JPWO2015087419A1 - 検査装置 - Google Patents

検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2015087419A1
JPWO2015087419A1 JP2015552247A JP2015552247A JPWO2015087419A1 JP WO2015087419 A1 JPWO2015087419 A1 JP WO2015087419A1 JP 2015552247 A JP2015552247 A JP 2015552247A JP 2015552247 A JP2015552247 A JP 2015552247A JP WO2015087419 A1 JPWO2015087419 A1 JP WO2015087419A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
imaging
unit
control unit
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015552247A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6196684B2 (ja
Inventor
政二 高橋
政二 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Motor Co Ltd
Original Assignee
Yamaha Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Motor Co Ltd filed Critical Yamaha Motor Co Ltd
Publication of JPWO2015087419A1 publication Critical patent/JPWO2015087419A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6196684B2 publication Critical patent/JP6196684B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

この検査装置は、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部と、検査対象物を撮像する撮像部を含む検査ヘッドと、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像させ、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部とを備える。

Description

この発明は、検査装置に関し、特に、検査対象物についての検査結果である合否を判別する検査装置に関する。
従来、検査対象物についての検査結果である合否を判別する検査装置が知られている。このような検査装置は、たとえば、特開2009−170517号公報に開示されている。
上記特開2009−170517号公報には、部品認識装置の動作制御を行う制御装置(メイン制御部)と、検査対象物の所定領域の画像を撮像するTDIセンサを含むカメラユニットとを備えた部品認識装置が開示されている。また、部品認識装置は、カメラユニットにより撮像された画像に所定の処理を行い、制御装置に送信する画像取込装置を備えている。この制御装置は、検査対象物の所定領域を撮像する際にカメラユニットに向けて複数回の撮像動作トリガ信号を送信させるように画像取込装置を制御する。そして、画像取込装置により撮像を行うための設定がカメラユニットに対して行われる。また、カメラユニットにより撮像された所定領域の画像は、画像取込装置に出力され、所定の処理が行われた後、制御装置に送信される。そして、制御装置により、検査対象物についての検査結果である合否が判別される。
特開2009−170517号公報
しかしながら、上記特開2009−170517号公報の部品認識装置では、検査対象物についての検査結果である合否を判別する際に、制御装置(メイン制御部)が部品認識装置の動作制御と並行して検査対象物の合否を判別するため、制御装置の処理負荷が大きくなり、その結果、検査対象物についての検査結果を取得するための時間が長くなる。また、検査対象物の所定領域を複数回撮像する際に制御装置から画像取込装置に複数回の動作トリガ信号が送信され、撮像を行うための設定が画像取込装置によりカメラユニットに対して行われる。このため、撮像を行うための設定に時間を要するので、検査対象物についての検査結果を取得するための時間が長くなる。したがって、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることが望まれている。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることが可能な検査装置を提供することである。
この発明の一の局面による検査装置は、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部と、検査対象物を撮像する撮像部を含む検査ヘッドと、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像させ、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部とを備える。
