JPWO2017056182A1 - イオン源用液体試料導入システム及び分析システム - Google Patents

イオン源用液体試料導入システム及び分析システム Download PDF

Info

Publication number
JPWO2017056182A1
JPWO2017056182A1 JP2017542550A JP2017542550A JPWO2017056182A1 JP WO2017056182 A1 JPWO2017056182 A1 JP WO2017056182A1 JP 2017542550 A JP2017542550 A JP 2017542550A JP 2017542550 A JP2017542550 A JP 2017542550A JP WO2017056182 A1 JPWO2017056182 A1 JP WO2017056182A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid sample
liquid
sample
analysis
ion source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017542550A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6481767B2 (ja
Inventor
一真 前田
一真 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2017056182A1 publication Critical patent/JPWO2017056182A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6481767B2 publication Critical patent/JP6481767B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • G01N30/7233Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
    • G01N30/724Nebulising, aerosol formation or ionisation
    • G01N30/7266Nebulising, aerosol formation or ionisation by electric field, e.g. electrospray
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0409Sample holders or containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/0445Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/0445Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol
    • H01J49/045Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for introducing as a spray, a jet or an aerosol with means for using a nebulising gas, i.e. pneumatically assisted
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/165Electrospray ionisation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

液体試料をイオン源のイオン化プローブ30に送液し、該イオン化プローブ30の先端から流出する液体試料に霧化促進ガスを吹き付けて液体試料をイオン化するイオン源用液体試料導入システムであって、液体試料が収容される密閉容器である液体試料容器70a〜70eと、前記イオン源への霧化促進ガスの流路の途中に一端が接続され、他端が前記液体試料容器70a〜70eの内部の液面よりも上方に接続される送液ガス流路50と、一端が前記液体試料容器70a〜70eの内部の液面よりも下方に接続され、他端が前記イオン化プローブ30に接続される試料送液流路60と、前記試料送液流路60の途中に配置される流路切替部61であって、該試料送液流路60の連通状態と閉鎖状態を切り替える流路切替部61とを備えることを特徴とするイオン源用液体試料導入システム。

