振幅値を抽出し、同位相の成分の振幅値および異相の成分の振幅値から検出コイル出力を生成することで、通常動作時においては、スリットパターンを抽出し、自己診断動作時においては、スリットパターンに依存せずに、位相シフト量に応じてHレベルまたはLレベルのいずれかに固定設定された検出コイル出力を生成するものである。
本発明によれば、スリットパターンが形成された識別板と複数のコイルを用いて、交流磁気応答により発生する電圧を閾値処理することで、かご位置検出を行う装置において、複数のコイルを用いたオン/オフ検出動作に基づいてかご位置を検出する通常動作と、コイルに強制的に磁界を印加することで、かごが停止した状態で、識別板の有無に関わらず、オン/オフ検出動作を検証することのできる自己診断動作と、を切り換え可能な回路構成を備えている。この結果、かごを走行させることなく位置検出の自己診断を実施できる機能を備えたかご位置検出装置を得ることができる。
本発明の実施の形態1によるかご位置検出装置を含むエレベータの全体構成図である。 本発明の実施の形態1におけるかご位置検出装置の詳細構成を説明するための図である。 本発明の実施の形態1における識別板と、複数のコイルを有するセンサの具体的なレイアウトを示した図である。 本発明の実施の形態1におけるスリットパターンに対応するM系列符号と、ドアゾーン、リレベルゾーンとの対応関係を説明するための図である。 本発明の実施の形態1におけるかご位置検出装置の概要図である。 本発明の実施の形態1における、先の図5とは異なるかご位置検出装置の概要図である。 本発明の実施の形態1における自己診断機能を備えたかご位置検出装置の構成図である。 本発明の実施の形態1における信号処理部31において実行される自己診断結果をまとめたものである。 本発明の実施の形態2における自己診断機能を備えたかご位置検出装置の構成図である。 本発明の実施の形態2における信号処理部31において実行される自己診断結果をまとめたものである。
以下、本発明のかご位置検出装置の好適な実施の形態につき、図面を用いて説明する。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1によるかご位置検出装置を含むエレベータの全体構成図である。昇降路1内には、かご(昇降体)2および釣合おもり(図示せず)が設けられている。かご2および釣合おもりは、昇降路1内に設置された複数のレール(図示せず)に個別に案内されながら、図示しない巻上機(駆動装置)の駆動力により、ロープ3を介して昇降路1内を上下方向へ移動される。
昇降路1内には、複数の被検出体である識別板10が固定されている。識別板10は、かご2の移動方向について互いに離して設定された複数の基準位置にそれぞれ配置されている。本実施の形態1では、かご2が乗り場床面4の位置に停止した状態を検出するために識別板10が設けられているものであり、各階に対応する位置が基準位置とされている。そして、図1においては、ある階床に設置された1つの識別板10のみを例示している。
かご2の下部には、各階に配置された識別板10を検出するためのセンサ(検出器)20が設けられている。センサ20からの信号は、エレベータの運転を制御する制御装置30へ送られる。制御装置30には、センサ20からの信号を処理することにより、かご2の位置を特定する信号処理部31が設けられている。制御装置30は、信号処理部31で特定されたかご2の位置に基づいて、エレベータの運転を制御する。
本実施の形態1におけるかご位置検出装置は、複数の識別板10、センサ20、および信号処理部31を有して構成される。そこで、自己診断機能を説明する前に、本実施の形態1におけるかご位置検出装置の各構成要件について、詳細に説明する。
図2は、本発明の実施の形態1におけるかご位置検出装置の詳細構成を説明するための図である。なお、図2中に示した記号Msc、DZ、RZ、DIRは、それぞれ以下の内容を意味している。
Msc:スリット有無によるM系列符号(疑似乱数符号)
DZ:ドアゾーン
RZ:リレベルゾーン
DIR:昇降方向
識別板10は、スリット11の入った金属板として構成され、各階の着床位置における昇降路構造物1aに設置されている。従って、識別板10は、各階に分割配置され、昇降路全長には設置されないこととなる。
さらに、識別板10に設けられたスリット11は、スリット11の有無がセンサ20によって検出される電圧値に基づくON/OFF信号として読み取られることにより、M系列符号を再現するように配列されている。なお、本実施の形態1では、各階床に設置される識別板10は、全て同じスリットパターンで構成され、いずれも同じM系列符号を再現するものとする。