この発明の一の局面による検査装置では、上記のように、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部を設けることによって、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部とは異なるサブ制御部に検査対象物の合否を判別させることができる。これにより、メイン制御部が検査装置全体の動作制御と並行して検査対象物の合否を判別する場合と異なり、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。また、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像する撮像部を設けることによって、検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像する際に、メイン制御部から撮像部に複数回の撮像動作トリガ信号を送信して撮像を行うための設定が撮像部に対して行われる場合と比べて、撮像動作を行うためにメイン制御部から撮像動作トリガ信号を複数回送信する必要がない。これによっても、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。
上記一の局面による検査装置において、好ましくは、サブ制御部は、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせ、撮像の度ごとに異なる撮像条件で撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するように構成されている。このように構成すれば、撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で所定領域の撮像を複数回行わせる場合にも、メイン制御部から撮像動作トリガ信号を1回送信するだけで、異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせて、異なる撮像条件で所定領域の画像を撮像することができる。
上記一の局面による検査装置において、検査ヘッドは、照明部を含み、サブ制御部は、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像させる際に、撮像部の撮像動作に同期して照明光が照射されるように照明部を制御するように構成されている。このように構成すれば、1回の撮像動作トリガ信号によって、検査対象物の所定領域を複数回撮像するとともに、撮像部の撮像動作に同期するように照明光を照射させることができる。
上記一の局面による検査装置において、好ましくは、サブ制御部は、検査対象物についての検査結果が合格であると判別した場合には検査対象物についての検査結果が合格である旨の情報をメイン制御部に送信し、検査対象物についての検査結果が合格でないと判別した場合には検査対象物についての検査結果が合格でない旨の情報と検査対象物の画像情報とをメイン制御部に送信するように構成されている。このように構成すれば、検査対象物についての検査結果に応じて、必要な情報だけがメイン制御部に送信されるので、メイン制御部の処理負荷が大きくなるのを抑制することができる。
上記一の局面による検査装置において、好ましくは、サブ制御部は、検査ヘッドに設けられている。このように構成すれば、サブ制御部に使用される配線を短くすることができるので、配線の取り回しを容易に行うことができる。
この場合、好ましくは、検査対象物についての検査結果である合否を判別するための合否判別プログラムと、撮像部に撮像動作を行わせるための撮像動作プログラムとを格納する記憶部をさらに備え、記憶部は、検査ヘッドまたは検査ヘッドの近傍に配置されている。このように構成すれば、記憶部に使用される配線を短くすることができるので、配線の取り回しを容易に行うことができる。
本発明によれば、上記のように、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。
本発明の一実施形態による検査装置の外観を示す図である。 本発明の一実施形態による検査装置の内部を示した平面図である。 本発明の一実施形態による検査装置の内部を示した側面図である。 本発明の一実施形態による検査装置の構成を示したブロック図である。 本発明の一実施形態による検査装置のメイン制御部とサブ制御部とのデータのやり取りを示した模式図である。 本発明の一実施形態による検査装置の撮像および合否判定処理を説明するためのフローチャート(前半部分)である。 本発明の一実施形態による検査装置の撮像および合否判定処理を説明するためのフローチャート(後半部分)である。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
まず、図1〜図5を参照して、本発明の一実施形態における検査装置100の構造について説明する。
検査装置100は、半田が基板110(図2参照)に正確に印刷されているか否か、部品が基板110に正確に実装されているかなどの各種検査を行うための装置である。なお、基板110は、本発明の「検査対象物」の一例である。
図2に示すように、検査装置100は、基台1上に設けられた基板搬送コンベア(以下、コンベアという)10と、Xビーム20と、Yビーム30と、検査ヘッド40と、コントローラ50とを備えている。また、検査装置100は、図1に示すように、表示部60を備えている。また、検査装置100は、検査が完了した基板110を搬出するための開口部101を含んでいる。
コンベア10は、図2に示すように、基板110を保持してX2方向からX1方向に搬送する機能を有する。コンベア10は、装置上流側(X2方向側)に配置される搬入部11と、装置下流側(X1方向側)に配置される搬出部12と、搬入部11と搬出部12との間の位置に配置される固定部13とを含んでいる。また、固定部13は、図示しない保持機構によって、基板110を固定部13上の所定位置に固定するように構成されている。この所定位置において、基板110の検査が行われる。搬入部11は、検査装置100の固定部13に基板110を搬入するように構成されている。また、搬出部12は、固定部13から開口部101(図1参照)に向けて、基板110を搬出するように構成されている。
