JPWO2016031447A1 - 投射型表示装置 - Google Patents

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Abstract

投射型表示装置(1)は、照明部(11)と、投射レンズ(16)と、照明部から供給された照明光を映像信号に基づいて変調して投射レンズへ向けて出射するライトバルブ(12)とを有する投影光学系(10A)と、ライトバルブと投射レンズとの間に配置され、入射光を第1および第2の偏光成分に分離すると共に、それぞれを互いに異なる方向に出射する偏光分離素子(15)と、ライトバルブと光学的に共役な位置に配置された撮像素子(13)と、撮像素子と偏光分離素子との間に配置された縮小光学系(14)とを有する検出光学系(10B)とを備える。撮像素子には、検出用の非可視光に基づく光が、投射レンズと偏光分離素子とを介して入射され、かつ偏光分離素子と撮像素子との間に、非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有する。

Description

本開示は、検出機能を有する投射型表示装置に関する。
近年、スマートフォンやタブレット端末等では、タッチパネルを用いることにより、画面に表示される映像のページ送りや拡大縮小を、人の直感に応じたポインティング操作で可能にしている。一方で、映像をスクリーン上に投影することにより表示を行う表示装置として、プロジェクタ(投射型表示装置)が知られている。このプロジェクタに、タッチパネルのような検出機能を付加する技術が提案されている(例えば、特許文献1,2)。
特開2007−52218号公報 特開2003−44839号公報
特許文献1に記載のプロジェクタでは、投影光学系による映像投射と検出光学系による検出用の非可視光の取り込みとが、1つの投射レンズを用いてなされ、映像を作り出すライトバルブと非可視光を受光する撮像素子とが光学的に共役な位置に配置される。このような装置構成により、キャリブレーション等の煩雑な処理を行うことなく、物体の検出を精度良く行うことができる。シンプルな構成で、インタラクティブなデバイスを実現可能となる。
しかしながら、そのような装置構成において、例えば投影面に向けて光源から非可視光が照射されるが、この非可視光に基づく信号強度が受光面内において不均一となり、検出精度が低下するという問題がある。
したがって、検出精度を向上させることが可能な投射型表示装置を提供することが望ましい。
本開示の一実施の形態の投射型表示装置は、照明部と、投射レンズと、照明部から供給された照明光を映像信号に基づいて変調して投射レンズへ向けて出射するライトバルブとを有する投影光学系と、ライトバルブと投射レンズとの間に配置され、入射光を第1および第2の偏光成分に分離すると共に、それぞれを互いに異なる方向に出射する偏光分離素子と、ライトバルブと光学的に共役な位置に配置された撮像素子と、撮像素子と偏光分離素子との間に配置された縮小光学系とを有する検出光学系とを備えたものである。撮像素子には、検出用の非可視光に基づく光が、投射レンズと偏光分離素子とを介して入射され、かつ偏光分離素子と撮像素子との間に、非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有している。
本開示の一実施の形態の投射型表示装置では、撮像素子がライトバルブと光学的に共役な位置に配置され、この撮像素子に、非可視光に基づく光(物体によって反射された非可視光の一部)が、投射レンズと偏光分離素子とを介して入射される。偏光分離素子と撮像素子との間に、非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有することにより、非可視光の照射強度分布等に起因する、撮像素子の受光面内における信号強度のむらが低減される。
本開示の一実施の形態の投射型表示装置によれば、ライトバルブと光学的に共役な位置に配置された撮像素子に、非可視光に基づく光が、投射レンズと偏光分離素子とを介して入射され、偏光分離素子と撮像素子との間に、非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有する。これにより、撮像素子の受光面内における信号強度のむらを低減することができる。よって、検出精度を向上させることが可能となる。
尚、上記内容は本開示の一例である。本開示の効果は、上述したものに限らず、他の異なる効果であってもよいし、更に他の効果を含んでいてもよい。
本開示の一実施の形態に係る投射型表示装置の外観とその使用状態とを示す模式図である。 図1に示した投射型表示装置の機能構成を示すブロック図である。 図1の状態を側面からみた模式図である。 図1に示した近赤外光源部の構成例を示す図である。 シリンダアレイレンズの第1の構成例を示す斜視図である。である。 シリンダアレイレンズの第2の構成例を示す斜視図である。 図1に示した投射型表示装置の要部構成を示す図である。 偏光分離素子の一構成例を、入射光および出射光の状態と共に示す模式図である。 検出光取り込みのイメージを表す模式図である。 検出位置による取り込み角度の違いを説明するための模式図である。 検出位置座標の一例を示す模式図である。 検出光の反射点と仮想発光点との差分について説明するための模式図である。 遮蔽板の配置について説明するための要部構成図である。 遮蔽板の光軸に垂直な面の形状等を説明するための模式図である。 図1に示した投射型表示装置の映像表示および物体検出の概念を模式的に示した図である。 物体検出の際の閾値設定と、信号強度とを説明するための模式図である。 比較例に係る信号強度分布を示す図である。 遮蔽板を用いた場合の撮像素子への到達効率の分布を示す図である。 遮蔽板を用いた場合の信号強度分布を示す図である。 変形例1に係る遮蔽板の配置について説明するための要部構成図である。 変形例2に係る部分透過マスクを説明するための模式図である。 図17に示した部分透過マスクの配置について説明するための要部構成図である。 変形例3に係る部分透過膜を説明するための要部構成図である。
以下、本開示の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.実施の形態(縮小光学系のリレーレンズ間に、通過光束を部分的に遮蔽する遮蔽板を配置した、投射型表示装置の例)
2.変形例1(遮蔽板の他の配置例)
