JPWO2014203319A1 - 二酸化塩素ガス処理構造、二酸化塩素ガス処理装置、滅菌装置および環境浄化装置 - Google Patents
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Abstract
Description
・本発明の第2の発明によれば、同一の重量で二酸化塩素ガスに反応する鉄の表面積を大きくすると共に、細線が折れて散乱せず好適である。
・本発明の第3の発明によれば、同一の紫外線ランプを使っても強い紫外線が照射可能である。
・本発明の第4の発明によれば、湿潤手段を備えることにより、最初に湿潤させて前記空間内に配設したスチールウールが乾くことがなく、接触層の効果が継続される。
・本発明の第6の発明によれば、第5の発明と同様に、スチールウールの接触層に紫外線を照射させる二酸化塩素ガスの低減傾向が緩慢となった濃度から、第1から第4の発明のいずれかの二酸化塩素ガス処理構造により二酸化塩素ガスの濃度を低下させることにより、人体に安全な所望の低濃度とするまでの時間が短くなる。
・本発明の第7の発明によれば、二酸化塩素ガスを所望の濃度、例えば0.1ppmの濃度とするまでの時間が短くなり、短時間のサイクルで滅菌装置により医療機器を滅菌することが可能になり、滅菌装置を有効に活用できるようになる。
・本発明の第8の発明によれば、除黴等の環境浄化に作用した大量かつ高濃度の二酸化塩素ガスを、所望の濃度、例えば0.1ppmの濃度とするまでの時間が短くなり、二酸化塩素ガスによる浄化対象が拡大される。
ここで、実施例1の二酸化塩素ガス処理構造20の主要構成要素の効果を評価するために、実施例1の二酸化塩素ガス処理構造20により二酸化塩素ガスの濃度を低下処理させた場合と、二酸化塩素ガス処理構造20から主要構成要素を外した場合を比較して、主要構成要素の効果を確認する実験をした(評価実験1)。その結果を、図2を参照して説明する。図2は、二酸化塩素ガス処理構造の評価結果および比較結果のグラフを示す図である。(評価結果1−1)は二酸化塩素ガス処理構造20を作動させた場合、(比較結果1−1)は接触層のスチールウールを湿潤させないで紫外線を照射させた場合、(比較結果1−2)はスチールウールを取り外して紫外線のみを照射させた場合の、各々の中間処理空気40の二酸化塩素ガス濃度の低下傾向を示している。二酸化塩素ガスの濃度は、株式会社GASTEC社(登録商標)のガス検知管により検知した。
二酸化塩素ガス処理構造の評価結果(□印の折線グラフ):室温20℃において、アクリル板で構成した1m3の容積の容器の二酸化塩素ガス処理構造20に中間処理空気40を導入させ、二酸化塩素ガスの濃度が3.6ppmの状態から、実施例1の二酸化塩素ガス処理構造20の構成で二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、□印を付した折線グラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は3.6ppmから処理開始後4分経過時点で約0.12ppmとなり、6分経過時点で0.00ppmとなり、下記に示す(比較結果1−1)、(比較結果1−2)に比べて、二酸化塩素ガスの濃度を安全な濃度まで短時間で低下できた。
スチールウール21を水に湿潤させず、紫外線だけを照射させた場合の比較結果(△印を付した折線グラフ):実施例1の二酸化塩素ガス処理構造20の接触層のスチールウール21を水に湿潤させない状態のままとし中間処理空気40を導入させ、二酸化塩素ガスの濃度が2.76ppmの状態から二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、△印を付した折線グラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は2.76ppmから処理開始後6分経過時点で0.24ppm、10分経過時点で約0.01ppmとなっている。
スチールウール21を取り外し、紫外線だけを照射させた場合の比較結果(○印を付した折線グラフ):実施例1の二酸化塩素ガス処理構造20のスチールウールの接触層を取り外して、中間処理空気40を導入させ、二酸化塩素ガスの濃度が2.52ppmの状態から、二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、○印を付した折線グラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は2.52ppmから処理開始後6分経過時点で0.45ppmとなったが、10分経過しても0.36ppmであり、0.1ppmを大幅に超えたままの濃度であり、人体に安全とされる濃度とはならなかった。
次に、一辺が65cmの立方体の滅菌装置を想定して、実施例1の二酸化塩素ガス処理構造の容量を0.25m3として、容量の大小にかかわらず、小型の二酸化塩素ガス処理構造であっても、その効果が発揮されることを確認する評価実験2を行った。その結果を、図3を参照して説明する。図3は、評価実験2の小型の二酸化塩素ガス処理構造の評価結果のグラフを示す図である。(評価結果2‐1)は二酸化塩素ガス処理構造20を作動させた場合、(比較結果2‐1)は接触層のスチールウールを湿潤させないで紫外線を照射させた場合、(比較結果2‐2)はスチールウールを取り外して紫外線のみを照射させた場合の、各々の中間処理空気の二酸化塩素ガス濃度の低下傾向を示している。紫外線照射手段24としては、三共電気株式会社製の254nmの波長の紫外線ランプGPL9を6本使用し、合計54Wの紫外線を使用した。接触層をなすスチールウールは、評価実験1と同様とした。容器の内面にアルミ箔を添着した点、室温条件等も同様である。