Xビーム20は、検査ヘッド40をX方向に移動可能に支持するように構成されている。具体的には、Xビーム20はXビームモータ21を含んでおり、Xビームモータ21が駆動することによって、検査ヘッド40がXビーム20に沿って移動する。また、Yビーム30は、検査ヘッド40をY方向に移動可能に支持するように構成されている。具体的には、Yビーム30はYビームモータ31を含んでおり、Yビームモータ31が駆動することによって、検査ヘッド40がYビーム30に沿って移動する。これらによって、検査ヘッド40は、X−Y平面を移動することが可能である。
検査ヘッド40は、基板110を撮像する機能を有する。また、検査ヘッド40は、基板110の上方を移動可能なように設けられている。また、検査ヘッド40は、基板110の上方に移動された状態で、基板110の検査を行う。なお、検査ヘッド40については、後で詳細に説明する。
コントローラ50は、図4に示すように、通信部51と、ビームモータ制御部52と、記憶部53と、画像処理部54と、メインCPU55とを含んでいる。なお、メインCPU55は、本発明の「メイン制御部」の一例である。
通信部51は、検査ヘッド40の後述する通信部41と相互に情報の授受を行うように構成されている。
ビームモータ制御部52は、メインCPU55により制御されることにより、Xビームモータ21およびYビームモータ31のそれぞれの駆動を制御するように構成されている。これにより、基板110の所定の検査位置に検査ヘッド40を移動させることが可能である。
記憶部53は、検査ヘッド40に撮像動作を行わせるための撮像シーケンスプログラム70と、検査ヘッド40に基板110についての検査結果である合否を判別するための合否判別プログラム80とを格納している。なお、撮像シーケンスプログラム70は、基板110を検査する際の照明部42の照明動作および撮像部43の撮像動作を制御するためのプログラムである。また、記憶部53は、検査対象となる基板110の画像データと対比することにより基板110の合否を判別するための基準データ(以下、マスターデータ90という)を格納している。撮像シーケンスプログラム70は、基板110に対応するものが予め記憶部53に記憶されている。なお、撮像シーケンスプログラム70は、本発明の「撮像動作プログラム」の一例である。
画像処理部54は、後述するようにサブCPU47から送信された画像情報をメインCPU55が表示部60に表示可能なように処理を行う。
メインCPU55(コントローラ50)は、所定のプログラムに従って検査装置100全体の動作制御を行うように構成されている。たとえば、メインCPU55は、検査ヘッド40のサブCPU47と相互に情報の授受を行ったり、記憶部53に格納されている撮像シーケンスプログラム70、合否判別プログラム80およびマスターデータ90を検査ヘッド40に送信するように構成されている。また、検査ヘッド40に送信された撮像シーケンスプログラム70、合否判別プログラム80およびマスターデータ90は、検査ヘッド40の記憶部46に格納される。また、メインCPU55は、検査ヘッド40(サブCPU47)に撮像動作トリガ信号を送信するように構成されている。
また、表示部60は、メインCPU55の制御に基づいて、基板110の検査結果などを表示するように構成されている。
次に、検査ヘッド40の構成について説明する。
ここで、本実施形態では、図4に示すように、検査ヘッド40は、通信部41と、照明部42と、撮像部43と、駆動部44とを含んでいる。また、検査ヘッド40は、画像処理部45と、記憶部46と、サブCPU47とを含んでいる。また、通信部41と、記憶部46と、サブCPU47と、画像処理部45とは、いずれも1つの基板に配置されて検査ヘッド40に設けられている。なお、サブCPU47は、本発明の「サブ制御部」の一例である。
照明部42は、サブCPU47による制御に基づいて、基板110を撮像する際の照明光を照射するように構成されている。照明部42は、たとえば、白色のLED光源などの光源である。また、照明部42は、図5に示すように、ドーム状のケース42aの内面側に、上方から順に、上段照明部421と、中段照明部422と、下段照明部423とを含んでいる。また、上方から見て、上段照明部421と、中段照明部422と、下段照明部423とは、それぞれ、撮像部43を環状に取り囲むように配置されている。各々の照明部は、それぞれ、複数個設けられ、色相(階調)、彩度および明度の情報を取得可能な2次元検査用の光を照射可能なように構成されている。これにより、基板110に付着している薄膜状の異物などを検出することが可能である。なお、簡略化の為、図2および図5において、基板110の表面に配置される半田や部品は省略した状態で、基板110を図示している。
撮像部43は、基板110を撮像するように構成されている。撮像部43は、たとえば、CCDカメラなどの撮像装置である。
駆動部44は、撮像部43の向きを調整したり、焦点を調整するために設けられている。
画像処理部45は、サブCPU47から出力される制御信号に基づいて、所定のタイミングで撮像部43から画像データの読み出しを行うことにより、撮像部43により撮像された画像データを取得するように構成されている。
また、本実施形態では、記憶部46は、コントローラ50から送信された、撮像シーケンスプログラム70と、合否判別プログラム80と、マスターデータ90とを格納するように構成されている。
また、本実施形態では、サブCPU47は、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号(検査開始信号)を受信したことに基づいて、基板110の所定領域の検査を開始するように構成されている。具体的には、サブCPU47は、1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、記憶部46に記憶されている撮像シーケンスプログラム70に従って、撮像の度ごとに異なる撮像条件で、撮像部43に複数回の撮像動作を行わせるとともに、照明部42に複数回の照明動作を行わせるように構成されている。すなわち、サブCPU47は、撮像(撮像および照明)条件を変更して、撮像部43に複数回の撮像動作を行わせるともに、照明部42に複数回の照明動作を行わせる。なお、上記の異なる条件とは、たとえば、上段照明部421、中段照明部422および下段照明部423のうち照明光を照射させる照明部を変更した条件や、撮像部43による撮像時間を変更した条件などである。