Description

本発明は、質量分析装置等のイオン分析装置のイオン源に液体試料を導入するために用いるイオン源用液体試料導入システムに関する。
液体試料に含まれる成分を分析する装置の1つに質量分析装置がある。質量分析装置は液体試料中の成分をイオン化するイオン源と、イオン化された成分を質量電荷比に応じて分離し検出する質量分析部とを有する。液体試料をイオン化するイオン源(例えばESI源やAPCI源)では、一般に、液体試料をイオン化プローブに送液し、該イオン化プローブの先端から流出する液体試料に霧化促進ガス(ネブライザガスや乾燥ガスとも呼ばれる)を吹き付けて液体試料をイオン化する。
上記イオン源に液体試料を導入する際には、例えば、特許文献1に記載の液体試料導入システムが用いられる。この液体試料導入システムでは、液体試料を収容した密閉容器(液体試料容器)の内部の液面よりも上部の空間に送液ガスを送給し、該送液ガスの圧力により液体試料容器内の液体試料をイオン源のイオン化プローブに送液する。
米国特許第5703360号明細書
上述の液体試料導入システムでは、イオン源において液体試料に吹き付けるための霧化促進ガスの他に、液体試料を送液するために送液ガスを用いる必要があり、両ガス源を用意する必要があることからコストが高くなってしまうという問題があった。
ここでは質量分析装置を一例として説明したが、液体試料からイオンを生成して分析するイオン移動度分析装置等においても同様の問題があった。
本発明が解決しようとする課題は、低コストで液体試料をイオン化することができるイオン源用液体試料導入システムを提供することである。
上記課題を解決すべく、本件出願人は、本件と同日の出願(PCT/JP2015/077415)において、液体試料をイオン源のイオン化プローブに送液し、該イオン化プローブの先端から流出する液体試料に霧化促進ガスを吹き付けて液体試料をイオン化するイオン源用液体試料導入システムであって、
液体試料が収容される密閉容器である液体試料容器と
前記イオン源への霧化促進ガスの流路の途中に一端が接続され、他端が前記液体試料容器の内部の液面よりも上方に接続される送液ガス流路と、
一端が前記液体試料容器の内部の液面よりも下方に接続され、他端が前記イオン化プローブに接続される試料送液流路と、
を備えるイオン源用液体試料導入システムを提案している。
上記イオン源用液体試料導入システムでは、イオン源への霧化促進ガスの流路の途中に送液ガス流路を接続する。そして、霧化促進ガスの一部を液体試料容器に導入し、該霧化促進ガスの圧力によって液体試料容器内の液体試料をイオン源のイオン化プローブに送液する。つまり、イオン源において用いられる霧化促進ガスを送液ガスとしても用いる。従って、液体試料をイオン源に送液するための送液ガスの供給源を追加する必要がなく、低コストで液体試料をイオン化することができる。
イオン分析装置においてイオン源への霧化促進ガスの送給を停止すると、該霧化促進ガスの送給先であるイオン化室の圧力が低下したり、イオン化室内の気流が変化したりする。すると、液体試料のイオン化効率や、生成されたイオンがイオン化室の後段に設けられた分析室に導入される効率が変化してしまう。そのため、通常、イオン分析装置では、分析準備中や分析待機中(液体試料を送液しない時間帯)にも一定量の霧化促進ガスを送給し続ける。
しかし、上記イオン源用液体試料導入システムでは、イオン源にネブライザガスを送給すると、同時に該霧化促進ガスが送液ガスとして液体試料容器にも送給される。その結果、液体試料がイオン化プローブに送液され続けて液体試料が必要以上に消費されてしまう、という新たな課題があることが分かった。
上記課題を解決するために成された本発明は、液体試料をイオン源のイオン化プローブに送液し、該イオン化プローブの先端から流出する液体試料に霧化促進ガスを吹き付けて液体試料をイオン化するイオン源用液体試料導入システムであって、
a) 液体試料が収容される密閉容器である液体試料容器と
b) 前記イオン源への霧化促進ガスの流路の途中に一端が接続され、他端が前記液体試料容器の内部の液面よりも上方に接続される送液ガス流路と、
c) 一端が前記液体試料容器の内部の液面よりも下方に接続され、他端が前記イオン化プローブに接続される試料送液流路と、
d) 前記試料送液流路の途中に配置される流路切替部であって、該試料送液流路の連通状態と閉鎖状態を切り替える流路切替部と
を備えることを特徴とする。
本発明に係るイオン源用液体試料導入システムは、先の出願で提案したイオン源用液体試料導入システムにおいて、試料送液流路の途中に流路切替部を配置して該試料送液流路の連通状態と閉鎖状態を切り替え可能に構成したものである。本発明に係るイオン源用液体試料導入システムでは、前記連通状態で液体試料をイオン化プローブに送液し、前記閉鎖状態では液体試料の送液を停止することができるため、イオン源に霧化促進ガスを送給し続けても液体試料が必要以上に消費されることがない。
液体試料のイオン化には、霧化促進ガスに加えて乾燥ガスを併用する場合があり、そうしたイオン化源では乾燥ガスを液体試料の送液に利用することも可能ではあるが、適用可能なイオン化源が乾燥ガスを用いるものに限定されてしまう。本発明に係るイオン源用液体試料導入システムでは、液体試料を大気圧イオン化法でイオン化する際に、液体試料の種類を問わず広く用いられる霧化促進ガスを利用するため、多くの種類の液体試料及びイオン化源に適用することができる。
また、本発明に係るイオン源用液体試料導入システムでは、
前記送液ガス流路を流れるガスの圧力を調整するための送液ガス圧調整部
