JPWO2015079529A1 - 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
まず、分析者は、ターゲットとする化合物由来のプリカーサイオンの質量電荷比のみを指定する。すると、該化合物を含む既知の試料に対し、指定されたプリカーサイオンに関するプロダクトイオンスキャン測定が実施され、それによって得られるプロダクトイオンスペクトルにおいて信号強度が大きい順に所定個数のプロダクトイオンピークが選出される。そして、分析者が指定したプリカーサイオンと選出されたピークに対応するプロダクトイオンの組み合わせをMRMトランジションとする。
しかし、多価のプリカーサイオンが開裂して価数が減少したプロダクトイオンの中には、プリカーサイオンの質量電荷比よりも大きい質量電荷比を有するものが含まれるため、上述のようにプロダクトイオンの質量電荷比の範囲を限定することができない。また、価数が変化すると質量電荷比が異なるため、プリカーサイオンと実質的に同じイオンであることに分析者が気づかず、このイオンをプロダクトイオンとするMRMトランジションを設定し、定性を誤ったり定量に誤差を生じたりする場合がある、という問題があった。
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定し、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出する
ことを特徴とする。
上記基準としては、マスピークの強度が最も大きいプロダクトイオンを選択する、というものや、マスピークの出現頻度が最も高いプロダクトイオンを選択する、というものなどを用いることができる。
上記予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを、使用者によって指定された数、選出する
ことが好ましい。
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定する非選出イオン設定部と、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出するプロダクトイオン選出部と、
を備えることを特徴とする。
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定する非選出イオン設定部と、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出するプロダクトイオン選出部と、
として動作させることを特徴とする。
プリカーサイオンの種類の数やプロダクトイオンの選出数は適宜に変更することができる。また、非選出イオンとしては、上記例のほか、目的化合物を特徴付ける情報が得られないイオン、例えば、プリカーサイオンの同位体イオン、質量が変化せずプリカーサイオンの価数のみが変化したイオン、プリカーサイオンの脱水イオン、等を適宜に設定することができる。
また、非選出イオン設定部42は、分析者により入力された質量電荷比の値と価数から、プリカーサイオンを(M+5H)5+と仮定し、このイオンが開裂せず価数のみが1価〜4価に変化したイオンの質量電荷比を計算する。即ち、(M+H)+、(M+2H)2+、(M+3H)3+、及び(M+4H)4+にそれぞれ対応する質量電荷比をm/z=3001, 1501, 1001, 751と計算する。そして、プロダクトイオンスキャン測定対象となる質量電荷比の範囲内(本実施例ではm/z=50〜1200)にある値(m/z=1001, 751)をそれぞれ中心として所定の幅を有する範囲(m/z=750〜752, 1000〜1002)を、質量電荷比の除外範囲として自動的に追加設定する。
最後に、MRMトランジション決定部45が、このマスピークに対応するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組をMRMトランジションに決定する(ステップS7)。また、このMRMトランジションと、プロダクトイオンスキャンの実施条件とを紐付けたメソッドファイルを作成する。
また、上述したように、プリカーサイオンの同位体イオンや、プリカーサイオンの価数のみが変化したイオン、プリカーサイオンの脱水イオン等も同様にプロダクトイオンとして不適切であるが、そうしたイオンに対応するマスピークの強度が大きい場合には、こうしたイオンが選出されてしまう。
上記実施例では、液体クロマトグラフ質量分析装置の場合について説明したが、装置の構成はこれに限らず、質量分析装置を用いる装置構成であればよい。
また、上記実施例では、分析者により入力された1つの非選出イオンに対して1つの質量電荷比の除外範囲を設定したが、分析者により入力されたプリカーサイオンの情報や非選出イオンの情報に基づいて、複数の質量電荷比の除外範囲を設定するように構成することができる。例えば、分析者がプリカーサイオンの分子式を入力した場合に、該プリカーサイオンの同位体イオンや脱水イオン等を自動的に非選出イオンに設定することができる。
さらに、上記実施例では、衝突エネルギー(CE)の大きさのみを変更した複数の条件下でプロダクトイオンスキャンを実行する場合を例に説明したが、その他、例えばQ1やQ3の分解能等の条件を適宜に変更した条件下でプロダクトイオンスキャンを実行し、それにより得られたプロダクトイオンスペクトルからMRMトランジションを決定するように構成することもできる。
10…移動相容器
11…ポンプ
12…インジェクタ
13…カラム
2…質量分析装置
20…イオン化室
201…エレクトロスプレイイオン化用プローブ
202…加熱キャピラリ
21…第1中間真空室
211…イオンガイド
212…スキマー
22…第2中間真空室
221…イオンガイド
23…分析室
231…前段四重極マスフィルタ
232…コリジョンセル
233…多重極イオンガイド
234…後段四重極マスフィルタ
235…イオン検出器
24…電源部
4…データ処理部
41…記憶部
42…非選出イオン設定部
43…プロダクトイオンスキャン実行部
44…プロダクトイオン選出部
45…MRMトランジション決定部
5…制御部
6…入力部
7…表示部
上記実施例では、液体クロマトグラフ質量分析装置の場合について説明したが、装置の構成はこれに限らず、質量分析装置を用いる装置構成であればよい。
また、上記実施例では、分析者により入力された多価イオンである1つの非選出イオンに対して価数が異なるイオンの質量電荷比を併せて除外範囲に設定したが、その他、分析者により入力されたプリカーサイオンの情報や非選出イオンの情報に基づいて、上記以外の複数の質量電荷比の除外範囲を設定するように構成することもできる。例えば、分析者がプリカーサイオンの分子式を入力した場合に、該プリカーサイオンの同位体イオンや脱水イオン等を自動的に非選出イオンに設定することができる。
さらに、上記実施例では、衝突エネルギー(CE)の大きさのみを変更した複数の条件下でプロダクトイオンスキャンを実行する場合を例に説明したが、その他、例えばQ1やQ3の分解能等の条件を適宜に変更した条件下でプロダクトイオンスキャンを実行し、それにより得られたプロダクトイオンスペクトルからMRMトランジションを決定するように構成することもできる。