詳細には、サブCPU47は、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部43に基板110の所定領域について1次撮像からn次撮像までを行わせるように構成されている。すなわち、サブCPU47は、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部43および照明部42に基板110の所定領域において1次撮像からn次撮像を順次行わせる。そして、サブCPU47は、1次撮像からn次撮像により取得したn枚の画像に基づいて、基板110の所定領域についての検査を実施する。なお、複数回の撮像動作および照明動作により取得される画像のうち、i回目(iはn以下の自然数)の撮像動作および照明動作により取得される画像を、i次画像データという。また、本実施形態では、「1シーケンス(1つのシーケンス)」とは、基板110の所定領域において行われる1次撮像からn次撮像までの一連の撮像動作(照明部42による照明動作および撮像部43による撮像動作)を示す概念である。また、nは、検査される基板110により異なる自然数である。
また、撮像シーケンスプログラム70は、撮像部43の撮像のタイミングに合わせ、予め決められたタイミングで照明部42に照明光を照射させるようにプログラムされている。具体的には、サブCPU47は、撮像部43に基板110の所定領域の画像を複数枚(複数回)撮像させる際に、撮像部43の撮像動作に同期して照明光が照射されるように照明部42を制御する。
なお、撮像動作および照明動作の回数は、基板110の検査に必要な画像を取得するための回数であり、検査対象である基板110によって異なる。
また、サブCPU47は、記憶部46に記憶されている合否判別プログラム80に従って、撮像部43の複数回の撮像動作により撮像された所定領域の画像に基づいて、基板110についての検査結果である合否を判別するように構成されている。
また、本実施形態では、サブCPU47は、基板110についての検査結果が合格であると判別した場合には、基板110の所定領域の画像情報をメインCPU55に送信することなく、基板110についての検査結果が合格である旨の情報をメインCPU55に送信するように構成されている。一方、サブCPU47は、基板110についての検査結果が合格でないと判別した場合には、基板110についての検査結果が合格でない旨の情報と、基板110の画像情報とをメインCPU55に送信するように構成されている。この合格でないと判別された際の基板110の画像情報(1次画像データからn次画像データ)は、メインCPU55に送信された後、表示部60に表示される。これにより、合格でないと判別された基板110の画像を視覚的に確認することが可能である。
次に、図5〜図7を参照して、検査装置100の撮像および合否判定処理について説明する。この撮像および合否判定処理のうち、ステップS1〜ステップS4およびステップS21の処理は、メインCPU55が行う。また、ステップS5〜ステップS8、ステップS10〜ステップS12、ステップS14〜ステップS17、ステップS19およびステップS20の処理は、サブCPU47が行う。また、ステップS9、ステップS13およびステップS18の処理は、サブCPU47およびメインCPU55の両方が行う。
まず、ステップS1において、メインCPU55は、基板データの読み込みを行う。具体的には、検査対象となる基板110を検査するための撮像シーケンスプログラム70、合否判別プログラム80およびマスターデータ90を記憶部53から読み込む。
次に、ステップS2において、図5に示すように、メインCPU55は、サブCPU47に撮像シーケンスプログラム70、合否判別プログラム80およびマスターデータ90を送信する。
次に、ステップS3において、メインCPU55は、検査ヘッド40を検査開始位置に移動させる。すなわち、検査ヘッド40は、基板110の所定領域に対応する位置(検査位置)に移動される。
次に、ステップS4において、図5に示すように、メインCPU55は、1回の撮像動作トリガ信号をサブCPU47に送信する。
また、ステップS5では、サブCPU47は、ステップS4においてメインCPU55が送信した1回の撮像動作トリガ信号を受信したか否かを判断する。サブCPU47は、1回の撮像動作トリガ信号を受信するまでこの判断を繰り返し、1回の撮像動作トリガ信号を受信すると、ステップS6に処理を進める。
次に、ステップS6において、サブCPU47は、撮像回数iをリセット(i=1)にする。
次に、ステップS7において、サブCPU47は、撮像動作および照明動作を開始する。
次に、ステップS8において、サブCPU47は、撮像動作および照明動作が開始されたか否かを判断する。撮像動作および照明動作が開始された場合には、ステップS10およびステップS11に進む。一方、照明動作および撮像動作が開始されない場合には、ステップS9に進む。
ステップS9において、サブCPU47およびメインCPU55は、エラー処理を実行する。具体的には、サブCPU47は照明動作および撮像動作が開始されない旨の情報をメインCPU55に送信するとともに、メインCPU55は、照明動作および撮像動作が開始されない旨の情報を表示部60に表示する。その後、サブCPU47は撮像および合否判定処理を終了する。