センサ20は、複数のコイル21を備えて構成され、コイル21と識別板10の交流磁気応答によりコイル21に発生する電圧(振幅電圧)を抽出する。そして、信号処理部31は、識別板10内のスリット11の無有に対応した振幅電圧の増減に対して閾値処理を行うことにより、H/L判定を行う。そして、信号処理部31は、複数のコイル21のそれぞれのH/L判定結果から、符号列を取得する。
さらに、信号処理部31は、かご2が昇降路1内を上昇あるいは下降することによって、識別板10とセンサ20の相対的な位置が変化していくことに伴って、スリットパターンに即して順次変化していく特定の符号列を検出することになる。そして、信号処理部31は、特定の符号列の検出下において、検出される個々の符号列を識別することで、スリット有無の境界位置を検出することができる。
また、信号処理部31は、特定の符号列が検出されない場合には、誤入力であると判断し、その後の処理を行わないようにすることができる。すなわち、信号処理部31は、スリットパターンによる特定の符号列が検出された時だけ位置検出を行うことにより、昇降路構造物など識別板10以外の物にセンサ20が反応した場合にも、位置の誤検出を防ぐことができる。
さらに、信号処理部31は,ドアゾーンに対応した符号列、リレベルゾーンに対応した符号列を検出した場合には、検出結果に応じて、ドアゾーン出力、リレベルゾーン出力をONし、制御装置30に対して着床状態を知らせることができる。
次に、特定の符号列としてM系列符号を生成するための、識別板10とセンサ20の具体的な構成について、図3、図4を用いて説明する。図3は、本発明の実施の形態1における識別板10と、複数のコイル21を有するセンサ20の具体的なレイアウトを示した図である。また、図4は、本発明の実施の形態1におけるスリットパターンに対応するM系列符号と、ドアゾーン、リレベルゾーンとの対応関係を説明するための図である。
なお、図4中に示した記号Msc、DZ、RZ、DIRは、先の図2と同様の内容を意味している。また、6チャネルで読み取られた符号列が、1、0のパターンとして、図4の右端に記載されている。
まず始めに、コイル21およびスリット11の数、寸法について説明する。リレベルゾーンをamm、ドアゾーンをbmm(ただし、a<b)とした場合、それぞれのスリット11の長さmは、a、bの公約数となる。
また、b/mビットの疑似乱数(M系列)から位置確定を行うためには、M系列から、下式(1)を満たすpビット以上のデータ読取りが必要となる。
2p−1≧b/m+(p−1)×2 (1)
すなわち、図4に示しように、ドアゾーンに相当するb/mビットと、その両脇の(p−1)ビットを足した符号列において、重複したpビットの符号を発生させないようにするためには、M系列の周期となる2p−1との関係で、上式(1)の不等式を満たす必要がある。
一方、センサ20を構成する複数のコイル21は、p個として構成される。そして、各コイル間のピッチは、スリット11の長さmと同じであり、各コイルの長さcは、
c≦m
となる。
M系列は、以下の漸化式(2)から生成される。
M(n)=M(n−p) XOR M(n−q) (p>q) (2)
初期値:M(1)、M(2)、…M(p)
ここで、XORは、排他的論理和(Exclusive OR)を意味している。
具体例として、
a=20mm
b=300mm
m=20mm(aとbの最大公約数に相当)
とすると、
a/m=1
b/m=15
となり、上式(2)を満たすpは
p≧5
として求まることとなる。
ただし、昇降路構造物による誤検出対策のためには、複数のコイル21の出力値から生成される符号列において、HまたはLが、1個以下となるM系列は排除することが適切である。すなわち、pビットとして抽出される符号列が、常にHとLが2個以上となって構成されることで、誤検出要因を低減することができ、このため、pは、
p≧6
としている。
このようにして、p=6とした場合の、具体的なM系列符号と、リレベルゾーン、ドアゾーンの位置関係が、図4にまとめられている。この図4を例にすると、信号処理部31は、かごが下降時においては、n=1〜6に相当する符号列1−0−0−1−0−1を読み取ることで、ドアゾーンに入ったことを判断でき、さらに、n=7〜12に相当する符号列1−1−0−1−1−0を読み取ることで、リレベルゾーンに入ったことを判断できる。
同様に、信号処理部31は、かごが上昇時においては、n=20〜25に相当する符号列1−0−1−0−1−0を読み取ることで、ドアゾーンに入ったことを判断でき、さらに、n=13〜18に相当する符号列1−0−1−1−0−0を読み取ることで、リレベルゾーンに入ったことを判断できる。