また、非選出イオン設定部42は、分析者により入力された質量電荷比の値と価数から、プリカーサイオンを(M+5H)5+と仮定し、このイオンが開裂せず価数のみが1価〜4価に変化したイオンの質量電荷比を計算する。即ち、(M+H)+、(M+2H)2+、(M+3H)3+、及び(M+4H)4+にそれぞれ対応する質量電荷比をm/z=3001, 1501, 1001, 751と計算する。そして、プロダクトイオンスキャン測定対象となる質量電荷比の範囲内(本実施例ではm/z=50〜1200)にある値(m/z=1001, 751)をそれぞれ中心として所定の幅を有する範囲(m/z=750〜752, 1000〜1002)を、質量電荷比の除外範囲として自動的に追加設定する。
Claims (6)
- イオンを開裂させるコリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて、試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する質量分析方法であって、
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定し、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出する
ことを特徴とする質量分析方法。 - 前記質量電荷比が、幅を有する範囲として設定されることを特徴とする請求項1に記載の質量分析方法。
- 前記幅が使用者による入力指示に応じて決定されることを特徴とする請求項2に記載の質量分析方法。
- 使用者により入力指示された数のプロダクトイオンを選出することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の質量分析方法。
- イオンを開裂させるコリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有し、試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する質量分析装置であって、
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定する非選出イオン設定部と、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出するプロダクトイオン選出部と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - イオンを開裂させるコリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて、試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって得られたプロダクトイオンスペクトルから該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する質量分析データ処理プログラムであって、前記プロダクトイオンスペクトルが保存された記憶部にアクセス可能なコンピュータを、
a) 使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比を設定する非選出イオン設定部と、
b) プロダクトイオンスキャンによって得られたプロダクトイオンスペクトルにおいて、前記設定された質量電荷比を除いた範囲内で予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出するプロダクトイオン選出部と、
として動作させることを特徴とする質量分析データ処理プログラム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2013/082007 WO2015079529A1 (ja) | 2013-11-28 | 2013-11-28 | 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015079529A1 true JPWO2015079529A1 (ja) | 2017-03-16 |
JP6176334B2 JP6176334B2 (ja) | 2017-08-09 |
Family
ID=53198518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015550263A Active JP6176334B2 (ja) | 2013-11-28 | 2013-11-28 | 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9799499B2 (ja) |
JP (1) | JP6176334B2 (ja) |
CN (1) | CN105793701B (ja) |
WO (1) | WO2015079529A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015189611A1 (en) * | 2014-06-11 | 2015-12-17 | Micromass Uk Limited | Improved quadrupole robustness |
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GB2561378B (en) | 2017-04-12 | 2022-10-12 | Micromass Ltd | Optimised targeted analysis |
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WO2016145331A1 (en) * | 2015-03-12 | 2016-09-15 | Thermo Finnigan Llc | Methods for data-dependent mass spectrometry of mixed biomolecular analytes |
-
2013
- 2013-11-28 US US15/039,924 patent/US9799499B2/en active Active
- 2013-11-28 CN CN201380081237.0A patent/CN105793701B/zh active Active
- 2013-11-28 JP JP2015550263A patent/JP6176334B2/ja active Active
- 2013-11-28 WO PCT/JP2013/082007 patent/WO2015079529A1/ja active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105793701B (zh) | 2018-11-06 |
US20170032947A1 (en) | 2017-02-02 |
JP6176334B2 (ja) | 2017-08-09 |
WO2015079529A1 (ja) | 2015-06-04 |
CN105793701A (zh) | 2016-07-20 |
US9799499B2 (en) | 2017-10-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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