また、ステップS10に進んだ場合には、サブCPU47は、撮像シーケンスプログラム70に従って、照明部42の動作を制御する。具体的には、サブCPU47は、図5に示すように、撮像シーケンスプログラム70に従って、所定の条件(たとえば、上段照明部421のみに照明光を照射させる条件)に基づいて照明部42を制御する制御信号を照明部42に送信し、照明部42から照明光を照射させる制御を行う。また、サブCPU47は、撮像シーケンスプログラム70に従って、ステップS10の処理を次のステップS11の処理と同期するように行う。詳細には、サブCPU47は、図5に示すように、撮像シーケンスプログラム70に従って、撮像部43が撮像するタイミングに合わせて、照明光が照射されるように照明部42を制御する。
また、ステップS11において、サブCPU47は、撮像シーケンスプログラム70に従って、撮像部43の動作を制御する。具体的には、サブCPU47は、図5に示すように、撮像シーケンスプログラム70に従って、所定の条件(たとえば、撮像時間がtである条件)に基づいて撮像部43を制御する。ステップS10およびステップS11の処理により、基板110の所定領域の画像が撮像(取得)される。
次に、ステップS12において、サブCPU47は、i次画像データを取得したか否かを判断する。i次画像データを取得した場合には、ステップS14に進む。一方、i次画像データを取得できない場合には、ステップS13に進む。
ステップS13において、サブCPU47およびメインCPU55は、エラー処理を実行する。具体的には、サブCPU47はi次画像データを取得できない旨の情報をメインCPU55に送信するとともに、メインCPU55は、i次画像データを取得できない旨の情報を表示部60に表示する。その後、サブCPU47は撮像および合否判定処理を終了する。
また、ステップS14に進んだ場合には、撮像回数iをi+1にする。
次に、ステップS15おいて、サブCPU47は、撮像回数iがnになったか否かを判断する。撮像回数iがnになった場合には、ステップS16に進む。
一方、撮像回数iがnになっていない場合には、ステップS7に戻る。
1次撮像からn次撮像までが行われ、ステップS16に進んだ場合には、サブCPU47は、合否判別処理を実行する。具体的には、サブCPU47は、取得した1次画像からn次画像までの画像データに基づいて、基板110の所定領域についての検査結果である合否を判別する。
次に、ステップS17において、サブCPU47は、合否判別結果を取得したか否かを判断する。合否判別結果を取得した場合には、ステップS19に進む。一方、合否判別結果を取得できない場合には、ステップS18に進む。
ステップS18において、サブCPU47およびメインCPU55は、エラー処理を実行する。具体的には、サブCPU47は合否判別結果を取得できない旨の情報をメインCPU55に送信するとともに、メインCPU55は、合否判別結果を取得できない旨の情報を表示部60に表示する。その後、サブCPU47は撮像および合否判定処理を終了する。
また、ステップS19に進んだ場合には、サブCPU47は、メインCPU55に合否判別結果を送信する。具体的には、サブCPU47は、図5に示すように、基板110についての検査結果が合格であると判別した場合には、基板110についての検査結果が合格である旨の情報(合否判別結果)をメインCPU55に送信する。一方、サブCPU47は、基板110についての検査結果が合格でないと判別した場合には、基板110についての検査結果が合格でない旨の情報と、基板110の画像データ(1次画像からn次画像までの画像データ)とをメインCPU55に送信する。以上のステップS7〜ステップS19によって、1シーケンス処理が実施される。これによって、サブCPU47が、1次画像データからn次画像データまでの画像に基づき検査結果を取得し、メインCPU55に検査結果を送信する。
次に、ステップS20において、サブCPU47は、基板110の全ての領域の合否判別結果が取得されたか否かを判断する。基板110の全ての領域の合否判別結果が取得されない場合には、ステップS21に進む。
ステップS21において、メインCPU55は、次の検査領域に検査ヘッド40を移動させる。その後、ステップS4に戻る。
一方、ステップS20において、基板110の全ての領域の合否判別結果が取得された場合には、サブCPU47は撮像および合否判定処理を終了する。
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
本実施形態では、上記のように、撮像部43により撮像された所定領域の画像に基づいて、基板110についての検査結果である合否を判別するサブCPU47を設ける。これにより、検査装置100全体の動作制御を行うメインCPU55とは異なるサブCPU47に基板110の合否を判別させることができる。その結果、メインCPU55が検査装置100全体の動作制御と並行して基板110の合否を判別する場合と異なり、基板110についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。また、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、基板110の所定領域の画像をn回撮像させる撮像部43を設ける。これにより、基板110の所定領域の画像をn回撮像する際に、メインCPU55から撮像部43に複数回の撮像動作トリガ信号を送信して撮像を行うための設定が撮像部43に対して行われる場合と比べて、撮像動作を行うためにメインCPU55から撮像動作トリガ信号を複数回送信する必要がない。これによっても、基板110についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。
また、本実施形態では、上記のように、サブCPU47を、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部43に撮像の度ごとに異なる撮像条件でn回の撮像動作を行わせ、撮像の度ごとに異なる撮像条件で撮像された所定領域の画像に基づいて、基板110についての検査結果である合否を判別するように構成する。これにより、撮像部43に撮像の度ごとに異なる撮像条件で所定領域の撮像をn回行わせる場合にも、メインCPU55から撮像動作トリガ信号を1回送信するだけで、異なる撮像条件でn回の撮像動作を行わせて、異なる撮像条件で所定領域の画像を撮像することができる。