を備えることが好ましい。
上記送液ガス圧調整部を備えた態様のイオン源用液体試料導入システムでは、イオン源に供給される霧化促進ガスの圧力と独立に送液ガスの圧力を調整し、イオン源に送液する液体試料の量を変更することができる。
さらに、本発明に係るイオン源用液体試料導入システムでは、
前記液体試料容器が複数設けられ、
前記送液ガス流路の前記他端側が、それぞれが液体試料容器の内部の液面よりも上方に接続される複数の送液ガスサブ流路に分岐しており、
前記試料送液流路の前記一端側が、それぞれが液体試料容器の内部の液面よりも下方に接続される複数の試料送液サブ流路に分岐しており、
前記流路切替部が、1つのメインポートと該メインポートに択一的に接続される複数のサブポートを有し、前記試料送液サブ流路の分岐点に配置される流路切替バルブであって、前記複数のサブポートのうちの1つが大気圧に開放され、他のサブポートに前記複数の試料送液サブ流路が接続される
ように構成することができる。
この態様のイオン源用液体試料導入システムでは、1つの流路切り替えバルブのみを用いて複数の液体試料を択一的にイオン源送液流路に導入することができる。
本発明に係るイオン源用液体試料導入システムを用いることにより、低コストで液体試料をイオン源に導入してイオン化することができる。また、イオン源に霧化促進ガスを送給し続けても液体試料が必要以上に消費されることがない。
本発明に係るイオン源用液体試料導入システムを有する質量分析装置の要部構成図。 本発明に係るイオン源用液体試料導入システムの一構成例。 本実施例において設定される分析条件の一例。 本発明に係るイオン源用液体試料導入システムの別の構成例。
本発明に係るイオン源用液体試料導入システムの実施例について、以下、図面を参照して説明する。本実施例のイオン源用液体試料導入システムは、図1に示す飛行時間型質量分析装置(以下、「TOF−MS」とも呼ぶ。)において液体クロマトグラフ80から溶出する分析液体試料中の各種成分を質量分析する際に、質量較正用の標準液体試料を導入するために用いられる。なお、本実施例ではイオン分析装置としてTOF−MSを用いているが、本実施例と同様の構成のイオン源用液体試料導入システムは、他の質量分析装置やイオン分析装置(イオン移動度分析装置等)においても用いることができる。
液体クロマトグラフ80、イオン源用液体試料導入システム、及びTOF−MSの各部は制御部90により制御される。制御部90は、記憶部91のほかに、機能ブロックとして分析条件設定部92、及び分析実行部93を備えている。制御部90の実体は所要のソフトウェアがインストールされたコンピュータであり、入力部94と表示部95が接続されている。分析条件設定部92は、使用者による入力に基づき分析条件を設定し分析実行ファイルを作成して記憶部91に保存する。また、分析実行部93は、使用者による指示に応じて、分析実行ファイルに基づき液体クロマトグラフ80、イオン源用液体試料導入システム、及びTOF−MSの各部を動作させ分析液体試料中の各種成分の分析を実行する。
TOF−MSは、大気圧雰囲気に維持されるイオン化室10と、図示しない真空ポンプにより排気され高真空に維持される分析室129とを有し、その間には段階的に真空度を高くした第1中間室124と第2中間真空室127が配設されている。イオン化室10と第1段中間真空室124は細径の脱溶媒管11を介して連通しており、第1段中間真空室124と第2段中間真空室127は円錐形状のスキマー126の頂部に穿設された小径のオリフィスを介して連通している。
液体クロマトグラフ80のカラムで時間的に分離された分析液体試料中の各種成分は、ESIプローブ20で帯電した微小液滴となってイオン化室10内に噴霧される。また、後述のイオン源用液体試料導入システムから送液される質量較正用の標準液体試料も同様に、ESIプローブ30で帯電した微小液滴となってイオン化室10に噴霧される。これらの帯電液滴は、イオン化室10内のガス分子と衝突してさらに微細な液滴に粉砕され、速やかに乾燥して(脱溶媒化されて)イオン化する。これらのイオンはイオン化室10と第1中間真空室124の差圧によって脱溶媒管11に引き込まれ、イオンガイド125、128で収束されつつ2つの中間真空室124、127を通過して分析室129内の3次元四重極型のイオントラップ130に導入される。
イオントラップ130では、図示しない電源から各電極に印加される高周波電圧により形成される四重極電場によって、イオンが一旦捕捉・蓄積される。イオントラップ130の内部に蓄積された各種イオンは、所定のタイミングで一斉に運動エネルギーを付与され、質量分離器としての飛行時間型質量分離器(TOF)131に向けてイオントラップ130から放出される。TOF131は図示しない直電電源から直流電圧が印加されるリフレクトロン電極132を備え、これにより形成される直流電場の作用によってイオンは折り返され、イオン検出器133に到達する。一斉にイオントラップ30から出射されたイオンのうち、質量電荷比が小さいイオンほど速く飛行し、質量電荷比の大きさに応じた時間差でイオン検出器133に到達する。イオン検出器133は到達したイオン数に応じた電流を検出信号として出力する。イオン検出器133からの出力信号は、後述する制御部90の記憶部91に保存される。
上述のとおり、本実施例のイオン源用液体試料導入システムは、TOF−MSのイオン化室10に液体クロマトグラフ80のカラムから溶出する液体試料とともに質量較正用の標準液体試料を導入してイオン化するシステムであり、それぞれ異なる質量電荷比のイオンを複数生成する成分が溶解した5種類の標準液体試料a〜eが用意され、それぞれ液体試料容器70a〜70eに収容されている。