3.変形例2(部分透過マスクの例)
4.変形例3(部分透過膜の例)
<1.実施の形態>
[構成]
図1は、本開示の一実施の形態に係る投射型表示装置(投射型表示装置1)の外観とその使用状態とを表したものである。図2は投射型表示装置1の機能構成を表したものである。投射型表示装置1は、例えば卓上などのフラットな面の上に置かれた状態(あるいは壁面などに取り付けられた状態)で、装置の近傍に映像を投影するタイプ(いわゆる超短焦点型)のプロジェクタである。この投射型表示装置1は、また、映像表示と共に、物体検出をアクティブに行う機能を有している。詳細は後述するが、図1に示したように、映像が投射される投影エリア(投影エリアS11)において、表示された映像を指(指示物71)でタッチする等、何らかの動作を行うことで、所定の入力操作を行うことができるようになっている。
投射型表示装置1は、図2に示したように、照明部11と、ライトバルブ12と、撮像素子13と、縮小光学系14と、偏光分離素子15と、投射レンズ16と、信号処理部17とを備えている。これらのうち、例えば照明部11、ライトバルブ12および投射レンズ16により投影光学系10Aが構成され、例えば撮像素子13および縮小光学系14により検出光学系10Bが構成されている。なお、例えば照明部11、ライトバルブ12、撮像素子13および信号処理部17は、システム制御部(図示せず)により所定のタイミングで駆動制御される。
この投射型表示装置1の外筐には、近赤外光源部40が設けられている。近赤外光源部40は、検出用の非可視光として近赤外光(NIR:Near infrared)を出射するレーザ光源部であり、投影面110の近傍の面内方向に沿って近赤外光を照射するものである。換言すると、近赤外光源部40は、投影面110の近傍において、投影エリアS11を覆うように、近赤外光のバリア膜(検出用ライトプレーン110A)を張っている。検出用ライトプレーン110Aは、投射レンズ16を通る光軸の高さとは異なる、投影面110から所定の高さhにある面に形成されている(図3)。この検出用ライトプレーン110Aは、また、投影エリアS11を覆うように、近赤外光源部40から(点状の領域あるいは極小さな領域から)放射状に拡がって形成されている。
一例としては、検出用ライトプレーン110Aは、例えば高さhが数mm〜数10mm程度の位置に、厚み(高さ方向における幅)が2〜3mmで,かつ面内方向において投影エリアS11をカバーするように形成される。通常、投影面110は平坦であるため、遮蔽物、あるいは指や指示棒などの指示物71が無ければ、検出用ライトプレーン110Aは遮られることがない。つまり、指示物71が、投影面110をモニタしている撮像素子13に写ることはない。この状態で、指などを、投影面110に近接させるか、または、投影面110をタッチするなどの動作をすると、検出用ライトプレーン110Aの近赤外光が指によって遮られ、拡散反射する。指において反射した光は四方八方に向かい、その反射光の一部が投射レンズ16の開口に入射する。この入射光は、投射レンズ16と偏光分離素子15とを介して、撮像素子13上に到達する。この時、映像をつくるライトバルブ12と撮像素子13が光学的に共役の位置に配置されているため、投影面110上で点状に発生した輝点拡散ポイントは、投影された映像面内の位置と対応する撮像素子13上の位置に結像する。これにより、物体の位置検出が可能となる。また超短焦点タイプの場合は投射光が投影面110の近傍を通り、操作する人の体の一部が投射光を遮りにくいため、操作する際に画面が見やすいというメリットがある。
なお、近赤外光源部40は、図示したように、例えば投射型表示装置1の外筐の下方に設けられるが、投射型表示装置1に隣接していてもよいし、していなくともよい。投影エリアS11を覆うように検出用ライトプレーン110Aを張ることができれば、投射型表示装置1から離れた位置に設置されていてもよい。あるいは、近赤外光源部40は、投射型表示装置1の外筐(筐体)の内部に設けられていてもよい。本実施の形態では、近赤外光源部40は、後述する光学設計により、投影面110から比較的離れた高さに設けることが可能となり、投射型表示装置1と一体的にバンドルし易くなる。
この検出用ライトプレーン110Aにより、物体(指示物71)が投影面110に接触あるいは近接すると、近赤外光が指示物71によって反射(拡散反射)され、この反射光の一部が投射型表示装置1に検出光として取り込まれる仕組みである。
近赤外光源部40は、図4に示したように、例えば近赤外レーザ42と、コリメータレンズ43と、シリンダアレイレンズ44とを有している。シリンダアレイレンズ44を出射した近赤外光41により検出用ライトプレーン110Aが形成される。シリンダアレイレンズ44は、図5Aに示したように凸状のシリンダレンズが複数配列されたものである。シリンダアレイレンズ44は、投影面110に対して垂直な面にシリンダレンズの母線44Aを向けるように配置する。なお、凸状のシリンダアレイレンズ44に代えて、図5Bに示したように凹状のシリンダレンズが複数配列されたシリンダアレイレンズ45を用いてもよい。
照明部11は、照明光L1を、偏光分離素子15を介してライトバルブ12に向けて出射するものである。この照明部11は、照明光L1として可視光を出射するものであれば特に限定されないが、例えば青色レーザと、緑色レーザと、赤色レーザ(いずれも図示せず)とを含んで構成されている。
図2,図6〜図13を参照して、投射型表示装置1の要部構成について説明する。
(投影光学系10A)
ライトバルブ12は、例えばLCOS(Liquid Crystal On Silicon)等の反射型の液晶素子である。ライトバルブ12は、例えば照明光L1に含まれる第1の偏光成分(例えば、後述のs偏光成分Ls1)を映像データに基づいて変調するものである。ライトバルブ12によって変調された光は、偏光状態が回転されており、第2の偏光成分(例えば、後述のp偏光成分Lp1)となる。この変調光が、偏光分離素子15を介して投射レンズ16に向けて出射されるようになっている。なお、ライトバルブ12では、入射光(s偏光成分Ls1)をそのままの偏光状態で偏光分離素子15に戻すことで黒表示を行うことが可能である。このライトバルブ12の有効エリア(後述の有効エリアA1)の面形状は、例えば矩形状である。