図5は、本発明の実施の形態1におけるかご位置検出装置の概要図である。図5では、p=6の場合を例示しており、信号処理部31は、6個のコイル21のそれぞれの交流磁気応答により発生する電圧(振幅電圧)を抽出している。そして、信号処理部31は、上述したように、抽出した電圧値を閾値処理することで符号列を生成し、その符号列に応じて、ドアゾーン、リレベルゾーンであるか否かを判断し、判断結果を出力する。図5において、信号処理部31は、ドアゾーンを検出した場合には、信号S1を出力し、リレベルゾーンを検出した場合には、信号S2を出力している。
図6は、本発明の実施の形態1における、先の図5とは異なるかご位置検出装置の概要図である。図6に示した構成は、図5の構成と比較すると、コイル21の構成が異なっており、この点を中心に、以下に説明する。なお、図6では、図面を簡素化するために、1チャネル分のコイルのみを示しているが、実際にはこのようなコイルが、p個並列に設けられることとなる。
図6に示すように、複数のコイル21のそれぞれは、一対の差動型検出コイル21aと、一対の差動型検出コイル21aに挟まれた励磁コイル21bで構成されている。
このようなコイル構成を採用すると、差動型検出コイル21aの出力は、渦電流磁界のみをピックアップすることができる。この結果、信号処理部31は、識別板10がない位置、あるいは、識別板10のスリット11の位置においては、差動型検出コイル21aの出力がない状態として検知でき、識別板10のスリット11がない位置においてのみ、差動型検出コイル21aの出力を検知できる。
この図6のように、励磁コイルと差動型検出コイルで構成された検出コイルを採用することで、励磁コイルからの励磁磁界をピックアップしないようにすることができる。この結果、識別板10の非スリット部の検出S/Nを向上させることができる。
なお、検出S/Nを向上させるためには、信号処理部31において、検出コイルによる出力の振幅値以外に、位相を取り込み、H/L判定してもよい。
次に、図6に示した回路構成を有するかご位置検出装置に対して、自己診断機能を付加した構成について、図7、図8を用いて詳細に説明する。図7は、本発明の実施の形態1における自己診断機能を備えたかご位置検出装置の構成図である。なお、図7では、図面を簡素化するために、1チャネル分のコイルのみを示している。
図7の構成におけるコイル21は、一対の差型検出コイル21aと、一対の差動型検出コイル21aに挟まれた励磁コイル21bとともに、自己診断を実現するためのテストコイル23aを備えて構成されている。ここで、テストコイル23aは、一対の差動型検出コイル21aの一方の外周に設けられている。
図7に示す信号処理部31は、電流検出部32、スイッチ33、位相シフタ34、直交検波部35、増幅部36、およびスリット有無判定部37を含んで構成されている。そして、電流検出部32は、励磁コイル21bと励磁源22との間に接続され、電流源の役割を果たす。
また、電流検出部32の出力は、位相シフタ34および直交検波部35に接続されている。そして、電流検出部32は、電流源として、励磁コイル21bを流れる励磁電流を、位相シフタ34および直交検波部35に供給できる構成となっている。
一方、自己診断用に新たに追加されたテストコイル23aは、スイッチ33と位相シフタ34からなる診断回路に接続されている。そして、テストコイル23aは、診断回路を経由して、電流検出部32から励磁電流が供給される。その結果、励磁電流の大きさに応じた磁界が、差動型検出コイル21aに印加されることとなる。
1対の差動型検出コイル21aは、スイッチ33がオフ状態のときは、識別板10からの渦電流磁界による電圧のみを出力する。また、スイッチ33がオン状態のときは、識別板10からの渦電流磁界による電圧と、テストコイル23aからの磁界による電圧との合成電圧を出力する。1対の差動型検出コイル21aから出力された電圧は、増幅部36を経由して、直交検波部35に入力される。
直交検波部35は、増幅部36を通過して得られた電圧成分を、電流検出部32から供給された励磁電流を用いて直交検波する。すなわち、直交検波部35は、増幅部36を通過して得られた電圧成分を、励磁電流と同位相の成分の振幅値I(同相成分出力)と、±90°異相の成分の振幅値Q(異相成分出力)に分ける。
スリット有無判定部37は、QとIの値に応じて、検出コイル出力を生成する。具体的には、スリット有無判定部37は、
Q>I (3)
かつ、
Q>>0 (4)
の条件が成立するとき、検出コイル出力をHとし、上式(3)、(4)の条件が成立しない場合には、検出コイル出力をLとする。なお、図7中では、検出コイル出力に相当する信号をS(out)として示している。