イオン化室10に配設されたESIプローブ30には、窒素ガスボンベ(霧化ガス源)40につながるネブライザガス流路41が設けられている。ネブライザガス流路41には、窒素ガスボンベ40に近い方から順にバルブ42、分岐部43が設けられており、分岐部43には、送液ガス流路50が接続されている。送液ガス流路50には、レギュレータ51及び分岐部52が設けられており、分岐部52にはリリーフバルブ53につながるリリーフ流路54が接続されている。
送液ガス流路50は5本の送液ガスサブ流路50a〜50eに分岐している。各送液ガスサブ流路50a〜50eの端部は、標準液体試料が収容された容器(液体試料容器)70a〜70e内の液面よりも上部の空間に接続されている。また、各送液ガスサブ流路50a〜50eと並列に、大気開放バルブ55につながる大気開放流路56が設けられている。
また、ESIプローブ30には、試料送液流路60が接続されている。試料送液流路60の他端は6ポジション7方バルブ61のメインポート61gに接続されている。6ポジション7方バルブ61は6つのサブポート61a〜61fを有しており、これらサブポート61a〜61fのうちの1つがメインポート61gに接続される。サブポート61a〜61eにはそれぞれ、試料送液サブ流路60a〜60eの一端が接続されている。試料送液サブ流路60a〜60eの他端は、液体試料容器70a〜70e内の液面よりも下方(即ち液中)に接続されている。また、サブポート61fには大気開放流路62の一端が接続されている。大気開放流路62の他端は大気中に開放されている。
次に、本実施例における分析動作について説明する。
使用者が、分析液体試料に含まれることが想定される1乃至複数の成分の名称、該成分が液体クロマトグラフ80のカラムから溶出する時間帯(保持時間)、及びTOF−MSにおいて該成分を質量分析する際の測定質量範囲、該成分の質量分析時に内部標準として使用する質量較正用の標準液体試料の種類(あるいは該標準液体試料が収容されている液体試料容器の番号)を含む分析パラメータを入力すると、制御部90の分析条件設定部92はこれらに基づき分析条件ファイルを作成し、記憶部91に保存する。各成分の質量分析時に使用する標準液体試料には、該成分の測定質量範囲内に質量電荷比を有し、かつ該成分から生成されるイオンと質量電荷比が重複しないという条件を満たすイオンを複数種類生成するものが選択される。本実施例では、図3に示すように、分析液体試料1〜3をバッチ分析するための分析条件ファイルが作成され、分析液体試料1及び3については該液体試料中の成分に応じた標準液体試料を使用した質量分析を実行し、分析液体試料2については標準液体試料を使用せず質量分析を実行する。
ここでは、使用者が各成分の保持時間、測定質量範囲、及び標準液体試料の種類を入力する場合について説明するが、複数の成分のそれぞれに対して保持時間、測定質量範囲、及び標準液体試料の種類に関する情報を対応付けた成分分析情報を記憶部91に予め保存しておき、使用者が成分の名称を入力すると分析条件設定部92が記憶部91に保存された成分分析情報に基づいて保持時間、測定質量範囲、及び標準液体試料の種類を自動的に決定して分析条件ファイルを作成するようにしてもよい。
使用者により分析開始が指示されると、分析実行部93は、液体クロマトグラフ80に分析液体試料を導入し、移動相の流れに乗せて分析液体試料をカラムに導入する。液体クロマトグラフ80のカラムにおいて時間的に分離された分析液体試料1〜3中の各種成分は順次ESIプローブ20に導入され、イオン化されて質量分析に供される。
上記分析動作と並行して、イオン源用液体試料導入システムでは、上述の分析条件に基づき、一連の測定開始(分析液体試料1の測定開始)から4.5分(成分Aの分析終了時間と成分Bの分析開始時間の中間時点)経過するまでは液体試料容器70a中の液体試料が、その後7.0分(成分Bの分析終了時間と成分Cの分析開始時間の中間時点)経過するまでは液体試料容器70b中の液体試料が、その後分析終了までは液体試料容器70d中の標準液体試料がESIプローブ30に送液される。
その後、測定時間が10分に達すると、液体試料2の測定が開始される。液体試料2の測定中(測定時間10-20分)には、いずれの標準液体試料も送液されない。さらに、測定時間が20分に達すると、液体試料3の測定が開始され、液体試料1の質量分析時と同様に、成分A〜Cに応じた種類の標準液体試料70a、70b、70dが順に送液される。
上記一連の測定中、イオン源用液体試料導入システムの各部は次のように動作する。
窒素ガスボンベ40からネブライザガス流路41には3L/minの流量、+500kPaの圧力で窒素ガスが送給される。ここで、LはESIプローブ30からバルブ42までの流路長である。また、+500kPaという表記は、イオン化室10内の圧力よりも500kPa高い圧力であることを意味する。例えばイオン化室10が大気圧(101.325kPa)であれば、601.325kPaの圧力で窒素ガスが送給される。なお、ネブライザガス流路41に送給する窒素ガスの流量及び圧力、並びに送液ガスの圧力の数値はいずれも一例であり、使用者が適宜に変更することができる。ネブライザガスの流量や圧力は、使用するイオン化プローブ(本実施例ではESIプローブ30)の仕様等に応じて決めればよく、送液ガスの圧力は、標準液体試料の目的送出量に応じて決めればよい。ただし、ネブライザガス及び送液ガスの圧力は、いずれもイオン化室10内の圧力よりも高くしておく。