投射レンズ16は、ライトバルブ12から偏光分離素子15を介して入射された光(映像光L2)を、投影面110上に投射するものである。投射レンズ16は、スローレシオ(Throw Ratio)が例えば0.38以下の超短焦点レンズである。ここで、スローレシオとは、投射レンズ16から投影面110までの距離をL、投影エリアS11の幅をHとすると、L/Hで表される。この投射レンズ16には、図2および図6に示したように、変調光の進行方向とは逆方向から検出光(近赤外光La1)が入射されるようになっている。このように、本実施の形態では、検出光が、投影光学系10Aの投射レンズ16を介して取り込まれ、検出光学系10Bへ導かれる。
(偏光分離素子15)
偏光分離素子15は、入射した光を第1の偏光成分(例えばs偏光成分)と第2の偏光成分(例えばp偏光成分)とに分離し、それぞれを互いに異なる方向に出射するものである。この偏光分離素子15は、例えば偏光ビームスプリッタ(PBS)からなり、第1の偏光成分を選択的に反射させる(偏光分離面150において反射させる)と共に、第2の偏光成分を選択的に透過させる(偏光分離面150を透過させる)ように構成されている。本実施の形態では、偏光分離素子15として偏光ビームスプリッタを用いる場合を例に挙げて説明するが、偏光分離素子15はこれに限らず、ワイヤーグリッドから構成されていてもよい。その場合には、偏光ビームスプリッタと特性が異なり、入射した光のうちの第1の偏光成分としてp偏光成分を選択的に反射し、第2の偏光成分としてs偏光成分を選択的に透過させることができる。
この偏光分離素子15は、図6に示したように、例えば4つの光学面(第1面15A,第2面15B,第3面15C,第4面15D)と、偏光分離面150とを有している。第1面15Aと第3面15Cとが一軸方向(図の左右方向)において向かい合って配置され、第2面15Bと第4面15Dとが一軸方向(図の上下方向)において向かい合って配置されている。このような構成において、第1面15Aに照明光L1が入射されるように構成され、第2面15Bに対向して、ライトバルブ12が配置されている。第3面15Cに対向して、検出光学系10Bが配置され、第4面15Dに対向して、投射レンズ16が配置されている。
図7に、偏光分離素子15の一構成例について示す。このように、偏光分離素子15は、第1面15Aから入射した照明光L1のうちの第1の偏光成分(s偏光成分Ls1)を反射して第2面15Bから出射する。一方、照明光L1のうちの第2の偏光成分(p偏光成分Lp1)を第3面15Cから出射する。また、第2面15Bから入射した光(ライトバルブ12による変調光)のうちの第2の偏光成分(p偏光成分Lp2)を第4面15Dから出射する。これにより、投影光学系10Aによる映像投射がなされるようになっている。この一方で、第4面15Dから入射した光(近赤外光La1)のうちの第1の偏光成分(s偏光成分Ls3)を反射して第3面15Cから出射する。このs偏光成分Ls3が、検出光学系10Bに入射され、そのs偏光成分Ls3に基づく光が撮像素子13において受光される。これにより、撮像素子13において撮像信号D0が得られる。
(検出光学系10B)
撮像素子13は、ライトバルブ12と光学的に共役な位置に配置されている。より具体的には、ライトバルブ12が反射型の液晶素子である場合、映像を生成する表示面(液晶面)と撮像素子13の撮像面とが光学的に共役な関係となるように配置されている。撮像素子13は、例えばCMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)やCCD(Charge Coupled Device)などの固体撮像素子により構成され、有効エリア(後述の有効エリアA2)の面形状は、例えば矩形状である。
この撮像素子13を含む検出光学系10Bの一例としては、図6に示したように、例えば、共役面50の側から順に、可視光カットフィルタ17Aと、バンドパスフィルタ17Bと、縮小光学系14(リレーレンズ群14A,14B)と、偏光子18と、撮像素子13とが配置されたものが挙げられる。
可視光カットフィルタ17Aは、入射した光のうちの可視光成分を低減するものである。この可視光カットフィルタ17Aを備えることで、偏光分離素子15として偏光ビームスプリッタを用いたとしても、照明部11の光源をオフすることなく、撮像素子13に入射する照明光L1の多くをカットすることができる。これにより、ほぼ検出光のみを撮像素子13に入射させることができ、S/N比を大きくして検出精度を上げることができる。なお、ここでは、1枚の可視光カットフィルタ17Aを配置したが、可視光カットフィルタの枚数はこれに限定されるものではなく、2枚以上であってもよい。また、共役面50と縮小光学系14との間の位置に配置したが、他の位置、例えば縮小光学系14と撮像素子13との間に配置してもよい。
バンドパスフィルタ17Bは、特定の波長(近赤外光)を選択的に透過し、他の波長を低減するものである。
偏光子18は、照明光L1に含まれる第2の偏光成分を低減させる光学部材である。ここで、上記の偏光分離素子15では、照射光L1のうちの第2の偏光成分(例えばp偏光成分)を透過させることから、このp偏光成分が検出光学系10Bに入射し、撮像素子13で得られる撮像信号のS/N比に影響することがある。本実施の形態のように、偏光子18が配置されることにより、照明光L1に含まれる第2の偏光成分(例えばp偏光成分)がカットされ、S/N比を大きくすることができる。なお、偏光子18の位置は、図示したような縮小光学系14と撮像素子13との間の位置に限定されるものではなく、他の位置、例えば共役面50と縮小光学系14との間に配置してもよい。
縮小光学系14は、1または複数のリレーレンズ群(ここでは2つのリレーレンズ群14A,14B)から構成されている。リレーレンズ群14A,14Bはそれぞれ、例えば正のパワーを有し、少なくとも1枚のレンズを含んで構成されている。リレーレンズ群14Bの焦点距離fiは、リレーレンズ群14Aの焦点距離fbよりも小さくなるように設定されている。例えば、2fi=fbとなる条件とし、リレーレンズ群14Aが、ライトバルブ12の共役面50から焦点距離fbの分だけ離れた位置に配置され、このリレーレンズ群14Aの位置から(fb+fi)の分だけ離れた位置にリレーレンズ群14Bが配置され、かつリレーレンズ群14Bから焦点距離fiの分だけ離れた位置に、撮像素子13が配置される。このようなリレーレンズ群14A,14Bの配置により、縮小光学系を実現しつつ、撮像素子13を共役面50に配置した場合と等価となる。つまり、ライトバルブ12との共役の位置関係を保ちつつ、撮像素子13のサイズをより小さくすることが可能となる。