なお、スリット有無判定部37は、上式(4)の判断に当たっては、判定用の閾値をあらかじめ設定しておき、Qがその判定値以上であるか否かを判断することができる。
次に、このような構成を備えた信号処理部31を用いた自己診断方法について、詳細に説明する。図8は、本発明の実施の形態1における信号処理部31において実行される自己診断結果をまとめたものである。図8には、以下のモードA〜モードCの3種類が記載されている。
モードA:通常運転時にスリットの有無によりM系列符号を読み取るモードであり、スイッチ33をOPENとすることで、このモードAが実行される。
モードB:自己診断時に、位置検出機能が正常であれば、検出コイル出力がHレベルとなる状態を強制的に作り出すことができるモードであり、何らかの原因により、検出コイル出力がLに固着されている状態を異常として検出することができる。
モードC:自己診断時に、位置検出機能が正常であれば、検出コイル出力がLレベルとなる状態を強制的に作り出すことができるモードであり、何らかの原因により、検出コイル出力がHに固着されている状態を異常として検出することができる。
ここで、L固着あるいはH固着が発生する原因としては、配線関係の断線、短絡、あるいは、位置検出に関連する電気機器の故障、出力接点の不良などが挙げられる。そして、信号処理部31は、モードB、モードCの自己診断を実施することで、故障原因の特定はできないものの、L固着およびH固着が発生せずに、正常に位置検出機能が働いている状態であるか否かを診断することができる。
次に、図8を用いて、通常運転時のモードA、および自己診断時のモードB、モードCの順で、具体的な動作内容を説明する。
[モードAの動作説明]
モードAによる通常動作時には、スイッチ33をOPENとする。この状態では、テストコイル23aに起因した磁界が発生しないため、信号処理部31は、差動型検出コイル21aの出力をそのまま処理することで、上述したM系列符号に基づく位置検出を実行することができる。
具体的には、スリット11がない場合には、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界を電圧として出力する。増幅部36を通過後の出力は、励磁電流に対して、90°ずれている。
従って、増幅部36を通過後の出力を、電流検出部32を介して供給された励磁電流により直交検波すると、同位相の成分の振幅値Iと±90°異相の成分の振幅値Qに分けることができる。
ここで、増幅部36を通過後の出力と、励磁電流とは、位相が90°ずれている。このため、直交検波部35の出力は、
I=0
Q=A’≠0
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、上述した式(3)、(4)が成立するため、検出コイル出力をHにセットすることとなる。
一方、スリット11がある場合には、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界を検出しない。このため、電圧はゼロとなる。従って、直交検波部35の出力は、
I=Q=0
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、上述した式(3)、(4)が成立しないため、検出コイル出力をLにセットすることとなる。
以上の説明から明らかなように、モードAによる通常動作時は、スイッチ33をOPENにしておくことで、スリット11があり渦電流磁界が発生しない状態でLとなり、スリット11がなく渦電流が発生する状態でHとなる検出コイル出力を得ることができる。
[モードBの動作説明]
モードBによるL固着の異常を判定するための自己診断動作時には、スイッチ33をSHORTとするとともに、位相シフタの位相変換を0°とする。この状態では、テストコイル23aの働きにより、励磁電流による磁界が差動型検出コイル21aに印加される。
このため、増幅部36を通過後の出力は、識別板10からの渦電流磁界による電圧(振幅A、励磁電流に対する位相のずれは90°)と、テストコイル23aによる電圧(振幅B、励磁電流に対する位相のずれは90°)の合成となる。ここで、振幅Aと振幅Bは、
B>>A
の関係にある
スリット11がない場合には、渦電流磁界が発生する溜め、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界による電圧と、テストコイル23aによる電圧の合成電圧を出力する。
そして、増幅部36を通過後の出力は、励磁電流に対して、90°ずれている。このため、直交検波部35の出力は、
I=0
Q=A’+B’(B’>>A’)