分岐部43から送液ガス流路50に流れ込んだ窒素ガスは、レギュレータ51により+100Paに減圧され、各送液ガスサブ流路50a〜50eを通って液体試料容器70a〜70eに送られる。これにより、各液体試料容器70a〜70eの内部が同時に加圧され、液体試料容器70a〜70eに収容された標準液体試料がそれぞれ試料送液サブ流路60a〜60eに送出される。なお、レギュレータ51に異常が発生して送液ガス流路50内でのガス圧が+150kPa以上になると、リリーフバルブ53が開放され窒素ガスが放出される。
試料送液サブ流路60a〜60eに送出された各標準液体試料は、6ポジション7方バルブ61の6つのサブポート61a〜61eに到達する。6ポジション7方バルブ61では、サブポート61a〜61eのうちの1つのみがメインポート61gに接続される。一連の測定開始時(分析液体試料1の測定開始時)には、サブポート61aに送出された標準液体試料(液体試料容器70aに収容された標準液体試料)がメインポート61gを通って試料送液流路60に流れ込み(図1中の実線)、ESIプローブ30に導入される。その後、分析時間の経過にあわせ、6ポジション7方バルブ61の流路が切り替えられ、標準液体試料b, dが順にESIプローブ30に送液される。また、分析液体試料2の測定中には、6ポジション7方バルブ61の6つのサブポート61fがメインポート61gに接続される(図1中の破線)。サブポート61fには大気開放流路62が接続されているため、大気開放流路62、サブポート61f、メインポート61g、及び試料送液流路60がいずれも大気開放され、液体試料の送液が停止される。その間もESIプローブ30へのネブライザガスの送給は継続される。その後、分析液体試料3の測定が開始されると、サブポート61aをメインポート61gに接続し、液体試料容器70aに収容された標準液体試料をESIプローブ30に送液する。
上記一連の測定終了時には、6ポジション7方バルブ61の6つのサブポート61dがメインポート61gに接続された状態になっており、液体試料容器70dに収容された標準液体試料がESIプローブ30に送液されている。本実施例では、分析実行部93がバッチ分析の終了時点でいずれかの標準液体試料がESIプローブ30に送液されている場合(即ち、サブポート61a〜61eのいずれかがメインポート61gに接続されている場合)には、所定時間(例えば5分)経過後に6ポジション7方バルブ61を動作させ、サブポート61fをメインポート61gに接続する。もちろん、バッチ分析終了時に、使用者が自ら上記同様に流路を切り替えても良い。これにより、液体試料の送液が停止される。その後、大気開放バルブ55を開放して液体試料容器70a〜70e内の加圧を解消し、液体試料容器70a〜70eを取り外し交換する等の作業を行う。
本実施例では、バッチ分析修了後、所定時間が経過すると分析実行部93が自動的に6ポジション7方バルブ61の流路を切り替えて標準液体試料の送液を停止する。バッチ分析を行う場合、使用者は分析システムに分析開始の指示のみを与えてその場から離れ、分析終了後(例えば翌朝)に分析結果を確認することが多いため、上記のように分析実行部93を動作させることにより標準液体試料が必要以上に消費されるのを防ぐことができる。
以上、説明したように、本実施例のイオン源用液体試料導入システムでは、ESIプローブ30に接続されたネブライザガス流路41の途中に送液ガス流路50を接続する。そして、ネブライザガスの一部を液体試料容器70a〜70eに導入し、該ネブライザガスの圧力によって液体試料容器70a〜70e内の標準液体試料をESIプローブ30に送液する。従って、従来のように液体試料をESIプローブに送液するための送液ガスの供給源を設ける必要がなく、低コストで液体試料をイオン化することができる。
また、本件と同日出願のイオン源用液体試料導入システム(PCT/JP2015/077415)では、イオン源にネブライザガスを送給すると、同時に該霧化促進ガスが送液ガスとして液体試料容器にも送給される。その結果、液体試料がイオン化プローブに送液され続けて液体試料が必要以上に消費されてしまう、という問題があった。これに対し、本実施例のイオン源用液体試料導入システムでは、イオン源へのネブライザガスの送給を継続したまま液体試料の送液を停止することができるため、液体試料が必要以上に消費されることがない。
TOF−MSでは、装置自体あるいはその周辺の温度変化や質量分析装置の各部に印加される電圧が変動すると質量電荷比とイオンの飛行時間の関係が変化する。TOF−MSではppmオーダーの高い質量精度の分析が求められるため、分析液体試料の質量分析中に内部標準として標準液体試料を導入することにより質量較正を行うことが多い。本実施例のイオン源用液体試料導入システムを用いると、ESIプローブ30へのネブライザガスの送給を継続したまま標準液体試料の種類を変更したり、あるいは標準液体試料の送液を停止したりすることができるため、イオン化室10内の圧力や気流の変動がなく、液体クロマトグラフ80から溶出する成分を一定の条件下でイオン化することができる。
また、本実施例のイオン源用液体試料導入システムでは、ネブライザガスを液体試料の送液に利用する。ネブライザガスは液体試料の種類を問わず、液体試料を大気圧イオン化する際に用いられるため、幅広い種類の液体試料及びイオン化法について用いることができる。