また、本実施形態では、上記のように、照明部42を検査ヘッド40に設け、メインCPU55から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部43に基板110の所定領域の画像をn回撮像させる際に、撮像部43の撮像動作に同期して照明光が照射されるように照明部42を制御するようにサブCPU47を構成する。これにより、1回の撮像動作トリガ信号によって、基板110の所定領域をn回撮像するとともに、撮像部43の撮像動作に同期するように照明光を照射させることができる。
また、本実施形態では、上記のように、基板110についての検査結果が合格であると判別した場合には基板110についての検査結果が合格である旨の情報をメインCPU55に送信し、基板110についての検査結果が合格でないと判別した場合には基板110についての検査結果が合格でない旨の情報と、基板110の画像情報とをメインCPU55に送信するようにサブCPU47を構成する。これにより、基板110についての検査結果に応じて、必要な情報だけがメインCPU55に送信されるので、メインCPU55の処理負荷が大きくなるのを抑制することができる。
また、本実施形態では、上記のように、サブCPU47を検査ヘッド40に設ける。これにより、サブCPU47に使用される配線を短くすることができるので、配線の取り回しを容易に行うことができる。
また、本実施形態では、上記のように、基板110についての検査結果である合否を判別するための合否判別プログラム80と、撮像部43に撮像動作を行わせるための撮像シーケンスプログラム70とを格納する記憶部46を検査ヘッド40に配置する。これにより、記憶部46に使用される配線を短くすることができるので、配線の取り回しを容易に行うことができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
たとえば、上記実施形態では、メインCPU(メイン制御部)から送信された1回の撮像動作トリガ信号を受信することにより、サブCPU(サブ制御部)が撮像部と照明部とを制御する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、メイン制御部から送信された1回の撮像動作トリガ信号を受信することにより、サブ制御部が撮像部のみを制御してもよい。
また、上記実施形態では、サブCPU(サブ制御部)がメインCPU(メイン制御部)から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことより、2次元検査を行う照明部を設ける例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、サブ制御部がメイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことより、3次元検査を行う照明部(たとえば、プロジェクタ)を設けてもよい。また、サブ制御部がメイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことより、2次元検査を行う照明部および3次元検査を行う照明部の両方を設けてもよい。
また、上記実施形態では、サブCPU(サブ制御部)を検査ヘッドに設ける例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、サブ制御部を検査ヘッド以外の部分に設けてもよい。この場合、サブ制御部は、たとえば、XビームまたはYビームなどに設けることができる。
また、上記実施形態では、LED光源を含む照明部から照射された照明光を用いて基板(検査対象物)の検査を行う検査装置に本発明を適用する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、X線源を設け、X線を用いて検査対象物の検査を行う検査装置に本発明を適用してもよい。
また、上記実施形態では、説明の便宜上、制御部の処理を処理フローに沿って順番に処理を行うフロー駆動型のフローを用いて説明したが、たとえば、制御部の処理動作を、イベント単位で処理を実行するイベント駆動型(イベントドリブン型)の処理により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。
40 検査ヘッド
42 照明部
43 撮像部
46 記憶部
47 サブCPU(サブ制御部)
55 メインCPU(メイン制御部)
70 撮像シーケンスプログラム(撮像動作プログラム)
80 合否判別プログラム
100 検査装置
110 基板
【0002】
メイン制御部)が部品認識装置の動作制御と並行して検査対象物の合否を判別するため、制御装置の処理負荷が大きくなり、その結果、検査対象物についての検査結果を取得するための時間が長くなる。また、検査対象物の所定領域を複数回撮像する際に制御装置から画像取込装置に複数回の動作トリガ信号が送信され、撮像を行うための設定が画像取込装置によりカメラユニットに対して行われる。このため、撮像を行うための設定に時間を要するので、検査対象物についての検査結果を取得するための時間が長くなる。したがって、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることが望まれている。
[0006]
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることが可能な検査装置を提供することである。
課題を解決するための手段
[0007]
この発明の一の局面による検査装置は、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部と、検査対象物を撮像する撮像部を含む検査ヘッドと、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に検査対象物の所定領域の画像を異なるタイミングで複数回撮像させ、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部とを備える。