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、上述した式(3)、(4)が成立するため、検出コイル出力をHにセットすることとなる。
一方、スリット11がある場合には、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界を検出しない。このため、差動型検出コイル21aから出力される電圧は、テストコイル23aによる電圧(振幅B、励磁電流に対する位相のずれは90°)のみとなる。
そして、増幅部36を通過後の出力は、励磁電流に対して、90°ずれている。このため、直交検波部35の出力は、
I=0
Q=B’≠0
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、スリット11がある場合にも、上述した式(3)、(4)が成立するため、検出コイル出力をHにセットすることとなる。
以上の説明から明らかなように、モードBによる自己診断動作時は、スイッチ33をSHORT、位相シフタ34を0°にしておくことで、スリットの有無にかかわらず、Hレベルとなる検出コイル出力を得ることができる。従って、モードBによる自己診断を行うことで、検出コイル出力がLになった場合には、信号処理部31の出力がLレベルに固着した故障が発生したことを検出できる。
[モードCの動作説明]
モードCによるH固着の異常を判定するための自己診断動作時には、スイッチ33をSHORTとするとともに、位相シフタの位相変換を−90°とする。この状態では、テストコイル23aの働きにより、励磁電流による磁界が差動型検出コイル21aに印加される。
このため、増幅部36を通過後の出力は、識別板10からの渦電流磁界による電圧(振幅A、励磁電流に対する位相のずれは90°)と、テストコイル23aによる電圧(振幅B、励磁電流に対する位相のずれは0°)の合成となる。ここで、振幅Aと振幅Bは、
B>>A
の関係にある
スリット11がない場合には、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界による電圧と、テストコイル23aによる電圧の合成電圧を出力する。
そして、増幅部36を通過後の出力は、B>>Aのため、励磁電流に対して、ほぼ0°で位相がずれていないこととなるこのため、直交検波部35の出力は、
I=B’
Q=0
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、上述した式(3)、(4)が成立しないため、検出コイル出力をLにセットすることとなる。
一方、スリット11がある場合には、差動型検出コイル21aは、識別板10からの渦電流磁界を検出しない。このため、差動型検出コイル21aから出力される電圧は、テストコイル23aによる電圧(振幅B、励磁電流に対する位相のずれは0°)のみとなる。
そして、増幅部36を通過後の出力は、励磁電流に対して、ほぼ0°で位相がずれていないこととなる。このため、直交検波部35の出力は、
I=B’
Q=0
となる。
この結果、スリット有無判定部37は、スリット11がある場合にも、上述した式(3)、(4)が成立しないため、検出コイル出力をLにセットすることとなる。
以上の説明から明らかなように、モードCによる自己診断動作時は、スイッチ33をSHORT、位相シフタ34を−90°にしておくことで、スリットの有無にかかわらず、Lレベルとなる検出コイル出力を得ることができる。従って、モードCによる自己診断を行うことで、検出コイル出力がHになった場合には、信号処理部31の出力がHレベルに固着した故障が発生したことを検出できる。
上述したように、モードB、モードCは、スリットの有無に関わらず、自己診断を実施することができる。従って、識別板10がある場所、ない場所のいずれにおいても、かごを停止させた状態で、位置検出機能の自己診断を実施することができる。
また、モードAを実行した後にモードB、モードCを実行するサイクルを繰り返す、あるいは、定期的にモードB、モードCを実行するなど、用途に応じて適切なタイミングで自己診断を実施することができる。
以上のように、実施の形態1によれば、通常走行時には、複数のコイルを用いたM系列符号を検出することで位置検出を実行できる。さらに、自己診断時には、励磁電流に応じた磁界を発生させることで、任意の停止位置で、渦電流磁界の発生の有無に関わらず、位置検出出力をHレベルまたはLレベルのいずれか一方に意図的に固定させることができる構成を備えている。この結果、出力がHレベルに固着した故障、および出力がLレベルに固着した故障を、かごを任意の位置で停止させた状態で、かつ、所望のタイミングで、自己診断することが可能となる。
実施の形態2.