さらに、本実施例のイオン源用液体試料導入システムでは、1つの6ポジション7方バルブ61のみで5種類の液体試料の中からESIプローブ30に導入する液体試料を選択する。そのため、従来の(例えば特許文献1に記載の)イオン源用液体試料導入システムのように多数の流路切替部を設ける必要がなく、流路切替部でコンタミネーションが生じるリスクを低減できる。
その他、本実施例のイオン源用液体試料導入システムでは、送液ガス流路50にレギュレータ51を配置しているため、ネブライザガスの圧力と独立に送液ガスの圧力を調整し、液体試料の送液量を適宜に変更することができる。
上記実施例はいずれも一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。
上記実施例では、5種類の標準液体試料を選択的にESIプローブ30に導入したが、ESIプローブ30に送液する液体試料は質量較正用の液体試料のみに限定されない。例えば、分析液体試料を導入することもできる。また、試料送液流路60及び試料送液サブ流路60a〜60eを洗浄するための洗浄液を送液することもできる。あるいは、図4に示すように、サブポート61aを液体クロマトグラフ80’の出口に接続し、液体クロマトグラフ80’から6ポジション7方バルブ61及び試料送液流路60を介してESIプローブ30に分析液体試料(中の各種成分)を導入するようにしてもよい。この場合には、分析液体試料導入用のESIプローブ20を備える必要がない。
また、上記実施例では流路切替部として6ポジション7方バルブ61を用いたが、送液する液体試料の数に応じて適宜の数のサブポートを有する流路切替部を用いることができる。
さらに、上記実施例では、6ポジション7方バルブ61のサブポート61fに大気開放流路62を接続したが、大気開放流路62に代えて窒素ガス等の不活性ガスを送給する流路を接続してもよい。これにより、イオン化室10に流れ込む気体の種類を限定し、イオン化室10内部を清浄に維持することができる。また、サブポート61fに閉鎖流路を接続し、該サブポート61fをメインポート61gと接続することにより液体試料の送給を停止することもできる。
その他、上記実施例ではESIプローブ30をイオン化プローブとして用いたが、APCIプローブ等、他のイオン化プローブを用いてもよい。APCIプローブを用いる場合には、上記実施例のネブライザガスに代えて乾燥ガスを使用し、イオン化室10の内部でAPCIプローブの先端に対向する位置から液体試料に乾燥ガスを吹付けるように構成することができる。
10…イオン化室
11…キャピラリ
20、30…ESIプローブ
40…ネブライザガス流路
40…窒素ガスボンベ(霧化ガス源)
41…ネブライザガス流路
42…バルブ
43、52…分岐部
50…送液ガス流路
50a〜50e…送液ガスサブ流路
51…レギュレータ
52…分岐部
53…リリーフバルブ
54…リリーフ流路
55…大気開放バルブ
56…大気開放流路
60…試料送液流路
60a〜60e…試料送液サブ流路
61…6ポジション7方バルブ
61a〜61f…サブポート
61g…メインポート
62…大気開放流路
70a〜70e…液体試料容器
80、80’…液体クロマトグラフ
90…制御部
91…記憶部
92…分析条件設定部
93…分析実行部
94…入力部
95…表示部
本発明に係るイオン源用液体試料導入システムは、前記した同日の出願で提案したイオン源用液体試料導入システムにおいて、試料送液流路の途中に流路切替部を配置して該試料送液流路の連通状態と閉鎖状態を切り替え可能に構成したものである。本発明に係るイオン源用液体試料導入システムでは、前記連通状態で液体試料をイオン化プローブに送液し、前記閉鎖状態では液体試料の送液を停止することができるため、イオン源に霧化促進ガスを送給し続けても液体試料が必要以上に消費されることがない。
次に、本実施例における分析動作について説明する。
使用者が、分析液体試料に含まれることが想定される1乃至複数の成分の名称、該成分が液体クロマトグラフ80のカラムから溶出する時間帯(保持時間)、及びTOF−MSにおいて該成分を質量分析する際の測定質量範囲、該成分の質量分析時に内部標準として使用する質量較正用の標準液体試料の種類(あるいは該標準液体試料が収容されている液体試料容器の番号)を含む分析パラメータを入力すると、制御部90の分析条件設定部92はこれらに基づき分析条件ファイルを作成し、記憶部91に保存する。各成分の質量分析時に使用する標準液体試料には、該成分の測定質量範囲内質量電荷比を有し、かつ該成分から生成されるイオンと質量電荷比が重複しないという条件を満たすイオンを複数種類生成するものが選択される。本実施例では、図3に示すように、分析液体試料1〜3をバッチ分析するための分析条件ファイルが作成され、分析液体試料1及び3については該液体試料中の成分に応じた標準液体試料を使用した質量分析を実行し、分析液体試料2については標準液体試料を使用せず質量分析を実行する。
10…イオン化室
11…キャピラリ
20、30…ESIプロー
0…窒素ガスボンベ(霧化ガス源)
41…ネブライザガス流路
42…バルブ
43、52…分岐部
50…送液ガス流路
50a〜50e…送液ガスサブ流路
51…レギュレータ
52…分岐部
53…リリーフバルブ
54…リリーフ流路
55…大気開放バルブ
56…大気開放流路
60…試料送液流路
60a〜60e…試料送液サブ流路
61…6ポジション7方バルブ
61a〜61f…サブポート
61g…メインポート
62…大気開放流路
70a〜70e…液体試料容器
80、80'…液体クロマトグラフ
90…制御部
91…記憶部
92…分析条件設定部
93…分析実行部
94…入力部
95…表示部