[0008]
この発明の一の局面による検査装置では、上記のように、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部を設けることによって、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部とは異なるサブ制御部に検査対象物の合否を判別させることができる。これにより、メイン制御部が検査装置全体の動作制御と並行して検査対象物の合否を判別する場合と異なり、検査対象物についての検査結果を取得するための時間を短くすることができる。また、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像する撮像部を設けることによって、検査対象物の所
この発明の一の局面による検査装置は、検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部と、検査対象物を撮像する撮像部を含む検査ヘッドと、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に検査対象物の所定領域の画像を異なるタイミングで複数回撮像させ、撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部とを備え、サブ制御部は、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせ、撮像の度ごとに異なる撮像条件で撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するように構成されている
また、サブ制御部は、メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせ、撮像の度ごとに異なる撮像条件で撮像された所定領域の画像に基づいて、検査対象物についての検査結果である合否を判別するように構成されている。これにより、撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で所定領域の撮像を複数回行わせる場合にも、メイン制御部から撮像動作トリガ信号を1回送信するだけで、異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせて、異なる撮像条件で所定領域の画像を撮像することができる。

Claims (6)

  1. 検査装置全体の動作制御を行うメイン制御部と、
    検査対象物を撮像する撮像部を含む検査ヘッドと、
    前記メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、前記撮像部に前記検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像させ、前記撮像部により撮像された所定領域の画像に基づいて、前記検査対象物についての検査結果である合否を判別するサブ制御部とを備える、検査装置。
  2. 前記サブ制御部は、前記メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、前記撮像部に撮像の度ごとに異なる撮像条件で複数回の撮像動作を行わせ、撮像の度ごとに異なる撮像条件で撮像された所定領域の画像に基づいて、前記検査対象物についての検査結果である合否を判別するように構成されている、請求項1に記載の検査装置。
  3. 前記検査ヘッドは、照明部を含み、
    前記サブ制御部は、前記メイン制御部から1回の撮像動作トリガ信号を受信したことに基づいて、前記撮像部に前記検査対象物の所定領域の画像を複数回撮像させる際に、前記撮像部の撮像動作に同期して照明光が照射されるように前記照明部を制御するように構成されている、請求項1に記載の検査装置。
  4. 前記サブ制御部は、前記検査対象物についての検査結果が合格であると判別した場合には前記検査対象物についての検査結果が合格である旨の情報を前記メイン制御部に送信し、前記検査対象物についての検査結果が合格でないと判別した場合には前記検査対象物についての検査結果が合格でない旨の情報と前記検査対象物の画像情報とを前記メイン制御部に送信するように構成されている、請求項1に記載の検査装置。
  5. 前記サブ制御部は、前記検査ヘッドに設けられている、請求項1に記載の検査装置。
  6. 前記検査対象物についての検査結果である合否を判別するための合否判別プログラムと、前記撮像部に撮像動作を行わせるための撮像動作プログラムとを格納する記憶部をさらに備え、
    前記記憶部は、前記検査ヘッドまたは前記検査ヘッドの近傍に配置されている、請求項5に記載の検査装置。
JP2015552247A 2013-12-11 2013-12-11 検査装置 Active JP6196684B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2013/083255 WO2015087419A1 (ja) 2013-12-11 2013-12-11 検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015087419A1 true JPWO2015087419A1 (ja) 2017-03-16
JP6196684B2 JP6196684B2 (ja) 2017-09-20

Family

ID=53370760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015552247A Active JP6196684B2 (ja) 2013-12-11 2013-12-11 検査装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6196684B2 (ja)