小型の二酸化塩素ガス処理構造の評価結果(□印の折線グラフ):室温20℃において、小型容器の二酸化塩素ガス処理構造20に、中間処理空気40を導入させ、二酸化塩素ガスの濃度が2.52ppmの状態から、上記の構成で二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、図3において、□印を付した折線グラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は2.52ppmから処理開始後2分経過時点で0.30ppmとなり、4分経過時点で0.00ppmとなっている。二酸化塩素ガス処理構造の容量にかかわらず、紫外線の強度を適宜決定すれば、容量の大きな実施例1と同様な二酸化塩素ガスの低減傾向が得られることが確認された。下記に示す(比較結果2‐1)、(比較結果2‐2)に比較して、二酸化塩素ガスの濃度を短時間で安全な濃度まで低下できた。
スチールウールを湿潤させず、紫外線だけを照射させた場合の比較結果(△印を付した折線グラフ):小型の二酸化塩素ガス処理構造において、接触層のスチールウールを水に湿潤させない状態のままとし、中間処理空気40を導入させ二酸化塩素ガスの濃度が2.16ppmの状態から、二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、図3において△印を付したグラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は2.16ppmから処理開始後2分経過時点で0.78ppm、4分経過時点で0.30ppmとなり安全な濃度にはならなかった。
スチールウールを取り外し、紫外線だけを照射させた場合の比較結果(○印を付した折線グラフ):小型の二酸化塩素ガス処理構造において、スチールウールの接触層を取り外して、中間処理空気40を導入させ二酸化塩素ガスの濃度が2.10ppmの状態から、二酸化塩素ガスを処理させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、○印を付した折線グラフで示している。二酸化塩素ガスの濃度は2.10ppmから処理開始後2分経過時点で1.08pm、4分経過時点で0.48ppmを超える濃度であり、安全濃度とはならなかった。
ここで図5を参照して、二酸化塩素濃度が高い導入空気30の二酸化塩素濃度を低減させ、中間処理空気40とさせる第1次処理手段を評価する評価実験3の結果を示す。(評価結果3−1)は活性炭フィルターに二酸化塩素ガスを吸着させる実施例1の第1次処理手段であり、(評価結果3−2)はスチールウールフィルターに紫外線を照射させた状態で二酸化塩素ガスを接触させる実施例2の第1次処理手段であり、(比較結果3−1)は紫外線のみを照射させて二酸化塩素ガスの濃度を低下させた場合の実験結果を示している。紫外線照射手段としては、三共電気株式会社製の254nmの波長の紫外線ランプGPL9を6本使用し、合計54Wの紫外線を使用した。接触層をなすスチールウールは、評価実験1と同様とした。容器の内面にアルミ箔を添着した点、室温条件等も同様である。
活性炭フィルターに、導入空気の二酸化塩素ガスを吸着させる実施例1の第1次処理手段の評価結果(○印を付した折線グラフ):実施例1の第1次処理手段で、活性炭フィルターに高濃度の二酸化塩素ガスが含まれている導入空気を接触させて、活性炭フィルターに二酸化塩素ガスを吸着させて、二酸化塩素ガスの濃度を低下させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、図5において○印を付した折線グラフで示している。処理開始後5分経過時点で50ppmから6.24ppmに低下し、10分経過時点で1.20ppmとなっている。それから後は、濃度の低下が緩慢となり、20分経過時点で0.12ppmとなり、0.1ppmとなるまでに、処理開始後25分の時間を必要としている。
紫外線を照射させながら、スチールウールに導入空気の二酸化塩素ガスを接触させる実施例2の第1次処理手段の評価結果(△印を付した折線グラフ):実施例2の第1次処理手段で、スチールウールに紫外線を照射させた状態で、高濃度の二酸化塩素ガスが含まれている導入空気30を接触させて、二酸化塩素ガスの濃度を低下させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、図5において△印を付した折線グラフで示している。処理開始後10分経過時点で40ppmから2.40ppmに低下したが、その後は緩やかに二酸化塩素ガス濃度が低下するようになり、0.1ppmとなるまでには、処理開始後20分の時間を必要とした。しかし、処理開始後20分の時間で二酸化塩素ガスは検出されないようになっていた。これを実施例1の第1次処理手段と比較すると、実施例1の活性炭フィルターの方が、10分経過時点分までは僅かに優れた低減効果が認められたが、安全濃度の0.1ppmとなるまでには長時間を要する結果であった。一方、二酸化塩素濃度が2.5ppmの低濃度となるまでには、実施例2の第1次処理手段と、実施例1の第1次処理手段とはともに約10分経過すればよく、第1次処理手段としてはいずれも適していると評価された。