このような縮小光学系14を用いた物体検出は、低コスト化に有利である。撮像素子13のコストは撮像素子13のサイズに大きく影響を受ける。プロジェクタを構成する上で、半導体部品である、ライトバルブ12および撮像素子13はコストウエイトが大きいことから、そのような部品の小型化によるコストメリットは大きい。また、リレー光学系により共役点を延長することで配置の自由度が増す、というメリットもある。例えば、部品間距離が生まれることで、間に反射ミラー等で折り曲げ光学系を実現することが可能となる。
本実施の形態では、上記構成において、偏光分離素子15と撮像素子13との間に、近赤外光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材(例えば、後述の遮蔽板21)が配置されている。以下に、その理由を述べる。
まず、近赤外光の取り込みの概要について説明する。図8Aに模式的に示したように、投影面110に指などの指示物71が接触あるいは近接すると、投影面110の近傍に張られた検出用ライトプレーン110Aにおける近赤外光Laが、指示物71にあたり、四方八方に拡散反射する。具体的には、投射面110より上側で、かつ指示物71よりも前側であって、全球の立体角の1/4に相当する範囲に拡散する。これらの拡散反射された光(散乱光)の一部(近赤外光La1)が、投射レンズ16により集光された後、検出光学系10Bにおける射出瞳E1によって切り出される。
検出光学系10Bに取り込まれる近赤外光La1について、詳細に説明する。図8Bに示したように、投影面110上における物体の位置を検出する場合、その検出位置に応じて、近赤外光La1の取り込み角(検出光学系10Bの射出瞳E1へ入射する近赤外光La1と、投射面110とのなす角θ)が異なる。具体的には、最も射出瞳E1に近い位置P1では、射出瞳E1を下から見上げるようなかたちとなり、取り込み角θが最大となる。次いで、位置P2,P3とこの順に、射出瞳E1から離れ、取り込み角θが徐々に小さくなる。位置P4では射出瞳E1から最も遠くなり、取り込み角θも最小となる。
図8Cおよび下記の表1〜3に、一例を挙げる。表1に投影条件を示す。但し、射出瞳E1の高さは、投影面110(スクリーン,床)から100)mmとする。この投影条件により形成された投影エリアS11における位置P1〜P4の位置座標(X,Y,Z)を図8Cに示す。また、表2には、位置P1〜P4の位置座標(X,Y,Z)と共に、射出瞳E1までの距離を示す。また、表3には、位置P1〜P4のそれぞれにおける、射出瞳E1と投影面110とのなす角(取り込み角θ)について示す。このように、射出瞳E1からの距離に応じて取り込み角θが変化し、位置P1では、最も取り込み角θが大きく(θ=33.7°)、位置P4では、最も取り込み角θが小さい(θ=10.5°)ことがわかる。また、位置P2,P3では、それぞれ取り込み角θが17.6°,12.2°となった。
上記のように、検出位置の違いにより、射出瞳E1までの距離ないし取り込み角θが変化することがわかる。これらのパラメータの値自体は、投影エリアS11のサイズ、あるいは超短焦点型のレンズ設計等に応じて異なるものであるが、上述した検出位置の違いによる取り込み角θの相対的な大小関係は変わらないことから、この関係性を利用して、指示物71の位置を特定することが可能である。
なお、実際には、近赤外光La1の反射位置と、撮像素子13から見える仮想発光位置とにはずれ(差分)が生じる。参考までに、図9に、指示物71付近の反射の様子を模式的に示す。上図は位置P1における反射を、下図は位置P4における反射をそれぞれ示している。このように、検出用ライトプレーン110における近赤外光Laは、指示物71にあたり反射されるが、実際には、射出瞳E1(投影レンズ16)からみた近赤外光La1は、指示物71にあたった反射点(実照射点)Pa1,Pa2ではなく、あたかも、高さhの斜め成分だけ遠くにある投影面110上の点(仮想発光点Pb1,Pb2)から発光したように見える。つまり、実際の指示物71の位置に対応する反射点Pa1と、仮想発光点Pb1との間には差分t1が生じる。同様に、反射点Pa2と仮想発光点Pb2との間には、差分t2が生じる。また、この差分(検出位置の伸び分)は、検出位置、即ち取り込み角θの影響を受け、取り込み角θが小さいほど、より顕著なものとなる。ここでは、位置P4の取り込み角θが最小であるから、位置P4における差分t2が最大値をとる。なお、位置P1の取り込み角θは最大であるから、位置P1における差分t1は最小値をとる。
上記のように、物体検出の際には、指(指示物71)からの反射光のうちの一部が投射レンズ16によって集光され(投射レンズ16に取り込まれ)、撮像素子13において受光される。換言すると、投射レンズ16により集光されない反射光が存在し、撮像信号に寄与しない。即ち、この反射光(近赤外光)の投射レンズ16(射出瞳E1)への取り込み効率が、撮像素子13において得られる信号強度に影響を与える。
(取り込み効率)
近赤外光の取り込み効率の詳細について説明する。指示物71において反射された近赤外光La1は、射出瞳E1に取り込まれ、検出光学系10Bへ入射するが、その際の射出瞳E1への取り込みの立体角ωは、以下の式(1)により表すことができる。即ち、立体角ωは、射出瞳E1の径と、射出瞳E1までの距離(表2)と、これらのなす角度のcos成分を用いて表すことができる。この立体角ωの全球(4π)の1/4の範囲に占める割合が、取り込み効率(CE)となり、以下の式(2)により表すことができる。
ω=(射出瞳E1の径)・(cos成分)/(射出瞳E1までの距離)2 ……(1)
CE=ω/(4π/4) ……(2)
位置P1〜P4の各位置における射出瞳の径を表4に、取り込み効率を表5にそれぞれ示す。なお、各数値は、位置P3の値を1として規格化したものを示す。
(近赤外光の照射強度分布)