Claims (8)

  1. 液体試料をイオン源のイオン化プローブに送液し、該イオン化プローブの先端から流出する液体試料に霧化促進ガスを吹き付けて液体試料をイオン化するイオン源用液体試料導入システムであって、
    a) 液体試料が収容される密閉容器である液体試料容器と、
    b) 前記イオン源への霧化促進ガスの流路の途中に一端が接続され、他端が前記液体試料容器の内部の液面よりも上方に接続される送液ガス流路と、
    c) 一端が前記液体試料容器の内部の液面よりも下方に接続され、他端が前記イオン化プローブに接続される試料送液流路と、
    d) 前記試料送液流路の途中に配置される流路切替部であって、該試料送液流路の連通状態と閉鎖状態を切り替える流路切替部と
    を備えることを特徴とするイオン源用液体試料導入システム。
  2. 前記送液ガス流路を流れるガスの圧力を調整するための送液ガス圧調整部を備えることを特徴とする請求項1に記載のイオン源用液体試料導入システム。
  3. 前記液体試料容器が複数設けられ、
    前記送液ガス流路の前記他端側が、それぞれが液体試料容器の内部の液面よりも上方に接続される複数の送液ガスサブ流路に分岐しており、
    前記試料送液流路の前記一端側が、それぞれが液体試料容器の内部の液面よりも下方に接続される複数の試料送液サブ流路に分岐しており、
    前記流路切替部が、1つのメインポートと該メインポートに択一的に接続される複数のサブポートを有し、前記試料送液サブ流路の分岐点に配置される流路切替バルブであって、前記複数のサブポートのうちの1つが大気圧に開放され、他のサブポートに前記複数の試料送液サブ流路が接続される
    ことを特徴とする請求項1に記載のイオン源用液体試料導入システム。
  4. 前記複数のサブポートのうちの1つが液体クロマトグラフの出口に接続されていることを特徴とする請求項3に記載のイオン源用液体試料導入システム。
  5. イオン化室において分析液体試料をイオン化して分析するイオン分析装置と、
    前記イオン化室において標準液体試料をイオン化する請求項1に記載のイオン源用液体試料導入システムと、
    前記分析液体試料から生成されたイオンの分析実行中に、前記イオン源用液体試料導入システムに前記標準液体試料を前記イオン化プローブに送液させる制御部と、
    を備えることを特徴とする分析システム。
  6. イオン化室において分析液体試料をイオン化して分析するイオン分析装置と、
    前記イオン化室において標準液体試料をイオン化する請求項3に記載のイオン源用液体試料導入システムと、
    前記分析液体試料から生成されたイオンの分析実行中に、前記イオン源用液体試料導入システムに前記標準液体試料を前記イオン化プローブに送液させる制御部であって、前記分析液体試料から生成されるイオンの種類に応じて前記イオン化プローブに送液する標準液体試料の種類又は該イオン化プローブへの標準液体試料の送液の有無を変更するように前記流路切替部を切り替えさせる制御部と、
    を備えることを特徴とする分析システム。
  7. 前記イオン分析装置において分析が実行されておらず、かつ前記標準試料が前記イオン化プローブに送液されている状態が所定時間継続した場合に、前記制御部が前記流路切替部を前記試料送液流路の閉鎖状態に切り替えることを特徴とする請求項5又は6に記載の分析システム。
  8. 前記イオン分析装置が飛行時間型の質量分離部を有することを特徴とする請求項5又は6に記載の分析システム。
JP2017542550A 2015-09-29 2015-09-29 イオン源用液体試料導入システム及び分析システム Active JP6481767B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/077469 WO2017056182A1 (ja) 2015-09-29 2015-09-29 イオン源用液体試料導入システム及び分析システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017056182A1 true JPWO2017056182A1 (ja) 2018-07-19
JP6481767B2 JP6481767B2 (ja) 2019-03-13