WO (1) WO2015087419A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110791943B (zh) * 2019-11-25 2020-07-31 创新奇智(广州)科技有限公司 一种智能验布机控制系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0876359A (ja) * 1994-07-13 1996-03-22 Kla Instr Corp 自動フォトマスク検査装置及び方法
JP2009170517A (ja) * 2008-01-11 2009-07-30 Yamaha Motor Co Ltd 部品認識装置、表面実装機
JP2009198397A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Nagoya Electric Works Co Ltd 基板検査装置および基板検査方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007263913A (ja) * 2006-03-30 2007-10-11 Shindenshi Corp 錠剤等の外観検査装置
JP5007750B2 (ja) * 2010-03-05 2012-08-22 オムロン株式会社 はんだ印刷状態の分析作業の支援方法およびはんだ印刷検査機

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0876359A (ja) * 1994-07-13 1996-03-22 Kla Instr Corp 自動フォトマスク検査装置及び方法
JP2009170517A (ja) * 2008-01-11 2009-07-30 Yamaha Motor Co Ltd 部品認識装置、表面実装機
JP2009198397A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Nagoya Electric Works Co Ltd 基板検査装置および基板検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6196684B2 (ja) 2017-09-20
WO2015087419A1 (ja) 2015-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013174624A (ja) 基板検査装置および基板検査方法
KR101241175B1 (ko) 실장기판 검사장치 및 검사방법
JP6322335B2 (ja) 外観検査装置
EP2685208A2 (en) Vision testing device using multigrid pattern
US9332230B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP6211197B2 (ja) 基板検査装置
KR20120129547A (ko) 멀티라인센서 카메라와 다중조명을 사용한 시편 고속검사장치
US10147174B2 (en) Substrate inspection device and method thereof
JP2010151666A (ja) パターン検査装置および検査方法
JP2009156704A (ja) 表示パネルの輝度測定装置および輝度測定方法並びに表示装置
JP6903270B2 (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR101522312B1 (ko) Pcb 제품 검사 장치 및 이를 이용한 pcb 제품 검사 방법
JP2011141391A (ja) バーチャルスライド作成装置およびバーチャルスライド作成方法
KR100862883B1 (ko) 반도체 소자 인-트레이 검사 장치 및 그를 이용한 검사방법
JP6196684B2 (ja) 検査装置
JP2014534420A (ja) 基板検査装置の高さ情報生成方法
US20150029330A1 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
KR100740250B1 (ko) 비전 검사 시스템 및 그를 이용한 검사 방법
JP6939501B2 (ja) 画像処理システム、画像処理プログラム、および画像処理方法
US9491411B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
US9015928B2 (en) Electronic component mounting apparatus
JP6095805B2 (ja) 実装部品の検査装置
JP2018109550A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
KR20110104404A (ko) 기판 검사방법
JP2018096964A (ja) 電子部品搬送装置および電子部品検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170530

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170808

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170818

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6196684

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250