図1からもわかるように、検出用ライトプレーン110Aは、プロジェクタ本体の下方の点状領域から発射される。このため、投影エリアS11をカバーしている近赤外光の面内強度分布には大きな偏りが生じる。これは、発射光プロファイルにもよるが、主に発射点からの距離に依存するところが大きい。この結果、発射点から近い位置P1に比べ、発射点から遠い位置P3,P4に相当する照射強度が相対的に弱くなる。表6に、位置P1〜P4のそれぞれにおける照射強度(強度分布の代表値)を示す。照射手法に依存するところもあるが、各位置での照射強度を均一化することは困難であり、発射点から遠方で最も強度の弱い位置P3を1として規格化すると、最も発射点から近い位置P1では3倍の強度を持つ。また、位置P2,P4においても強度は位置P3よりも大きくなる。
この近赤外光の照射強度分布(表6)と、上述の取り込み効率(表5)とを、掛け合わせたものが、位置P1〜P4のそれぞれから検出光学系10Bへ導かれる光強度となる。したがって、位置P1〜P4間では、光強度に差が生じることがわかる。但し、実際には先に述べたように、反射点と仮想発光点との間にずれがあり(図9)、このずれが光強度に影響することから、単純な掛け算とはならないこともある。
そして、この検出位置による光強度の差は、撮像信号の強度(明るさ)に影響する。このため、各検出位置での信号強度がばらつく。物体検出の際には、例えば一定の閾値(スレッシュレベル)により2値化して信号を取り出すが、信号強度にばらつきがあると、精度良く信号を取り出すことが難しい。よって、定性的にも定量的にも光強度差を小さくすることが望まれる。
本実施の形態では、そのような光強度差を抑制するために、光路上の所定の位置に上記透過率調整部材が配置されている。ここでは、透過率調整部材の一例として、遮蔽板21を用いる場合について説明する。
(遮蔽板21)
図10Aは、検出光学系10Bの要部構成を表したものである。このように、検出光学系10Bでは、共役面50と撮像素子13との間に、縮小光学系14(リレーレンズ群14A,14B)が設けられる。遮蔽板21は、その縮小光学系14を構成するリレーレンズ群14A,14Bのうちの隣り合う2つのリレーレンズ間に配置されている。遮蔽板21の光軸上の位置は、リレーレンズ間であればよく、特に限定されないが、ここでは、偏光分離素子15側のリレーレンズ群14Aと開口絞り20との間に配置されている。
図10Bは、光軸(光軸Z1)に垂直な面内における遮蔽板21のレイアウト例を表したものである。遮蔽板21は、近赤外光の通過光束(通過光束LZ)を部分的に遮蔽するものである。具体的には、遮蔽板21は、検出位置のうち、近赤外光源部40の発射点から比較的近い領域(例えば位置P1とその近傍の領域)からの通過光束を選択的に遮蔽するように、形状、大きさ、位置(光軸Z1上の位置、および光軸Z1に垂直な面内における位置)などが設定されている。例えば、遮蔽板21は、位置P1相当からの通過光束を最も多く遮蔽し、位置P3相当からの通過光束を遮蔽しないように、光軸Z1に垂直な面内において偏った位置に設けられている。望ましくは、この遮蔽板21の設置により、通過光束LZの光軸Z1に垂直な面内における強度分布が均一化されるとよい。遮蔽板21の面形状(光軸Z1に垂直な面の形状)は、特に限定されないが、例えば図示したような矩形とすることができる。但し、これに限らず、楕円、半円、台形、あるいは角部が丸みを帯びたような矩形状としてもよい。この遮蔽板21により、通過光束LZが部分的に削られ、各検出位置に対応する像高における光量が調整される。なお、遮蔽板21は、他のレンズなどの光学部材と共に、装置内のシャーシに取り付けて固定されるとよい。
信号処理部17は、撮像素子13による撮像信号に基づいて、例えば人の指やポインタ等の指示物(物体)71の特徴点の位置を、例えば投影面110上の投影エリアS11における座標に対応付けて検出するものである。特徴点の例としては、人の指の先端の形状、指の重心、手の重心などを用いることができる。例えば、撮像素子13から得られた撮像信号D0に対し、所定の閾値を用いて撮像信号を2値化することで、そのような特徴点の座標を抽出することが可能である。
[作用,効果]
投射型表示装置1では、図11に示したように、ライトバルブ12に形成された映像情報V1を投射レンズ16によって、卓上などの投影面110上に投影し、投影画像V2として拡大表示する。この一方で、投射型表示装置1は、投影面110上における物体の位置、例えば人の指やポインタ等の指示物(物体)71の特徴点の位置Pt1を、撮像素子13から得られた撮像信号D0を用いて検出する。
ここで、本実施の形態では、投射レンズ16が、投影光学系10Aと検出光学系10Bとにおいて共有され、撮像素子13がライトバルブ12と光学的に共役の位置に配置されている。このため、投影エリアS11とほぼ同じエリアを検出エリア(検出可能エリア)とする物体検出が可能となる。また、この光学的に共役な位置関係により、投影面110上における指示物71の特徴点の位置Pt1を投射レンズ16を介して投影画像V2に重ねてモニタすることが可能となる。また例えば、信号処理部17において、指示物71の形状を画像処理し、指示物71の特徴点の位置Pt1の座標を検出することで、投影画像V2のポインティング操作が可能となる。この際、投影エリアS11内の任意の座標位置が検出エリア内の座標位置に1対1で対応するので、撮像素子13側の検出位置Pt2の座標が指示物71の特徴点の位置Pt1の座標に対応する。即ち、キャリブレーション等の煩雑な信号処理を行うことなく、投影エリアS11内の位置と、検出エリア内の位置とを対応づけて物体を検出することができる。なお、指示物71は2以上であってもよく、例えば両手の指の先端の座標を検出することなども可能である。このようにして検出された指示物71の特徴点の位置を用いることで、プロジェクタの投影画像V2にあたかもタッチパネルが組み込まれているような直観的な操作が可能となる。
このような特徴点の位置検出動作の詳細例について述べる。本実施の形態では、撮像素子13の受光面上に結像する、物体からの反射光(近赤外光La1)の像の2値化データを用いて位置検出を行う。この際、上述したように検出位置の違いにより、即ち近赤外光Laの発射点から距離および取り込み効率等に応じて、信号の強度(輝度)に差が生じる。
図12に、検出位置毎の光強度分布(g1,g2,g3)の一例について模式的に示す。このように、検出位置の違いにより信号強度に差が生じる。強度分布g1は、例えば位置P1に相当する部分での強度分布であり、強度分布g3は、例えば位置P3に相当する部分での強度分布である。強度分布g2は、例えば位置P2に相当する部分での強度分布である。