導入空気の二酸化塩素ガスに紫外線のみを照射させて二酸化塩素ガスを低減させた比較結果(□印を付した折線グラフ):実施例1と同一温度条件で同じ大きさの容器において、高濃度の二酸化塩素ガスが含まれている導入空気30に紫外線照射手段により紫外線を照射させて、二酸化塩素ガスの濃度を低下させた。この二酸化塩素ガスの濃度の低下を、図5において□印を付した折線グラフで示している。処理開始後20分間経過後には50ppmから47.5ppmまで低下したが、低減傾向は緩慢であった。反面、どの照射時間帯においても、同様な割合で二酸化塩素ガスの低減傾向がみられた。
・前記の実施例では、具体的な寸法、出力、位置を示して説明したが、これに限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、変更がされてもよいことは勿論のことである。
・前記の実施例では、安定化二酸化塩素により二酸化塩素ガスを発生させたが、これに限定されない。
・今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の技術的範囲は、上記した説明に限られず、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
400…滅菌装置、
10…第1次処理手段、20…二酸化塩素ガス処理構造、30…導入空気、
40…中間処理空気、50…放出空気、
11…活性炭フィルター、12…容器、13…ファン、14…矢印、
15…検知吸引口、16…二酸化塩素ガス用検知管、
21…スチールウール、22…容器、23…ファン、24…紫外線照射手段、
25…矢印、26…水パレット、27…濃度検知位置、28…アルミ箔、
60…第1次処理手段、61…スチールウール、62…容器、
63…ファン、64…紫外線照射手段、
70…容器、71…第1次処理手段、72…二酸化塩素ガス処理構造、
80…医療器具収容部、81…二酸化塩素ガス発生手段、82…第1次処理手段、
83…二酸化塩素ガス処理構造、84…通気口、85…安定化二酸化塩素水、
86…紫外線照射手段、87…ファン、88…通気口、89…ファン、
90…活性炭フィルター、91…通気口、92…スチールウール
Claims (8)
- 二酸化塩素ガスを含んだ被処理空気中の二酸化塩素ガスを低減させる二酸化塩素ガス処理構造において、
前記被処理空気が循環される空間と、気流発生手段と、接触層と、紫外線照射手段とを備え、
前記接触層が、鉄製の細線を綿状に固めたスチールウールに水を湿潤させた接触層であり、
前記気流発生手段が前記空間内で被処理空気を循環させ、
前記紫外線照射手段が、前記被処理空気の循環経路において前記接触層に紫外線を照射させた状態で、
前記被処理空気が前記接触層に繰り返し接触される、
ことを特徴とする二酸化塩素ガス処理構造。 - 前記細線の直径が0.02mmから0.04mmである、
ことを特徴とする請求項1に記載の二酸化塩素ガス処理構造。 - 前記紫外線照射手段からの紫外線が照射される前記空間の内面に紫外線反射面を備えている、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の二酸化塩素ガス処理構造。 - 前記スチールウールに前記水を湿潤させる湿潤手段を備えている、
ことを特徴としている請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の二酸化塩素ガス処理構造。 - 二酸化塩素ガスによる空気浄化後の被処理空気中に含まれている二酸化塩素ガスを低減させる二酸化塩素ガス処理装置において、
前記二酸化塩素ガスを所望の濃度に低下させる第1次処理手段と、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の前記二酸化塩素ガス処理構造とを含み、
第1次処理手段が、第1の気流発生手段と、活性炭フィルターとを備え、
第1の気流発生手段によって前記被処理空気中の二酸化塩素ガスを前記活性炭フィルターに吸着させる第1次処理を行ってから、前記第1次処理後の被処理空気中に含まれている二酸化塩素ガスを前記二酸化塩素ガス処理構造により低減させる、
ことを特徴としている二酸化塩素ガス処理装置。 - 二酸化塩素ガスによる空気浄化後の被処理空気中に含まれている二酸化塩素ガスを低減させる二酸化塩素ガス処理装置において、
前記二酸化塩素ガスを所望の濃度に低下させる第1次処理手段と、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の前記二酸化塩素ガス処理構造とを含み、
第1次処理手段が、第1の気流発生手段と、紫外線照射手段と、鉄製の細線を綿状に固めたスチールウールを接触層として備え、
前記紫外線照射手段により紫外線を前記接触層に照射させた状態で、
前記第1の気流発生手段によって前記被処理空気中の二酸化塩素ガスを前記接触層に循環させて接触させる第1次処理を行ってから、第1次処理後の被処理空気中に含まれている二酸化塩素ガスを前記二酸化塩素ガス処理構造により低減させる、
ことを特徴としている二酸化塩素ガス処理装置。 - 医療用機器を二酸化塩素ガスに接触させて滅菌処理する滅菌装置において、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の前記二酸化塩素ガス処理構造を備えている、
ことを特徴としている滅菌装置。 - 空気浄化装置が設置された閉じた環境内に二酸化塩素ガスを導入し、前記環境内にある物に前記二酸化塩素ガスを接触させて浄化処理する環境浄化装置において、
請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の前記二酸化塩素ガス処理構造を備えている、
ことを特徴としている環境浄化装置。
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