本実施の形態2では、先の実施の形態1の構成に対して、さらに、2個目のテストコイルを備えることで同様の効果を得ることのできる、かご位置検出装置について説明する。
図9は、本発明の実施の形態2における自己診断機能を備えたかご位置検出装置の構成図である。なお、図9では、図面を簡素化するために、1チャネル分のコイルのみを示している。また、図9中では、検出コイル出力に相当する信号をS(out)として示している。
本実施の形態2における図9の構成は、先の実施の形態1における図7の構成と比較すると、テストコイル23bをさらに備えるとともに、位相シフタ34の入力にテストコイル23bが接続され、テストコイル23bからの電流を位相シフタ34に入力する点が異なっている。そこで、これらの相違点を中心に、以下に説明する。
図9の構成におけるコイル21は、一対の差型検出コイル21aと、一対の差動型検出コイル21aに挟まれた励磁コイル21bとともに、自己診断を実現するためのテストコイル23aおよびテストコイル23bを備えて構成されている。ここで、テストコイル23aは、先の実施の形態1と同様のものであり、一対の差動型検出コイル21aの一方の外周に設けられている。また、本実施の形態2で新たに追加されたテストコイル23bは、励磁コイル21bに対してあるギャップを持って対向配置されている。
さらに、テストコイル23bに誘導される電流と、電流検出部32を介して得られる励磁電流との位相差は、−90°である。そして、本実施の形態2では、テストコイル23bに誘導される電流が、位相シフタ34に入力されている。そこで、先の実施の形態1と比較して、本実施の形態2では、モードB、モードCの自己診断時に、位相シフタ34による位相シフト量を90°ずらすこととなる。位相シフタ34以降の動作は、先の実施の形態1と同様となる。
図10は、本発明の実施の形態2における信号処理部31において実行される自己診断結果をまとめたものである。図10に示すように、本実施の形態2では、モードBの自己診断を行う際には、位相シフタ34の位相シフト量を90°とし、モードCの自己診断を行う際には、位相シフタ34の位相シフト量を0°としている。その他の動作は、先の実施の形態1と同様である。
以上のように、実施の形態2によれば、図9のような構成を備えることで、先の図7の構成による自己診断機能を実現することができる。さらに、本実施の形態2の構成によれば、スイッチと位相シフタからなる診断回路は、励磁源とテストコイルを介して接続され、電流検出部を介さない構成とすることができる。この結果、電流源異常時も、その影響を受けにくくすることができるという、さらなる効果を得ることができる。

Claims (3)

  1. 昇降路内の階床ごとに設けられ、かごの昇降方向に複数のスリットからなるスリットパターンを有した金属板として構成された識別板と、
    かご側に設けられ、前記スリットパターンの一部と対向することで、交流磁気応答による電圧値を出力し、前記識別板の前記スリットパターンの一部に対応する出力値を生成するN個からなる複数のコイルを有し、前記複数のコイルのそれぞれが、励磁コイルと差動型検出コイルで構成され、前記差動型検出コイルにより検出された電圧値を出力するセンサと、
    前記差動型検出コイルのそれぞれからの出力値に対して閾値処理を施し、検出コイル出力を生成する信号処理部と
    を備え、エレベータのかごを各階床に停止させる際の停止位置検出を行うかご位置検出装置であって、
    前記励磁コイルを流れる励磁電流が供給されることで、前記励磁電流の大きさに応じた磁界を、前記差動型検出コイルに印加させるテストコイルをさらに備え、
    前記信号処理部は、
    前記テストコイルに対して前記励磁電流を供給する状態と前記励磁電流を供給しない状態とを切り換えるスイッチと、
    前記励磁電流の位相シフト量を可変設定する位相シフタと
    を有し、
    前記スイッチを開状態とし、前記テストコイルに前記励磁電流が供給されない状態で前記検出コイル出力を生成することで、前記スリットパターンを抽出する通常動作を実行し、
    前記スイッチを閉状態とした上で、前記位相シフタによる前記位相シフト量を切り換え、前記テストコイルに対して前記位相シフタを通過した前記励磁電流を供給した状態で前記検出コイル出力を生成することで、自己診断動作を実行し、
    前記差動型検出コイルからの前記出力値に対して、前記励磁電流を用いて直交検波を行うことで前記励磁電流と同位相の成分の振幅値、および前記励磁電流と異相の成分の振幅値を抽出し、前記同位相の成分の振幅値および前記異相の成分の振幅値から前記検出コイル出力を生成することで、前記通常動作時においては、前記スリットパターンを抽出し、前記自己診断動作時においては、前記スリットパターンに依存せずに、前記位相シフト量に応じてHレベルまたはLレベルのいずれかに固定設定された前記検出コイル出力を生成する
    かご位置検出装置。
  2. 前記励磁コイルに接続された励磁源と、前記励磁コイルとの間に接続され、前記励磁コイルを流れる前記励磁電流を電流源として、前記位相シフタに前記励磁電流を供給する電流検出部をさらに備える
    請求項1に記載のかご位置検出装置。
  3. 前記励磁コイルに対してギャップを持って対向配置され、前記励磁コイルを流れる前記励磁電流を電流源として、前記位相シフタに前記励磁電流を供給する第2のテストコイルをさらに備える
    請求項1に記載のかご位置検出装置。
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