ここで、2値化では、所定の閾値を設けるが、この閾値は、ノイズ(電気ノイズや不要な光成分)を除外しつつ、特徴点を抽出可能な値に設定されることが望ましい。例えば、図12中に示した閾値Th1(一定値)を設定した場合、光強度が弱い所(強度分布g3)では特徴点のサイズが小さくなるため、例えば指2本のように近接する2点(Lp3a,Lp3b)の抽出を精度よく行うことができる。ところが、この閾値Th1を用いた場合、光強度が比較的強いところ(強度分布g1,g2)では、近接する2点(Lp2a,Lp2bあるいはLp1a,Lp1b)が繋がってしまい、1つの点として抽出され、検出精度があがらない。
なお、閾値のレベルを変えることで、この問題はある程度回避できる。例えば強度分布g2のように、信号が飽和していない状態であれば、閾値を強度分布に合わせて可変とすることで、近接する2点(Lp2a,Lp2b)の検出を精度よく行うことが可能となる。但し、この手法も、強度分布g1のように、信号が飽和している状態では、最適な閾値設定が難しい。
これに対し、本実施の形態では、縮小光学系14内に上記のような遮蔽板21を設けることで、近赤外光La1の通過光束を部分的に遮蔽する。具体的には、光強度の強い位置P1とその近傍からの通過光束を遮蔽することにより、撮像素子13の受光面上における光強度分布における強度むらが緩和される。これにより、光強度の強い部分(位置P1相当)での光量が削減され、信号の飽和(サチレーション)を抑制することができる。一方、光強度の弱い部分(位置P3相当)での光量はほとんど変わらないため、ノイズに埋もれることもない。よって、2値化による閾値設定が容易となり、特徴点を精度良く抽出することができる。一例としては、強い信号は、256階調のうちの最大256とし、弱い信号は、その約1/5の50程度に抑えることができれば(面内輝度比率が5倍以下であれば)、サチレーションを避けることができる。
図13に、比較例として、遮蔽板21を配置していない場合の受光面上の光強度分布について示す。このように、遮蔽板21を用いない場合には、強度むらが生じていることがわかる。これに対し、本実施の形態では、遮蔽板21を用いることにより、撮像素子13の受光面への到達効率は、図14に示したようになる。結果、受光面上における光強度分布は、図15に示したように略均一化される。
以上のように、本実施の形態によれば、ライトバルブ12と光学的に共役な位置に配置された撮像素子13に、近赤外光La1に基づく光が、投射レンズ16と偏光分離素子15とを介して入射される。偏光分離素子15と撮像素子13との間、ここでは縮小光学系14内に、近赤外光La1の通過光束を部分的に遮蔽する遮蔽板21が設けられている。これにより、撮像素子13の受光面内における信号強度のむら(不均一性)を低減できる。よって、検出精度を向上させることが可能となる。
以下、上記実施の形態の変形例について説明する。なお、上記実施の形態と同様の構成要素については同一の符号を付し、適宜その説明を省略する。
<変形例1>
図16は、変形例1に係る遮蔽板21の配置構成を説明するための図である。上記実施の形態では、遮蔽板21を縮小光学系14におけるリレーレンズ群14Aと開口絞り20との間に配置したが、遮蔽板21は、本変形例のように開口絞り20とリレーレンズ群14Bとの間に配置されていてもよい。つまり、複数のリレーレンズのうちの2つのリレーレンズ間であればいずれの位置に配置されていてもよい。
本変形例においても、上記実施の形態と同様、遮蔽板21の形状、位置および大きさを適切に設定することで、上記実施の形態と同等の効果を得ることができる。
<変形例2>
図17は、変形例2に係る透過率調整部材(部分透過マスク21A)の構成を表したものである。部分透過マスク21Aは、通過光束の光軸Z1に垂直な面内において、透過率が段階的に変化するように構成された光学素子である。具体的には、位置P1を含む部分からの通過光束に対応する領域D1において透過率が相対的に低く、位置P3を含む部分からの通過光束に対応する領域D3においては透過率が相対的に高くなっている。また、これらの領域D1,D3間の領域D2の透過率は、それらの中間の透過率となっている。望ましくは、部分透過マスク21Aは、通過光束の光軸Z1に垂直な面内における強度分布を均一化するような透過率分布を有している。ここでは3つの領域D1〜D3に分割して、領域D1〜D3のそれぞれにおいて互いに透過率が異なるようにしたが、領域の分割数は3つに限定されるものではなく、2つであってもよいし、4つ以上であってもよい。また、各領域の面積や分割パターンなども図示したものに限定されない。更に、透過率が連続的に変化するような構成となっていてもよい。
この部分透過マスク21Aは、図18に示した要部構成において、例えば偏光分離素子15の面15Cと縮小光学系14(リレーレンズ群14A)との間(図中のA1)に配置されている。あるいは、撮像素子13と、縮小光学系14(リレーレンズ群14B)との間(図中のA2)のいずれかの位置に配置されている。但し、部分透過マスク21Aは、縮小光学系14内、即ち、リレーレンズ群14A,14Bにおける隣り合う2つのリレーレンズ間に配置することも可能である。
本変形例のように、透過率調整部材として、部分透過マスク21Aを用いてもよく、この場合であっても、上記実施の形態と同様、通過光束の透過率を領域毎に調整して、撮像素子13の受光面内における信号強度のむらを低減することができる。よって、上記実施の形態と同等の効果を得ることができる。
<変形例3>
図19は、変形例3に係る透過率調整部材(部分透過膜21B)の構成を説明するためのものである。部分透過膜21Bは、偏光分離素子15の面15Cに接着されており、上記部分透過マスクと同様、通過光束の光軸Z1に垂直な面内において、透過率が段階的に変化するものである。部分透過膜21Bは、1つの素子ではなく膜として偏光分離素子15と一体的に設けられていること以外は、上記部分透過マスク21Aと同様の構成とすることができる。このような部分透過膜21Bを用いても、上記実施の形態と同等の効果を得ることができる。
本開示は、上記実施の形態の説明に限定されず種々の変形実施が可能である。例えば、上記実施の形態では、ライトバルブ12と撮像素子13として、略同じアスペクト比を有するものを例に挙げたが、これらのライトバルブ12と撮像素子13とは、必ずしもアスペクト比が同じでなくともよい。
