JPWO2017033591A1 - 荷電粒子線装置および試料ステージのアライメント調整方法 - Google Patents
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Abstract
本発明は、試料を保持した試料台の光学像をデジタル処理により拡大もしくは縮小または視野変更した第1の処理済み光学像を用いて、試料台アライメントによるアライメント調整が実施可能であり、第1の処理済み光学像とは異なる第2の処理済み光学像を用いて、アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能であることに関する。
本発明によれば、試料を保持した試料台を試料室から取り出さずに、試料台の外形状と試料上の特徴点を基準として、試料ステージと光学像のアライメントを調整できる。
Description
Ax=Bx−(w/2)
Ay=By−(h/2)
で表すことができる。ここで求まった切り出し領域をGUI画面にナビゲーション領域として表示する。このように、カメラデバイス24で取得した解像度(基準画像)とGUI画面に表示する領域との割合でズーム・縮小を行う。
切り出し横サイズ=横解像度−切り出し倍数×4
切り出し縦サイズ=切り出し横サイズ×3÷4
となる。ここでいう切り出し倍数とは、横4ピクセル、縦3ピクセル切り取った場合を1とする。横8(4×2)ピクセル、縦6(3×2)ピクセル切り取った場合を2とする。
倍率=横解像度÷切り出し横サイズ(=縦解像度÷切り出し縦サイズ)
となる。
2 アノード
3 コンデンサレンズ
4 一次電子線
5 偏向器
6 対物レンズ
7 二次電子
8 試料
9 試料ステージ
10 偏向制御部
11 ステージ制御部
12 試料室
13 二次電子検出器
14 増幅器
15 画像記憶部
16 主制御部
17 モニター
18 コンピュータ
19 記憶媒体
20 マウス
21 キーボード
22 専用操作パネル
23 電子光学鏡筒
24 カメラデバイス
25 光学像
27 点線円
28 SEM像
31 試料台
32 マルチホルダー
33 試料台
34 マルチホルダー
35 SEM像の表示領域
36 光学像の表示領域
37 マルチホルダーの操作領域
60 GUI画面
61 光学像、
62 試料台像
65 直線ガイド線
66 接点
67 交点
68 三角形
70 ポインタ
71 輪郭点
Claims (12)
- 試料を保持した試料台を載置して、少なくとも二次元移動する試料ステージと、
前記試料に荷電粒子線を照射する照射光学系と、
前記試料から放出された情報信号を検出する検出器と、
前記情報信号に基づいて形成された荷電粒子像を表示する表示装置と、
前記試料台を撮影する光学顕微鏡と、
前記光学顕微鏡により撮影された光画像を記憶する記憶部と、を備える荷電粒子線装置
であって、
前記記憶部に記憶された光学像をデジタル処理により拡大もしくは縮小または視野変更
した処理済み光学像を、前記表示装置に表示し、
第1の処理済み光学像の上に、試料台アライメント用インジゲーターを表示し、入力デバイスを介して前記第1の処理済み光学像または前記試料台アライメント用インジゲーターを操作して、試料台アライメントによるアライメント調整が実施可能であり、
前記第1の処理済み光学像とは異なる第2の処理済み光学像または荷電粒子像の上に、ポインタを表示し、前記入力デバイスを介して前記第2の処理済み光学像もしくは前記荷電粒子像または前記ポインタを操作して、アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能である、アライメント調整部を備える荷電粒子線装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置において、
試料台アライメントによるアライメント調整を実施した後、第1の処理済み光学像より拡大された第2の処理済み光学像を前記表示装置に表示し、アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置において、
前記試料台アライメント用インジゲーターが、前記試料ステージに載置された試料台の輪郭を模した形状であること、または、前記第1の処理済み光学像に表示された試料台の輪郭点の座標を入力できるポインタであることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置において、
前記試料ステージに複数の試料台が載置された場合には、前記アライメント調整部が、各試料台について、前記試料台アライメントによるアライメント調整、および前記アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項4記載の荷電粒子線装置において、
入力デバイスを介して前記複数の試料台のうちの所定の試料台が選択された場合には、前記試料ステージが、当該試料台にかかるアライメント調整に基づいて少なくとも二次元移動することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項4記載の荷電粒子線装置において、
前記アライメント調整部が、ある試料台のアライメント調整に基づいて、他の試料台のアライメント調整を支援することを特徴とする荷電粒子線装置。 - アライメント調整方法であって、
光学顕微鏡により撮影された試料を保持した試料台の光学像を、荷電粒子線装置の記憶部に記憶し、
前記記憶部に記憶された前記光学像をデジタル処理により拡大もしくは縮小または視野変更した第1の処理済み光学像を、荷電粒子線装置の表示装置に表示し、
前記第1の処理済み光学像の上に、試料台アライメント用インジゲーターを表示し、入力デバイスを介して前記第1の処理済み光学像または前記試料台アライメント用インジゲーターを操作して、試料台アライメントによるアライメント調整が実施可能であり、
前記記憶部に記憶された前記光学像をデジタル処理により拡大もしくは縮小または視野変更した、前記第1の処理済み光学像とは異なる第2の処理済み光学像を前記表示装置に表示し、
少なくとも二次元移動する試料ステージに載置された前記試料台が保持した前記試料に照射光学系から荷電粒子線を照射して、当該試料から放出された情報信号を検出器により検出し、当該情報信号に基づいて形成された荷電粒子像を前記表示装置に表示し、
前記第1の処理済み光学像とは異なる第2の処理済み光学像または荷電粒子像の上に、ポインタを表示し、前記入力デバイスを介して前記第2の処理済み光学像もしくは前記荷電粒子像または前記ポインタを操作して、アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能である、アライメント調整方法。 - 請求項7記載のアライメント調整方法であって、
試料台アライメントによるアライメント調整を実施した後、第1の処理済み光学像より拡大された第2の処理済み光学像を前記表示装置に表示し、アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能であることを特徴とするアライメント調整方法。 - 請求項7記載のアライメント調整方法であって、
前記試料台アライメント用インジゲーターが、前記試料ステージに載置された試料台の輪郭を模した形状であること、または、前記第1の処理済み光学像に表示された試料台の輪郭点の座標を入力できるポインタであることを特徴とするアライメント調整方法。 - 請求項7記載のアライメント調整方法であって、
前記試料ステージに複数の試料台が載置された場合には、各試料台について、前記試料台アライメントによるアライメント調整、および前記アライメントポイント指定によるアライメント調整が実施可能であることを特徴とするアライメント調整方法。 - 請求項10記載のアライメント調整方法において、
入力デバイスを介して前記複数の試料台のうちの所定の試料台が選択された場合には、前記試料ステージが、当該試料台にかかるアライメント調整に基づいて少なくとも二次元移動することを特徴とするアライメント調整方法。 - 請求項10記載のアライメント調整方法において、
ある試料台のアライメント調整に基づいて、他の試料台のアライメント調整を支援することを特徴とするアライメント調整方法。
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