Family

ID=58422788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017542550A Active JP6481767B2 (ja) 2015-09-29 2015-09-29 イオン源用液体試料導入システム及び分析システム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10591450B2 (ja)
EP (1) EP3379561A4 (ja)
JP (1) JP6481767B2 (ja)
CN (1) CN108292585A (ja)
WO (1) WO2017056182A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11309173B2 (en) * 2017-08-10 2022-04-19 Shimadzu Corporation Liquid sample introduction method and liquid sample introduction device
GB2581211B (en) * 2019-02-11 2022-05-25 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Mass calibration of mass spectrometer
US11892433B2 (en) 2021-08-02 2024-02-06 Thermo Finnigan Llc Electrospray current measurement in the nanospray and microspray regime
WO2023089685A1 (ja) * 2021-11-17 2023-05-25 株式会社日立ハイテク 質量分析計、および質量分析計の制御方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008014788A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
US20080237458A1 (en) * 2007-04-02 2008-10-02 Yongdong Wang Automated mass spectral identification
JP2009031113A (ja) * 2007-07-26 2009-02-12 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
WO2013132676A1 (ja) * 2012-03-09 2013-09-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオン化方法、イオン化装置及び質量分析システム。

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4847493A (en) * 1987-10-09 1989-07-11 Masstron, Inc. Calibration of a mass spectrometer
US5703360A (en) 1996-08-30 1997-12-30 Hewlett-Packard Company Automated calibrant system for use in a liquid separation/mass spectrometry apparatus
DE69829398T2 (de) * 1997-09-12 2006-04-13 Analytica of Branford, Inc., Branford Mehrprobeneinführungs-massenspektrometrie
JP3764421B2 (ja) * 2000-10-03 2006-04-05 ダイオネックス コーポレイション 液体クロマトグラフィ−質量分析計(lc−ms)分析におけるピークパーキングのための方法及びシステム
JP3908142B2 (ja) * 2002-10-02 2007-04-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ プラズマイオン源質量分析装置
US7217919B2 (en) 2004-11-02 2007-05-15 Analytica Of Branford, Inc. Method and apparatus for multiplexing plural ion beams to a mass spectrometer
JP4828810B2 (ja) * 2004-08-30 2011-11-30 アジレント・テクノロジーズ・インク Icp分析用試料導入装置及び方法
US20060255261A1 (en) * 2005-04-04 2006-11-16 Craig Whitehouse Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry
DE102006015535A1 (de) * 2006-03-31 2007-10-04 Thermo Electron (Bremen) Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Isotopenverhältnissen
GB0608024D0 (en) 2006-04-24 2006-05-31 Micromass Ltd Mass spectrometer
WO2011145923A1 (en) * 2010-05-21 2011-11-24 Antec Leyden B.V. Analytical apparatus comprising an electrochemical flow cell and a structure elucidation spectrometer
US9040902B2 (en) * 2011-10-17 2015-05-26 Shimadzu Corporation Atmospheric pressure ionization mass spectrometer
JP5802353B2 (ja) * 2012-07-17 2015-10-28 アイデックス ヘルス アンド サイエンス エルエルシー リキッド・サンプリング・バルブ
JP2015052592A (ja) * 2013-08-07 2015-03-19 アークレイ株式会社 液体クロマトグラフィ装置、液体クロマトグラフィ分析方法、及び液体クロマトグラフィ分析プログラム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008014788A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
US20080237458A1 (en) * 2007-04-02 2008-10-02 Yongdong Wang Automated mass spectral identification
JP2009031113A (ja) * 2007-07-26 2009-02-12 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
WO2013132676A1 (ja) * 2012-03-09 2013-09-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオン化方法、イオン化装置及び質量分析システム。

Also Published As

Publication number Publication date
US20190011406A1 (en) 2019-01-10
US10591450B2 (en) 2020-03-17
EP3379561A1 (en) 2018-09-26
CN108292585A (zh) 2018-07-17
JP6481767B2 (ja) 2019-03-13
WO2017056182A1 (ja) 2017-04-06
EP3379561A4 (en) 2019-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6477902B2 (ja) イオン源用液体試料導入システム及び分析システム
US11631577B2 (en) Ion focusing
JP5073168B2 (ja) 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源
US10564136B2 (en) Liquid sample analysis system
US9741548B2 (en) Mass spectrometer
JP6481767B2 (ja) イオン源用液体試料導入システム及び分析システム
EP1933134A1 (en) Mass analyzer
US11099161B2 (en) Ionizer and mass spectrometer
US11031225B2 (en) Methods and systems for controlling ion contamination
US20030136904A1 (en) Liquid chromatograph mass spectrometer
JP6753533B2 (ja) 液体試料導入方法及び液体試料導入装置
WO2019012367A1 (en) APPARATUS AND METHODS FOR REDUCED NEUTRAL CONTAMINATION IN A MASS SPECTROMETER

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180323

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180323

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190115

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190128

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6481767

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151