また、上記実施の形態では、本開示のライトバルブとして、反射型液晶素子を用いたが、これに限らず、他のライトバルブが用いられて構わない。例えば、ライトバルブとして、デジタルミラーデバイス(DMD)が用いられてもよい。この場合、ライトバルブが光の偏光特性を利用しないミラータイプとなるため、通常は偏光光学系を用いないが、上記実施の形態のように光路中に偏光ビームスプリッタなどの偏光分離素子が配された光学系に配置しても差し支えなく、DMDを用いた映像表示を実現することが可能となる。
更に、上記実施の形態では、本開示の投射型表示装置の一例として、いわゆる超短焦点型のものを例示したが、必ずしもこれに限定される訳ではない。非可視光が照射強度分布を有する場合には、これに起因して受光面上において光強度むらが生じるため、本開示の構成は有効である。但し、この効果は、超短焦点型のものに対して特に効果的である。なお、上記実施の形態等において説明した効果は一例であり、他の効果であってもよいし、更に他の効果を含んでいてもよい。
例えば、本開示は以下のような構成を取ることができる。
(1)
照明部と、投射レンズと、前記照明部から供給された照明光を映像信号に基づいて変調して前記投射レンズへ向けて出射するライトバルブとを有する投影光学系と、
前記ライトバルブと前記投射レンズとの間に配置され、入射光を第1および第2の偏光成分に分離すると共に、それぞれを互いに異なる方向に出射する偏光分離素子と、
前記ライトバルブと光学的に共役な位置に配置された撮像素子と、前記撮像素子と前記偏光分離素子との間に配置された縮小光学系とを有する検出光学系と
を備え、
前記撮像素子には、検出用の非可視光に基づく光が、前記投射レンズと前記偏光分離素子とを介して入射され、かつ
前記偏光分離素子と前記撮像素子との間に、前記非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有する
投射型表示装置。
(2)
前記検出光学系は、前記縮小光学系として複数のリレーレンズを有し、
前記透過率調整部材は、前記非可視光の通過光束を部分的に遮蔽する遮蔽板であり、
前記遮蔽板は、前記縮小光学系の前記複数のリレーレンズのうちの隣り合う2つのリレーレンズ間に配置されている
上記(1)に記載の投射型表示装置。
(3)
前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
前記部分透過マスクは、前記偏光分離素子と前記縮小光学系との間に配置されている
上記(1)または(2)に記載の投射型表示装置。
(4)
前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
前記部分透過マスクは、前記撮像素子と前記縮小光学系との間に配置されている
上記(1)または(2)に記載の投射型表示装置。
(5)
前記検出光学系は、前記縮小光学系として複数のリレーレンズを有し、
前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
前記部分透過マスクは、前記検出光学系の前記複数のリレーレンズのうちの隣り合う2つのリレーレンズ間に配置されている
上記(1)または(2)に記載の投射型表示装置。
(6)
前記透過率調整部材は、前記偏光分離素子の光学面のうち前記検出光学系へ光を出射する面に接着されると共に、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過膜である
上記(1)または(2)に記載の投射型表示装置。
(7)
前記撮像素子から得られる撮像信号の面内輝度比率が5倍以下である
上記(1)〜(6)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(8)
前記投影面の近傍の面内方向に沿って前記非可視光を放射状に照射するレーザ光源部を更に備えた
上記(1)〜(7)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(9)
前記非可視光は、近赤外光である
上記(1)〜(8)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(10)
前記透過率調整部材は、前記非可視光の通過光束の光軸に垂直な面内における強度分布を均一化するような透過率分布を有する
上記(1)〜(9)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(11)
前記撮像素子から得られた撮像信号に基づいて、前記投影面上における物体の位置を検出する信号処理部を更に備えた
上記(1)〜(10)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(12)
前記偏光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
上記(1)〜(11)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(13)
前記ライトバルブは、反射型液晶表示素子である
上記(1)〜(12)のいずれかに記載の投射型表示装置。
(14)
前記偏光分離素子は、それぞれが光入射面または光出射面となる第1ないし第4の面を有すると共に、前記第1の面から入射した光のうちの前記第1の偏光成分を前記第2の面から出射し、前記第1の面から入射した光のうちの前記第2の偏光成分を前記第3の面から出射し、前記第2の面から入射した光のうちの前記第2の偏光成分を前記第4の面から出射し、かつ、前記第4の面から入射した光のうちの前記第1の偏光成分を前記第3の面から出射する、ように構成されている
上記(13)に記載の投射型表示装置。
(15)
前記投影光学系は、
前記照明部が、前記照明光を前記偏光分離素子の前記第1の面に向けて出射し、
前記ライトバルブが、前記照明光のうち、前記偏光分離素子の前記第2の面から出射した前記第1の偏光成分を変調し、その変調光を、前記偏光分離素子の前記第2の面に向けて出射し、
前記投射レンズが、前記変調光のうち、前記偏光分離素子の前記第4の面から出射した光を、前記投影面に向けて投射する、ように構成されている
上記(14)に記載の投射型表示装置。
(16)
前記検出光学系は、
前記縮小光学系に、前記投射レンズと前記偏光分離素子の前記第4の面および前記第3の面とを介して物体検出用の光が入射され、
前記撮像素子に、前記縮小光学系から出射された光が入射する、ように構成されている
上記(15)に記載の投射型表示装置。
本出願は、日本国特許庁において2014年8月27日に出願された日本特許出願番号第2014−172425号を基礎として優先権を主張するものであり、この出願のすべての内容を参照によって本出願に援用する。
当業者であれば、設計上の要件や他の要因に応じて、種々の修正、コンビネーション、サブコンビネーション、および変更を想到し得るが、それらは添付の請求の範囲やその均等物の範囲に含まれるものであることが理解される。

Claims (16)

  1. 照明部と、投射レンズと、前記照明部から供給された照明光を映像信号に基づいて変調して前記投射レンズへ向けて出射するライトバルブとを有する投影光学系と、
    前記ライトバルブと前記投射レンズとの間に配置され、入射光を第1および第2の偏光成分に分離すると共に、それぞれを互いに異なる方向に出射する偏光分離素子と、
    前記ライトバルブと光学的に共役な位置に配置された撮像素子と、前記撮像素子と前記偏光分離素子との間に配置された縮小光学系とを有する検出光学系と
    を備え、
    前記撮像素子には、検出用の非可視光に基づく光が、前記投射レンズと前記偏光分離素子とを介して入射され、かつ
    前記偏光分離素子と前記撮像素子との間に、前記非可視光の通過光束の少なくとも一部の透過率を調整する透過率調整部材を有する
    投射型表示装置。
  2. 前記検出光学系は、前記縮小光学系として複数のリレーレンズを有し、
    前記透過率調整部材は、前記非可視光の通過光束を部分的に遮蔽する遮蔽板であり、
    前記遮蔽板は、前記縮小光学系の前記複数のリレーレンズのうちの隣り合う2つのリレーレンズ間に配置されている
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  3. 前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
    前記部分透過マスクは、前記偏光分離素子と前記縮小光学系との間に配置されている
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  4. 前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
    前記部分透過マスクは、前記撮像素子と前記縮小光学系との間に配置されている
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  5. 前記検出光学系は、前記縮小光学系として複数のリレーレンズを有し、
    前記透過率調整部材は、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過マスクであり、
    前記部分透過マスクは、前記検出光学系の前記複数のリレーレンズのうちの隣り合う2つのリレーレンズ間に配置されている
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  6. 前記透過率調整部材は、前記偏光分離素子の光学面のうち前記検出光学系へ光を出射する面に接着されると共に、前記非可視光の透過率が光軸に垂直な面内において段階的または連続的に変化するように構成された部分透過膜である
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  7. 前記撮像素子から得られる撮像信号の面内輝度比率が5倍以下である
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  8. 前記投影面の近傍の面内方向に沿って前記非可視光を放射状に照射するレーザ光源部を更に備えた
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  9. 前記非可視光は、近赤外光である
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  10. 前記透過率調整部材は、前記非可視光の通過光束の光軸に垂直な面内における強度分布を均一化するような透過率分布を有する
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  11. 前記撮像素子から得られた撮像信号に基づいて、前記投影面上における物体の位置を検出する信号処理部を更に備えた
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  12. 前記偏光分離素子は、偏光ビームスプリッタである
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  13. 前記ライトバルブは、反射型液晶表示素子である
    請求項1に記載の投射型表示装置。
  14. 前記偏光分離素子は、それぞれが光入射面または光出射面となる第1ないし第4の面を有すると共に、前記第1の面から入射した光のうちの前記第1の偏光成分を前記第2の面から出射し、前記第1の面から入射した光のうちの前記第2の偏光成分を前記第3の面から出射し、前記第2の面から入射した光のうちの前記第2の偏光成分を前記第4の面から出射し、かつ、前記第4の面から入射した光のうちの前記第1の偏光成分を前記第3の面から出射する、ように構成されている
    請求項13に記載の投射型表示装置。
  15. 前記投影光学系は、
    前記照明部が、前記照明光を前記偏光分離素子の前記第1の面に向けて出射し、
    前記ライトバルブが、前記照明光のうち、前記偏光分離素子の前記第2の面から出射した前記第1の偏光成分を変調し、その変調光を、前記偏光分離素子の前記第2の面に向けて出射し、
    前記投射レンズが、前記変調光のうち、前記偏光分離素子の前記第4の面から出射した光を、前記投影面に向けて投射する、ように構成されている
    請求項14に記載の投射型表示装置。
  16. 前記検出光学系は、
    前記縮小光学系に、前記投射レンズと前記偏光分離素子の前記第4の面および前記第3の面とを介して物体検出用の光が入射され、
    前記撮像素子に、前記縮小光学系から出射された光が入射する、ように構成されている
    請求項15に記載の投射型表示装置。
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